JP2583878B2 - 閉図形内部領域の塗りつぶし方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、画像メモリ内に記憶された輪郭形状が任意
の閉図形の内部領域を輪郭画素と同様の画素として塗り
つぶす閉図形内部領域の塗りつぶし方法に関する。

従来技術 従来、例えばイメージスキヤナ等により読取つた手書
きの原稿上の任意の図形データを画像メモリに格納させ
た後、プリントアウトする場合にその図形が輪郭により
閉じた形状である時にはその閉図形の内部をベタ状に塗
りつぶしたいようなことがある。このため、閉図形の内
部領域を塗りつぶすような画素データ処理を行なう場合
がある。

このような閉図形の内部領域の塗りつぶし方法として
は、次のような方法が採られている。まず、画像メモリ
の読取りを行なう。即ち、Ｍ列Ｎ行からなる画像メモリ
を行方向に主走査して各画素データを順次読取り、その
行の主走査が終了したら次の行へ副走査させてその行に
ついても主走査読取りを行なう。このような各行の主走
査読取りに際してその主走査線と図形輪郭線との最初の
交点から塗りつぶしを開始し、その主走査線上の次の交
点で塗りつぶしを止め、更に次に交点が出現したら塗り
つぶしを開始し、次の交点で塗りつぶしを止めるという
処理を順次行なうものである。

ところが、閉図形といえども各種形状のものがあり、
主走査線と図形輪郭との交点につき、塗りつぶし開始交
点と塗りつぶし停止交点とが互いに近づき、１となる交
点、即ち極大点又は極小点においては、閉図形の外側領
域を塗りつぶしてしまうような誤処理が生ずることがあ
る。

また、手書き図形をイメージスキヤナ等により読取つ
て、画像メモリ中に格納する処理においても、原稿の地
肌汚れ等をも画素の１つとして読取り格納してしまうこ
とになり、上述した塗りつぶしのための走査処理におい
て輪郭線画素データと区別できないものとなる。これに
よつても、誤つた塗りつぶし処理をしてしまう。更に
は、細い輪郭線の図形を読取つた場合には、その読取り
データに一部欠損を生じ、図形輪郭データの画素が縦、
横又は斜めに部分的に連続せずに閉図形状態から外れて
しまい、これにより正常な塗りつぶしができない場合も
ある。

目的 本発明は、このような点に鑑みなされたもので、イメ
ージスキヤナ等によつて読取つて画像メモリに格納して
なる輪郭線により囲まれた閉図形データについて、地肌
汚れデータや一部データ欠損等があつても、閉図形の内
部領域の塗りつぶし処理を正常に行なうことができる閉
図形内部領域の塗りつぶし方法を提供することを目的と
する。

構成 本発明は、原稿に記載された任意の閉図形を画像メモ
リに読み込み、この画像メモリに読み込まれた前記閉図
形の内部を塗りつす閉図形内部領域の塗りつぶし方法に
おいて、前記画像メモリをその主走査方向及び副走査方
向に順次走査して読み出される画素を３×３のウインド
ウで切り出し、その切り出された画素データを、中心の
処理対象画素データをＥ・処理対象画素の前主走査方向
の画素データを前列から順にA,B,C・中心画素データの
前列の画素データをＤ・後列の画素データをＦ・処理対
象画素の後主走査方向の画素データを前列から順にG,H,
Iとし、 Ｅ∪（（Ｄ∪Ｇ）∩（Ｃ∪Ｆ）） なる演算処理を行ない、その演算処理を前記画像メモリ
の当該処理対象画素位置に再度格納し、次の画素を新た
な処理対象画素として前記処理を繰り返すことにより前
記閉図形内部領域を塗りつぶすようにしたものである。
また、画像メモリの主走査方向及び副走査方向を正・逆
それぞれ２通り計４通りに切り替えて塗りつぶし処理を
行ない、それぞれの塗りつぶし処理結果の論理積をと
り、閉図形内部を塗りつぶすようにしたものである。

