JP3241336B2 - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP3241336B2
JP3241336B2 JP772199A JP772199A JP3241336B2 JP 3241336 B2 JP3241336 B2 JP 3241336B2 JP 772199 A JP772199 A JP 772199A JP 772199 A JP772199 A JP 772199A JP 3241336 B2 JP3241336 B2 JP 3241336B2
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正美 大谷
義光 福冨
健男 岡本
義二 岡
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板を多段に収納したカセットから基板を取り出し、こ
の基板をフォトレジストをコーティングするスピンナー
部や、熱処理部などの基板処理部へ搬送し、各基板処理
部で基板に所要の処理を施す基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の基板処理装置に備えられ
た基板取り出し機構として、次のようなものがある。例
えば、基板を収納したカセットを、カセット内の基板収
納溝のピッチと同じピッチで間欠的に昇降し、所定位置
に固定設置された光センサによってカセット内の各溝の
基板の有無を検出していく。カセットに基板を出し入れ
するための基板支持アームは、カセットに対して前後動
のみするように構成されている。カセットから基板を取
り出す場合には、カセットを昇降させて、基板が有るこ
とが検出された溝部分を基板支持アームの進入経路の高
さにセットする。続いて、基板支持アームがカセット内
に進入して、カセットから基板を取り出す。
【0003】また、上記したような従来の基板処理装置
において、カセットを載置する高さに次のような2つの
制約がある。第1は、カセット搬送ロボットを使ってカ
セットを基板処理装置へ搬入する場合に、カセットが載
置される高さをカセット搬送ロボットに合わせて第1の
高さに設定しておく必要があるという制約である。第2
は、カセットから取り出した基板を装置内の各基板処理
部へ搬送するにあたり、各基板処理部への基板搬送に好
適な第2の高さにカセットを設定しておく必要があると
いう制約である。このようなカセットの設定高さの制約
を満足させるという目的のためにも、上記のようなカセ
ット昇降機構が利用されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、従来装置によれば、カセットからの基
板取り出しや、カセットの設定高さの制約を満足させる
ために、カセットを昇降させる際に、カセットが振動す
るので、カセット内に付着していた塵埃が離脱して基板
に付着したり、あるいは基板収納溝の内壁と基板端部と
が擦れあって塵埃が発生するといった不都合がある。そ
のため従来の基板処理装置によれば、カセットの振動に
起因した塵埃の影響で、基板が汚染されやすいという問
題がある。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、カセットからの基板の取り出しに際し
て、塵埃の発生を極力抑えて基板処理の品質を向上させ
ることができる基板処理装置を提供することを目的とし
ている。
【0006】また、本発明の他の目的は、装置内へカセ
ットを搬入するときのカセットの載置高さの制約と、カ
セットから取り出された基板を装置内の基板処理部へ搬
送するときの高さの制約を、カセットを昇降させること
なく満足させることができる基板処理装置を提供するこ
とにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。基板を多
段に収納する複数個のカセットを載置する静止したカセ
ット載置用の基台と、前記カセットに収納されている基
板の収納位置を検出する収納位置検出手段と、前記カセ
ット載置用の基台に沿った第1搬送路を移動し、かつ基
板を上下多段に収納しているカセットの収納高さを前記
収納位置検出手段の検出結果に基づいて昇降して、カセ
ットから基板を取り出すインデクサー搬送ユニットと、
前記第1搬送路の中央部から略直角の方向に延びる第2
搬送路に沿って、基板支持アームに基板を載置した状態
で移送するプロセス搬送ユニットと、前記インデクサー
搬送ユニットとの間で基板の受け渡しをする第1の高さ
と、前記プロセス搬送ユニットとの間で基板の受け渡し
をする第2の高さとの間を昇降するとともに、インデク
サー搬送ユニットと一体となってカセット載置用の基台
に沿って移動する基板載置具と、前記第2搬送路に沿っ
て配置された複数個の基板処理部とを備え、前記インデ
クサー搬送ユニットは、カセットから取り出した基板を
第1搬送路に沿って搬送して、その基板を前記第1の高
さにある基板載置具に受け渡し、前記基板載置具は受け
取った基板を第2の高さにまで昇降させ、前記プロセス
搬送ユニットは第2の高さにある基板を基板載置具から
受け取り、その基板を第2搬送路に沿って前記複数個の
基板処理部へ搬送することを特徴とするものである。
【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置において、前記複数個の基板処理部は、
前記第2搬送路に沿って配置されたスピンナー部と熱処
理部とを含み、前記インデクサー搬送ユニットは、カセ
ットから取り出した基板を第1搬送路に沿って搬送し
て、その基板を前記第1の高さにある基板載置具に受け
渡し、前記基板載置具は受け取った基板を第2の高さに
まで昇降させ、前記プロセス搬送ユニットは第2の高さ
にある基板を基板載置具から受け取り、その基板を第2
搬送路に沿ってスピンナー部と熱処理部とを含む前記複
