JP2655559B2 - 反応容器の汚染検査法 - Google Patents
反応容器の汚染検査法Info
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- JP2655559B2 JP2655559B2 JP63129691A JP12969188A JP2655559B2 JP 2655559 B2 JP2655559 B2 JP 2655559B2 JP 63129691 A JP63129691 A JP 63129691A JP 12969188 A JP12969188 A JP 12969188A JP 2655559 B2 JP2655559 B2 JP 2655559B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、自動化学分析装置等に用いられ分析試料を
収納するための反応容器の汚染検査法に関する。
収納するための反応容器の汚染検査法に関する。
（従来の技術） 人体から採取された血清等を試料として用いこれに所
望の試薬を加えて化学反応を起こさせて、この反応液の
吸光度を測定することにより特定成分の濃度を求めて所
望項目の化学分析を行うようにした自動化学分析装置が
知られている。第３図はこのような分析装置の一例を示
す断面斜視図で、凹部に恒温水２が満たされている環状
の恒温槽１が設けられ、この恒温槽１にはその恒温水２
内に複数個の反応容器3a,3b,3c,…が配置されている。
複数個の反応容器3a,3b,3c,…はホルダー４によって一
体的に保持され、このホルダー４が図示しない駆動源に
よって回転されることによって順次矢印方向に移動され
る。ホルダー４は停止期間を介して一定サイクルで回転
運動を行い、例えば１サイクルで１回転＋１ピッチの回
転運動を行うことにより、１サイクルごとに各反応容器
を順次１ピッチずつ先に移動させることができる。恒温
槽１の所定位置には試料分注ノズル５が配置され、軸5a
を支点として揺動運動を行うことにより対向位置に移動
してきた反応容器に所望の試料の分注を行う。恒温槽１
の他の所定位置には試薬分注ノズル６が配置され、軸6a
を支点として揺動運動を行うことにより対向位置に移動
してきた反応容器に所望の試薬の分注を行う。各分注動
作はいずれもホルダー４の停止期間に行われる。
望の試薬を加えて化学反応を起こさせて、この反応液の
吸光度を測定することにより特定成分の濃度を求めて所
望項目の化学分析を行うようにした自動化学分析装置が
知られている。第３図はこのような分析装置の一例を示
す断面斜視図で、凹部に恒温水２が満たされている環状
の恒温槽１が設けられ、この恒温槽１にはその恒温水２
内に複数個の反応容器3a,3b,3c,…が配置されている。
複数個の反応容器3a,3b,3c,…はホルダー４によって一
体的に保持され、このホルダー４が図示しない駆動源に
よって回転されることによって順次矢印方向に移動され
る。ホルダー４は停止期間を介して一定サイクルで回転
運動を行い、例えば１サイクルで１回転＋１ピッチの回
転運動を行うことにより、１サイクルごとに各反応容器
を順次１ピッチずつ先に移動させることができる。恒温
槽１の所定位置には試料分注ノズル５が配置され、軸5a
を支点として揺動運動を行うことにより対向位置に移動
してきた反応容器に所望の試料の分注を行う。恒温槽１
の他の所定位置には試薬分注ノズル６が配置され、軸6a
を支点として揺動運動を行うことにより対向位置に移動
してきた反応容器に所望の試薬の分注を行う。各分注動
作はいずれもホルダー４の停止期間に行われる。
また恒温槽１の途中位置には反応容器内の試料と試薬
との反応液の吸光度を比色法によって測定するための測
光系７が配置され、測光系７は例えば恒温槽１の内周側
に設けられたランプ7a,外周側に設けられたプリズム7c,
回折格子7d,検出器7e等から構成されている。各反応容
器が回転運動中，ランプ7aからプリズム7cに至る光路7b
を横切った瞬間にこの反応容器内の反応液の吸光度が測
光系７によって測定される。このような測光で正確なデ
ータを得るためには、恒温槽１に入射する光が、恒温水
２又は反応容器３等の状態によって影響されないことが
必要となる。
との反応液の吸光度を比色法によって測定するための測
光系７が配置され、測光系７は例えば恒温槽１の内周側
に設けられたランプ7a,外周側に設けられたプリズム7c,
回折格子7d,検出器7e等から構成されている。各反応容
器が回転運動中，ランプ7aからプリズム7cに至る光路7b
を横切った瞬間にこの反応容器内の反応液の吸光度が測
光系７によって測定される。このような測光で正確なデ
