TW201400834A - 電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件 - Google Patents

Abstract

一種電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件，其主要係於機台上設有電源供應單元、中央處理單元、測試單元、溫度控制單元、供料單元、收料單元、輸送單元及偵測單元，該電源供應單元係提供各單元所需的電源，中央處理單元係可控制各單元作動執行供、收料及分級作業；其中該偵測單元係於測試單元或溫度控制單元上係設有偵測器，該偵測器並將偵測到之數值傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫所紀錄之資料進行比對，當測試單元或溫度控制單元上所偵測到之數值為異常時，中央處理單元便可即時的依據該異常狀態加以比對判斷，並控制各單元作動執行分級作業，而使測試單元可即早接續進行下一批次電子元件的測試作業，進而達到有效提昇測試產能之效益。

Description

電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件

本發明尤指其提供一種於執行測試作業時，可即時偵測到異常狀態，並依據該異常狀態加以比對判斷執行分級作業，而使測試單元可即早接續進行下一批次電子元件的測試作業，進而達到有效提昇測試產能之電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件。

按，電子元件於執行測試作業時，係以測試單元之測試程式對待測電子元件執行測試作業，並將測試結果傳輸到機台之中央處理單元執行分級作業；該測試單元包括有具測試座之測試板、控制器及測試程式，測試程式可以內存於測試板或以資料庫的方式連結於測試板，於待測電子元件置入於測試板之測試座後，控制器可以啟動測試板，開始對待測電子元件執行測試作業，最後再將測試結果傳輸到機台之中央處理單元執行分級作業。目前電子元件的分級作業大致上區分為良品區及不良品區，良品區係指經過測試程式完整的測試後，最終判定為OK之產品，不良品區則為無法回傳測試資料(如測試單元無法開機執行測試或中途當機而無法繼續執行測試)或為經過測試程式完整的測試後，最終判定為fail之產品，因此分級作業的判定依據有二種：一為待測電子元件是否能使測試單元完整的執行測試，二為待測電子元件是否能通過測試程式的測試。然而，目前的測試分級作業對於前述的二種判定依據，都必須等待整個測試程式流程結束後才能作出最終的判定；也就是說，不良品區無法回傳測試資料(如測試單元無法開機執行測試或中途當機而無法繼續執行測試)之電子元件，雖然在初始或早期階段就可以預知其最終判定結果，但仍必須等待測試程式整個流程結束，才可以終止測試作業，以接續執行分級作業，如此將導致過度耗費等待時間；例如，一個電子元件完整的測試作業時間為250秒，其於初始階段就無法回傳測試資料(如測試單元無法開機執行測試)，但仍必須等待250秒的測 試作業時間後，才可以機械手臂取出接續執行分級作業，而下一個待測電子元件也才可以接續置入於測試板之測試座執行測試，如此過度耗費等待時間，將嚴重影響整個測試產能，之所以會有如此的情形，導因於整個測試設備沒有早期偵測早期分級的偵測機制。

此外，隨著科技的進步，電子元件不斷提昇處理速度及功能，如此電子元件在執行測試作業時，將會快速的產生自熱，進而易於超出預設的測試溫度範圍，因此目前部份的測試設備於機台之下壓治具上裝設冷熱交換器，以與電子元件所產生之自熱作冷熱交換，而使測試作業能保持於預設的測試溫度範圍內；請參閱第1圖，其係本申請人先前申請之台灣發明專利第96140369號『檢測機壓接機構之致冷溫控裝置』專利案，其係於壓接機構20上設有一可由驅動源驅動升降之下壓桿21，於該下壓桿21頭端則設有一下壓治具組22，其中，下壓治具組22內係裝設有致冷晶片23，於致冷模式時，電流方向係使致冷晶片23之下方吸熱端產生冷卻面，上方則為放熱端，為了增加放熱端之散熱能力，另於放熱端之上方裝設散熱裝置30，藉由致冷晶片23通電所產生的冷卻面，即可與熱源進行冷熱交換；另於下壓治具組22之端部係凸設有一感溫器24，該感溫器24係藉由彈簧25的推頂而凸伸出下壓治具組22之端部，並以線路將訊號連結至訊號轉換器26，訊號轉換器26再連結於控制單元27，控制單元27係可進行運算比對，並連結至一電源供應器28，該電源供應器28係可控制輸出至致冷晶片23之電流量，而調整控制致冷晶片23之輸出功率，藉以控制致冷晶片23之致冷程度。當下壓桿21下壓電子元件31進行檢測時，感溫器24藉由彈簧25之彈力係可保持接觸於電子元件31之表面，並將所感測到之溫度訊號傳輸至訊號轉換器26，訊號轉換器26將溫度訊號轉換後再傳輸至控制單元27，控制單元27於接收該溫度訊號後即進行運算比對後，會將所需電流量之訊號傳輸至電源供應器28，以控制電源供應器28輸出至致冷晶片23之電流 量(I)，而調整控制致冷晶片23之輸出功率(P)，進而藉以控制致冷晶片23之致冷程度。該溫控裝置雖可抑制電子元件所產生之自熱，使電子元件保持於預設的測試溫度範圍內執行測試作業，但倘若電子元件所產生之自熱已超出合理範圍(不正常發熱)，經由溫控裝置的抑制，電子元件仍是可以完成完整的測試作業，且可能為通過測試而判定為OK之良品，惟事實上，該不正常發熱之良品是有瑕疵的，以目前前述二種判定依據(一為待測電子元件是否能使測試單元完整的執行測試，二為待測電子元件是否能通過測試程式的測試)仍是無法判定出來，也就無法再細分揀選分級，這也是目前測試設備在分級作業上難以克服的盲點。