数個の基板処理部へ搬送するものである。
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の基板処理装置において、前記基板載置具は、上端に基
板が載置される複数本の支持ピンで構成され、各支持ピ
ンが一体に昇降するものである。
【0010】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の基板処理装置において、前記基板処理装置はさらに、
インデクサー搬送ユニットによってカセットから取り出
された基板の位置合わせを行う基板整合機構を備え、前
記基板整合機構はインデクサー搬送ユニットと一体とな
ってカセット載置用の基台に沿って移動するものであ
る。
【0011】請求項5に記載の発明は、請求項4に記載
の基板処理装置において、前記基板は半導体ウエハであ
って、前記基板整合機構は、基板の外径と略同一曲率と
なるように配置された複数個の突起を、基板の周辺に当
接・離間して基板の位置合わせを行うものである。
【0012】請求項6に記載の発明は、請求項5に記載
の基板処理装置において、前記インデクサー搬送ユニッ
トは、カセットに向かって前後動する基板取り出し用の
アームを備えるものである。
【0013】
【作用】請求項1の発明の作用は次のとおりである。基
台に載置された複数個のカセットの中の1つから基板を
取り出すときは、所定のカセットに対向する位置にまで
インデクサー搬送ユニットが第1搬送路を移動する。続
いて、インデクサー搬送ユニットは、収納位置検出手段
による検出結果に基づいてカセット内の所定の基板に対
向する高さにまで昇降してカセットから基板を取り出
す。基板を取り出したインデクサー搬送ユニットは第1
搬送路を移動して、第1の高さにある基板載置具に基板
を受け渡す。インデクサー搬送ユニットと一体となって
移動する基板載置具は、この基板を第2の高さにまで昇
降させる。プロセス搬送ユニットは、第2の高さにある
基板を受け取る。プロセス搬送ユニットは第2の搬送路
を移動して、受け取った基板を各基板処理部へ搬送す
る。
【0014】基板処理部で処理された基板をカセットへ
戻すときは、上記の基板取り出し動作とは逆の手順にな
る。すなわち、基板処理部から処理済の基板を受け取っ
たプロセス搬送ユニットは第2搬送路を移動し、処理済
の基板を第2の高さにある基板載置具に受け渡す。基板
載置具は、この基板を第1の高さに昇降させる。続い
て、インデクサー搬送ユニットが処理済の基板を基板載
置具から受け取り、第1搬送路を移動した後、昇降して
所定のカセット内に処理済の基板を収納する。
【0015】請求項2の発明によれば、インデクサー搬
送ユニットによって取り出され、基板載置具を介して受
け渡された基板を、プロセス搬送ユニットが第2搬送路
に沿って配置されたスピンナー部と熱処理部とに搬送し
て受け渡す。
【0016】請求項3の発明によれば、インデクサー搬
送ユニットによってカセットから取り出された基板は、
第1の高さにある複数本の支持ピンの上端に載置され、
続いて、これらの支持ピンが昇降することにより、基板
をプロセス搬送ユニットに適した第2の高さにもってく
る。
【0017】請求項4の発明によれば、インデクサー搬
送ユニットによってカセットから取り出された基板は、
第1の高さにある基板載置具に受け渡された後、基板整
合機構によって位置合わせされ、続いて、基板載置具が
昇降することにより、位置合わせされた基板をプロセス
搬送ユニットに適した第2の高さにもってくる。
【0018】請求項5の発明によれば、基板整合機構の
複数個の突起が基板の周辺に当接・離間することで、半
導体ウエハである基板の位置合わせが行われる。
【0019】請求項6の発明によれば、取り出し対象で
あるカセット内の基板に対向する高さにまでインデクサ
ー搬送ユニットが昇降した後、基板取り出しアームが基
板の下方に進入する。続いて、インデクサー搬送ユニッ
トが少し上昇することで、基板を基板取り出しアーム上
に受け取る。基板を受け取った基板取り出しアームが後
退することで、カセットから基板を取り出す。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて詳細に説明する。 <第1実施例>図1は本発明に係わる基板処理装置の一
実施例の概略構成を示している。この基板処理装置は、
半導体基板にフォトレジスト等をコーティングして熱処
理するための装置であり、大きく分けて、未処理基板を
保管したり処理ずみ基板を保管する部分(以下、インデ
クサーモジュールと称する)10と、基板処理に係るプロ
セスモジュール20とから構成されている。
【0021】インデクサーモジュール10の静止した基台
11の上には、シリコンウエハ等の半導体基板(以下、単
に基板という)Wを多段に収納した基板収納容器として
の複数個(ここでは4個)のカセットCが一列状態に載
置されている。インデクサーモジュール10には、各カセ
ットCと、所定の基板受渡し位置Pとの間で、基板Wを
搬送するインデクサー搬送ユニット30が設けられてい
る。なお、前記受渡し位置Pは、プロセスモジュール20
における各処理ユニット231 、232 、241 、242、243
へ所定の順番で基板Wを搬送するプロセス搬送ユニット
21とインデクサー搬送ユニット30との間で基板Wの受渡
しをする位置である。
【0022】図2を参照する。図2はインデクサーモジ
ュール10の平面図を示している。後に詳しく説明するよ
うに、インデクサー搬送ユニット30は、各カセットCと
前記基板受渡し位置Pとの間を移動可能に構成されてお
り、基板の下面を吸着することによって基板を保持する
アーム31や、図2には現れていないが、アーム31をカセ
ットCに対して進退駆動するためのアーム進退駆動機構
およびアーム31を昇降させるためのアーム昇降機構が搭
