JP2587512Y2 - 基板収納状態検出装置 - Google Patents
基板収納状態検出装置Info
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- JP2587512Y2 JP2587512Y2 JP1993059288U JP5928893U JP2587512Y2 JP 2587512 Y2 JP2587512 Y2 JP 2587512Y2 JP 1993059288 U JP1993059288 U JP 1993059288U JP 5928893 U JP5928893 U JP 5928893U JP 2587512 Y2 JP2587512 Y2 JP 2587512Y2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、基板収納状態検出装
置、特に、多数枚の基板を整列させて収納する多数の保
持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する基板収
納状態検出装置に関する。
置、特に、多数枚の基板を整列させて収納する多数の保
持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する基板収
納状態検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術及びその課題】たとえば半導体や液晶表示
装置の製造工程では、多数の基板がキャリア内に収納さ
れた状態で一括して搬送される。基板処理装置では、基
板がキャリアから取り出され、処理槽等の処理部におい
て種々の処理が基板に施される。処理の済んだ基板は、
再びキャリア内に収納される。キャリアと処理部との間
の基板の受け渡しは、キャリアの保持溝に対応する多数
の保持溝を有するアームを備えた基板搬送ロボットが行
う。
装置の製造工程では、多数の基板がキャリア内に収納さ
れた状態で一括して搬送される。基板処理装置では、基
板がキャリアから取り出され、処理槽等の処理部におい
て種々の処理が基板に施される。処理の済んだ基板は、
再びキャリア内に収納される。キャリアと処理部との間
の基板の受け渡しは、キャリアの保持溝に対応する多数
の保持溝を有するアームを備えた基板搬送ロボットが行
う。
【0003】基板搬送ロボットによる基板受け渡しの際
には、キャリア内の基板の収納状態を検出する必要があ
る。たとえば、キャリア内に斜めに基板が収納されてい
ると、基板が正常に受け渡されなかったり、受け渡しの
際に基板が損傷することがある。ところで、キャリア内
の基板の有無を検出するため装置として、特開昭64−
743号公報に開示されたウエハカウンタがある。この
ウエハカウンタは、キャリア内に収納された基板が入り
込む多数の溝を有する検出部と、キャリア内に収納され
た基板が検出部の溝内に入り込むように検出部を昇降さ
せる駆動部と、検出部の溝内に基板が入り込んだか否か
を検出する基板検知手段とを備えている。
には、キャリア内の基板の収納状態を検出する必要があ
る。たとえば、キャリア内に斜めに基板が収納されてい
ると、基板が正常に受け渡されなかったり、受け渡しの
際に基板が損傷することがある。ところで、キャリア内
の基板の有無を検出するため装置として、特開昭64−
743号公報に開示されたウエハカウンタがある。この
ウエハカウンタは、キャリア内に収納された基板が入り
込む多数の溝を有する検出部と、キャリア内に収納され
た基板が検出部の溝内に入り込むように検出部を昇降さ
せる駆動部と、検出部の溝内に基板が入り込んだか否か
を検出する基板検知手段とを備えている。
【0004】このウエハカウンタでは、キャリア内に基
板が所定枚数存在するか否かについての検出はできる
が、キャリア内に斜めに基板が収納されている不具合は
検出できない。すなわち、斜め収納の問題も含めて基板
収納状態の不具合を検出することはできない。場合によ
っては、検出部の溝に基板が斜めに入り込むことで、基
板割れ等の新たな問題をも生じる。
板が所定枚数存在するか否かについての検出はできる
が、キャリア内に斜めに基板が収納されている不具合は
検出できない。すなわち、斜め収納の問題も含めて基板
収納状態の不具合を検出することはできない。場合によ
っては、検出部の溝に基板が斜めに入り込むことで、基
板割れ等の新たな問題をも生じる。
【0005】本考案の目的は、基板がキャリア内に正し
く収納されているか否かを容易に検出できるようにする
