JP2671665B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2671665B2
JP2671665B2 JP3264321A JP26432191A JP2671665B2 JP 2671665 B2 JP2671665 B2 JP 2671665B2 JP 3264321 A JP3264321 A JP 3264321A JP 26432191 A JP26432191 A JP 26432191A JP 2671665 B2 JP2671665 B2 JP 2671665B2
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JP
Japan
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electrode
case
semiconductor device
base plate
insulating substrate
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義夫 高木
晃 藤田
英樹 塚本
直樹 吉松
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置に使用する
外装となる合成樹脂性のケースの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図8は従来の半導体装置の側断面図、図
9はこの半導体装置を構成する電極の正面図および側面
図である。これらの図において、2は金属性の放熱ベー
ス板で、このベース板2上には、絶縁基板3が実装され
ている。絶縁基板3には、半導体素子4が半田付けされ
ており、リードワイヤ5によって絶縁基板3上の配線パ
ターンと電気的に接続されている。7は、半導体素子4
等を覆うケースで、断面がコの字状を呈し側面部8およ
び上面部9とからなり、側面部8がベース2に取り付け
られている。上面部9には、樹脂封止用の注入口10と
中央部に電極取付部11とが備えられており、電極取付
部11には、貫通した電極挿入部12が設けられてい
る。電極15は、その詳細を図9に示すように、プレス
によって成形加工された板状の導電部材からなり、一端
に第1の折曲部16と中央部に湾曲部17および切り起
こされた爪20と他端に第2の折曲部18とを有する。
【0003】以下、組立方法を説明する。まず、ベース
2上に絶縁基板3を実装し、絶縁基板3上に半導体素子
4を半田付けして、リードワイヤ5を接続する。次に、
ケース7の電極挿入部12に電極15の折曲げられる前
の第2の折曲部18を挿入し、爪20を電極挿入部12
の一方の内壁12aに係合させて、電極12をケース7
に固定し、しかるのちに第2の折曲部18を折曲げる。
さらに、ケース7をベース2に取り付ける。このとき、
電極15の第1の折曲部16は絶縁基板3に面接触し、
予め塗布しておいた半田を加熱することによって、絶縁
基板3の配線パターンと電気的に接触させる。最後に、
ケース7の樹脂注入口10から樹脂を注入して樹脂封止
を行う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した合
成樹脂で形成されたケース7を、図10に示すように下
金型30と上金型31とで成型する場合、下金型30と
上金型31とを密着させ、その密着させた両金型30、
31の隙間に液状にした樹脂を流し込み、樹脂が凝固し
たのち、金型を開いて金型30、31から凝固した樹
脂、すなわちケース7を取り出す。このとき、ケース7
を取り出し易くするために、金型30、31には抜き勾
配といわれる傾斜が全体に施されており、抜きピン30
aによって成型される電極挿入部12の内壁12aにも
傾斜が施される。このため、この両内壁12aの一方に
爪20が係合して電極挿入部12に固定される電極15
は、図11に示すように他方の内壁12aに密着して傾
斜して固定されることとなる。この傾斜は、電極挿入部
12とベース2との距離が長くなるほど大きなズレを生
じ信頼性の低い半導体装置が製造されることとなる。こ
のため、従来においては、電極挿入後の電極の傾斜を考
慮しなければならず、半導体を設計する際に細心の注意
を必要としたり、電極に垂直の外力が加わらずに接触不
良を起こすといった問題が発生していた。本発明は上記
した従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その目
的とするところは、成型時金型からケースを外すときは
容易に取り外すことができると共に、電極の傾斜を防止
した半導体装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係る半導体装置は、ベース板上に実装した
絶縁基板と、この絶縁基板上に半田付けされた半導体素
子と、全体が合成樹脂で形成されかつ貫通した挿入部が
設けられ前記ベース板にこのベース板を覆うようにして
取り付けられたケースと、このケースの挿入部に挿入さ