載されているとともに、基板Wを載置するための基板載
置具としての昇降自在な3本の支持ピン32や、これらの
支持ピン32に載置された基板Wの位置合わせをするため
の基板整合機構などが搭載されている。基板整合機構
は、後に詳しく説明するが、支持ピン32の両側にそれぞ
れ摺動自在に配設された整合板34a,34bに、凸状の複
数個の当接片33を基板Wと略同じ曲率になるように円弧
状に配置しており、前記当接片33が支持ピン32上の基板
Wの外縁に当接離間するように整合板34a,34bを往復
駆動することにより、支持ピン32に対して基板Wの位置
合わせを行う。
【0023】基台11に載置されたカセットCの前後を挟
むよように、昇降自在のコの字状のブラケット35が配備
されており、このブラケット35の両先端部に投光素子36
と受光素子37とからなる光センサが取り付けられてい
る。本実施例では、アーム31による基板Wの取り出しの
前に、ブラケット35をカセットCに沿って昇降すること
により、前記光センサで各カセットCの各収納溝に基板
Wが収納されているかどうかを検出し、それによって得
られた各カセットCの収納溝ごとの基板有り無しの情報
を、図示しない制御装置のメモリ内に記憶しておき、ア
ーム31による基板の取り出し時には、前記メモリ内の情
報に基づいてアーム31の位置をセッティングするように
構成されている。
【0024】図1に戻って、インデクサー搬送ユニット
30によって、カセットCから取り出されて、基板受渡し
位置Pへ移動してから、後述するようにして、基板Wの
位置決めを行い、プロセス搬送ユニット21へ基板Wの受
け渡しがなされる。
【0025】プロセス搬送ユニット21は、旋回可能なU
の字状の基板支持アーム22に基板Wを載置した状態で基
板Wを移送し、プロセスモジュール20に備えられたスピ
ンナーユニット231 ,232 や、熱処理ユニット241 〜24
3 に基板Wを順にセッティングしていく。プロセスモジ
ュール20で処理された基板Wは、前記基板受渡し位置P
において、プロセス搬送ユニット21からインデクサー搬
送ユニット30へ受け渡された後、インデクサー搬送ユニ
ット30によってカセットC内に戻される。
【0026】以下、図3〜図7を参照して、インデクサ
ー搬送ユニット30の詳細な構成を説明する。図3は、イ
ンデクサー搬送ユニット30に備えられた移動機構40、ア
ーム昇降機構50、およびアーム進退駆動機構60を示した
分解斜視図である。なお、図3では、理解の容易のため
に、インデクサー搬送ユニット30に備えられた支持ピン
32、当接片33、およびこれらを駆動するための機構につ
いては、図示を省略している。
【0027】移動機構40の可動ベース部材41は、図1に
示したカセット設置用の基台11に並設された一対のガイ
ドレール42に摺動自在に嵌め付けられている。可動ベー
ス部材41は、ガイドレール42に並設された螺軸43に螺合
され、この螺軸43の一端に連結された図示しないモータ
で螺軸43が正逆方向に回転駆動されることにより、基台
11に沿って水平移動するようになっている。
【0028】移動機構40には、次のような構成のアーム
昇降機構50が搭載されている。すなわち、可動ベース部
材41には門形フレーム51が立設されており、この門形フ
レーム51に上下方向にわたって架設された一対のガイド
軸52に、昇降部材53が摺動自在に嵌入されている。昇降
部材53は、ガイド軸52に並設された螺軸54に螺合されて
おり、この螺軸54を梁部材51aに取り付けられたモータ
55で正逆方向にベルト駆動することにより、昇降するよ
うになっている。昇降部材53には、一対のブラケット56
が設けられており、このブラケット56の上にアーム進退
駆動機構60が配設されている。
【0029】アーム進退駆動機構60のベース板61には、
可動ベース部材41の移動方向と直交する方向にガイドレ
ール62が設けられており、このガイドレール62にアーム
基台63が摺動自在に嵌め付けられている。このアーム基
台63に立設された支持棒64の上部に、基板Wを吸着保持
するための薄板状のアーム31が水平状態に片持ち支持さ
れている。このアーム31の先端部に、基板Wを真空吸着
するための吸着孔31aがある。
【0030】アーム進退駆動機構60のベース板61には、
ガイドレール62に平行して、無端状のベルト65が一対の
従動プーリ66a,66b間に張設されており、このベルト
65の一部がアーム基台63と連結されている。また、従動
プーリ66bと主動プーリ67との間に無端状のベルト68が
張設され、前記主動プーリ67をステッピングモータ69で
正逆方向に駆動することにより、アーム基台63がガイド
レール62に沿って往復動するようになっている。
【0031】ベース板61には、アーム基台63の原点位置
を検出するために光センサ70が取り付けられており、こ
の光センサ70がアーム基台63から水平に延び出たL型の
遮光板71を検出することにより、アーム31の原点検出が
行われる。
【0032】次に、図4〜図6を参照して、インデクサ
ー搬送ユニット30に備えられた支持ピン32、当接片33、
およびこれら駆動するための機構について説明する。な
お、支持ピン32が本発明の構成に言う「基板載置具」に
対応する。
【0033】図4は、支持ピン32、当接片33、およびこ
れらの駆動機構を搭載した状態のインデクサー搬送ユニ
ット30を、図3のA矢印方向からみた一部破断図、図5
はインデクサー搬送ユニットを図4のB矢印方向からみ
た図、図6はインデクサー搬送ユニット30に搭載された
基板整合機構の一部破断平面図である。
【0034】門形フレーム51の上面には、図2で説明し
た整合板34a,34bを摺動可能に支持するためのベース
板80が、片持ち状に取り付けられている。このベース板
80の中央部には、図3に示したアーム31の支持棒64を導
出するとともに、基板出し入れ時の支持棒64の進退駆動