有鑑於此，本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與製作經驗，針對目前所面臨之問題深入研究，經過長期努力之研究與試作，終究研創出一種可早期偵測早期執行分級作業，並且可再細分揀選分級，進而大幅改善習式之缺弊，此即為本發明之設計宗旨。

本發明之目的一係提供一種電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件，其偵測單元係於測試單元或溫度控制單元上設有偵測器，該偵測器並將偵測到之數值傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫所紀錄之資料進行比對，使得可早期偵測到異常訊息，並早期執行分級作業，進而使測試單元快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，達到大幅有效提昇測試產能之效益。

本發明之目的二係提供一種電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件，其係取樣適當數量之完測且為良品的電子元件，並依據測試時間架構出適當之取樣時間軸，再於各取樣時間軸建立電流量或輸出功率之正常值範圍，使得待測電子元件於取樣時間軸偵測到電流量或輸出功率超出正常值範圍時，中央處理單元即可判定出電子元件有不正常發熱的異常現象，並執行分級作業，進而可對電子元件作更細分的揀選分級。

本發明之目的三係提供一種電子元件測試分級設備、測試分級方法及其完測電子元件，其係於各取樣時間軸建立電流量或輸出功率之正常值範圍後，如電子元件於測試作業中，測試單元於各取樣時間軸所偵測之電流量或輸出功率皆在正常值範圍內，且電流量或輸出功率的均值屬較低的正常值範圍，此即表示該電子元件於測試作業中所產生的自熱較低，而具有較佳的品質條件，以供進行更高階的高頻測試，當通過更高階的高頻測試後，中央處理單元即可判定出電子元件為高階良品，並執行分級作業，進而可對電子元件作更細分的揀選分級。

為使 貴審查委員對本發明有更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：

請參閱第2圖，本發明應用於沒有裝設溫度控制單元之測試分級設備40時，測試分級設備40主要係由中央處理單元41控制供料單元42、收料單元43及輸送單元44作動；一連結中央處理單元41之測試單元46，該測試單元46本身就如同可啟動開機執行測試作業之小型電腦，其係裝設有測試板461，該測試板461上設有測試座462，以供輸送單元44置入待測電子元件，測試板461可內建測試程式或連結一測試程式資料庫463，以由控制器464控制對待測電子元件執行測試作業，另控制器464係可接收測試板461的測試訊號，並將測試結果資料傳輸至中央處理單元41；一連結中央處理單元41並內建有各種電子元件檔案紀錄之資料庫45，該資料庫45內之檔案紀錄可以包括有各種電子元件在測試單元46啟動開機時所需基本值的電流量或輸出功率、各種電子元件在測試單元46啟動開機時測試板461上特定元件的開機基本溫度、測試單元46開機後正常運作所需基本值的電流量或輸出功率、以及後文所說明測試單元46的取樣時間軸範圍值，而由資料庫45提供數據資料給中央處理單元41進行比對分析；另一電源供應單元47係提供各單元所需的電源，並藉以驅動各單元作動；然 本發明之測試分級設備40亦可考慮不設置供料單元42、收料單元43及輸送單元44，而改以人工的方式進行供、收料作業，亦即本發明之測試設備40亦可為半自動化的測試設備；然而，不論如何，本發明偵測單元的偵測器是可以為偵測測試單元46的電流變化或輸出功率變化，或為偵測測試單元46測試板461上特定元件的開機基本溫度，並將偵測到之訊號傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，本實施例係為偵測測試單元46的電流值變化，偵測單元之偵測器係於電源供應單元47連結至測試單元46之電源輸送線路471上設有電流計49，並使該電流計49可將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，亦即本發明偵測單元係利用電流計49偵測測試單元46之電流值變化，以作為中央處理單元41判斷的依據，亦或者根據功率定律P=I*V，測試單元46之電流值亦可換算為輸出功率P，而以輸出功率P作為判斷的依據；然而不論以電流值或輸出功率作為判斷的依據，當測試單元46執行測試作業時，如測試單元46可以正常開機執行測試作業，除了開機基本值的電流量及正常運作基本值電流量外(該正常運作基本值的電流量係指供應控制器464或其他配屬週邊設備所需的基本電流量)，測試板461對電子元件執行測試程式，勢必增加測試單元46所需的電流量，而超出正常運作基本值的電流量，相對的，當測試單元46無法正常開機或中途當機而無法執行測試作業時，測試單元46所需的電流量則大約相同於該開機基本值的電流量或正常運作基本值電流量，因此藉由偵測單元之電流計49偵測測試單元46之電流值變化，即可初期或早期獲知待測電子元件是否能使測試單元46保持在正常開機執行測試的狀態，進而由中央處理單元41即時的控制執行分級作業；若待測電子元件可使測試單元46保持在正常開機執行測試作業，電流計49偵測測試單元46之電流值變化，亦可供中央處理單元41持續的與資料庫45之檔案紀錄進行比對，最終 再根據測試結果資料判定電子元件是否通過測試程式完整的測試，執行最後的分級作業；此外，如前所述，測試單元46本身就如同可啟動開機執行測試作業之小型電腦，本發明偵測單元亦可偵測測試單元46之控制器464所連結之週邊配備的輸出功率變化，來作為判斷的依據，例如偵測控制器464之散熱器的輸出功率，或者連結控制器464之螢幕的輸出功率等，供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，而作為判斷的依據。

