JP2590686B2 - 混成集積回路 - Google Patents

混成集積回路

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JP2590686B2 JP5163053A JP16305393A JP2590686B2 JP 2590686 B2 JP2590686 B2 JP 2590686B2 JP 5163053 A JP5163053 A JP 5163053A JP 16305393 A JP16305393 A JP 16305393A JP 2590686 B2 JP2590686 B2 JP 2590686B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は混成集積回路に関し、特
に移動体通信の送受信機等に用いる高周波の混成集積回
路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の混成集積回路は、平面図
およびそのXY断面図である図3(A),(B)に示す
ように、放熱板4の上に半田付けされた例えば、誘電率
(εr)8〜10のセラミック等の基板3上に形成され
たマイクロストリップ線路6と、マイクロストリップ線
路6に搭載されたチップ抵抗R1〜R4と、チップコン
デンサC1〜C8と、スルーホール7を介して放熱板4
に半田付けされ基板3に搭載されたトランジスタ1,2
と、外部回路接続用の複数のリード5とを備える。トラ
ンジスタ2の出力側マイクロストリップ線路6にはトラ
ンジスタ2の出力インピーダンス整合用のラダー状に形
成された調整回路9を備える。
【0003】従来の混成集積回路の動作について説明す
ると、細部を図4(A)に示す調整回路9はコンデンサ
C7とLC共振回路を構成し、次のようにして、トラン
ジスタ2の出力インピーダンスと外部回路との整合を取
る。すなわち、図4(A)において、調整回路9のバー
a,b,cを順次切断することにより、調整回路9のL
C成分が大きくなり、図4(B)に示すスミスチャート
上におけるトランジスタ2の出力インピーダンス(A
点)が、誘導性(+xj)領域をB点の方向に移動する
とともに、容量性(−xj)領域側(C方向)に変化す
る。したがって、チップコンデンサC7の容量値を変更
すなわち交換することなくインピーダンス整合の調整が
できる。
【0004】なお、上記インピーダンス調整方法は、特
開昭61−133702号公報(文献1)記載のマイク
ロストリップ線路に設けたインピーダンス調整用のオー
プンスタブの一部の切断によりこのインピーダンス調整
を行なう方法の一変形である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の混成集
積回路は、基板の誘電率が大きいため、調整回路の調整
のため切断すべきバーの間隔を実用上の最小値である2
00μm以下と小さくしてもインピーダンス変化量が大
きく回路の最適値に調整することが困難であるという欠
点があった。また、上記調整の容易化を図るため、低誘
電率の基板を用いると回路全体が大型化してしまい製品
としての実用化が困難になるという欠点があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の混成集積回路
は、第1の誘電率の第1の誘電体基板の一主面に搭載し
た複数の周辺回路素子を含む高周波半導体装置と、入出
力インピーダンス整合用のインピーダンス調整素子と、
のインピーダンス調整素子を除く部分を前記第1の誘
電体基板の一主面に第1のマイクロストリップ線路で形
成した前記高周波半導体装置の入出力回路を含む信号伝
送路とを備える混成集積回路において、前記インピーダ
ンス調整素子が、前記第1の誘電率よりも低い第2の誘
電率の第2の誘電体の一主面に形成した予め定めた形状
の第2のマイクロストリップ線路で形成されたことを特
徴とする。
【0007】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。この発明の一実施例の平面図である図1を
参照すると、この実施例の混成集積回路は、上述の従来
の混成集積回路の諸構成要素1〜7,C1〜C7,R1
〜R4に加えて、従来の調整部9の代りに調整部8を備
える。
【0008】この発明を特徴ずける調整部8の細部を示
す図2を参照すると、この調整部8は基板3の誘電率
(εr=8〜10)より低い誘電率の例えばテフロン系
(εr=2〜3)の誘電体を用い裏面全面に接地導体を
蒸着あるいは金属箔の接着により形成した基板81と、
基板81の表面上に従来の調整部9と同様にマイクロス
トリップ線路として形成した調整用のバーe,f,gを
有するラダー部82とを備える。基板81は裏面を接着
剤等で基板3の表面に接着され、ラダー部82は半田付
けにより、マイクロストリップ線路6に接続される。
【0009】動作について説明すると、基板81はベー
スの基板3に比較して誘電率がおよそ1/3〜1/5で
あり、基板3とは独立した基板であるため、それら基板
上のマイクロストリップ線路が同一の物理長でもラダー
部82の電気長は基板3上の調整部9の電気長の1/√
3〜1/√5、平均をとって約1/2となる。したがっ
て、インピーダンス調整のために物理長を変更するため
のラダー部82のバーe,f,gの間隔を調整部9のバ
ーa,b,cの間隔と同一の寸法としても、他の条件が
同一であれば、電気長の変化は従来の約1/2ステップ
となり、よりきめの細かい調整が可能となる。
【0010】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上述の実施例に限られることがなく種々の変形が可
能である。例えば、ラダー部の代りに文献1記載のよう
なオープンスタブを用いることも、本発明の趣旨を逸脱
しない限り適用できることは勿論である。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の混成集積
回路は、インピーダンス調整素子がベース基板の誘電率
よりも低い誘電率の誘電体上に形成されるマイクロスト
リップ線路を用いた調整部を備えることにより、回路全
体を大型化することなく上記マイクロストリップ線路の
物理長の変化対応のインピーダンス変化量が小さく、回
路を容易に最適値に調整することが可能であるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の混成集積回路の一実施例を示す平面図
である。
【図2】図1の調整部の細部を示す平面図である。
【図3】従来の混成集積回路の一例を示す平面図および
断面図である。
【図4】図3の調整部の細部を示す平面図および調整の
一例を示すスミスチャートである。
【符号の説明】
1,2 トランジスタ 3,81 基板 4 放熱板 5 リード 6 マイクロストリップ線路 7 スルーホール 8,9 調整部 82 ラダー部 C1〜C7 チップコンデンサ R1〜R4 チップ抵抗
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01P 3/08 H01P 3/08

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の誘電率の第1の誘電体基板の一主
    面に搭載した複数の周辺回路素子を含む高周波半導体装
    置と、入出力インピーダンス整合用のインピーダンス調
    整素子と、このインピーダンス調整素子を除く部分を前
    記第1の誘電体基板の一主面に第1のマイクロストリッ
    プ線路で形成した前記高周波半導体装置の入出力回路を
    含む信号伝送路とを備える混成集積回路において、 前記インピーダンス調整素子が、前記第1の誘電率より
    も低い第2の誘電率の第2の誘電体の一主面に形成した
    予め定めた形状の第2のマイクロストリップ線路で形成
    されたことを特徴とする混成集積回路。
  2. 【請求項2】 前記インピーダンス調整素子が、前記伝
    送線路と直交する方向に平行に配置した予め定めた幅の
    2つの第1の線路とこれら2つの第1の線路を短絡する
    ように配置した横方向の複数の第2の線路とから成るは
    しご形の形状のスタブ回路を備え、 前記複数の第2の線路を1つずつ切断することによりイ
    ンピーダンス調整を行なうことを特徴とする請求項1記
    載の混成集積回路。
  3. 【請求項3】 前記インピーダンス調整素子が、予め
    めた形状のオープンスタブを備え、 前記オープンスタブを予め定めた調整規則に基いて1
    ステップづつ切除することによりインピーダンス調整を
    行なうことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路。
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