を許容する長孔80a(図2および図6参照)が形成され
ている。この長孔80aに直交する方向に、図4に示すよ
うに、一対のガイドレール81aが設けられ、このガイド
レール81aに摺動板82aが摺動自在に架設されている。
この摺動板82aに一方の整合板34aが支持板83aを介し
て支持されている。長孔80aを挟んでガイドレール81a
と対向する位置に同様の一対のガイドレール81bがあり
(図5参照)、このガイドレール81bに摺動自在に架設
された摺動板82bに、他方の整合板34bが支持板83bを
介して支持されている。
【0035】図4に示すように、各摺動板82a,82bの
下方には、支軸84を介してベース板80に揺動自在に取り
付けられたリンク部材85がそれぞれ設けられている。各
リンク部材85は、連結ピン86を介して摺動板82a,82b
にそれぞれ緩く連結されている。また、各リンク部材85
の下方には、ベース板80上に設けられたガイドレール87
に摺動自在に嵌め付けられたUの字形状のプッシャー板
88があり(図6、図7参照)、このプッシャー板88が連
結ピン89を介して、各リンク部材85に緩く結合されてい
る。図7に示すように、前記プッシャー板88が、後述す
るカム機構によって同図の矢印C方向に押し出される
と、その作用力が連結ピン89を介して各リンク部材85に
伝えられ、各リンク部材85は支軸84を中心にして矢印D
方向に揺動する。その結果、各リンク部材85の連結ピン
86に連結された整合板34a,34bが互いに近づく方向
(矢印E方向)に動き、整合板34a,34bに設けられた
各当接片33が基板Wの外縁に当接する。
【0036】図6に示すように、整合板34a,34bの間
にある3本の支持ピン32は、Uの字状の支持板90に支持
されている。支持板90の基部は昇降部材91に連結さてお
り、この昇降部材91が門形フレーム51に上下方向に取り
付けられたガイドレール92に摺動自在に嵌め付けられて
いる。図5に示すように、昇降部材91はコイルバネ93に
よって下方向に付勢されており、アーム31がカセットC
に対して基板Wの出し入れを行っているときには、同図
に示したような下限位置にある。なお、同図に鎖線で示
したアーム31は、下限位置にあるときのアーム位置を示
している。
【0037】なお、整合板34a,34bに設けられた当接
片33の上端、および下限位置にある支持ピン32の上端
を、図4および図5に示したように、カセットCの最下
段にある基板W’の収納高さよりも低い位置になるよう
に設定することにより、アーム31がカセットCに対して
基板Wを出し入れする際に、当接片33や支持ピン32が基
板搬送の障害にならないようにしている。
【0038】次に、上述した当接片33や支持ピン32を駆
動するための機構について説明する。図4および図6に
示すように、門形フレーム51の一方の側壁にガイドレー
ル94が上下方向に設けられており、このガイドレール94
に、部材97cが摺動自在に嵌め付けられており、この部
材97cが部材97bを介してカム部材95に連結されてい
る。カム部材95が設けられた門形フレーム51の側壁の内
側にエアーシリンダ96が取り付けられており、このエア
ーシリンダ96のロッド96aと前記カム部材95とが、連結
部材97a,97bを介して連結されている。カム部材95に
形成されたカム溝95aの作動曲面は、その上方がプッシ
ャー板88のスライド方向(図4の左方向)に凸状態にな
るような湾曲部分95bをもち、湾曲部分95bの下方は鉛
直に延びている。このカム部材95に、Lの字状の従動部
材98の下方に取り付けられたカムホロア99が嵌入されて
おり、この従動部材98の他端がプッシャー板88に連結さ
れている。
【0039】図5に示すように、カム部材95に連結され
た部材97bの下方には、押し上げ部材100 が、昇降部材
91の下端と離間した状態で取り付けられており、カム部
材95が上昇駆動されている途中で、この押し上げ部材10
0 が昇降部材91の下端に当接することにより、その後の
カム部材95の上昇に伴って押し上げ部材100 がコイルバ
ネ93の付勢力に抗して昇降部材91を押し上げて支持ピン
32が上昇するように構成されている。なお、図5に示し
た符号101 は押し上げ部材100 の下端に当接して、カム
部材95の下方への動きを規制するストッパである。
【0040】次に、上述した構成を備えたインデクサー
搬送ユニット30の動作を、図8を参照して説明する。カ
セットCから所定の基板Wを取り出す場合の動作は、次
のとおりである。まず、図3に示した移動機構40の螺軸
43が回転駆動することによって、可動ベース部材41が水
平移動して、所定のカセットCに対向する位置にまでく
る。上述の移動途中、あるいは移動後にアーム昇降機構
50のモータ55が駆動して、アーム31を昇降させることに
より、アーム31を前記カセットCの取り出し対象となっ
ている基板Wの収納溝位置に対応する高さにセッティン
グする。次に、アーム進退駆動機構60のステッピングモ
ータ69が正転駆動することにより、アーム31をカセット
C内の取り出し対象となる基板Wの下方に進入させる。
そして、アーム31を少し上昇させることにより、基板W
をアーム31上に移載し、アーム31が基板Wを吸着保持す
る。基板Wの吸着後、ステッピングモータ69が逆転駆動
して、アーム31を原点位置(図2に示す位置)にまで後
退させる。このような基板取り出し動作のとき、支持ピ
ン32は下限位置にまで下降している。
【0041】基板Wを吸着保持した状態でアーム31が原
点位置に戻ると、移動機構40の可動ベース部材41が水平
移動して、基板Wを図1に示した基板受渡し位置Pまで
搬送する。この水平移動の間に、あるいは、その後に、
アーム昇降機構50のモータ55を駆動して、アーム31を下
限位置にまで下降させる。