請參閱第3圖，本實施例係為偵測測試單元46測試板461上特定元件的基本溫度，偵測單元之偵測器係於測試板461上之特定元件(如CPU)裝設溫度檢知器491，並使該溫度檢知器491將偵測到之溫度值傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，當測試單元46執行測試作業時，如測試單元46可以正常開機執行測試作業，測試板461上特定元件的溫度勢必增加，而超出開機基本溫度值，相對的，當測試單元46無法正常開機或中途當機而無法執行測試作業時，測試板461上特定元件的溫度大約相同於該開機基本溫度值，因此藉由偵測單元之溫度檢知器491偵測測試單元46測試板461上特定元件的溫度，即可初期或早期獲知待測電子元件是否能使測試單元46保持在正常開機執行測試的狀態，進而由中央處理單元41即時的控制執行分級作業。

請參閱第4圖，本發明應用於設有溫度控制單元48之測試分級設備40時，其基本架構係相同於第2圖，主要係設有與中央處理單元41連結之溫度控制單元48，該溫度控制單元48係具有溫度輸出模組484，溫度輸出模組484並設於一壓接機構之下壓治具組上，於下壓治具組下壓抵接於電子元件表面時，以冷熱交換的方式控制電子元件的溫度(圖式未示)，該溫度控制單元48主要包括有溫度控制模組481、一可偵測電子元件溫度並將溫度訊號傳輸至溫度控制模組481之溫度偵測模組482、一可接收溫度控制模組481控制訊號之電源供應模組 483以及一輸出冷熱型態之溫度輸出模組484(如致冷晶片)，本實施例所提供之偵測單元主要係偵測溫度控制單元48的電流變化或輸出功率變化，並將偵測到之訊號傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，本實施例資料庫45內之檔案紀錄可以包括有各種電子元件在測試單元46啟動開機時，溫度輸出模組484所需基本值的電流量或輸出功率、電子元件的的溫度變化範圍值，以及後文所說明溫度輸出模組484的取樣時間軸範圍值；就以偵測單元偵測溫度控制單元48的電流變化而言，其係於電源供應模組483連結至溫度輸出模組484之電源輸送線路485上設有電流計49，並使該電流計49將偵測到之電流值傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，亦即本發明偵測單元利用電流計49偵測溫度輸出模組484之電流值變化，以作為中央處理單元41判斷的依據，亦或者根據功率定律P=I*V，溫度輸出模組484之電流值亦可換算為輸出功率P，而以輸出功率P作為判斷的依據；然而不論以電流值或輸出功率作為判斷的依據，當測試單元46執行測試作業時，如測試單元46可以正常開機執行測試作業，則測試座462內之電子元件勢必因運轉而開始產生自熱，此時溫度輸出模組484將因應該自熱而開始作動，因而增加電源供應模組483輸出的電流量或輸出功率，相對的，當測試單元46無法正常開機或中途當機而無法執行測試作業時，溫度輸出模組484將不會增加電源供應模組483輸出的電流量或輸出功率，因此偵測單元藉由電流計49偵測溫度輸出模組484之電流值或輸出功率變化，即可初期或早期獲知待測電子元件是否能使測試單元46保持在正常開機執行測試的狀態，進而由中央處理單元41即時的控制執行分級作業；若待測電子元件可使測試單元46保持在正常開機執行測試作業，電流計49偵測溫度輸出模組484之電流值或輸出功率變化，亦可供中央處理單元41持續的與資料庫45之檔案紀錄進行比對，最終再根據測試結果資料判定電子元 件是否通過測試程式完整的測試，執行最後的分級作業。本實施例之測試分級設備，偵測單元除了以電流計49偵測溫度輸出模組484之電流值或輸出功率變化，以作為中央處理單元41判斷的依據外，當然亦可採用如第2圖所示之偵測單元，於電源供應單元47連結至測試單元46之電源輸送線路471上設有電流計49，而以電流計49偵測測試單元46之電流值或輸出功率變化，以作為中央處理單元41判斷的依據。

請參閱第5圖，本實施例所提供之偵測單元主要係偵測測試單元46待測電子元件的溫度變化，其係利用溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度，並將溫度訊號傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行比對，當測試單元46執行測試作業時，如測試單元46可以正常開機執行測試作業，則測試座462內之電子元件勢必因運轉而開始產生自熱，此時溫度輸出模組484將因應該自熱而開始作動，以抑制電子元件所產生自熱，因而電子元件所測得的溫度會有較大的上下波動情形及較高的波動頻率；相對的，當測試單元46無法正常開機或中途當機而無法執行測試作業時，因電子元件不會產生自熱，因而電子元件所測得的溫度不會有較大的上下波動情形及較高的波動頻率，因此偵測單元藉由溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度，即可初期或早期獲知待測電子元件是否能使測試單元46保持在正常開機執行測試的狀態，進而由中央處理單元41即時的控制執行分級作業。

