JP2611364B2 - 無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき方法 - Google Patents
無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき方法Info
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- JP2611364B2 JP2611364B2 JP21184788A JP21184788A JP2611364B2 JP 2611364 B2 JP2611364 B2 JP 2611364B2 JP 21184788 A JP21184788 A JP 21184788A JP 21184788 A JP21184788 A JP 21184788A JP 2611364 B2 JP2611364 B2 JP 2611364B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は酸性の無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき
方法に関する。
方法に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕 従来より、電子部品等に半田付け性などの点から無電
解錫めっきを施すことが行われているが、この場合電子
部品等のめっき不要箇所をマスキングし、必要箇所のみ
をめっきする部分めっきがなされことが多い。かかる部
分めっきを行なう場合、特に電子部品のめっきにおいて
はマスキング精度が強く要求され、これに対応して種々
のマスキング剤、マスキング方法が開発されているが、
一般にマスキング剤はアルカリ性に弱く、アルカリ性の
めっき浴でめっきを行なうとマスキング膜が剥離を起こ
すことがあり、また電子部品等の素材が多様化している
ことにより、耐アルカリ性の悪い素材も増え、このため
かかる部分めっき用のめっき浴として酸性タイプのもの
が望まれている。
解錫めっきを施すことが行われているが、この場合電子
部品等のめっき不要箇所をマスキングし、必要箇所のみ
をめっきする部分めっきがなされことが多い。かかる部
分めっきを行なう場合、特に電子部品のめっきにおいて
はマスキング精度が強く要求され、これに対応して種々
のマスキング剤、マスキング方法が開発されているが、
一般にマスキング剤はアルカリ性に弱く、アルカリ性の
めっき浴でめっきを行なうとマスキング膜が剥離を起こ
すことがあり、また電子部品等の素材が多様化している
ことにより、耐アルカリ性の悪い素材も増え、このため
かかる部分めっき用のめっき浴として酸性タイプのもの
が望まれている。
従来、酸性の無電解錫めっき浴としては、塩化浴、硫
酸浴などが知られているが、これらの浴から得られる錫
析出物はその粒子が比較的粗く、また析出速度も遅いと
いう問題があり、従って微細で緻密な粒子の無電解錫め
っき皮膜を与える酸性タイプのめっき浴が要求される。
酸浴などが知られているが、これらの浴から得られる錫
析出物はその粒子が比較的粗く、また析出速度も遅いと
いう問題があり、従って微細で緻密な粒子の無電解錫め
っき皮膜を与える酸性タイプのめっき浴が要求される。
なお従来、アルカリ性の無電解錫めっき浴として、有
機スルホン酸類を３価のチタンイオンと共に用いた浴が
知られている（特公昭59−34229号公報）が、このよう
なアルカリ性の無電解錫めっき浴は上述したように耐ア
ルカリ性の弱いマスキング剤を用いた部分めっき、耐ア
ルカリ性の弱い素材に対しては適用し難い。
機スルホン酸類を３価のチタンイオンと共に用いた浴が
知られている（特公昭59−34229号公報）が、このよう
なアルカリ性の無電解錫めっき浴は上述したように耐ア
ルカリ性の弱いマスキング剤を用いた部分めっき、耐ア
ルカリ性の弱い素材に対しては適用し難い。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、均一で
微細な粒子の錫析出物を与え、かつ良好な析出速度を有
する酸性の無電解錫めっき浴及び該無電解錫めっき浴を
用いた無電解錫めっき方法を提供することを目的とす
る。
微細な粒子の錫析出物を与え、かつ良好な析出速度を有
する酸性の無電解錫めっき浴及び該無電解錫めっき浴を
用いた無電解錫めっき方法を提供することを目的とす
る。
本発明者らは、上記目的を達成するため種々検討を行
なった結果、酸として置換又は未置換のアルカンスルホ
ン酸，ヒドロキシアルカンスルホン酸，ベンゼンスルホ
ン酸及びナフタレンスルホン酸から選ばれる１種以上の
有機スルホン酸を使用すると共に、２価の錫塩としてこ
れら有機スルホン酸の塩を使用し、かつチオ尿素を添加
し、更にこれらの成分を含む浴に水溶性ジルコニウム塩
を添加することにより、この浴から析出した錫皮膜は粒
子が均一かつ微細で、外観の良好な緻密な析出状態を有