以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
まず、本実施例による閉図形内部領域の塗りつぶしの原
理を第１図及び第２図により説明する。第１図は例えば
Ｍ列Ｎ行なるビツトマツプを持つ画像メモリ１上の画素
データの状態を示すものである。即ち、この画像メモリ
１はイメージスキヤナ等により読取られた画像、特に図
形データを格納するものであり、第１図中、「１」は画
像存在画素、「０」は画像が存在しない空白画素を示し
ている。従って、例えば読取り図形が閉図形であれば、
画像メモリ１中での「１」なるデータによつて閉図形が
展開されることになる。第１図では、例えば楕円形状の
ような閉図形読取りデータが格納されている状態を示
す。

しかして、このような「１」なる画素データで囲まれ
た閉図形の内部領域についてもすべて「１」なる画素デ
ータで埋めていく処理を本発明の塗りつぶし処理と称す
るものである。

このような塗りつぶし処理を行なうため、画像メモリ
１について主走査読取りを順次副走査方向に行なう。即
ち、第１図中各行が主走査方向となり、１行目の１列目
の画素からＭ列目の画素まで１画素ずつ順に主走査読取
りされ、次に２行目の１列目〜Ｍ列目の画素の主走査読
取りが行なわれ、以下、同様に処理され、最終的にはＮ
行Ｍ列分の各画素についての主・副走査読取りが行なわ
れる。このような読取り走査に際して、個々の画素が塗
りつぶすか否かを判定すべき処理対象画素となるわけで
あるが、処理対象画素となつた場合には、当該処理対象
画素を含む周囲の画素のデータをも考慮して論理演算
し、塗りつぶすか否かを判定するものである。そして、
この演算による判定結果を画像メモリ１において当該処
理対象画素部分に書換え等に格納し、この後で、次の画
素に処理を移すものである。

ここに、本実施例では例えば処理対象画素を第２図中
のＥとすると、この処理対象画素Ｅ周囲の８個の隣接画
素A,B,C,D,F,G,H,Iによる３×３画素マトリツクス２を
考慮するものである。もつとも、これらの周囲の画素の
全てを考慮して論理演算するのではなく、第２図中に実
線で囲んで示す５個の画素C,D,D,F,Gのデータのみを考
慮し、次の論理演算式を条件式とするものである。

Ｅ∪（（Ｄ∪Ｇ）∩（Ｃ∪Ｆ））＝１ ……（１） 即ち、この（１）を言葉で表現すると、まず、処理対
象画素Ｅ自身のデータが「１」の場合にはこの条件式
（１）を満たすので処理対象画素Ｅは塗りつぶす、即ち
そのままのデータ「１」となる。第２に処理対象画素Ｅ
自身のデータは「０」であつても、１列前の画素Ｄ又は
１列前１行後の画素Ｇの少なくとも何れか一方のデータ
が「１」であつて、かつ、１列後の画素Ｆ又は１列後１
行前の画素Ｃの少なくとも何れか一方のデータが「１」
の場合に、処理対象画素Ｅは条件式（１）を満たすこと
により塗りつぶし処理、即ち「０」なるデータから
「１」なるデータに変更する。この条件式（１）を満足
しない場合には、塗りつぶしがされない。

第１図では、このような塗りつぶし処理が画像メモリ
１上でｎ行ｍ列まで進行した状態を示し、図中、で示
す画素部分は条件式（１）に従い「０」なるデータ部分
を塗りつぶし処理により「１」なるデータ変更格納した
ことを示す。そして、第１図中の状態では、処理対象画
素Ｅはｎ行ｍ列位置であり、ここに３×３画素マトリツ
クス２を考慮して条件式（１）を満足するか否か論理演
算すると、条件を満たすので塗りつぶすことになり、
「０」なるデータから「１」なるデータに変更格納され
る。そして、この後、次の画素、即ちｎ行（ｍ＋１）列
の画素の処理に移行する。この際、直前処理のｎ行ｍ列
の画素（３×３画素マトリツクス中の画素Ｄに相当する
ことになる）としては「１」に更新変更されたものが条
件式（１）の演算に適用される。又、１行前の各画素A,
B,Cについても更新後のデータが用いられる。