ことにある。
く収納されているか否かを容易に検出できるようにする
ことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本考案に係る基板収納状
態検出装置は、多数枚の基板を整列させて保持する多数
の保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する装
置であって、多数の基板検出部と、基板押し上げ部と、
駆動部と、基板検知手段と、制御部とを備えている。基
板検出部は、多数の第1溝を形成する。この第1溝に
は、キャリア内に正しく収納された基板が入り込む。基
板押し上げ部は、基板検出部の側方に設けられている。
この基板押し上げ部は、キャリア内に傾斜して収納され
た基板を、キャリアに対して相対的に押し上げる。ま
た、この基板押し上げ部は、多数の第2溝を形成する。
これらの第2溝の溝幅は、第1溝の溝幅よりも狭い。駆
動部は、キャリア内に正しく収納された基板が第1溝及
び第2溝に入り込むように、基板検出部及び基板押し上
げ部をキャリアに対して相対的に昇降させる。基板検知
手段は、基板検出部及び基板押し上げ部が駆動部により
昇降させられたときに、第1溝に基板が入り込んだか否
かを検知する。制御部は、基板検知手段の検知結果から
キャリア内に正しく収納された基板の枚数を算出し、こ
のキャリア内に正しく収納された基板の枚数とキャリア
内に収納した基板の全枚数とを比較して、これらの枚数
が一致していないときにエラー処理を行う。
態検出装置は、多数枚の基板を整列させて保持する多数
の保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する装
置であって、多数の基板検出部と、基板押し上げ部と、
駆動部と、基板検知手段と、制御部とを備えている。基
板検出部は、多数の第1溝を形成する。この第1溝に
は、キャリア内に正しく収納された基板が入り込む。基
板押し上げ部は、基板検出部の側方に設けられている。
この基板押し上げ部は、キャリア内に傾斜して収納され
た基板を、キャリアに対して相対的に押し上げる。ま
た、この基板押し上げ部は、多数の第2溝を形成する。
これらの第2溝の溝幅は、第1溝の溝幅よりも狭い。駆
動部は、キャリア内に正しく収納された基板が第1溝及
び第2溝に入り込むように、基板検出部及び基板押し上
げ部をキャリアに対して相対的に昇降させる。基板検知
手段は、基板検出部及び基板押し上げ部が駆動部により
昇降させられたときに、第1溝に基板が入り込んだか否
かを検知する。制御部は、基板検知手段の検知結果から
キャリア内に正しく収納された基板の枚数を算出し、こ
のキャリア内に正しく収納された基板の枚数とキャリア
内に収納した基板の全枚数とを比較して、これらの枚数
が一致していないときにエラー処理を行う。
【0007】
【作用】本考案に係る基板収納状態検出装置では、正し
くキャリアに収納された基板は、基板検出部の第1溝に
入り込み、基板検知手段によって検出される。一方、キ
ャリア内に傾斜して収納された不良状態の基板は、基板
押し上げ部により押し上げられて第1溝に入り込まない
ので、基板検知手段によっては検知されない。そして、
制御部は、基板検知手段の検知結果から算出される正し
くキャリアに収納された基板の枚数をキャリア内に収容
した基板の全枚数と較べ、これらの枚数が一致していな
いときには、キャリア内に傾斜して収納された不良状態
の基板が存在するとしてエラー処理を行う。これによ
り、キャリア内の全ての基板が正しく収納されているか
否かを検出できる。
くキャリアに収納された基板は、基板検出部の第1溝に
入り込み、基板検知手段によって検出される。一方、キ
ャリア内に傾斜して収納された不良状態の基板は、基板
押し上げ部により押し上げられて第1溝に入り込まない
ので、基板検知手段によっては検知されない。そして、
制御部は、基板検知手段の検知結果から算出される正し
くキャリアに収納された基板の枚数をキャリア内に収容
した基板の全枚数と較べ、これらの枚数が一致していな
いときには、キャリア内に傾斜して収納された不良状態
の基板が存在するとしてエラー処理を行う。これによ
り、キャリア内の全ての基板が正しく収納されているか
否かを検出できる。
【0008】
【実施例】図1において、本考案の一実施例が採用され
た浸漬型基板処理装置1は、基板を収納するためのキャ
リアCを搬入・搬出するための搬入搬出部2と、基板移
載装置3と、基板処理槽4と、乾燥装置5と、基板搬送
