JPS63223785A - 閉図形内部領域の塗りつぶし方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、画像メモリ内に記憶された輪郭形状が任意の
閉図形の内部領域を輪郭画素と同様の画素として塗りつ
ぶす閉図形内部領域の塗りつぶし方法に関する。

従来技術 従来、例えばイメージスキャナ等により読取った手書き
原稿上の任意の図形データを画像メモリに格納させた後
、プリントアウトする場合にその図形が輪郭により閉じ
た形状である時にはその閉図形の内部をベタ状に塗りつ
ぶしたいようなことがある。このため、閉図形の内部領
域を塗りつぶすような画素データ処理を行なう場合があ
る。

このような閉図形の内部領域の塗りつぶし方法としては
、次のような方法が採られている。まず、画像メモリの
読取りを行なう。即ち、Ｍ列Ｎ行からなる画像メモリを
行方向に主走査して各画素データを順次読取り、その行
の主走査が終了したら次の行へ副走査させてその行につ
いても主走査読取りを行なう。このような各行の主走査
読取りに際してその主走査線と図形輪郭線との最初の交
点から塗りつぶしを開始し、その主走査線上の次の交点
で塗りつぶしを止め、更に次に交点が出現したら塗りつ
ぶしを開始し、次の交点で塗りつぶしを止めるという処
理を順次行なうものである。

ところが、閉図形といえども各種形状のものがあり、主
走査線と図形輪郭との交点につき、塗りつぶし開始交点
と塗りつぶし停止交点とが互いに近づき、１となる交点
、即ち極大点又は極小点においては、閉図形の外側領域
を塗りつぶしてしまうような誤処理が生ずることがある
。

また、手書き図形をイメージスキャナ等により読取って
、画像メモリ中に格納する処理においても、原稿の地肌
汚れ等をも画素の１つとして読取り格納してしまうこと
になり、上述した塗りつぶしのための走査処理において
輪郭線画素データと区別できないものとなる。これによ
っても、誤つた塗りつぶし処理をしてしまう。更には、
細い輪郭線の図形を読取った場合には、その読取りデー
タに一部欠損を生じ、図形輪郭データの画素が縦、横又
は斜めに部分的に連続せずに閉図形状態から外れてしま
い、これにより正常な塗りつぶしができない場合もある
。

目的 本発明は、このような点に鑑みなされたもので、イメー
ジスキャナ等によって読取って画像メモリに格納してな
る輪郭線により囲まれた閉図形データについて、地肌汚
れデータや一部データ欠損等があっても、閉図形の内部
領域の塗りつぶし処理を正常に行なうことができる閉図
形内部領域の塗りつぶし方法を提供することを目的とす
る。

構成 本発明は、画像メモリ内に記憶された任意の閉図形の内
部領域の画素を塗りつぶす閉図形内部領域の塗りつぶし
方法において、前記画像メモリの各画素データを順次主
走査方向と副走査方向とに読取り、読取った処理対象画
素データを当該処理対象画素データとこの処理対象画素
周囲の画素データとを用いて当該処理対象画素を塗りつ
ぶすか否かの論理演算を行ない、演算結果のデータを前
記画像メモリ中の当該処理対象画素部分に格納させるこ
とを特徴とするものである。

以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。ま
ず１本実施例による閉図形内部領域の塗りつぶしの原理
を第１図及び第２図により説明する。第１図は例えばＭ
ＩＡＮ行なるビットマツプを持つ画像メモリ１上の画素
データの状態を示すものである。即ち、この画像メモリ
ｌはイメージスキャナ等により読取られた画像、特に図
形データを格納するものであり、第１図中、「１」は画
像存在画素、「Ｏ」は画像が存在しない空白画素を示し
ている。従って、例えば読取り図形が閉図形であれば、
画像メモリ１中での「１」なるデータによって閉図形が
展開されることになる。第１図では、例えば「○Ｊのよ
うな閉図形読取りデータが格納されている状態を示す。

しかして、このようなｒｌ」なる画素データで囲まれた
閉図形の内部領域についてもすべて「１ノなる画素デー
タで埋めていく処理を本発明の塗りつぶし処理と称する
ものである。

このような塗りつぶし処理を行なうため、画像メモリ１
について主走査読取りを順次副走査方向に行なう。即ち
、第１図中各行が主走査方向となり、１行目の１列目の
画素からＭ列目の画素まで１画素ずつ順に主走査読取り
され、次に２行目の１列目〜Ｍ列目の画素の主走査読取
りが行なわれ、以下、同様に処理され、最終的にはＮ行
Ｍ列分の各画素についての主・副走査読取りが行なわれ
る。

このような読取り走査に際して、個々の画素が塗りつぶ
すか否かを判定すべき処理対象画素となるわけであるが
、処理対象画素となった場合には、当該処理対象画素を
含む周囲の画素のデータをも考慮して論理演算し、塗り
つぶすか否かを判定するものである。そして、この演算
による判定結果を画像メモリ１において当該処理対象画
素部分に書換え等により格納し、この後で、次の画素に
処理を移すものである。

ここに、本実施例では例えば処理対象画素を第２図中の
Ｅとすると、この処理対象画素Ｅ周囲の８個の隣接画素
Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｆ、Ｇ、Ｈ，Ｉによる３Ｘ３画素マト
リックス２を考慮するものである。もつとも、これらの
周囲の画素の全てを考慮して論理演算するのではなく、
第２図中に実線で囲んで示す５個の画素Ｃ，Ｄ、Ｄ、Ｆ
、Ｇのデータのみを考慮し、次の論理演算式を条件式と
するものである。