このようにして、第１図中で、例えばｎ行についての
主走査が終了すると、次の（ｎ＋１）行の主走査処理に
移行し、同様の処理をする。そして、Ｎ行目のＭ列目の
画素についての処理により、全ての画素についての処理
が終了する。これにより、画像メモリ１中では、例えば
第１図の場合であれば、閉図形（形状「Ｏ」）内の内部
領域のみが塗りつぶされることになる。

なお、画像メモリ１において、閉図形が記憶されてい
るメモリ領域が事前に明らかな場合には、画像メモリ１
全体を主・副読取り走査することなく、閉図形が存在す
る画素領域内のみを読取り走査して上述の如き論理演算
処理して、塗りつぶすようにして、処理時間を短縮させ
てもよい。

又、処理対象画素Ｅのアドレス位置が画像メモリ１自
体の境界部、即ち１行目、１列目、Ｎ行目、Ｍ列目の何
れかに存在する場合には、事実上、３×３画素マトリツ
クス２として演算に供する画素が存在しない場合がある
が、このような場合には当該周辺画素C,D,F,G等につい
ては、その画素データが「０」であるとして処理すれば
よい。

ところで、このような閉図形内部領域の塗りつぶし処
理の、より具体的な手順を第３図により説明する。ま
ず、第３図（ａ）はイメージスキヤナ等で読取つた閉図
形データをそのまま画像メモリ１に格納し、塗りつぶし
処理を全くしてない状態を示す。図中、「■」で示す部
分が画像データの存在する画素部分で、第１図中の
「１」で示したものに対応する。「０」なる画素部分は
空白状態で示す。又、「●」で示す部分は条件式（１）
を満足することにより空白画素が塗りつぶし画素に変更
されたことを示す（第１図中ので示す部分に対応す
る）。

しかして、第３図（ｂ）は塗りつぶし処理が途中まで
進行し、「×」で示す画素部分に処理対象画素Ｅが移行
した状態を示す。この状態では、「●」で示すように既
に塗りつぶし更新処理した部分も存在している。この
「×」位置は、その行の主走査方向において閉図形輪郭
の左側外部に接する画素位置である。この「×」位置を
画素Ｅとすると、画素Ｅ＝0,C＝0,D＝0,F＝1,G＝０であ
るので、条件式（１）を満たさないので、第３図（ｂ）
において「×」で示す画素部分は塗りつぶすべき画素と
はされず、データ「１」に変更されることはない。

この処理後、次の画素「■」部分に移行すると、この
画素部分は自身で閉図形の輪郭線を形成しており、Ｅ＝
１により条件式（１）を満足するので、その画素のデー
タとしては「１」がそのまま更新される。

更に、次の画素への処理に移行した状態を第３図
（ｃ）に示す。即ち、処理対象画素の位置「×」が閉図
形輪郭線内に入り込んで輪郭線に隣接する画素部分であ
る。この第３図（ｃ）に示す画素位置「×」では、画素
Ｅ＝０であるものの、画素Ｃ＝1,D＝1,F＝0,G＝１であ
るので、条件式（１）を満たすことになる。よつて、第
３図（ｃ）において「×」で示す画素部分は塗りつぶす
べき画素とするため、データ「０」状態からデータ
「１」に更新変更される。そして、同図（ｄ）に示すよ
うに同一主走査ライン上で処理対象画素「×」の位置が
順次移行しても、条件式（１）を満足すれば塗りつぶし
処理される。

第３図（ｅ）は、このような処理が進み、処理対象画
素位置「×」が閉図形の輪郭線内にてその輪郭線画素に
隣接する位置に移行した状態を示す。この時の「×」の
位置を画素Ｅとすると、やはりＥ自身はＥ＝０である
が、画素Ｃ＝0,D＝1,F＝1,G＝０であるので、条件式
（１）を満たすことになる。よつて、第３図（ｅ）にお
いて「×」で示す画素部分は塗りつぶすべき画素とする
ため、データ「０」状態からデータ「１」に更新変更さ
れる。そして、次の画素に処理が移行すると、この画素
部分は輪郭線上のものであり、自身の画素Ｅ＝１により
そのままデータ「１」として更新される。