【0042】アーム31の下限位置は退避位置にある支持
ピン32の上端よりも下方に設定されているので、アーム
31の下降の際に吸着が解除されることにより、アーム31
上の基板Wが、図8(A1),(B1)に示すように、
退避位置にある支持ピン32の上に受渡される。このと
き、図4に示したエアーシリンダ96のロッド96aは縮退
している(図4に示す状態)ので、カム部材95は下限位
置にある。したがって、図12に示すように、従動部材
98に設けられたカムホロア99はカム溝95aの上限位置に
あるので、整合板34a,34bは開いた状態になってい
る。
【0043】アーム31が下限位置に達すると、エアーシ
リンダ96が駆動されて、ロッド96aが伸長し、カム部材
95が上方に移動する。カム部材95の上昇に伴い、図12
に示すように、カムホロア99がカム溝95aの湾曲部分95
bに沿って、同図における左方向に変位するので、従動
部材98が同方向に変位し、その結果として、整合板34
a,34bが互いに近づくように移動する。カムホロア99
が湾曲部分95bの頂点P 1 にきたとき、すなわち、整合
板34a,34bが相互に最も近づいたとき、各当接片33に
対する内接円が基板径と同程度になるように整合板34
a,34bの位置関係が予め調整されているので、仮に基
板Wが位置ズレを起こした状態で支持ピン32に載置され
ていても、上述の整合板34a,34bの移動途中に、当接
片33が基板Wの外縁に接触して基板Wを水平変移させる
ことで、基板Wは支持ピン32に対して常に一定の位置関
係になるように位置合わせされる(図9(A2)、(B
2)参照)。
【0044】カム部材95がさらに上昇すると、カムホロ
ア99は図12のP1 位置から次第に右方向に戻り、P2
位置にまで進んだところで、元の位置に戻る。これによ
り整合板34a,34bは元の開放状態に復帰する。カムホ
ロア99がP2 位置にくるまで、カム部材95が上昇したと
きに、カム部材95に連結された押し上げ部材100 が、昇
降部材91の下端に当接し、それ以後、カム部材95の上昇
に伴って、昇降部材91が上昇する。これにより、位置合
わせ済みの基板Wを載置した状態で支持ピン32が上昇
し、インデクサー搬送ユニット30とプロセス搬送ユニッ
ト21とで基板Wの受渡しをするように予め設定しておい
た高さ(以下、「基板受渡し高さ」と称する)まで基板
Wが持ち上げられる(図10(A3),(B3)参
照)。この基板受け渡し高さは、図12に示すカムホロ
ア99のP3 位置に対応している。
【0045】移動機構40が基板受渡し位置Pに達し、基
板の位置決めが完了すると、この位置に来たプロセス搬
送ユニット21の基板支持アーム22が、図11(A4),
(B4)に示すように、支持ピン32に載置された基板W
の下方に進入する。その後、基板支持アーム22が上昇す
ることにより、基板Wが基板支持アーム22上に受渡さ
れ、基板支持アーム22は、この基板Wを上述したよう
に、プロセスモジュール20の各処理ユニットに移送す
る。
【0046】次に、基板WをカセットCに搬入する場合
の動作について説明する。基板Wの搬入は、上述した基
板Wの搬出動作と略逆の順序で行われる。すなわち、イ
ンデクサー搬送ユニット30は、基板受渡し位置Pで、ア
ーム31は下降した状態で支持ピン32は上昇した状態で待
機している。その後、プロセスモジュール20で処理され
た基板Wは、基板支持アーム22に載置された状態で、基
板受渡し位置Pに移送される。その後、プロセス搬送ユ
ニット21の基板支持アーム22が下降することによって、
基板Wが支持ピン32に受渡される。
【0047】この状態で、カムホロア99は図12に示し
たように、カム部材95のP3 位置にある。基板Wが受渡
されると、エアーシリンダ96のロッド96aが縮退するこ
とにより、カム部材95が下降し、カムホロア99はP3
置からP2 位置に向けて移動する。この間、カム部材95
の下降に伴って、昇降部材91が下降することにより、支
持ピン32が下降して、基板Wを下限位置にセッティング
する。カム部材95が更に下降して、カムホロア99がP2
位置からP1 位置に移動することにより、当接片33が上
述の同様に、前記基板Wの外縁に当接するように駆動さ
れて、基板Wの位置合わせが行われる。カム部材95が原
点位置にまで下降すると、カムホロア99がP0 位置に戻
る。これにより、当接片33は基板Wから離れた初期状態
に復帰する。
【0048】上述の位置合わせの後、アーム31が上昇
し、支持ピン32上で位置合わせされた基板Wがアーム31
上に載置され、吸着保持される。つづいて、移動機構40
は元のカセットCに対向する位置にまで水平駆動される
とともに、その基板Wが収納されていた収納溝の高さに
まで昇降される。
【0049】移動機構40の移動およびアーム31の高さセ
ッティングが完了すると、アーム進退駆動機構60が駆動
されて、アーム31がカセットC内に進入し、基板Wが所
定の収納溝内に搬入される。その後、アーム31が基板W
の吸着を解除した状態で、若干下降することにより、基
板Wが収納溝に受け渡される。基板Wの受渡しが終わる
と、アーム31が退出駆動され、原点位置に戻る。以上の
ように、基板Wの搬入が終わると、インデクサー搬送ユ
ニット30は、次の基板Wの取り出し動作に備えて待機す
る。
【0050】<第2実施例>第1実施例では、移動機構
40に搭載されたアーム昇降機構50によって、アーム31を
カセットCの所定の収納溝に対向する高さにまで昇降さ
せて基板Wの搬出・搬入を行うように構成したが、水平
移動可能な移動機構(第1実施例の移動機構40に相当す
る)を昇降機構に搭載して移動機構を昇降可能に構成
し、移動機構自体を昇降させることによってアームを所
定の収納溝高さにセッティングするように構成してもよ
い。前記移動機構に搭載されたアームは吸着などによる
基板保持機構を備え、第1実施例と同様のアーム進退駆