請參閱第6圖，本發明為了在執行測試的過程中，持續的進行資料的比對，以早期發現電子元件的異常現象，因此本發明之測試分級方法必須先執行測試單元或溫度輸出模組之開機基本值的建構手段，開機基本值的建構手段係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需基本的電流量或輸出功率，或是開機基本溫度，並將該開機基本值儲存於資料庫中；本發明測試單元或溫度輸出模組之開機基本值的建構手段的建構手段完成後，如欲執行更細分的揀選分級，接下 來則必須進行取樣時間軸範圍值的建構手段，以將測試單元或溫度輸出模組之取樣時間軸範圍值儲存於資料庫中，所謂取樣時間軸範圍值的建構手段，係指在整個測試時間內找出數個適當的時間點作為資料比對的時間點，此即為取樣時間軸，接著並於各取樣時間軸上找出各良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組執行測試的電流量或輸出功率範圍值，並將該取樣時間軸範圍值儲存於資料庫中，例如250秒的測試時間，得以每5秒作為一個取樣時間軸，所以250秒內就設有50個取樣時間軸，接著於各5秒的取樣時間軸上找出執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組執行測試的電流量或輸出功率範圍值，當然取樣時間軸愈密集就愈能早期偵測發現電子元件的異常現象，以早期執行分級作業；本發明測試單元及溫度輸出模組之取樣時間軸範圍值的建構手段是相同的，其較佳實施例流程如下：

步驟1：係先取適當數量(如100顆)完測且為良品之電子元件的測試資料。該步驟由於資料庫的建立係供待測電子元件比對，因此必須以完測且為良品之電子元件作為資料的樣本。

步驟2：如第7-1圖所示，依據第2圖或第3圖的測試分級設備執行測試，並依據測試單元或溫度輸出模組偵測所得之電流/時間曲線圖，於測試時間內區隔劃分數條區段時間軸(A、B、C……，例如250秒中每5秒分別劃分出區段時間軸A、B、C……)，於各區段時間軸附近找出各完測電子元件在電流/時間曲線中斜率為零的時間軸(a1、a2、a3………a100，b1、b2、b3……b100……；其中a1表示第1顆完測電子元件在區段時間軸A附近斜率為零的時間軸，a2表示第2顆完測電子元件在區段時間軸A附近斜率為零的時間軸，b1表示第1顆完測電子元件在區段時間軸B附近斜率為零的時間軸，其餘則依此類推)。

步驟3：如第7-1圖所示，依測試單元或溫度輸出模組偵測所得電流/時間曲線圖，找出各時間軸(a1、a2、a3………a100， b1、b2、b3……b100……)後，依據各區段時間軸(A、B、C……)，分別找出80%較鄰近於各區段時間軸(A、B、C……)的時間軸(例如，以區段時間軸A為例，a1、a2、a3為80%範圍內較鄰近於區段時間軸A，將予以取樣，而a4則超出80%範圍外，將不予取樣)。由於步驟1作為資料樣本之良品電子元件，尚無法在先前完成的測試中揀選出不正常發熱的電子元件，因此本步驟必須先去除超出80%範圍外可能為不正常發熱的電子元件，以避免作為比對數據之資料。

步驟4：於各區段時間軸取出80%範圍內之時間軸後，以80%範圍內最前及最後之兩條時間軸找出中間值的時間軸Ta、Tb、Tc……，該時間軸Ta、Tb、Tc……即為各取樣時間軸(例如以區段時間軸A為例，如第7-2圖所示，區段時間軸A其80%範圍內最前及最後之兩條時間軸分別為a1及a3，可以取出其中間值作為取樣時間軸Ta)。

步驟5：找出各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……後，再於各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……找出每一顆完測電子元件之曲線相交於各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……的點(例如以取樣時間軸Ta為例，如第7-3圖所示，第1顆完測電子元件相交於取樣時間軸Ta的點為Ta1，第2顆完測電子元件相交於取樣時間軸Ta的點為Ta2，第3顆完測電子元件相交於取樣時間軸Ta的點為Ta3，第4顆完測電子元件相交於取樣時間軸Ta的點為Ta4，其餘則依此類推)

步驟6：找出每一顆完測電子元件之曲線相交於各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……的點後，接著將各點間的距離比對，如有超出正常的範圍值，則去除該點位(例如以取樣時間軸Ta為例，如第7-3圖所示，相交於取樣時間軸Ta的點Ta1、Ta2、Ta3均在正常的範圍值內，而點Ta4則因在正常的範圍值外，則去除該點位)。本步驟之目的係在於去除可能為不正常發熱的電子元件，以避免作為比對數據之資料。

步驟7：於各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……架構出測試單元或溫度輸出模組於執行測試作業時正常的電流範圍值(例如以取樣時間軸Ta為例，如第7-3圖所示，去除點Ta4後，其測試單元或溫度輸出模組於執行測試作業時正常的電流範圍值為Ta2~Ta3之間)。

當完成步驟1~7後，即可於各取樣時間軸Ta、Tb、Tc……架構出測試單元或溫度輸出模組於執行測試作業時正常的電流範圍值，並且作成檔案紀錄儲存於資料庫，以供中央處理單元與資料庫之該檔案紀錄進行比對。