第３図（ｆ）は更に処理が進み、処理対象画素位置
「×」が閉図形輪郭線の画素外に隣接する画素位置にあ
る場合を示す。この場合には、処理対象画素Ｅ自身が０
であり、かつ、右側の画素C,Fが共に０であるので、画
素D,G（Ｄ＝1,G＝１）のデータに関係なく条件式（１）
を満足せず、塗りつぶされない。

しかして、画像メモリ１全体についてこのような条件
式（１）を満足するか否かの論理演算を伴う処理を行な
つた結果は、例えば第３図（ｇ）に示すような状態とな
り、「■」で示す画像輪郭データにより囲まれた閉図形
の内部領域が「●」で示すように全て塗りつぶし処理さ
れた状態で更新格納される。

このような本実施例方式による閉図形の内部領域の塗
りつぶしによれば、例えば第４図（ａ）に示すようにイ
メージキヤナ等により読取られて画像メモリ１中に格納
された輪郭線データの一部に１画素分程度の画像欠損が
あつたとしても、主・副読取り走査に際して処理対象画
素が条件式（１）を満足するか否かにより処理を進めて
いけば、第４図（ｂ）に示すような満足し得る閉図形内
部領域の塗りつぶし結果が得られる。

又、イメージスキヤナ等による読取りに際して原稿の
地肌汚れをも画像データとして読取り、これを画像メモ
リ１中に第５図に示すように格納されたとしても、一般
にはこれらの地肌汚れ画像画素は集中せずに離散しいる
ので、当該画像画素部分以外の画素部分では条件式
（１）を満足することは殆どないので、これらの画像画
素を閉図形の輪郭画素と誤認定して誤つた塗りつぶしを
行なうようなことはない。つまり、第５図に示すような
画像メモリ１内のデータ状態の場合には、上述したよう
に塗りつぶし論理演算処理を行なつても結果は変化せ
ず、この第５図に示す状態のままとなる。なお、このよ
うな地肌汚れ等に基づく散在画像データを考慮した場
合、これらは殆どの場合正常なデータではないので、条
件式（１）の他にも更に条件式を付加し、処理対象画素
Ｅが周囲画素に対して全く孤立して存在していると判断
された場合には、この処理対象画素の画像データを逆に
「０」に書換えるようにすれば、散在ノイズ画像を消去
することもできる。

なお、上述した説明では、処理対象画素の塗りつぶし
の判定に隣接する３×３画素マトリツクス２の範囲を考
慮して処理するようにしたが、更に広範囲の周囲画素、
例えば４×４画素マトリツクス分の画素データを考慮す
るようにしてもよい。又、条件式（１）自体もこれに限
定されるものではなく、適宜条件を追加・変更してなる
条件式により論理演算するようにしてもよい。

ところで、通常の閉図形の場合であれば、前述したよ
うに多少の画像欠損、ノイズ画像データ等が存在して
も、殆ど満足し得る内部領域の塗りつぶしができる。し
かし、例えば閉図形といつても、例えば第６図（ａ）に
示すようなＴ字状の如き輪郭線を持つ場合には塗りつぶ
しの一部に誤りを生ずる。即ち、前述したように主・副
読取り走査に伴い各処理対象画素毎に条件式（１）によ
る論理演算を行なつた場合、画像メモリ１上での塗りつ
ぶし結果は第６図（ｂ）のようになる。ここに、「○」
で示す部分も条件式（１）を満足することにより、
「●」と同様に塗りつぶし処理された画素部分を示すも
のであり、閉図形の外側領域をも部分的に塗りつぶして
しまうことになる。

しかるに、このような「○」で示す誤つた塗りつぶし
をなくすためには、同図（ｂ）に示したような左側から
右側への主走査読取りだけでなく、同図（ｃ）に示すよ
うに逆方向、即ち右側から左側に向けての主走査読取り
をも行ない、両者の論理積をとるようにすればよい。つ
まり、２回の処理を行なうが、主走査方向を逆とさせる
ものである。主走査方向が逆の場合、第２図に示した３
×３画素マトリツクス２の配置も主走査読取り方向に従
つて左右逆となり、条件式（１）に変更はない。つま
り、主走査方向を逆とした場合の処理結果は第６図
（ｃ）に示すようになり、誤つた塗りつぶし画素「○」
部分は逆側に生ずる。そして、第６図（ｂ）（ｃ）の両
者の論理積をとれば、「○」部分の画像データは無効と
なり、「■」及び「●」で示す正常な部分のみが有効な
塗りつぶし後のデータとなる。