ロボット6とを備えている。また、基板処理装置1は、
複数の薬液貯留容器7a〜7eを有している。各容器7
a〜7e内の薬液は、所定のプログラムに従って基板処
理槽4に供給される。
た浸漬型基板処理装置1は、基板を収納するためのキャ
リアCを搬入・搬出するための搬入搬出部2と、基板移
載装置3と、基板処理槽4と、乾燥装置5と、基板搬送
ロボット6とを備えている。また、基板処理装置1は、
複数の薬液貯留容器7a〜7eを有している。各容器7
a〜7e内の薬液は、所定のプログラムに従って基板処
理槽4に供給される。
【0009】搬入搬出部2には、搬入されたキャリアC
内の基板の収納状態を検出する基板収納状態検出装置9
と、キャリアCを搬送するキャリア移載ロボット10と
が設けられている。キャリア移載ロボット10は、昇降
及び回転が可能であり、また図1の矢印Aに示す方向
(装置奥行き方向)に移動可能である。基板移載装置
3、基板処理槽4及び乾燥装置5は、左右方向に並設さ
れている。基板搬送ロボット6は、基板を把持するため
の1対のアーム11を有している。また基板搬送ロボッ
ト6は、矢印Bで示す方向(装置左右方向)に移動可能
であり、かつ昇降可能である。この基板搬送ロボット6
により、基板を基板移載装置3から乾燥装置5の間で搬
送可能である。また、基板処理槽4には、処理液内で基
板を浸漬するための昇降可能な基板保持具12が設けら
れている。
内の基板の収納状態を検出する基板収納状態検出装置9
と、キャリアCを搬送するキャリア移載ロボット10と
が設けられている。キャリア移載ロボット10は、昇降
及び回転が可能であり、また図1の矢印Aに示す方向
(装置奥行き方向)に移動可能である。基板移載装置
3、基板処理槽4及び乾燥装置5は、左右方向に並設さ
れている。基板搬送ロボット6は、基板を把持するため
の1対のアーム11を有している。また基板搬送ロボッ
ト6は、矢印Bで示す方向(装置左右方向)に移動可能
であり、かつ昇降可能である。この基板搬送ロボット6
により、基板を基板移載装置3から乾燥装置5の間で搬
送可能である。また、基板処理槽4には、処理液内で基
板を浸漬するための昇降可能な基板保持具12が設けら
れている。
【0010】基板収納状態検出装置9は、図2に示すよ
うに、第1及び第2の基板保持装置15,16と、2つ
のキャリアCを載置して昇降する昇降テーブル18と、
昇降テーブル18を昇降させるための昇降駆動装置19
とを有している。第1及び第2の基板保持装置15,1
6は、多数の基板を保持する基板保持具20,21と、
基板保持具20,21をそれぞれ支持する支持具22,
23と、支持具22,23を基板処理装置1のフレーム
(図示せず)に固定するための固定フレーム24とを有
している。昇降テーブル18には、キャリアCを位置決
めするための位置決め部材45が設けられている。
うに、第1及び第2の基板保持装置15,16と、2つ
のキャリアCを載置して昇降する昇降テーブル18と、
昇降テーブル18を昇降させるための昇降駆動装置19
とを有している。第1及び第2の基板保持装置15,1
6は、多数の基板を保持する基板保持具20,21と、
基板保持具20,21をそれぞれ支持する支持具22,
23と、支持具22,23を基板処理装置1のフレーム
(図示せず)に固定するための固定フレーム24とを有
している。昇降テーブル18には、キャリアCを位置決
めするための位置決め部材45が設けられている。
【0011】基板保持具20,21は同じ構成であるの
で、基板保持具20について以下に説明する。基板保持
具20は、図3〜図6に示すように、基板Wの配列方向
に長いベースフレーム30と、ベースフレーム30上の
中央部に長手方向等間隔で配置された基板検出部31
と、基板検出部31の両側方(図3の上下両側方)に配
置された基板押し上げ部32とを有している。ベースフ
レーム30は支持具22の上端に固定されている。
で、基板保持具20について以下に説明する。基板保持
具20は、図3〜図6に示すように、基板Wの配列方向
に長いベースフレーム30と、ベースフレーム30上の
中央部に長手方向等間隔で配置された基板検出部31
と、基板検出部31の両側方(図3の上下両側方)に配
置された基板押し上げ部32とを有している。ベースフ
レーム30は支持具22の上端に固定されている。
【0012】基板押し上げ部32及び基板検出部31
は、ベースフレーム30上に矩形の薄板を立設した櫛歯
形状であり、ガイド溝33a,33bがそれぞれ形成さ
れている。このガイド溝33a,33bは、キャリアC