請參閱第8圖，本發明第一實施例之測試分級方法，於完成測試單元或溫度輸出模組之開機基本值的建構手段後，接著即可開始準備對以人工或自動化機械手臂置入於測試座之待測電子元件執行測試作業，其接續之方法包括有：

1．偵測測試單元是否開機手段：當待測電子元件開始執行步驟50的測試作業後，即進行步驟51，其係利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第4圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；或利用第3圖所示之溫度檢知器491偵測測試單元46測試板461上特定元件的開機基本溫度，或第5圖所示之溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度變化，並將偵測到之溫度變化傳輸至中央處理單元41，中央處理單元41將該溫度變化轉換為振幅型態之數值資料，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件無法使測試單元46開機而進行步驟52的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟53的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在初期階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常開機執行測試，並 由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

2．測試程式執行測試之結果判定手段：當執行步驟51而判定為YES時，則表示電子元件可以使測試單元開機，接續步驟54，步驟54係依據測試程式執行測試判定測試結果是否OK，如果為NO，即表示電子元件仍為不良品，中央處理單元即控制各單元執行步驟53的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟55的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級良品區。

本實施例由於在初期階段即可獲知電子元件無法使測試單元正常執行測試，並由中央處理單元即時控制執行分級作業，進而使測試單元可快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，達到有效大幅提昇測試產能之效益。

請參閱第9圖，本發明第二實施例之測試分級方法，於完成測試單元或溫度輸出模組之開機基本值及正常運作基本值的建構手段的建構手段後，接著即可開始準備對以人工或自動化機械手臂置入於測試座之待測電子元件執行測試作業，其接續之方法包括有：

1．偵測測試單元是否開機手段：當待測電子元件開始執行步驟60的測試作業後，即進行步驟61，其係利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第4圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對，或利用第3圖所示之溫度檢知器491偵測測試單元46測試板461上特定元件的開機基本溫度，或第5圖所示之溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度變化，並將偵測到之溫度變化傳輸至中央處理 單元41，中央處理單元41將該溫度變化轉換為振幅型態之數值資料，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件無法使測試單元46開機而進行步驟62的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟63的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在初期階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常開機執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

2．偵測測試單元是否中途當機手段：當執行步驟61而判定為YES時，則表示電子元件可以使測試單元開機，接續步驟64，其係於各取樣時間軸利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第4圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行正常運作基本值的比對，或利用第3圖所示之溫度檢知器491偵測測試單元46測試板461上特定元件的開機基本溫度，或第5圖所示之溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度變化，並將偵測到之溫度變化傳輸至中央處理單元41，中央處理單元41將該溫度變化轉換為振幅型態之數值資料，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件使測試單元46中途當機而進行步驟65的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟63的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇 測試產能。

3．測試程式執行測試之結果判定手段：當執行步驟64而判定為YES時，則表示電子元件於取樣時間軸正常運作使測試單元執行測試，接續步驟66，其係判定電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果為NO，即表示尚未完成測試作業，則繼續進行步驟64，接續進行下一取樣時間軸的比對；若步驟66為YES時，則表示電子元件完成所有取樣時間軸的比對，則繼續進行步驟67，其係依據測試程式執行測試判定測試結果是否OK，如果為NO，即表示電子元件仍為不良品，中央處理單元即控制各單元執行步驟63的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟68的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級良品區。

本實施例由於在初期、早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元正常執行測試，並由中央處理單元即時控制執行分級作業，進而使測試單元可快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，達到有效大幅提昇測試產能之效益。

請參閱第10圖，本發明第三實施例之測試分級方法，於完成測試單元或溫度輸出模組之開機基本值、正常運作基本值的建構手段及取樣時間軸範圍值的建構手段後，接著即可開始準備對以人工或自動化機械手臂置入於測試座之待測電子元件執行測試作業，其接續之方法包括有：

1．偵測測試單元是否開機手段：當待測電子元件開始執行步驟70的測試作業後，即進行步驟71，其係利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第3圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件無 法使測試單元46開機而進行步驟72的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟73的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在初期階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常開機執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

2．偵測測試單元是否中途當機手段：當執行步驟71而判定為YES時，則表示電子元件可以使測試單元開機，接續步驟74，其係於各取樣時間軸利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第3圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行正常運作基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件使測試單元46中途當機而進行步驟75的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟73的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元46繼續正常執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

3．電子元件不正常發熱判定手段：當執行步驟74而判定為YES時，則表示電子元件於取樣時間軸正常運作使測試單元繼續執行測試，接續步驟76，步驟76係將偵測到之電流值或輸出功率與資料庫45之檔案紀錄進行是否在取樣時間軸範圍值內的比對；如果為NO，接續執行步驟77，則表示電子元件不正常發熱，並繼續以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果為NO，中央處理單元即控制各單元執行步驟73的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品 區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試，但不正常發熱，中央處理單元即控制各單元執行步驟78的分級作業，將該電子元件分級放置於第二級不良品區。

4．測試程式執行測試之結果判定手段：當執行步驟76而判定為YES時，則表示電子元件於取樣時間軸範圍值內，接續步驟79，其係判定電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果為NO，即表示尚未完成測試作業，則繼續進行步驟74，接續進行下一取樣時間軸的比對；若步驟79為YES時，則表示電子元件完成所有取樣時間軸範圍值的比對，則繼續進行步驟80，其係依據測試程式執行測試判定測試結果是否OK，如果為NO，即表示電子元件仍為不良品，中央處理單元即控制各單元執行步驟73的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟81的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級良品區。