し、しかも析出速度も比較的良好であることを見い出
し、本発明をなすに至ったものである。
なった結果、酸として置換又は未置換のアルカンスルホ
ン酸，ヒドロキシアルカンスルホン酸，ベンゼンスルホ
ン酸及びナフタレンスルホン酸から選ばれる１種以上の
有機スルホン酸を使用すると共に、２価の錫塩としてこ
れら有機スルホン酸の塩を使用し、かつチオ尿素を添加
し、更にこれらの成分を含む浴に水溶性ジルコニウム塩
を添加することにより、この浴から析出した錫皮膜は粒
子が均一かつ微細で、外観の良好な緻密な析出状態を有
し、しかも析出速度も比較的良好であることを見い出
し、本発明をなすに至ったものである。
以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明に係る無電解錫めっき浴は、置換又は未置換の
アルカンスルホン酸，ヒドロキシアルカンスルホン酸，
ベンゼンスルホン酸及びナフタレンスルホン酸から選ば
れる１種以上の有機スルホン酸、これらスルホン酸の２
価の錫塩、チオ尿素、水溶性ジルコニウム塩を含有して
なるものである。
アルカンスルホン酸，ヒドロキシアルカンスルホン酸，
ベンゼンスルホン酸及びナフタレンスルホン酸から選ば
れる１種以上の有機スルホン酸、これらスルホン酸の２
価の錫塩、チオ尿素、水溶性ジルコニウム塩を含有して
なるものである。
ここで、未置換のアルカンスルホン酸としては CnH2n+1SO3H （但し、ｎは１〜５、好ましくは１又は２である）で示
されるものが使用でき、未置換のヒドロキシアルカンス
ルホン酸としては （但し、ｍは０〜２、ｌは１〜３である）で示されるも
のが使用できる。また、置換アルカンスルホン酸、ヒド
ロキシアルカンスルホン酸としてはそのアルキル基の水
素原子の一部がハロゲン原子、アリール基、アルキルア
リール基、カルボキシル基、スルホン酸基などで置換さ
れたものが使用できる。一方、ベンゼンスルホン酸，ナ
フタレンスルホン酸は、下記式 で示されるものであるが、置換ベンゼンスルホン酸、ナ
フタレンスルホン酸としては、ベンゼン環、ナフタレン
環の水素原子の一部が水酸基、ハロゲン原子、アルキル
基、カルボキシル基、ニトロ基、メルカプト基、アミノ
基、スルホン酸基などで置換されたものが使用できる。
されるものが使用でき、未置換のヒドロキシアルカンス
ルホン酸としては （但し、ｍは０〜２、ｌは１〜３である）で示されるも
のが使用できる。また、置換アルカンスルホン酸、ヒド
ロキシアルカンスルホン酸としてはそのアルキル基の水
素原子の一部がハロゲン原子、アリール基、アルキルア
リール基、カルボキシル基、スルホン酸基などで置換さ
れたものが使用できる。一方、ベンゼンスルホン酸，ナ
フタレンスルホン酸は、下記式 で示されるものであるが、置換ベンゼンスルホン酸、ナ
フタレンスルホン酸としては、ベンゼン環、ナフタレン
環の水素原子の一部が水酸基、ハロゲン原子、アルキル
基、カルボキシル基、ニトロ基、メルカプト基、アミノ
基、スルホン酸基などで置換されたものが使用できる。
具体的には、本発明で好適に使用し得る有機カルボン
酸として、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸、プロ
パンスルホン酸、２−プロパンスルホン酸、ブタンスル
ホン酸、２−ブタンスルホン酸、ペンタンスルホン酸、
クロルプロパンスルホン酸、２−ヒドロキシエタン−１
−スルホン酸、２−ヒドロキシプロパン−１−スルホン
酸、２−ヒドロキシブタン−１−スルホン酸、２−ヒド
ロキシペンタンスルホン酸、アリルスルホン酸、２−ス
ルホ酢酸、２−又は３−スルホプロピオン酸、スルホこ
はく酸、スルホマレイン酸、スルホフマル酸、ベンゼン
スルホン酸、トルエンスルホン酸、キシレンスルホン
酸、ニトロベンゼンスルホン酸、スルホ安息香酸、スル
ホサルチル酸、ベンズアルデヒドスルホン酸、ｐ−フェ
ノールスルホン酸などが例示され、これらの１種又は２
種以上を組み合せて用いることができる。
酸として、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸、プロ
パンスルホン酸、２−プロパンスルホン酸、ブタンスル
ホン酸、２−ブタンスルホン酸、ペンタンスルホン酸、
クロルプロパンスルホン酸、２−ヒドロキシエタン−１
−スルホン酸、２−ヒドロキシプロパン−１−スルホン
酸、２−ヒドロキシブタン−１−スルホン酸、２−ヒド
ロキシペンタンスルホン酸、アリルスルホン酸、２−ス
ルホ酢酸、２−又は３−スルホプロピオン酸、スルホこ
はく酸、スルホマレイン酸、スルホフマル酸、ベンゼン
スルホン酸、トルエンスルホン酸、キシレンスルホン
酸、ニトロベンゼンスルホン酸、スルホ安息香酸、スル
ホサルチル酸、ベンズアルデヒドスルホン酸、ｐ−フェ
ノールスルホン酸などが例示され、これらの１種又は２
種以上を組み合せて用いることができる。
本発明のめっき浴は上述した有機スルホン酸とこれら
有機スルホン酸の２価の錫塩とを含むものであり、この