に形成された基板保持溝34と等間隔に形成されてい
る。なお、斜めに収納された基板W2を確実に押し上げ
得るように、ガイド溝33aの溝幅はガイド溝33bの
溝幅より狭くなっており、また基板押し上げ部32の上
端は水平面となっている。
は、ベースフレーム30上に矩形の薄板を立設した櫛歯
形状であり、ガイド溝33a,33bがそれぞれ形成さ
れている。このガイド溝33a,33bは、キャリアC
に形成された基板保持溝34と等間隔に形成されてい
る。なお、斜めに収納された基板W2を確実に押し上げ
得るように、ガイド溝33aの溝幅はガイド溝33bの
溝幅より狭くなっており、また基板押し上げ部32の上
端は水平面となっている。
【0013】隣り合う基板検出部31には、ガイド溝3
3bに入り込んだ基板W1を検出するための透過型の光
センサ35が配置されている。各光センサ35は、1対
の投光部35T及び受光部35Rが対向配置されて構成
されている。1つの基板検出部31には、1つの光セン
サの透光部35Tと、それに隣り合う別の光センサ35
の受光部35Rとが配置されており、この結果、光セン
サ35は千鳥状に配列されている。なお、投光部35T
及び受光部35Rの先端部は、たとえばサイドビュー型
の光ファイバにより構成されている。
3bに入り込んだ基板W1を検出するための透過型の光
センサ35が配置されている。各光センサ35は、1対
の投光部35T及び受光部35Rが対向配置されて構成
されている。1つの基板検出部31には、1つの光セン
サの透光部35Tと、それに隣り合う別の光センサ35
の受光部35Rとが配置されており、この結果、光セン
サ35は千鳥状に配列されている。なお、投光部35T
及び受光部35Rの先端部は、たとえばサイドビュー型
の光ファイバにより構成されている。
【0014】昇降駆動装置19は、図2に示すように、
基板処理装置1のフレームに、上下方向に配置されたガ
イドレール40を有している。昇降テーブル18の側壁
部18aには、このガイドレール40にスライド自在に
係合するガイド部41が設けられている。また、昇降テ
ーブル18の側壁部18aには、ボールナット42が設
けられている。
基板処理装置1のフレームに、上下方向に配置されたガ
イドレール40を有している。昇降テーブル18の側壁
部18aには、このガイドレール40にスライド自在に
係合するガイド部41が設けられている。また、昇降テ
ーブル18の側壁部18aには、ボールナット42が設
けられている。
【0015】一方、基板処理装置1の図示しないフレー
ムには、上下方向に延びるボールねじ43が支持されて
おり、その下端はモータ44に連結されている。ボール
ねじ43に昇降テーブル18のボールナット42が螺合
している。これにより、昇降テーブル18は、モータ4
4の駆動によってガイドレール40に沿い昇降が可能で
ある。
ムには、上下方向に延びるボールねじ43が支持されて
おり、その下端はモータ44に連結されている。ボール
ねじ43に昇降テーブル18のボールナット42が螺合
している。これにより、昇降テーブル18は、モータ4
4の駆動によってガイドレール40に沿い昇降が可能で
ある。
【0016】基板移載装置3は、図7に示すように、第
1及び第2の基板保持装置55,56と、2つのカセッ
トCを載置して昇降する昇降テーブル58と、昇降テー
ブル58を昇降させるための昇降駆動装置59とを有し
ている。第1及び第2の基板保持装置55,56は、そ
れぞれ基板を保持する保持手段60,61と、保持手段
60,61を支持する支持手段62,63と、支持手段
62,63を相互に接近、離反させるための移動機構6
4とを有している。この移動機構64は、2つのキャリ
アCから取り出された基板Wを、アーム11で一括して
保持するために接近させるものである。
1及び第2の基板保持装置55,56と、2つのカセッ
トCを載置して昇降する昇降テーブル58と、昇降テー
ブル58を昇降させるための昇降駆動装置59とを有し
ている。第1及び第2の基板保持装置55,56は、そ
れぞれ基板を保持する保持手段60,61と、保持手段
60,61を支持する支持手段62,63と、支持手段
62,63を相互に接近、離反させるための移動機構6
4とを有している。この移動機構64は、2つのキャリ
アCから取り出された基板Wを、アーム11で一括して
保持するために接近させるものである。
【0017】支持手段62,63は、基板処理装置1の
フレーム(図示せず)に固定された固定フレーム65に
図7の左右方向に移動自在に支持されている。この左右