ここに、この第６図のような主走査方向について往復
の処理を行なうためには、一方向からの処理に基づく塗
りつぶし論理演算処理結果を一時記憶しておくメモリが
必要となる。この際、画像メモリ１上の１ラインをこの
目的のために使用することによつても実現可能である
が、メモリアクセスが煩雑化し、処理速度が遅くなつて
しまうことを考えると、独立したラインモリを設けて処
理する方がよい。

更に、閉図形として、例えば第７図（ａ）に示すよう
な上下左右に凹部を有するような輪郭線を持つものの場
合、第６図で説明した主走査方向の往復処理及び論理積
による処理を行なつても、誤つた塗りつぶし画素を生じ
得る。即ち、第７図（ｂ）は第６図の場合と同様に主走
査方向には往復方向で処理し、論理積をもとつてなる結
果を示すもので、左右の凹部外については誤りを生じな
いが、副走査方向である上下の輪郭線中の例えば下側の
凹部の外側も「○」で示すように誤つて塗りつぶしてし
まうからである。つまり、この部分は主走査方向につい
て往復処理をしても、何れも条件式（１）を満足してし
まうからである。

この場合、このような「○」で示す誤つた塗りつぶし
をなくすためには、同図（ｂ）に示したような往復主走
査を伴う上方から下方への副走査読取りだけでなく、同
図（ｃ）に示すように逆方向、即ち下側から上側に向け
ての副走査読取りをも行ない、両者の論理積をとるよう
にすればよい。つまり、副走査方向についても上下往復
走査を行なえばよい。副走査方向が逆の場合、第２図に
示した３×３画素マトリツクス２の配置は副走査読取り
方向に従つて上下逆となり、条件式（１）にも変更はな
い。つまり、副走査方向を逆とした場合の処理結果は第
７図（ｃ）に示すようになり、誤つた塗りつぶし画素
「○」部分は逆側、即ち上部の凹部内に生ずる。そし
て、第７図（ｂ）（ｃ）の両者の論理積をとれば、
「○」部分の画像データは無効となり、「■」及び
「●」で示す正常な部分のみが有効な塗りつぶし後のデ
ータとなる。

このような主・副走査方向の双方について往復方向の
走査を伴う処理を行なうためには、例えば一方向からの
副走査による塗りつぶし演算処理結果を一時記憶する画
像メモリが必要となる。この場合、画像メモリを2N行×
Ｍ列×１ビツトなる構成のものとしてもよいが、メモリ
アクセスが煩雑となるので、Ｎ行×Ｍ列×２ビツト構成
の画像メモリとした方が高速処理に適したものとなる。
つまり、Ｎ行×Ｍ列の画像メモリを２個（２面）持たせ
ることになる。

しかして、上述した全ての処理、即ち主・副読取り走
査に伴う論理演算処理は勿論、前述した如き主・副読取
り走査の双方を往復走査処理する場合をも含めて、高速
で効率よく閉図形の内部領域の塗りつぶし処理を行なう
ためには、例えば第８図に示すような回路構成により実
現できる。まず、Ｍ列×Ｎ行の２値構造の２面の画像メ
モリ1a,1bが設けられている。そして、手書き原稿等に
書かれた閉図形等を含む画像データを読取るイメージス
キヤナ３が１面側の画像メモリ1aに接続されている。即
ち、イメージスキヤナ３で読取つた画像データ（勿論、
閉図形の輪郭線データ等を含む）は画像メモリ1a内に格
納される。この際、タイミング制御回路４によるタイミ
ング制御を伴い、アドレス回路５による行・列両方向の
アドレス指定に従い各画素部分にデータ「１」又は
「０」が格納される。