ータを得るためには、恒温槽１に入射する光が、恒温水
２又は反応容器３等の状態によって影響されないことが
必要となる。
第４図は第３図の分析装置の特に測光系７の構成を示
す断面図で、ランプ7aから照射される光の光路7bが入射
される光入射部８及び光出射部９が設けられ、各部8,9
には窓10が設けられてこれには透光性円板11が固定され
ている。また円板11の周囲部分には０リング12が嵌入さ
れ、さらにナット13によって補強されて恒温槽１の気密
性が保たれている。
す断面図で、ランプ7aから照射される光の光路7bが入射
される光入射部８及び光出射部９が設けられ、各部8,9
には窓10が設けられてこれには透光性円板11が固定され
ている。また円板11の周囲部分には０リング12が嵌入さ
れ、さらにナット13によって補強されて恒温槽１の気密
性が保たれている。
このような測光系７による反応容器３内の反応液の吸
光度の測定は周知のように次式に基づいて行われる。
光度の測定は周知のように次式に基づいて行われる。
吸光度＝log（I0/I）＝Ｋ・Ｃ・ｌ ここで、 I0:純水等の純溶媒の透過光量（又は反応液の入射光
量）， I:反応液の透過光量， K:吸光係数， C:反応液の濃度， l:反応容器の厚さ。
量）， I:反応液の透過光量， K:吸光係数， C:反応液の濃度， l:反応容器の厚さ。
（発明が解決しようとする課題） ところで、このような方法で吸光度を測定する場合、
反応容器３に汚染が存在している場合又はランプ7aを含
む測光系７に何らかの異常が存在している場合には、こ
れらの影響を受けて測定データに誤差が生ずるという問
題がある。しかしながらこの誤差の原因が反応容器３に
あるのか、測光系７にあるのかを判断することは容易で
なく、時間をかけて煩雑な検査を繰返さねばならない。
特に反応容器３は繰返し使用されることによって長期間
の間には血清，試薬等が付着して汚染されるのは避けら
れないが、この度合は個々の反応容器が異なった条件で
使用されるために均一とはならない。従ってどの反応容
器がどの程度汚染されているかを見極めることは不可能
である。一方、測光系７においても例えばランプ7aが寿
命によって徐々に性能が低下してくるのは避けられず、
これによっても測定データは大きな影響を受けることに
なる。但しランプの場合はその寿命が予測できるので、
前もって余裕を持って早目に交換を行うことにより測光
系７による影響は軽減することが可能である。
反応容器３に汚染が存在している場合又はランプ7aを含
む測光系７に何らかの異常が存在している場合には、こ
れらの影響を受けて測定データに誤差が生ずるという問
題がある。しかしながらこの誤差の原因が反応容器３に
あるのか、測光系７にあるのかを判断することは容易で
なく、時間をかけて煩雑な検査を繰返さねばならない。
特に反応容器３は繰返し使用されることによって長期間
の間には血清，試薬等が付着して汚染されるのは避けら
れないが、この度合は個々の反応容器が異なった条件で
使用されるために均一とはならない。従ってどの反応容
器がどの程度汚染されているかを見極めることは不可能
である。一方、測光系７においても例えばランプ7aが寿
命によって徐々に性能が低下してくるのは避けられず、
これによっても測定データは大きな影響を受けることに
なる。但しランプの場合はその寿命が予測できるので、
前もって余裕を持って早目に交換を行うことにより測光
系７による影響は軽減することが可能である。
本発明は以上のような問題に対処して成されたもの
で、測定に影響を与える不良の反応容器を確実に判別す
ることができる反応容器の汚染検査法を提供することを
目的とするものである。
で、測定に影響を与える不良の反応容器を確実に判別す
ることができる反応容器の汚染検査法を提供することを
目的とするものである。
［発明の構成］ （課題を解決すための手段） 上記目的を達成するために本発明は、光吸収率がほぼ
零の溶媒に対して測光系に含まれる光源から光を照射し
て第１の透過光量を当該測光系により測定する第１のス
テップと、前記溶媒中に反応容器を浸漬し、前記溶媒と
前記反応容器とを介するように前記光源から光を照射し
て第２の透過光量を前記測光系により測定する第２のス
テップと、前記第１の透過光量と前記第２の透過光量と
の差と予め設定された基準値とを比較し、差が基準値を
超える場合は、当該反応容器を不良容器と判断するとと
もに、前記光源の定格と前記第１の透過光量との比較か
ら前記光源の良否を判断する第３のステップとから成る
ことを特徴とするものである。
零の溶媒に対して測光系に含まれる光源から光を照射し
て第１の透過光量を当該測光系により測定する第１のス
テップと、前記溶媒中に反応容器を浸漬し、前記溶媒と