本實施例不僅在初期、早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元正常開機執行測試，並由中央處理單元即時控制執行分級作業，進而使測試單元可快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，達到有效大幅提昇測試產能之效益，且可測試出電子元件有不正常發熱的異常現象，並執行分級作業，進而可對電子元件作更細分的揀選分級。

請參閱第11圖，本發明第四實施例之測試分級方法，於完成測試單元或溫度輸出模組之開機基本值、正常運作基本值的建構手段及取樣時間軸範圍值的建構手段後，接著即可開始準備對以人工或自動化機械手臂置入於測試座之待測電子元件執行測試作業，其接續之方法包括有：

1．偵測測試單元是否開機手段：當待測電子元件開始執行步驟90的測試作業後，即進行步驟91，其係利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利 用第3圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件無法使測試單元46開機而進行步驟92的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟93的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在初期階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常開機執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

2．偵測測試單元是否中途當機手段：當執行步驟91而判定為YES時，則表示電子元件可以使測試單元開機，接續步驟94，其係於各取樣時間軸利用第2圖所示之電流計49偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第3圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行正常運作基本值的比對；如果為NO，則表示電子元件使測試單元46中途當機而進行步驟95的停止測試，中央處理單元41即控制各單元執行步驟93的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；此手段由於在早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元46正常開機執行測試，並由中央處理單元41即時控制執行分級作業，進而使測試單元46快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，而可有效提昇測試產能。

3．電子元件不正常發熱判定手段：當執行步驟94而判定為YES時，則表示電子元件於取樣時間軸正常運作使測試單元開機執行測試，接續步驟96，步驟96係將偵測到之電流值或輸出功率與資料庫之檔案紀錄進行是否在取樣時間軸範圍值 內的比對；如果為NO，接續執行步驟97，則表示電子元件不正常發熱，並繼續以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果為NO，中央處理單元即控制各單元執行步驟93的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試，但不正常發熱，中央處理單元即控制各單元執行步驟98的分級作業，將該電子元件分級放置於第二級不良品區。

4．測試程式執行測試之結果判定手段：當執行步驟96而判定為YES時，則表示電子元件於取樣時間軸範圍值內，接續步驟99，其係判定電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果為NO，即表示尚未完成測試作業，則繼續進行步驟94，接續進行下一取樣時間軸的比對；若步驟99為YES時，則表示電子元件完成所有取樣時間軸範圍值的比對，則繼續進行步驟100，其係依據測試程式執行測試判定測試結果是否OK，如果為NO，即表示電子元件仍為不良品，中央處理單元即控制各單元執行步驟93的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級不良品區；如果為YES時，則表示電子元件通過測試程式的測試。

5．適用高頻之測試判定手段：電子元件進行步驟100後，如果為YES而通過測試程式的測試時，則進行步驟101，步驟101係將通過測試程式測試之各電子元件，將其在各取樣時間軸之電流量或輸出功率的均值作比對，而找出在取樣時間軸範圍值中較低範圍值之20%內的電子元件，20%內即表示該電子元件於測試作業中所產生的自熱較低，而具有較佳的品質條件，20%外的電子元件雖為良品但有較高機率不具備有高階良品的資格，此即由中央處理單元控制各單元執行步驟102的分級作業，將該電子元件分級放置於第二級良品區；至於在較低範圍值之20%內的電子元件，則接著即執行步驟103更高階的高頻測試，在執行更高階的高頻測試時，首先進行步驟104，步驟104係於各取樣時間軸 利用第2圖所示之電流計472偵測測試單元46的電流量或輸出功率，或利用第4圖所示之電流計49偵測溫度輸出模組484的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元41，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行正常運作基本值的比對，或利用第3圖所示之溫度檢知器491偵測測試單元46測試板461上特定元件的開機基本溫度，或第5圖所示之溫度偵測模組482偵測待測電子元件的溫度變化，並將偵測到之溫度變化傳輸至中央處理單元41，中央處理單元41將該溫度變化轉換為振幅型態之數值資料，以供中央處理單元41與資料庫45之檔案紀錄進行開機基本值的比對，如果為NO，則執行步驟105，表示電子元件在高頻測試時，無法使測試單元開機而停止測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟102的分級作業，將該電子元件分級放置於第二級良品區；若電子元件為YES，則表示電子元件可執行高頻測試，而接續執行步驟106，其係依據測試程式執行測試判定測試結果是否OK，如果為NO，即表示電子元件無法通過高頻測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟102的分級作業，將該電子元件分級放置於第二級良品區；如果為YES時，則執行步驟107，步驟107表示電子元件在高頻測試時仍可正常運作，並於內部軔體或外部表面標記該電子元件通過高頻測試，中央處理單元即控制各單元執行步驟108的分級作業，將該電子元件分級放置於第一級良品區。

本實施例不僅在初期、早期或各階段即可獲知電子元件無法使測試單元正常開機執行測試，並由中央處理單元即時控制執行分級作業，進而使測試單元可快速接續執行下一個待測電子元件的測試作業，達到有效大幅提昇測試產能之效益，且可測試出電子元件有不正常發熱的異常現象，並執行分級作業，進而可對電子元件作更細分的揀選分級，此外，更利用適用高頻之測試判定手段，而可揀選分級出更優質之高階良品的電子元件，大幅提昇測試的 效能。