動機構によってカセットに対して進退駆動される。
【0051】第2実施例では、移動機構自体を昇降させ
るように構成し、第1実施例のようにアーム自体は独立
して昇降しないので、アームと基板載置具(第1実施例
での支持ピン32に相当する)の間の基板受渡しのため
に、次のような基板載置具昇降駆動機構を備える。すな
わち、第2実施例の基板載置具昇降駆動機構は、基板載
置具の上端が、アームによる基板搬送高さよりも低い退
避位置と、前記基板搬送高さよりも高い基板載置位置と
の間で移動するように、基板載置具を昇降駆動するよう
に構成する。
【0052】また、第2実施例では、アームが独立して
昇降しないように構成した関係上、アームによってカセ
ットに基板を出し入れする際、基板位置合わせ用の当接
片が前記基板の出し入れに障害とならないような位置に
退避させている。すなわち、本実施例の基板整合手段
(例えば、第1実施例での整合板34a,34b等)は、こ
れに設けられた複数個の当接片が、アームによって基板
が搬送される際に、基板が搬送される領域よりも外側に
ある退避位置に退避させておく(すなわち、第1実施例
で言えば、基板搬出・搬入時に、当接片33が基板に接触
しないように、整合板34a,34bの間が基板Wの外径よ
りも広い状態になる位置にまで退避させておく)ように
構成している。そして、基板載置具に載置された基板を
位置合わせする際には、前記退避位置から、基板の外縁
に当接する位置にまで当接片を移動させて、基板の位置
合わせを行うようにしている。
【0053】第2実施例によれば、移動手段による水平
方向の移動と昇降移動によって、アームがカセットの所
定の収納溝に対向する高さにセッティングされた後、ア
ームはアーム進退駆動機構によってカセット内に進入駆
動され、カセット内の基板を受け取り、この基板を保持
する。その後、アームはカセットから退出して、基板載
置具の上方に基板を取り出す。次に、前記移動機構が水
平移動して、基板を基板受渡し位置へ搬送するのは第1
実施例の場合と同様である。その後、基板載置具がアー
ムによる基板搬送高さよりも高い位置にまで上昇するこ
とにより、アーム上の基板が基板載置具に受渡される。
そして基板整合機構が駆動されて基板の位置合わせが行
われる。
【0054】基板をカセットに搬入する場合には、基板
載置具をアームによる基板搬送高さよりも高い位置にま
で上昇させた状態で、本発明に係る基板搬送装置を基板
受渡し位置に待機させておき、図1に示したプロセス搬
送ユニット21などから基板載置具上に基板が受渡され
る。次に、基板整合手段が駆動されて基板の位置合わせ
が行われた後に、基板載置具が下降することにより、基
板載置具上の基板がアーム上に載置されて、保持され
る。上述の基板位置合わせの後に、移動機構が水平移動
とともに昇降移動して、基板をカセットの元の収納溝に
対向する位置にまで搬送し、アームを前記カセット内に
進入駆動されることによって、基板をカッセト内の所定
の溝に収納する。このように構成することによっても、
第1実施例と同様に、カセットに対する基板の搬出・搬
入および基板の位置合わせを、同じ基板搬送装置内で行
うことができる。
【0055】<第3実施例>第3実施例も、前記第2実
施例と同様に、アームをカセットの所定の収納溝に対向
する高さにまで昇降させるための機構として、移動機構
を昇降可能に構成し、移動機構自体を昇降させることに
よってアームを所定の収納溝高さにセッティングするよ
うに構成する。前記移動機構に搭載されたアームは吸着
などによる基板保持機構を備え、第1実施例と同様のア
ーム進退駆動機構によってカセットに対して進退駆動さ
れる。
【0056】基板を載置するために移動機構に搭載され
る基板載置具は、アームによる基板の搬送の際に障害に
ならないように、基板搬送高さよりも低い位置に設けら
れている。また、基板載置具に載置された基板を位置合
わせするための基板整合手段に備えられた複数個の当接
片は、第2実施例の場合と同様に構成されている。さら
に、アームと基板載置具との間で基板を受渡しする手段
として、第1実施例のアーム昇降機構50と同様のアーム
昇降駆動機構を前記移動機構に搭載する。ただし、本実
施例のアーム昇降駆動機構は、アームと基板載置具との
間で基板を受渡しするために設けられたものであるの
で、アームの駆動範囲は、基板載置具の基板載置高さよ
りも高い位置から、基板載置高さよりも低い位置の間で
ある。
【0057】本実施例によれば、第2実施例と同様に、
移動機構が駆動された後、アームによってカセット内の
基板が取り出される。アームがカセットから退出した
後、移動機構が水平に移動して、基板を基板受渡し位置
へ搬送するのは第1実施例の場合と同様である。次に、
アーム昇降駆動機構によってアームが下降することによ
り、基板が基板載置具に受渡され、基板整合機構が駆動
されて基板の位置合わせが行われる。
【0058】基板をカセットに搬入する場合には、アー
ムを基板載置具よりも低い位置に退避させた状態で、本
発明に係る基板搬送装置を基板受渡し位置に待機させて
おき、図1に示したプロセス搬送ユニット21などから基
板が基板載置具上に受渡される。次に、基板整合手段が
駆動され、基板の位置合わせが行われた後に、アームが
基板載置高さよりも高い位置にまで上昇駆動されること
により、基板載置具上の基板がアーム上に載置されて、
保持される。上述の基板位置合わせの後に、移動機構が
水平および昇降移動して、基板をカセットの元の収納溝
に対向する位置にまで搬送し、アームが前記カセット内
に進入駆動されることによって、基板をカッセト内の所
定の溝に収納する。
【0059】また、本発明は、以下のように構成するこ
とが可能である。 (1)第1実施例で、4個のカセットを静止した基台上
に載置したが、カセットの数は1個、あるい5個以上で
あってもよい。