場合酸と錫塩とで有機スルホン酸の種類が相違していて
もよいが、同じである方が好ましい。なお、有機スルホ
ン酸の２価の錫塩は、過剰の有機スルホン酸を用い、こ
れに他の２価の錫塩を添加して、めっき浴中で有機スル
ホン酸の２価の錫塩を形成するようにしてもよい。
有機スルホン酸の２価の錫塩とを含むものであり、この
場合酸と錫塩とで有機スルホン酸の種類が相違していて
もよいが、同じである方が好ましい。なお、有機スルホ
ン酸の２価の錫塩は、過剰の有機スルホン酸を用い、こ
れに他の２価の錫塩を添加して、めっき浴中で有機スル
ホン酸の２価の錫塩を形成するようにしてもよい。
上記有機スルホン酸の使用量は、めっき浴１当り20
〜300g、特に50〜150gとすることが好ましく、また２価
の錫塩は錫イオンとして10〜50g、特に10〜30gとするこ
とが好ましい。この場合、有機スルホン酸と２価の錫イ
オンとの割合は１〜10:1、特に３〜7:1程度とすること
が好適である。
〜300g、特に50〜150gとすることが好ましく、また２価
の錫塩は錫イオンとして10〜50g、特に10〜30gとするこ
とが好ましい。この場合、有機スルホン酸と２価の錫イ
オンとの割合は１〜10:1、特に３〜7:1程度とすること
が好適である。
本発明で用いるチオ尿素は錯化剤といった作用を有す
るもので、その使用量はめっき浴１当り30〜130g、特
に50〜110gとすることが好ましい。
るもので、その使用量はめっき浴１当り30〜130g、特
に50〜110gとすることが好ましい。
本発明のめっき浴には、更に水溶性ジルコニウム塩を
添加するもので、水溶性ジルコニウム塩の添加により均
一で微細な粒子の析出皮膜を形成することができる。こ
の場合、水溶性ジルコニウム塩としては硝酸ジルコニウ
ム、ジルコニウムアセチルアセトネート等を用いること
ができ、その使用量はジルコニウムイオンとして10〜10
00mg/、特に50〜200mg/とすることが有効である。
ジルコニウム量が少なすぎると無電解錫めっき皮膜粒子
の微細化効果が十分発揮されない場合があり、多すぎる
と析出スピードが低下する場合が生じる。
添加するもので、水溶性ジルコニウム塩の添加により均
一で微細な粒子の析出皮膜を形成することができる。こ
の場合、水溶性ジルコニウム塩としては硝酸ジルコニウ
ム、ジルコニウムアセチルアセトネート等を用いること
ができ、その使用量はジルコニウムイオンとして10〜10
00mg/、特に50〜200mg/とすることが有効である。
ジルコニウム量が少なすぎると無電解錫めっき皮膜粒子
の微細化効果が十分発揮されない場合があり、多すぎる
と析出スピードが低下する場合が生じる。
なお、本発明のめっき浴は酸性であり、特にpH0.2〜
1.5、より望ましくは0.5〜0.9であることが好ましい。
1.5、より望ましくは0.5〜0.9であることが好ましい。
上述しためっき浴を用いて無電解錫めっきを行なう場
合、その温度は60〜90℃、特に65〜80℃が好ましい。こ
の場合、被めっき物は適宜選定され、例えば銅、銅合金
などの無電解錫めっきに好適に用いられる。なお、めっ
きに際し、必要により攪拌を行なうこともできる。
合、その温度は60〜90℃、特に65〜80℃が好ましい。こ
の場合、被めっき物は適宜選定され、例えば銅、銅合金
などの無電解錫めっきに好適に用いられる。なお、めっ
きに際し、必要により攪拌を行なうこともできる。
次に、実施例により本発明を具体的に説明するが、本
発明は下記の実施例に制限されるものではない。
発明は下記の実施例に制限されるものではない。
下記組成の無電解錫めっき浴を調製した。
メタンスルホン酸錫（２価の錫イオンとして）10g/ メタンスルホン酸 100g/ チオ尿素 80g/ 硝酸ジルコニウム 100mg/ pH 0.8 次に、常法により前処理した銅板に上記めっき浴を用
いて70℃でめっきを行なった。
いて70℃でめっきを行なった。
得られた無電解錫めっき皮膜の外観は均一な銀白色を
示し、顕微鏡で観察したところ、参考写真１に示すよう
に粒子は微細で均一であった。
示し、顕微鏡で観察したところ、参考写真１に示すよう
に粒子は微細で均一であった。
また、析出速度は３分で0.5μｍ、30分で1.3μｍであ
った。
った。
比較のため、硝酸ジルコニウムを添加しない以外は上
記と同様の組成のめっき浴を用いてめっきを行なった。
得られた無電解錫めっき皮膜は参考写真２に示すような
粗大な粒子を含むものであった。
記と同様の組成のめっき浴を用いてめっきを行なった。
得られた無電解錫めっき皮膜は参考写真２に示すような
粗大な粒子を含むものであった。
なお、参考写真1,2はいずれも倍率40倍の顕微鏡写真
である。
である。
以上説明したように、本発明によれば均一で微細な粒
子からなる緻密な無電解錫めっき皮膜を酸性浴から形成
することができる。
子からなる緻密な無電解錫めっき皮膜を酸性浴から形成
することができる。
Claims (2)
- 【請求項１】置換又は未置換のアルカンスルホン酸，ヒ