據此，本發明實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

習式部份：

20‧‧‧壓接機構

21‧‧‧下壓桿

22‧‧‧下壓治具組

23‧‧‧致冷晶片

24‧‧‧感溫器

25‧‧‧彈簧

26‧‧‧訊號轉換器

27‧‧‧控制單元

28‧‧‧電源供應器

30‧‧‧散熱裝置

31‧‧‧電子元件

本發明部份：

40‧‧‧測試分級設備

41‧‧‧中央處理單元

42‧‧‧供料單元

43‧‧‧收料單元

44‧‧‧輸送單元

45‧‧‧資料庫

46‧‧‧測試單元

461‧‧‧測試板

462‧‧‧測試座

463‧‧‧測試程式資料庫

464‧‧‧控制器

47‧‧‧電源供應單元

471‧‧‧電源輸送線路

472‧‧‧電流計

48‧‧‧溫度控制單元

481‧‧‧溫度控制模組

482‧‧‧溫度偵測模組

483‧‧‧電源供應模組

484‧‧‧溫度輸出模組

485‧‧‧電源輸送線路

49‧‧‧電流計

491‧‧‧溫度檢知器

50~55‧‧‧步驟

60~68‧‧‧步驟

70~81‧‧‧步驟

90~108‧‧‧步驟

第1圖：係為申請第96140369號『檢測機壓接機構之致冷溫控裝置』專利案之示意圖。

第2圖：本發明測試分級設備第一實施例之架構示意圖。

第3圖：本發明測試分級設備第二實施例之架構示意圖。

第4圖：本發明測試分級設備第三實施例之架構示意圖。

第5圖：本發明測試分級設備第四實施例之架構示意圖。

第6圖：本發明資料庫之取樣時間軸範圍值之取樣流程圖。

第7-1圖：本發明資料庫之取樣時間軸範圍值之取樣示意圖(一)。

第7-2圖：本發明資料庫之取樣時間軸範圍值之取樣示意圖(二)。

第7-3圖：本發明資料庫之取樣時間軸範圍值之取樣示意圖(三)。

第8圖：本發明測試分級方法第一實施例之流程示意圖。

第9圖：本發明測試分級方法第二實施例之流程示意圖。

第10圖：本發明測試分級方法第三實施例之流程示意圖。

第11圖：本發明測試分級方法第四實施例之流程示意圖。

40‧‧‧測試分級設備

41‧‧‧中央處理單元

42‧‧‧供料單元

43‧‧‧收料單元

44‧‧‧輸送單元

45‧‧‧資料庫

46‧‧‧測試單元

461‧‧‧測試板

462‧‧‧測試座

463‧‧‧測試程式資料庫

464‧‧‧控制器

47‧‧‧電源供應單元

471‧‧‧電源輸送線路

48‧‧‧溫度控制單元

481‧‧‧溫度控制模組

482‧‧‧溫度偵測模組

483‧‧‧電源供應模組

484‧‧‧溫度輸出模組

485‧‧‧電源輸送線路

49‧‧‧電流計

Claims (15)