れこの挿入部の内壁に係合する爪を有すると共に一端が
ケースの外部に露呈し他端が前記絶縁基板に立設して固
定された電極とからなり、前記電極の爪を電極の表裏に
一対設けたものである。また、本発明に係る半導体装置
は、ベース板上に実装した絶縁基板と、この絶縁基板上
に半田付けされた半導体素子と、全体が合成樹脂で形成
されかつ貫通した挿入部が設けられ前記ベース板にこの
ベース板を覆うようにして取り付けられたケースと、こ
のケースの挿入部に挿入されこの挿入部の内壁に係合す
る爪を有すると共に一端がケースの外部に露呈し他端が
前記絶縁基板に立設して固定された電極とからなり、前
記挿入部の内壁のうち前記電極の爪が係合しない方の内
壁に抜き勾配を設けずに垂直に形成したものである。ま
た、本発明に係る半導体装置は、ベース板上に実装した
絶縁基板と、この絶縁基板上に半田付けされた半導体素
子と、全体が合成樹脂からなり内部に一対の挟持壁が一
体形成され前記ベース板にこのベース板を覆うようにし
て取り付けられたケースと、このケース内に収納されこ
のケースの挟持壁に係合する爪を有すると共に一端がケ
ースの外部に露呈し他端が前記絶縁基板に立設して固定
された電極とからなり、前記電極の爪を電極の表裏に一
対設けたものである。また、本発明に係る半導体装置
は、ベース板上に実装した絶縁基板と、この絶縁基板上
に半田付けされた半導体素子と、全体が合成樹脂からな
り内部に一対の挟持壁が一体形成され前記ベース板にこ
ベース板を覆うようにして取り付けられたケースと、
このケース内に収納されこのケースの挟持壁に係合する
爪を有すると共に一端がケースの外部に露呈し他端が前
記絶縁基板に立設して固定された電極とからなり、前記
一対の挟持壁のうち前記電極の爪が係合しない方の挟持
壁に抜き勾配を設けずに垂直に形成したものである。
【0006】
【作用】本発明においては、電極の表裏に設けた一対の
爪が電極挿入部の傾斜した両内壁に係合して電極は垂直
となる。また、電極挿入部の一方の垂直な内壁に電極が
密着して電極は垂直となる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。図1は本発明に係る半導体装置の側断面図、図2は
本発明に係る半導体装置の電極の正面図と側面図であ
る。これらの図において、従来技術と同一の構成につい
ては同一の符号を付し詳細な説明は省略する。本発明の
特徴とするところは、図2に示すように電極15の爪2
0を表裏に一対設けた点にある。このような構成とする
事により、爪20が電極挿入部12の抜き勾配が設けら
れた両内壁12aに係合するので、ケース7に付与され
た勾配の大きさに関係なく電極15の傾斜をなくすこと
ができる。したがって、絶縁基板3との半田付けにより
接合される第1の折曲部16の平面度および位置精度が
高まり、半田厚みを均一にし、位置ずれを防止すること
ができる。
【0008】図3は、本発明の第2の実施例を示し、
(a)は要部側断面図、(b)は要部底面図である。こ
れらの図において、第2の実施例の特徴とするところ
は、電極挿入部12の一方の内壁12aのみに抜き勾配
を設け、他方の内壁12bには抜き勾配を設けずに、垂
直に形成されている点にある。この場合、片方に抜き勾
配を設けなくても、他方に抜き勾配を設けていれば、成
型品であるケース7は容易に型抜きができる。一方、電
極15には爪20が1つ設けられており、この爪20を
電極挿入部12の抜き勾配を設けた内壁12aに係合さ
せることにより、電極15は他方の内壁12bに密着し
て垂直に取り付けられる。
【0009】図4は、本発明の第3の実施例を示す要部
底面図である。この第3の実施例においては、第2の実
施例における12a側のみの抜き勾配を12b側にも櫛
歯状の抜き勾配12cを設けている。このような構成と
する事により、電極15は抜き勾配が設けられていない
内壁12bに密着して垂直に取り付けられると共に、抜
き勾配12cによりケース7の型抜きがより容易とな
る。
【0010】図5は、本発明の第4の実施例を示す半導
体装置の平面図および側面図、図6は図5(a)のVI-V
I線断面図、図7は図5(a)のVII-VII線断面図であ
る。これらの図において、電極25は、ケース7の外部
に露呈する第1の接点部26と絶縁基板3と接合される
第2の接点部28とこれらを連結する連結部27とから
なり、略クランク状に形成されている。第1の接点部2
6は、ケース7の上面部9に穿設したスリット29から
ケース7の外部に導出され、また連結部27の一方側の
面の2個所に、爪27aが設けられている。
【0011】この爪27aに対応した位置に、一対の挟
持片30、31が上面部9から一体的に設けられ、一方
側の挟持片、すなわち爪27a側の挟持片31には抜き
勾配31aが設けられ、他方側の挟持片30には抜き勾
配が設けらておらず垂直な面30aが形成されている。
したがって、電極25は垂直な面30aに密着して、第
2の接点部28は絶縁基板3に垂直に立設して接合され
る。なお、本実施例において、電極25の爪27aを連
結部27の表裏に一対設けることにより、両挟持片3