ドロキシアルカンスルホン酸，ベンゼンスルホン酸及び
ナフタレンスルホン酸から選ばれる１種以上の有機スル
ホン酸、これらスルホン酸の２価の錫塩、チオ尿素、水
溶性ジルコニウム塩を含有してなることを特徴とする無
電解錫めっき浴。 - 【請求項２】請求項１記載の無電解錫めっき浴を用いて
被めっき物を無電解錫めっきすることを特徴とする無電
解錫めっき方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21184788A JP2611364B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | 無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21184788A JP2611364B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | 無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0261073A JPH0261073A (ja) | 1990-03-01 |
| JP2611364B2 true JP2611364B2 (ja) | 1997-05-21 |
Family
ID=16612575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21184788A Expired - Lifetime JP2611364B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | 無電解錫めっき浴及び無電解錫めっき方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2611364B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10155894B2 (en) | 2014-07-07 | 2018-12-18 | Honeywell International Inc. | Thermal interface material with ion scavenger |
| US10174433B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-01-08 | Honeywell International Inc. | Stannous methanesulfonate solution with adjusted pH |
| US10287471B2 (en) | 2014-12-05 | 2019-05-14 | Honeywell International Inc. | High performance thermal interface materials with low thermal impedance |
| US10312177B2 (en) | 2015-11-17 | 2019-06-04 | Honeywell International Inc. | Thermal interface materials including a coloring agent |
| US10428256B2 (en) | 2017-10-23 | 2019-10-01 | Honeywell International Inc. | Releasable thermal gel |
| US10501671B2 (en) | 2016-07-26 | 2019-12-10 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material |
| US10781349B2 (en) | 2016-03-08 | 2020-09-22 | Honeywell International Inc. | Thermal interface material including crosslinker and multiple fillers |
| US11041103B2 (en) | 2017-09-08 | 2021-06-22 | Honeywell International Inc. | Silicone-free thermal gel |
| US11072706B2 (en) | 2018-02-15 | 2021-07-27 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material |
| US11373921B2 (en) | 2019-04-23 | 2022-06-28 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material with low pre-curing viscosity and elastic properties post-curing |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2544678B2 (ja) * | 1990-06-13 | 1996-10-16 | 住友軽金属工業株式会社 | 給水・給湯用内面Ｓｎメツキ銅管およびその製造方法 |