【0060】(2)第1実施例において、支持ピン32を
昇降させたのは、ウエハ移送機構21のウエハ支持アーム
22が、支持ピン32の外側から基板Wを支えるUの字形状
のアームで構成されているため、支持ピン32の下限位置
で基板Wの受渡しを行うと、整合板34a,34bが邪魔に
なって、基板Wの下方にウエハ支持アーム22を進入させ
ることができないからである。したがって、整合板34
a,34bと干渉し合わないような構造のウエハ支持アー
ム(例えば、基板Wを上から吸着保持するようなアー
ム)にすれば、基板Wの受渡しのために必ずしも支持ピ
ン32を昇降させる必要はない。
【0061】(3)本発明に係る基板処理装置の一例と
して、基板にフォトレジストなどをコーティング処理す
る半導体製造装置を例に採って説明したが、本発明は、
例えば現像、エッチング、拡散処理装置などの、種々の
基板処理装置にも適用することが可能である。
【0062】(4)また、搬送対象となる基板は、実施
例のような半導体基板に限らず、例えば、液晶表示器用
のガラス基板や、金属板など、種々の基板を対象とする
ことができる。
【0063】(5)アームに備えられる基板保持機構
は、吸着によるものに限らず、基板を載置するような支
持ピンなどで構成してもよい。
【0064】(6)また、基板載置具は必ずしもピン構
造に限らず、板状部材であってもよく、また、基板整合
手段の当接片もピン構造のものに限らず、端辺が基板の
外径と同様な曲率の凹状に形成された板状部材を基板の
外縁に当接離間させて、基板の位置合わせを行うように
してもよい。また、基板が矩形状である場合には、その
形状に合わせて当接片が配置形成されることはいうまで
もない。
【0065】このように、本発明の各部は種々変形実施
可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、それら
の変形態様も本発明に含まれるものである。
【0066】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば次の効果を奏する。請求項1の発明によれば、
カセットからの基板の取り出しに際してカセットが昇降
しないので、カセットの振動に伴う塵埃の発生がなく、
基板を清浄な状態で搬送して処理することができる。
【0067】また、請求項1の発明によれば、カセット
から取り出した基板を基板処理部へ搬送するに際して、
基板載置具が昇降して基板をプロセス搬送ユニットに応
じた高さにもってくるので、基台の高さを例えば、カセ
ット搬送ロボットに合わせた高さに固定することができ
る。つまり、装置内へカセットを搬入するときのカセッ
トの載置高さの制約と、カセットから取り出された基板
を装置内の基板処理部へ搬送するときの高さの制約を、
カセットを昇降させることなく満足させることもでき
る。
【0068】さらに、請求項1の発明によれば、基板載
置具がインデクサー搬送ユニットと一体となって移動可
能に構成されるので、これらを個別に設置する場合に比
べて、装置をコンパクトに構成できる。また、本発明に
よれば、インデクサー搬送ユニットの移動過程で、基板
載置具による基板の高さ調整を行うことも可能であるの
で、プロセス搬送ユニットへの基板の受け渡しを効率よ
く行うこともできる。
【0069】また、請求項1の発明によれば、基台に置
かれる複数個のカセットの配列と、第2搬送路に沿って
配置される複数の基板処理部の配列とが直角になるの
で、複数個のカセットと複数の基板処理部とを連ねて一
列に配列する場合に比べて、基板処理装置をコンパクト
に構成することができる。
【0070】また、請求項1の発明によれば、第1搬送
路の中央部から第2搬送路が略直角に延びているので、
第1搬送路に沿って並ぶ各カセットから取り出した基板
をインデクサー搬送ユニットが基板載置具を介してプロ
セス搬送ユニットに受け渡すまでに要する時間につい
て、カセット間で大きな偏りはない。これに対して、第
1搬送路の一端から第2搬送部が直角に延在している
と、第1搬送路の他端に在るカセットから取り出した基
板をインデクサー搬送ユニットからプロセス搬送ユニッ
トへ受け渡すまでに要する時間は、前記第1搬送部の一
端の近くにあるカセットのそれよりも、相当長くなる。
このような基板受け渡しに要する時間のバラツキは、基
板の円滑な搬送にとって弊害になる。本発明によれば、
このような基板の受け渡しに要する時間のバラツキを極
力小さくすることができる。
【0071】請求項2の発明によれば、基板へのフォト
レジストのコーティング処理および基板の熱処理の各品
質を向上することができる。
【0072】請求項3の発明によれば、カセットから取
り出された基板が支持ピン上に載置されて高さ調整され
るので、基板と支持ピンとの接触面積が小さくなり、そ
れだけ基板が汚染されることが少なくなる。
【0073】請求項4の発明によれば、基板を基板処理
部へ搬送する場合には、カセットから取り出された基板
がプロセス搬送ユニットに受け渡されるまえに、基板整
合機構によって位置合わせされるので、プロセス搬送ユ
ニットによる基板搬送を精度よく行うことができる。ま
た、処理済の基板をカセットへ搬入する場合には、イン
デクサー搬送ユニットに受け渡されるまえに、基板整合
機構によって基板が位置合わせされるので、カセットへ
の基板の搬入を円滑に行うことができる。
【0074】請求項5の発明によれば、カセットから取
り出された基板の周辺に、複数個の突起が当接・離間す
ることで、基板の中心位置合わせが精度よく行うことが
できる。
【0075】請求項6の発明によれば、基板取り出し機
構に備えられた基板吸着アームによって、カセット内の
基板が容易に取り出すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる基板処理装置の第1実施例の外
観斜視図である。
【図2】インデクサー搬送ユニットの平面図である。