前記反応容器とを介するように前記光源から光を照射し
て第２の透過光量を前記測光系により測定する第２のス
テップと、前記第１の透過光量と前記第２の透過光量と
の差と予め設定された基準値とを比較し、差が基準値を
超える場合は、当該反応容器を不良容器と判断するとと
もに、前記光源の定格と前記第１の透過光量との比較か
ら前記光源の良否を判断する第３のステップとから成る
ことを特徴とするものである。
（作用） 先ず光吸収率零（吸光度零）の純水等の無色透明の溶
媒を用いこれに対して光を照射してその透過光量I01を
測定する。次に前記溶媒に反応容器を追加しこの溶媒に
対して反応容器を介するように光を照射してその透過光
量I02を測定する。続いて各透過光量の差Ｄ（I01−
I02）を予め設定された基準値Ｖと比較する。この結果
Ｄ＞Ｖの関係となった反応容器は汚染の度合が大きい不
良容器であると判断してラインから取除くようにする。
媒を用いこれに対して光を照射してその透過光量I01を
測定する。次に前記溶媒に反応容器を追加しこの溶媒に
対して反応容器を介するように光を照射してその透過光
量I02を測定する。続いて各透過光量の差Ｄ（I01−
I02）を予め設定された基準値Ｖと比較する。この結果
Ｄ＞Ｖの関係となった反応容器は汚染の度合が大きい不
良容器であると判断してラインから取除くようにする。
（実施例） 以下図面を参照して本発明実施例を説明する。先ず第
１のステップとして第１図（ａ），（ｂ）に示すように
ランプ7aから恒温槽１の恒温水２に対して定格100％の
強さの光を照射してその透過光量I01を測光系７によっ
て測定する。恒温水２は純水が用いられて測定前に日毎
に交換されているので、汚染の殆どない無色透明の溶媒
とみなすことができる。従って恒温水２はほぼ光吸収率
零（吸光度零）の絶対基準溶媒として用いることがで
き、この恒温水２を通過する光は吸収（減衰）されな
い。これによりランプ7aから恒温水２に入射される入射
光量Iiはこれが吸収されることなくそのままの強さの透
過光量I01として恒温水２から出射される。
１のステップとして第１図（ａ），（ｂ）に示すように
ランプ7aから恒温槽１の恒温水２に対して定格100％の
強さの光を照射してその透過光量I01を測光系７によっ
て測定する。恒温水２は純水が用いられて測定前に日毎
に交換されているので、汚染の殆どない無色透明の溶媒
とみなすことができる。従って恒温水２はほぼ光吸収率
零（吸光度零）の絶対基準溶媒として用いることがで
き、この恒温水２を通過する光は吸収（減衰）されな
い。これによりランプ7aから恒温水２に入射される入射
光量Iiはこれが吸収されることなくそのままの強さの透
過光量I01として恒温水２から出射される。
次に第２のステップとして第２図（ａ），（ｂ）に示
すように恒温水２に反応容器３を浸漬し、ランプ7aから
反応容器３を介して恒温水２に対して前記同様に定格10
0％の強さの光を照射して、その透過光量I02を測光系７
によって測定する。これによりランプ7aから入射される
入射光量Iiは前記の場合に比べて反応容器３の汚れによ
る影響が反映された分だけ光が吸収され、この強さの透
過光量I02が得られることになる。
すように恒温水２に反応容器３を浸漬し、ランプ7aから
反応容器３を介して恒温水２に対して前記同様に定格10
0％の強さの光を照射して、その透過光量I02を測光系７
によって測定する。これによりランプ7aから入射される
入射光量Iiは前記の場合に比べて反応容器３の汚れによ
る影響が反映された分だけ光が吸収され、この強さの透
過光量I02が得られることになる。
続いて第３のステップとしてこのようにして得られた
各透過光量I01,I02の差Ｄ（I01−I02）を求め、この差
Ｄを予め設定された基準値Ｖと比較することによって、
反応容器３の汚染の度合を調べてＤ＞Ｖのものについて
は汚染度合が高いものと判断して測定ラインから取除く
ようにする。前記基準値Ｖは測定の目的等に応じて任意
に決定することができ、例えばランプ7aから発生される
光の定格の10％に設定することができる。即ち前記定格
の光量を10％以上ダウンさせるような影響を与える反応
容器３は、もはや測定に用いるには適さないとの判断を
行うことができる。
各透過光量I01,I02の差Ｄ（I01−I02）を求め、この差
Ｄを予め設定された基準値Ｖと比較することによって、
反応容器３の汚染の度合を調べてＤ＞Ｖのものについて
は汚染度合が高いものと判断して測定ラインから取除く
ようにする。前記基準値Ｖは測定の目的等に応じて任意
に決定することができ、例えばランプ7aから発生される
光の定格の10％に設定することができる。即ち前記定格