| JPH10330950A (ja) | 1997-06-02 | 1998-12-15 | Nippon Parkerizing Co Ltd | 改良充填置換析出型めっき金属材料及びその製造方法 |
| DE19749382A1 (de) * | 1997-11-07 | 1999-05-27 | Atotech Deutschland Gmbh | Verzinnung von Kupferrohren |
| US6821323B1 (en) * | 1999-11-12 | 2004-11-23 | Enthone Inc. | Process for the non-galvanic tin plating of copper or copper alloys |
-
1988
- 1988-08-26 JP JP21184788A patent/JP2611364B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10174433B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-01-08 | Honeywell International Inc. | Stannous methanesulfonate solution with adjusted pH |
| US10155894B2 (en) | 2014-07-07 | 2018-12-18 | Honeywell International Inc. | Thermal interface material with ion scavenger |
| US10428257B2 (en) | 2014-07-07 | 2019-10-01 | Honeywell International Inc. | Thermal interface material with ion scavenger |
| US10287471B2 (en) | 2014-12-05 | 2019-05-14 | Honeywell International Inc. | High performance thermal interface materials with low thermal impedance |
| US10312177B2 (en) | 2015-11-17 | 2019-06-04 | Honeywell International Inc. | Thermal interface materials including a coloring agent |
| US10781349B2 (en) | 2016-03-08 | 2020-09-22 | Honeywell International Inc. | Thermal interface material including crosslinker and multiple fillers |
| US10501671B2 (en) | 2016-07-26 | 2019-12-10 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material |
| US11041103B2 (en) | 2017-09-08 | 2021-06-22 | Honeywell International Inc. | Silicone-free thermal gel |
| US10428256B2 (en) | 2017-10-23 | 2019-10-01 | Honeywell International Inc. | Releasable thermal gel |
| US11072706B2 (en) | 2018-02-15 | 2021-07-27 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material |
| US11373921B2 (en) | 2019-04-23 | 2022-06-28 | Honeywell International Inc. | Gel-type thermal interface material with low pre-curing viscosity and elastic properties post-curing |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0261073A (ja) | 1990-03-01 |
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