しかして、画像メモリ1a内に格納された各種データ中
の閉図形内部領域の塗りつぶし処理を行なう際には、こ
の画像メモリ1aの各画素のデータはアドレス回路５によ
る行・列アドレス指定により左側から右側へ順方向の主
走査読取りが順次行なわれ、処理対象画素毎に前述した
論理演算処理が行なわれる。この処理時にもタイミング
制御回路４によりタイミングがとられる。このように主
走査により画像メモリ1a中から読取られた画像データは
３×３画素マトリックス２に対応する３×３画素ラツチ
マトリツクス回路６に送出される。この３×３画素ラツ
チマトリツクス回路６には１行×Ｍ列×４本構成のライ
ンメモリ７を介して前行、前々行の２行分の主走査デー
タも送出されてくるので、３行分のデータが存在し、３
×３マトリツクスを構成し得る状態となる。

この結果、第２図で示した３×３画素マトリツクス２
の場合と同様に、処理対象画素Ｅのデータを始め、その
周囲の画素についてのデータも３×３画素ラツチマトリ
ツクス回路６内に揃うので、これらのデータが論理回路
８に送られ、処理対象画素Ｅが条件式（１）を満たすか
否かの論理演算処理が行なわれる。この結果により、塗
りつぶすか否かの判定がなされる。処理対象画素につい
ての論理回路８による判定結果は、ラインメモリ７の１
つに出力されて一時格納される。

このようにして、ある行についての順方向の主走査が
終了すると、今度はタイミング制御回路４が画像メモリ
1a中の同一行（同一副走査ライン）ついて、右側から左
側に向けて逆方向の主走査を行なうようにアドレス回路
５を制御し、逆方向の主走査読取りが行なわれる。この
場合の処理も同一行についての順方向の主走査の場合と
同様であるが、論理回路８による判定結果はラインメモ
リ７中の異なる１本中に格納される。そして、このよう
な逆方向についての主走査処理も終了すると、主走査方
向における往復結果、即ち２本のラインメモリ７に格納
されている判定結果の論理積が論理回路８においてとら
れる。これが、第６図の場合で説明した主走査方向につ
いての往復処理に対応する。

同一行について論理積をとつた結果としてのデータ
は、今度は論理回路８から２面目の画像メモリ1bの対応
アドレスライン上に格納される。このようにして、ある
行についての往復主走査処理が終了したら、行アドレス
をインクリメントし、次の行に副走査させ、この行につ
いて同様に往復主走査処理を行なう。このようにして、
最終行までの処理を同様に繰返す。

これにより、画像メモリ1aに格納された画像データに
ついての往復主走査・上→下方向副走査による塗りつぶ
し処理が終了し、その結果は画像メモリ1bに格納された
状態となる。

この後、今度は副走査方向を下→上方向と前回とは逆
方向とし、往復主走査を同様に繰返す処理を行なわせ
る。この場合、各行の処理結果が得られたら、ラインメ
モリ７中の１本に一時格納され、既に同一行について画
像メモリ1bに格納されているデータとの論理積が論理回
路８により演算される。この論理積結果は、当該行につ
いての正式データとして画像メモリ1b中の該当行部分に
更新格納される。このようにして、副走査が逆方向に進
行するのに伴い、画像メモリ1b内の各行のデータも下側
の行から主・副走査とも往復走査を経た後の正式なもの
に順次更新格納される。そして、１行目の処理で終了す
る。

このようにして、任意形状の閉図形の内部領域を塗り
つぶし処理後のデータは画像メモリ1b内に格納されてお
り、必要に応じてイメージプリンタ等イメージ出力装置
９に出力される。

第９図は本実施例方式の塗りつぶし処理による処理前
後の各種態様を示すものである。同図（ａ）は１つの画
像メモリ内に複数個の閉図形が存在した場合を示す。図
示の如く、最初から塗りつぶし状態の閉図形であつても
支障はない。同図（ｂ）は２つの閉図形が交叉する状態
で存在する場合である（従来方式によれば、両者の重複
する閉空間部分、即ち中央部分が白抜け状態となつてし
まう）。同図（ｃ）ははみ出し線を有する輪郭線による
閉図形の場合であり、はみ出し線間を塗りつぶさないも
のとなる。同図（ｄ）は第７図の場合と同様に凹んだ輪
郭や凹み内に囲まれた他の閉図形が存在するような場合
を示す。同図（ｅ）は閉図形の内部に線、点など任意の
画像が存在する場合を示す。同図（ｆ）は第４図で説明
した場合と同様に輪郭線上に１画素分程度の画像欠損が
ある場合を示す。同図（ｇ）は閉図形の内外に例えば点
状に散在するノイズ画像がある場合を示し、外部のノイ
ズ画像の影響を受けないことを示している。