の光量を10％以上ダウンさせるような影響を与える反応
容器３は、もはや測定に用いるには適さないとの判断を
行うことができる。
次に下表を参照して前記各ステップに沿って行われた
各実施例による測定結果に基づいて、不良の反応容器を
判別する方法について説明する。
各実施例による測定結果に基づいて、不良の反応容器を
判別する方法について説明する。
先ず、実施例１の場合第１のステップによる透過光量
I01が98％であるのに対して、第２のステップによる透
過光量I02は85％あり、この差Ｄである13％は反応容器
３の汚染による影響であるとみなせる。またこのＤ＝13
％は予め設定された基準値Ｖである10％（一定として）
より大きいので、汚染度合が高い不良容器であると判断
して測定ラインから取除くようにする。尚、I01＝98％
の定格との差である２％はランプ7aの劣化等に原因した
ダウンであるとみなせるが、この程度の値は測定に殆ど
差支えないとみなすことができる。
I01が98％であるのに対して、第２のステップによる透
過光量I02は85％あり、この差Ｄである13％は反応容器
３の汚染による影響であるとみなせる。またこのＤ＝13
％は予め設定された基準値Ｖである10％（一定として）
より大きいので、汚染度合が高い不良容器であると判断
して測定ラインから取除くようにする。尚、I01＝98％
の定格との差である２％はランプ7aの劣化等に原因した
ダウンであるとみなせるが、この程度の値は測定に殆ど
差支えないとみなすことができる。
次に実施例２の場合はI01が90％であるのに対してI02
は75％であり、この差Ｄ＝15％は基準値より大きいの
で、実施例１と同様に不良容器であると判断して測定ラ
インから取除くようにする。尚、この実施例２の場合は
I01＝90％の定格との差である10％はダウンの度合が大
きくて無視できないので、ランプ7aの交換を行うことが
望ましい。
は75％であり、この差Ｄ＝15％は基準値より大きいの
で、実施例１と同様に不良容器であると判断して測定ラ
インから取除くようにする。尚、この実施例２の場合は
I01＝90％の定格との差である10％はダウンの度合が大
きくて無視できないので、ランプ7aの交換を行うことが
望ましい。
続いて実施例３の場合はI01が90％であるのに対してI
02は89％であり、この差Ｄ＝１％は基準値より小さいの
で反応容器は正常であると判断することができる。従っ
てこの反応容器はこのまま続けて使用することができ
る。ただしI01＝90％は実施例２の場合と同様にダウン
の度合が大きいので、ランプ7aの交換を行うことが望ま
しい。
02は89％であり、この差Ｄ＝１％は基準値より小さいの
で反応容器は正常であると判断することができる。従っ
てこの反応容器はこのまま続けて使用することができ
る。ただしI01＝90％は実施例２の場合と同様にダウン
の度合が大きいので、ランプ7aの交換を行うことが望ま
しい。
このように本実施例によれば、先ず第１のステップと
して光吸収率がほぼ零とみなせる恒温水２を絶対基準溶
媒として用いて光を照射してその透過光量I01を測定
し、次のこの恒温水２に反応容器３を浸漬してこの反応
容器３を介して恒温水２に光を照射してその透過光量I
02を測定した後、前記I01,I02の差Ｄを基準値Ｖと比較
してこの比較結果に基づいて不良容器の判別に行うよう
にしたので、確実に不良容器を判別することができる。
しかも恒温水２を利用することにより行えるので、簡単
に実施することができる。
して光吸収率がほぼ零とみなせる恒温水２を絶対基準溶
媒として用いて光を照射してその透過光量I01を測定
し、次のこの恒温水２に反応容器３を浸漬してこの反応
容器３を介して恒温水２に光を照射してその透過光量I
02を測定した後、前記I01,I02の差Ｄを基準値Ｖと比較
してこの比較結果に基づいて不良容器の判別に行うよう
にしたので、確実に不良容器を判別することができる。
しかも恒温水２を利用することにより行えるので、簡単
に実施することができる。
尚、実施例では恒温水を絶対基準溶媒として用いる例
で示したが、何らこれに限らず光吸収率がほぼ零である
溶媒であれば同様に用いることができる。
で示したが、何らこれに限らず光吸収率がほぼ零である
溶媒であれば同様に用いることができる。
［発明の効果］ 以上述べたように本発明によれば、光吸収率がほぼ零
である絶対基準溶媒の透過光量を測定するようにしてい
るので、反応容器の汚染度合が高いのか光源に異常があ
るのかを簡単で確実に判断することができる。
である絶対基準溶媒の透過光量を測定するようにしてい
るので、反応容器の汚染度合が高いのか光源に異常があ
るのかを簡単で確実に判断することができる。