0、31に抜き勾配を設けても、電極25は垂直に保持
される。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
極挿入部あるいは電極挟持片の電極の爪側だけに抜き勾
配を設け、他方には抜き勾配を設けずに垂直な面とし、
あるいは、電極の爪を表裏に一対設けたので、電極が垂
直にかつ位置ずれせずに接合でき、このため半田厚みを
均一にすることができ、これにより接合強度が増し、信
頼性の高い半導体装置を提供することができる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体装置の側断面図である。
【図2】本発明に係る半導体装置の電極を示し、(a)
は正面図、(b)は側面図である。
【図3】本発明に係る半導体装置の第2の実施例を示
し、(a)は要部側断面図、(b)は要部底面図であ
る。
【図4】本発明に係る半導体装置の第3の実施例の要部
底面図である。
【図5】本発明に係る第4の実施例を示し、(a)は平
面図、(b)は側面図である。
【図6】図5(a)のVI-VI線断面図である。
【図7】図5(a)のVII-VII線断面図である。
【図8】従来の半導体装置の側断面図である。
【図9】従来の半導体装置の電極を示し、(a)は正面
図、(b)は側面図である。
【図10】一般的な半導体装置の成型方法を示す側断面
図である。
【図11】従来の半導体装置の電極の取付状態を示す要
部側断面図である。
【符号の説明】
2 ベース板 3 絶縁基板 4 半導体素子 7 ケース 12 電極挿入部 15 電極 20 爪 25 電極 30 挟持片 31 挟持片
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉松 直樹 福岡県福岡市西区今宿東一丁目1番1号 福菱セミコンエンジニアリング株式会 社内 (56)参考文献 特開 昭61−187349(JP,A)

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベース板上に実装した絶縁基板と、この
    絶縁基板上に半田付けされた半導体素子と、全体が合成
    樹脂で形成されかつ貫通した挿入部が設けられ前記ベー
    ス板にこのベース板を覆うようにして取り付けられたケ
    ースと、このケースの挿入部に挿入されこの挿入部の内
    壁に係合する爪を有すると共に一端がケースの外部に露
    呈し他端が前記絶縁基板に立設して固定された電極とか
    らなる半導体装置において、前記電極の爪を電極の表裏
    に一対設けたことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 ベース板上に実装した絶縁基板と、この
    絶縁基板上に半田付けされた半導体素子と、全体が合成
    樹脂で形成されかつ貫通した挿入部が設けられ前記ベー
    ス板にこのベース板を覆うようにして取り付けられたケ
    ースと、このケースの挿入部に挿入されこの挿入部の内
    壁に係合する爪を有すると共に一端がケースの外部に露
    呈し他端が前記絶縁基板に立設して固定された電極とか
    らなる半導体装置において、前記挿入部の内壁のうち前
    記電極の爪が係合しない方の内壁に抜き勾配を設けずに
    垂直に形成したことを特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 ベース板上に実装した絶縁基板と、この
    絶縁基板上に半田付けされた半導体素子と、全体が合成
    樹脂からなり内部に一対の挟持壁が一体形成され前記
    ース板にこのベース板を覆うようにして取り付けられた
    ケースと、このケース内に収納されこのケースの挟持壁
    に係合する爪を有すると共に一端がケースの外部に露呈
    し他端が前記絶縁基板に立設して固定された電極とから
    なる半導体装置において、前記電極の爪を電極の表裏に
    一対設けたことを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 ベース板上に実装した絶縁基板と、この
    絶縁基板上に半田付けされた半導体素子と、全体が合成
    樹脂からなり内部に一対の挟持壁が一体形成され前記
    ース板にこのベース板を覆うようにして取り付けられた
    ケースと、このケース内に収納されこのケースの挟持壁
    に係合する爪を有すると共に一端がケースの外部に露呈
    し他端が前記絶縁基板に立設して固定された電極とから
    なる半導体装置において、前記一対の挟持壁のうち前記
    電極の爪が係合しない方の挟持壁に抜き勾配を設けずに
    垂直に形成したことを特徴とする半導体装置。
JP3264321A 1991-10-14 1991-10-14 半導体装置 Expired - Lifetime JP2671665B2 (ja)

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