この他、各種形状、状態の閉図形の内部塗りつぶし処
理をその輪郭線に従い、適正に行なうことができる。

効果 本発明は上述のように、原稿に記載された任意の閉図
形を画像メモリに読み込み、この画像メモリに読み込ま
れた前記閉図形の内部を塗りつぶす閉図形内部領域の塗
りつぶし方法において、前記画像メモリをその主走査方
向及び副走査方向に順次走査して読み出される画素を３
×３のウインドウで切り出し、その切り出された画素デ
ータを、中心の処理対象画素データをＥ・処理対象画素
の前主走査方向の画素データを前列から順にA,B,C・中
心画素データの前列の画素データをＤ・後列の画素デー
タをＦ・処理対象画素の後主走査方向の画素データを前
列から順にG,H,Iとし、 Ｅ∪（（Ｄ∪Ｇ）∩（Ｃ∪Ｆ）） なる演算処理を行ない、その演算処理を前記画像メモリ
の当該処理対象画素位置に再度格納し、次の画素を新た
な処理対象画素として前記処理を繰り返すことにより前
記閉図形内部領域を塗りつぶすようにしたので、輪郭線
の一部欠損や地肌汚れなどのノイズ画像等の影響の少な
い状態で輪郭線に従つた適正な閉図形の内部領域の塗り
つぶしができ、また、画像メモリの主走査方向及び副走
査方向を正・逆それぞれ２通り計４通りに切り替えて塗
りつぶし処理を行ない、それぞれの塗りつぶし処理結果
の論理積をとり、閉図形内部を塗りつぶすようにしたの
で、輪郭線が複雑に入り組んでいてもその輪郭線に従つ
た適正な閉図形の内部領域の塗りつぶしができるという
効果を有する。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示すもので、第１図は基本処
理を示す説明図、第２図はマトリツクスの説明図、第３
図は塗りつぶし処理を順に示す説明図、第４図は輪郭線
に一部欠損がある図形の場合の処理前後の説明図、第５
図はノイズ画像の場合の説明図、第６図は往復主走査方
式を示す説明図、第７図は往復副走査方式を示す説明
図、第８図は回路図、第９図は各種図形等についての塗
りつぶし処理前後の状態を示す説明図である。 １……画像メモリ、Ｅ……処理対象画素、C,D,F,G……
周囲画素

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】原稿に記載された任意の閉図形を画像メモ
   リに読み込み、この画像メモリに読み込まれた前記閉図
   形の内部を塗りつぶす閉図形内部領域の塗りつぶし方法
   において、前記画像メモリをその主走査方向及び副走査
   方向に順次走査して読み出される画素を３×３のウイン
   ドウで切り出し、その切り出された画素データを、中心
   の処理対象画素データをＥ・処理対象画素の前主走査方
   向の画素データを前列から順にA,B,C・中心画素データ
   の前列の画素データをＤ・後列の画素データをＦ・処理
   対象画素の後主走査方向の画素データを前列から順にG,
   H,Iとし、 Ｅ∪（（Ｄ∪Ｇ）∩（Ｃ∪Ｆ）） なる演算処理を行ない、その演算処理を前記画像メモリ
   の当該処理対象画素位置に再度格納し、次の画素を新た
   な処理対象画素として前記処理を繰り返すことにより前
   記閉図形内部領域を塗りつぶすようにしたことを特徴と
   する閉図形内部領域の塗りつぶし方法。
2. 【請求項２】画像メモリの主走査方向及び副走査方向を
   正・逆それぞれ２通り計４通りに切り替えて塗りつぶし
   処理を行ない、それぞれの塗りつぶし処理結果の論理積
   をとり、閉図形内部を塗りつぶすようにしたことを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の閉図形内部領域の塗
   りつぶし方法。