第１図（ａ），（ｂ）及び第２図（ａ），（ｂ）は本発
明の反応容器の汚染検査法の実施例を示す概略平面図及
び断面図、第３図は自動化学分析装置の構成例を示す断
面斜視図、第４図は第３図の分析装置の測光系を示す断
面図である。 １……恒温槽、２……恒温水、 ３……反応容器、７……測光系、 7a……ランプ、I01,I02……透過光量。
明の反応容器の汚染検査法の実施例を示す概略平面図及
び断面図、第３図は自動化学分析装置の構成例を示す断
面斜視図、第４図は第３図の分析装置の測光系を示す断
面図である。 １……恒温槽、２……恒温水、 ３……反応容器、７……測光系、 7a……ランプ、I01,I02……透過光量。
Claims (1)
- 【請求項１】光吸収率がほぼ零の溶媒に対して測光系に
含まれる光源から光を照射して第１の透過光量を当該測
光系により測定する第１のステップと、 前記溶媒中に反応容器を浸漬し、前記溶媒と前記反応容
器とを介するように前記光源から光を照射して第２の透
過光量を前記測光系により測定する第２のステップと、 前記第１の透過光量と前記第２の透過光量との差と予め
設定された基準値とを比較し、差が基準値を超える場合
は、当該反応容器を不良容器と判断するとともに、前記
光源の定格と前記第１の透過光量との比較から前記光源
の良否を判断する第３のステップとから成ることを特徴
とする反応容器の汚染検査法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129691A JP2655559B2 (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 反応容器の汚染検査法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129691A JP2655559B2 (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 反応容器の汚染検査法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01297535A JPH01297535A (ja) | 1989-11-30 |
| JP2655559B2 true JP2655559B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=15015805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63129691A Expired - Lifetime JP2655559B2 (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 反応容器の汚染検査法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2655559B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004251802A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| CN113866135A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-12-31 | 深圳市华腾半导体设备有限公司 | 污染检测方法、分光检测方法、分光管理方法及系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5630650A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-27 | Hitachi Ltd | Automatic chemical analyzer |
| JPS61137068A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-24 | Toshiba Corp | 純水分注装置 |
-
1988
- 1988-05-26 JP JP63129691A patent/JP2655559B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 小澤恭一編「臨床用自動分析」（昭６０−６−１０）講談社Ｐ．１０３−１２１ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01297535A (ja) | 1989-11-30 |
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