方向の移動を移動機構64が行う。昇降駆動装置59
は、基板処理装置1のフレームに、上下方向に配置され
たガイドレール66を有している。昇降テーブル58の
側壁部58cには、このガイドレール66にスライド自
在に係合するガイド部67が設けられている。また、昇
降テーブル58の側壁部58aにはボールナット68が
設けられている。
フレーム(図示せず)に固定された固定フレーム65に
図7の左右方向に移動自在に支持されている。この左右
方向の移動を移動機構64が行う。昇降駆動装置59
は、基板処理装置1のフレームに、上下方向に配置され
たガイドレール66を有している。昇降テーブル58の
側壁部58cには、このガイドレール66にスライド自
在に係合するガイド部67が設けられている。また、昇
降テーブル58の側壁部58aにはボールナット68が
設けられている。
【0018】一方、基板処理装置1の図示しないフレー
ム側には、上下方向に延びるボールねじ69が支持され
ており、この下端には、モータ70が連結されている。
このモータ70によって、ガイドレール66に沿い昇降
テーブル58が昇降可能である。基板処理装置1は、図
8に示すような制御部80を有している。制御部80
は、CPU,ROM,RAMを含むマイクロコンピュー
タから構成されている。制御部80には、操作パネル8
1、基板収納状態検出装置9のモータ44、キャリア移
載ロボット10、基板搬送ロボット6、基板移載装置
3、基板処理槽4及び乾燥装置5が接続されている。ま
た制御部80には、多数の光センサ35及び他の入出力
部も接続されている。
ム側には、上下方向に延びるボールねじ69が支持され
ており、この下端には、モータ70が連結されている。
このモータ70によって、ガイドレール66に沿い昇降
テーブル58が昇降可能である。基板処理装置1は、図
8に示すような制御部80を有している。制御部80
は、CPU,ROM,RAMを含むマイクロコンピュー
タから構成されている。制御部80には、操作パネル8
1、基板収納状態検出装置9のモータ44、キャリア移
載ロボット10、基板搬送ロボット6、基板移載装置
3、基板処理槽4及び乾燥装置5が接続されている。ま
た制御部80には、多数の光センサ35及び他の入出力
部も接続されている。
【0019】次に上述の実施例の動作について説明す
る。基板が搬入搬出部2に載置されると、基板収納状態
検出装置9がキャリアC内に収納された基板Wの収納状
態を検出する。ここでは、制御部80は図9に示す制御
を行う。まず、ステップS1でキャリアCが載置された
か否かを判断する。この判断は図示しないセンサからの
入力により行う。キャリアCが載置されるとステップS
2に移行する。ステップS2では、モータ44を駆動し
て昇降テーブル18を下降させる。この下降中におい
て、図3及び図5に示すように、正しく基板保持溝34
に保持された基板W1は、ガイド溝33a,33b内に
嵌め込まれ、投光部35Tから受光部35Rに向かう光
を遮断する。一方、たとえば隣り合う保持溝34に誤っ
て斜めに収納された基板W2は、図5に示すように基板
押し上げ部32上に乗った状態で、基板押し上げ部32
により押し上げられる。この結果、投光部35Tから出
た光は、斜めに収納された基板W2によっては遮断され
ず、受光部35Rで受光される。
る。基板が搬入搬出部2に載置されると、基板収納状態
検出装置9がキャリアC内に収納された基板Wの収納状
態を検出する。ここでは、制御部80は図9に示す制御
を行う。まず、ステップS1でキャリアCが載置された
か否かを判断する。この判断は図示しないセンサからの
入力により行う。キャリアCが載置されるとステップS
2に移行する。ステップS2では、モータ44を駆動し
て昇降テーブル18を下降させる。この下降中におい
て、図3及び図5に示すように、正しく基板保持溝34
に保持された基板W1は、ガイド溝33a,33b内に
嵌め込まれ、投光部35Tから受光部35Rに向かう光
を遮断する。一方、たとえば隣り合う保持溝34に誤っ
て斜めに収納された基板W2は、図5に示すように基板
押し上げ部32上に乗った状態で、基板押し上げ部32
により押し上げられる。この結果、投光部35Tから出
た光は、斜めに収納された基板W2によっては遮断され
ず、受光部35Rで受光される。
【0020】ステップS3では、光センサ35の検出結
果からキャリアCに正しく収納された基板Wの枚数及び
位置を検出する。ステップS4では、検出された枚数と
予め設定された枚数とを比較する。ステップS5では、