1. 一種電子元件測試分級設備，係包括有：中央處理單元：係執行分析比對，並控制各單元作動；測試單元：係裝設有測試板，該測試板上設有供置入待測電子元件之測試座，而以測試程式對待測電子元件執行測試作業，並將測試結果資料傳輸至中央處理單元；資料庫：係內建有電子元件紀錄，並連結中央處理單元，以提供紀錄資料給中央處理單元進行比對分析；電源供應單元：係提供各單元所需的電源；偵測單元：係偵測測試單元的電流變化、輸出功率變化或溫度變化，並將偵測到之訊號傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該資料庫係內建有電子元件在測試單元啟動開機時所需開機基本值的電流量或輸出功率、測試單元開機後正常運作基本值所需的電流量或輸出功率、測試單元啟動開機時特定元件的開機基本溫度，以及測試單元的取樣時間軸範圍值，而提供資料給中央處理單元進行比對分析。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於電源供應單元連結至測試單元之電源輸送線路上設有電流計，並使該電流計可將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於特定元件裝設溫度檢知器，並使該溫度檢知器將偵測到之溫度值傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
5. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係偵測測試單元之控制器所連結之週邊配備的輸 出功率，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
6. 一種電子元件測試分級設備，係包括有：中央處理單元：係執行分析比對，並控制各單元作動；測試單元：係裝設有測試板，該測試板上設有供置入待測電子元件之測試座，而以測試程式對待測電子元件執行測試作業，並將測試結果資料傳輸至中央處理單元；資料庫：係內建有電子元件紀錄，並連結中央處理單元，以提供紀錄資料給中央處理單元進行比對分析；電源供應單元：係提供各單元所需的電源；溫度控制單元：係連結中央處理單元，其具有溫度控制模組、一偵測電子元件溫度並將溫度訊號傳輸至溫度控制模組之溫度偵測模組、一接收溫度控制模組控制訊號之電源供應模組以及至少一溫度輸出模組；偵測單元：係偵測溫度控制單元的電流變化、輸出功率變化或電子元件的溫度變化，並將偵測到之訊號傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
7. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件測試分級設備，其中，該資料庫係內建有電子元件在測試單元啟動開機時，溫度輸出模組所需開機基本值的電流量或輸出功率、正常運作基本值所需的電流量或輸出功率、電子元件的溫度變化範圍值，以及溫度輸出模組的取樣時間軸範圍值，而提供資料給中央處理單元進行比對分析。
8. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件測試分級設備，其中，該偵測單元係於電源供應模組連結至溫度輸出模組之電源輸送線路上設有電流計，並使該電流計可將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
9. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件測試分級設備，其中， 該偵測單元係以溫度控制單元之溫度偵測模組偵測待測電子元件的溫度，並將溫度訊號傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行比對。
10. 依申請專利範圍第1或6項所述之電子元件測試分級設備，其中，該測試分級設備更包含有由中央處理單元控制作動之供料單元、收料單元及輸送單元。
11. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量、輸出功率或溫度，並將該開機基本值儲存於資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測測試單元或溫度輸出模組的電流量、輸出功率或溫度，並傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測測試單元是否開機手段後，若表示電子元件可以使測試單元開機，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示電子元件通過測試程式的測試，將該電子元件分級放置。
12. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量、輸出功率或溫度，並將該開機基本值儲存於資料庫中；正常運作基本值的建構手段：係找出良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組啟動後所需正常運作基本值的電流量、輸出功率或溫度，並將 該正常運作基本值儲存於資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測測試單元或溫度輸出模組的電流量、輸出功率或溫度，並傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；偵測測試單元是否中途當機手段：當執行偵測測試單元是否開機手段後，若表示電子元件可以使測試單元開機，則接續於各取樣時間軸偵測測試單元或溫度輸出模組的的電流量輸出功率或溫度，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示電子元件使測試單元中途當機則停止測試，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測測試單元是否中途當機手段後，若表示電子元件於取樣時間軸正常運作使測試單元保持開機執行測試，則接續判定電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果表示尚未完成，則繼續進行下一取樣時間軸的正常運作基本值比對，若表示電子元件完成所有取樣時間軸的比對，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示電子元件通過測試程式的測試，將該電子元件分級放置。
13. 一種電子元件測試分級方法，係包括有：開機基本值的建構手段：係找出良品電子元件於開機執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組開機啟動所需開機基本值的電流量或輸出功率，並將該開機基本值儲存於資料庫中；正常運作基本值的建構手段：係找出良品電子元件於執行測 試作業時，其測試單元或溫度輸出模組啟動後所需正常運作基本值的電流量或輸出功率，並將該正常運作基本值儲存於資料庫中；取樣時間軸範圍值的建構手段：係在整個測試時間內找出數個適當的時間點作為資料比對的時間點，接著並於各取樣時間軸上找出各良品電子元件於執行測試作業時，其測試單元或溫度輸出模組執行測試的電流量或輸出功率的範圍值，並將該取樣時間軸範圍值儲存於資料庫中；偵測測試單元是否開機手段：係偵測測試單元或溫度輸出模組的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行開機基本值的比對，如果表示電子元件無法使測試單元開機則停止測試，將該電子元件分級放置；偵測測試單元是否中途當機手段：當執行偵測測試單元是否開機手段後，若表示電子元件可以使測試單元開機，則接續於各取樣時間軸偵測測試單元或溫度輸出模組的的電流量或輸出功率，並將偵測到之電流值或輸出功率傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示電子元件使測試單元中途當機則停止測試，將該電子元件分級放置；電子元件不正常發熱判定手段：當電子元件於取樣時間軸正常運作使測試單元繼續開機執行測試後，則接續與資料庫之紀錄進行是否在取樣時間軸範圍值內的比對，如果表示電子元件不正常發熱，將該電子元件分級放置；測試程式執行測試之結果判定手段：當執行偵測測試單元不正常發熱判定手段後，若表示電子元件於取樣時間 軸範圍值內，接續判定電子元件是否完成所有取樣時間軸的比對，如果表示尚未完成，則繼續進行下一取樣時間軸的偵測測試單元是否中途當機手段，若表示電子元件完成所有取樣時間軸的比對，則繼續進行以測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示電子元件仍為不良品，將該電子元件分級放置，如果表示電子元件通過測試程式的測試，該電子元件即為良品。
14. 一種依申請專利範圍第12或13項所述之電子元件測試分級方法，於測試程式執行測試之結果判定手段後，更包括有：適用高頻之測試判定手段：電子元件如果通過測試程式的測試後，執行高階的高頻測試，高階的高頻測試係於各取樣時間軸偵測測試單元或溫度輸出模組的電流量、輸出功率或溫度，並傳輸至中央處理單元，以供中央處理單元與資料庫之紀錄進行正常運作基本值的比對，如果表示電子元件可執行高頻測試，則依據測試程式執行測試，判定測試結果是否OK，如果表示電子元件無法通過高頻測試，將該電子元件分級放置，如果表示電子元件在高頻測試時仍可正常運作，則標記該電子元件通過高頻測試，將該電子元件分級放置。
15. 一種依申請專利範圍第14項所述之電子元件測試分級方法之完測電子元件，該完測電子元件在通過高頻測試後，係於該電子元件上標記通過高頻測試。