【図3】インデクサー搬送ユニットに備えられた移動機
構、アーム昇降機構、アーム進退駆動機構を示した分解
斜視図である。
【図4】インデクサー搬送ユニットに備えられた基板載
置機構および基板整合機構の構成を示した図3のA方向
矢視図である。
【図5】図4のB方向矢視図である。
【図6】基板載置機構および基板整合機構を平面視した
一部破断図である。
【図7】基板整合機構の説明図である。
【図8】実施例装置の動作説明図である。
【図9】実施例装置の動作説明図である。
【図10】実施例装置の動作説明図である。
【図11】実施例装置の動作説明図である。
【図12】カム部材の昇降に伴うカムホロアの位置の説
明図である。
【符号の説明】
W…半導体基板(基板) C…カセット 11…基台 21…プロセス搬送ユニット 30…インデクサー搬送ユニット 32…支持ピン(基板載置具) 231 、232 …スピンナーユニット 241 〜243 …熱処理ユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡本 健男 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大 日本スクリーン製造株式会社 洛西工場 内 (72)発明者 岡 義二 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大 日本スクリーン製造株式会社 洛西工場 内 (56)参考文献 特開 平2−132840(JP,A) 特開 平1−227451(JP,A) 特開 昭62−222906(JP,A) 特開 平3−290946(JP,A) 実開 昭57−39430(JP,U) 特表 昭64−500072(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 49/07 H01L 21/027

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を多段に収納する複数個のカセット
    を載置する静止したカセット載置用の基台と、前記カセットに収納されている基板の収納位置を検出す
    る収納位置検出手段と、 前記カセット載置用の基台に沿った第1搬送路を移動
    し、かつ基板を上下多段に収納しているカセットの収納
    高さを前記収納位置検出手段の検出結果に基づいて昇降
    して、カセットから基板を取り出すインデクサー搬送ユ
    ニットと、 前記第1搬送路の中央部から略直角の方向に延びる第2
    搬送路に沿って、基板支持アームに基板を載置した状態
    で移送するプロセス搬送ユニットと、 前記インデクサー搬送ユニットとの間で基板の受け渡し
    をする第1の高さと、前記プロセス搬送ユニットとの間
    で基板の受け渡しをする第2の高さとの間を昇降すると
    ともに、インデクサー搬送ユニットと一体となってカセ
    ット載置用の基台に沿って移動する基板載置具と、 前記第2搬送路に沿って配置された複数個の基板処理部
    とを備え、 前記インデクサー搬送ユニットは、カセットから取り出
    した基板を第1搬送路に沿って搬送して、その基板を前
    記第1の高さにある基板載置具に受け渡し、前記基板載
    置具は受け取った基板を第2の高さにまで昇降させ、前
    記プロセス搬送ユニットは第2の高さにある基板を基板
    載置具から受け取り、その基板を第2搬送路に沿って前
    記複数個の基板処理部へ搬送することを特徴とする基板
    処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置におい
    て、前記複数個の基板処理部は、前記第2搬送路に沿っ
    て配置されたスピンナー部と熱処理部とを含み、 前記インデクサー搬送ユニットは、カセットから取り出
    した基板を第1搬送路に沿って搬送して、その基板を前
    記第1の高さにある基板載置具に受け渡し、前記基板載
    置具は受け取った基板を第2の高さにまで昇降させ、前
    記プロセス搬送ユニットは第2の高さにある基板を基板
    載置具から受け取り、その基板を第2搬送路に沿ってス
    ピンナー部と熱処理部とを含む前記複数個の基板処理部
    へ搬送する基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置におい
    て、前記基板載置具は、上端に基板が載置される複数本
    の支持ピンで構成され、各支持ピンが一体に昇降する基
    板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の基板処理装置におい
    て、前記基板処理装置はさらに、インデクサー搬送ユニ
    ットによってカセットから取り出された基板の位置合わ
    せを行う基板整合機構を備え、 前記基板整合機構はインデクサー搬送ユニットと一体と
    なってカセット載置用の基台に沿って移動する基板処理
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の基板処理装置におい
    て、前記基板は半導体ウエハであって、前記基板整合機
    構は、基板の外径と略同一曲率となるように配置された
    複数個の突起を、基板の周辺に当接・離間して基板の位
    置合わせを行う基板処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の基板処理装置におい
    て、前記インデクサー搬送ユニットは、カセットに向か
    って前後動する基板取り出し用のアームを備える基板処
    理装置。
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