比較結果が一致したか否かを判断する。比較結果が一致
していなければステップS6に移行し、エラー処理を実
行する。そして、ステップS7では、昇降テーブル18
を上昇させ元の位置に戻す。
果からキャリアCに正しく収納された基板Wの枚数及び
位置を検出する。ステップS4では、検出された枚数と
予め設定された枚数とを比較する。ステップS5では、
比較結果が一致したか否かを判断する。比較結果が一致
していなければステップS6に移行し、エラー処理を実
行する。そして、ステップS7では、昇降テーブル18
を上昇させ元の位置に戻す。
【0021】なお、エラー処理では、操作者に対する警
報が発せられ、またステップ7後の基板処理動作が停止
させられる。基板Wの収納状態が正常であれば、キャリ
ア移載ロボット10がキャリアCを保持して基板移載装
置3に搬送する。2つのキャリアCが基板移載装置3に
移載されると、基板移載装置3の昇降テーブル58が下
降し、基板保持装置55,56によってキャリアC内か
ら基板Wが取り出される。取り出された基板Wは、基板
搬送ロボット6のアーム11に一括して保持されて、基
板処理槽4に搬送される。基板処理槽4では、搬送され
た基板Wを基板保持具12が受け取って処理槽内に浸漬
させる。そして所定の薬液処理がなされる。薬液処理が
終了した基板Wは、基板保持具12から基板搬送ロボッ
ト6に渡され、乾燥装置5に搬送される。乾燥装置5で
は、基板Wを受け取って乾燥させる。乾燥が終了した基
板Wは、基板移載装置3に搬送され、基板移載装置3で
キャリアC内に収納される。基板Wが収納されたキャリ
アCは、キャリア移載ロボット10により搬入搬出部2
に戻される。
報が発せられ、またステップ7後の基板処理動作が停止
させられる。基板Wの収納状態が正常であれば、キャリ
ア移載ロボット10がキャリアCを保持して基板移載装
置3に搬送する。2つのキャリアCが基板移載装置3に
移載されると、基板移載装置3の昇降テーブル58が下
降し、基板保持装置55,56によってキャリアC内か
ら基板Wが取り出される。取り出された基板Wは、基板
搬送ロボット6のアーム11に一括して保持されて、基
板処理槽4に搬送される。基板処理槽4では、搬送され
た基板Wを基板保持具12が受け取って処理槽内に浸漬
させる。そして所定の薬液処理がなされる。薬液処理が
終了した基板Wは、基板保持具12から基板搬送ロボッ
ト6に渡され、乾燥装置5に搬送される。乾燥装置5で
は、基板Wを受け取って乾燥させる。乾燥が終了した基
板Wは、基板移載装置3に搬送され、基板移載装置3で
キャリアC内に収納される。基板Wが収納されたキャリ
アCは、キャリア移載ロボット10により搬入搬出部2
に戻される。
【0022】この段階で、再び図9の処理が実行され
る。これによって、この段階でもキャリアC内での基板
Wの収納状態の良否が判断される。 〔他の実施例〕 キャリアCを下降させる代わりに、ベースフレーム30
を上昇させてもよい。
る。これによって、この段階でもキャリアC内での基板
Wの収納状態の良否が判断される。 〔他の実施例〕 キャリアCを下降させる代わりに、ベースフレーム30
を上昇させてもよい。
【0023】
【考案の効果】本考案に係る基板収納状態検出装置で
は、キャリア内に正しく収納された基板だけが多数の第
1溝に入り込み、傾斜して収納された基板は基板押し上
げ部により押し上げられるので、基板が正しくキャリア
内に収納されているか否かを容易に検出できる。
は、キャリア内に正しく収納された基板だけが多数の第
1溝に入り込み、傾斜して収納された基板は基板押し上
げ部により押し上げられるので、基板が正しくキャリア
内に収納されているか否かを容易に検出できる。
【図1】本考案の一実施例が採用された浸漬型基板処理
装置の斜視図。
装置の斜視図。
【図2】基板収納状態検出装置の一部破断側面図。
【図3】キャリアと基板保持具との関係を示す平面図。
【図4】基板保持具の縦断面図。
【図5】図4のV−V断面拡大図。
【図6】図4のVI矢視部分拡大図。
【図7】基板移載装置の一部破断側面図。
【図8】基板処理装置の制御ブロック図。
【図9】基板保持状態検出処理の制御フローチャート。
9 基板収納状態検出装置 19 昇降駆動装置 20,21 基板保持具 31 基板検出部 32 基板押し上げ部 33b ガイド溝 35 光センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B65G 1/00 - 1/20 H01L 21/68
Claims (1)
- 【請求項1】多数枚の基板を整列させて収納する多数の
保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する基板
収納状態検出装置であって、前記キャリア内に正しく収納された基板が入り込む多数
の第1溝を形成する多数の基板検出部と、 前記基板検出部の側方に設けられ、前記キャリア内に傾
斜して収納された基板を前記キャリアに対し相対的に押
し上げる、前記第1溝よりも溝幅の狭い多数の第2溝を
形成する基板押し上げ部と、 前記キャリア内に正しく収納された基板が前記第1溝及
び第2溝に入り込むように前記基板検出部及び前記基板
押し上げ部を前記キャリアに対し相対的に昇降させる駆
動部と、 前記第1溝に基板が入り込んだか否かを検知する基板検
知手段と、前記基板検知手段の検知結果から前記キャリア内に正し
く収納された基板の枚数を算出し、この前記キャリア内
に正しく収納された基板の枚数と前記キャリア内に収納
した基板の全枚数とを比較して、これらの枚数が一致し
ていないときにエラー処理を行う制御部と、 を備えた基板収納状態検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993059288U JP2587512Y2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 基板収納状態検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993059288U JP2587512Y2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 基板収納状態検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0730207U JPH0730207U (ja) | 1995-06-06 |
JP2587512Y2 true JP2587512Y2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=13109056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1993059288U Expired - Lifetime JP2587512Y2 (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 基板収納状態検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2587512Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4647646B2 (ja) * | 2000-06-05 | 2011-03-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置および液処理方法 |
JP5270953B2 (ja) * | 2008-04-18 | 2013-08-21 | 川崎重工業株式会社 | ロボットハンド装置 |
JP6156513B2 (ja) * | 2013-11-22 | 2017-07-05 | 株式会社島津製作所 | 基板処理システム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06105746B2 (ja) * | 1986-07-03 | 1994-12-21 | 東京エレクトロン相模株式会社 | ウェハカウンタ及びウェハカウント方法 |
JPH0611070B2 (ja) * | 1987-02-13 | 1994-02-09 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハカウンタ |
JP2688554B2 (ja) * | 1992-01-22 | 1997-12-10 | 株式会社日立製作所 | ウェハ異常検知装置及びウェハ検査方法 |
-
1993
- 1993-11-04 JP JP1993059288U patent/JP2587512Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0730207U (ja) | 1995-06-06 |
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