ＥＵ　（（ＤＵＧ）ｎ　（ＣＵＦ））＝１−・−・−・
・−（１）即ち、この（１）を言葉で表現すると、まず
、処理対象画素Ｅ自身のデータが「１」の場合にはこの
条件式（１）を満たすので処理対象画素Ｅは塗りつぶす
、即ちそのままのデータ［１）となる。第２に処理対象
画素Ｅ自身のデータはｒＱＪであっても、１列前の画素
り又は１列前１行後の画素Ｇの少なくとも何れか一方の
データが「１」であって、かつ、１列後の画素Ｆ又は１
列後１行前の画素Ｃの少なくとも何れか一方のデータが
「１」の場合に、処理対象画素Ｅは条件式（１）を満た
すことにより塗りつぶし処理、即ちｒＱＪなるデータか
ら「１」なるデータに変更する。この条件式（１）を満
足しない場合には、塗りつぶしがされない。

第１図では、このような塗りつぶし処理が画像メモリ１
上で０行ｍ列まで進行した状態を示し、図中、■で示す
画素部分は条件式（１）に従い「０」なるデータ部分を
塗りつぶし処理により「１」なるデータ変更格納したこ
とを示す。そして、第１図中の状態では、処理対象画素
Ｅはｎ行ｍ列位置であり、ここに３×３画素マトリック
ス２を考慮して条件式（１）を満足するか否か論理演算
すると、条件を満たすので塗りつぶすことになり、ｒＱ
Ｊなるデータから「１」なるデータに変更格納される。

そして、この後、次の画素、即ちｎ行（ｍ＋１）列の画
素の処理に移行する。この際、直前処理の０行ｍ列の画
素（３×３画素マトリックス中の画素りに相当すること
になる）としてはｒｌ」に更新変更されたものが条件式
（１）の演算に適用される。又、１行前の各画素Ａ、Ｂ
、Ｃについても更新後のデータが用いられる。

このようにして、第１図中で、例えばｎ行についての主
走査が終了すると、次の（ｎ＋１）行の主走査処理に移
行し、同様の処理をする。そして、Ｎ行目のＭ列目の画
素についての処理により、全ての画素についての処理が
終了する。これにより、画像メモリ１中では、例えば第
１図の場合であれば、閉図形（形状「Ｏ」）内の内部領
域のみが塗すつぶされることになる。

なお、画像メモリ１において、閉図形が記憶されている
メモリ領域が事前に明らかな場合には、画像メモリ１全
体を主・副読取り走査することなく、閉図形が存在する
画素領域内のみを読取り走査して上述の如き論理演算処
理して、塗りつぶすようにして、処理時間を短縮させて
もよい。

又、処理対象画素Ｅのアドレス位置が画像メモリｌ自体
の境界部、即ち１行目、１列目、Ｎ行目、Ｍ列目の何れ
かに存在する場合には、事実上、３Ｘ３画素マトリック
ス２として演算に供する画素が存在しない場合があるが
、このような場合には当該周辺画素Ｃ，Ｄ、Ｆ、Ｇ等に
ついては、その画素データが「Ｏ」であるとして処理す
ればよい。

ところで、このような閉図形内部領域の塗りつぶし処理
の、より具体的な手順を第３図により説明する。まず、
第３図（ａ）はイメージスキャナ等で読取った閉図形デ
ータをそのまま画像メモリ１に格納し、塗りつぶし処理
を全くしてない状態を示す。図中、「■」で示す部分が
画像データの存在する画素部分で、第１図中の「１」で
示したものに対応する。ｒＱＪなる画素部分は空白状態
で示す。又、「・」で示す部分は条件式（１）を満足す
ることにより空白画素が塗りつぶし画素に変更されたこ
とを示す（第１図中の■で示す部分に対応する）。

しかして、第３図（ｂ）は塗りつぶし処理が途中まで進
行し、「Ｘ」で示す画素部分に処理対象画素Ｅが移行し
た状態を示す。この状態では、「・」で示すように既に
塗りつぶし更新処理した部分も存在している。この「×
」位置は、その行の主走査方向において閉図形輪郭の左
側外部に接する画素位置である。この「×」位置を画素
Ｅとするど、画素Ｅ＝Ｏ，Ｃ＝Ｏ，Ｄ＝Ｏ，Ｆ＝ｌ、Ｇ
＝Ｏであるので、条件式（１）を満たさないので、第３
図（ｂ）において「×」で示す画素部分は塗りつぶすべ
き画素とはされず、データ「１」に変更されることはな
い。

この処理後、次の画素「■」部分に移行すると、この画
素部分は自身で閉図形の輪郭線を形成しており、Ｅ＝１
により条件式（１）を満足するので、その画素のデータ
としては「１」がそのまま更新される。

更に、次の画素への処理に移行した状態を第３図（ｅ）
に示す。即ち、処理対象画素の位置「×」が閉図形輪郭
線内に入り込んで輪郭線に隣接する画素部分である。こ
の第３図（Ｃ）に示す画素位置「×」では、画素Ｅ＝Ｏ
であるものの、画素Ｃ＝１、Ｄ＝１．、Ｆ＝Ｏ，Ｇ＝１
であるので、条件式（１）を満たすことになる。よって
、第３図（Ｃ）において「×」で示す画素部分は塗りつ
ぶすべき画素とするため、データｒＱＪ状態からデータ
「１」に更新変更される。そして、同図（ｄ）に示すよ
うに同一主走査ライン上で処理対象画素「×」の位置が
順次移行しても、条件式（１）を満足すれば塗りつぶし
処理される。

第３図（ｅ）は、このような処理が進み、処理対象画素
位置「×」が閉図形の輪郭線内にてその輪郭線画素に隣
接する位置に移行した状態を示す。

この時の「×」の位置を画素Ｅとすると、やはりＥ自身
はＥ＝Ｏであるが、画素Ｃ＝Ｏ，Ｄ＝１゜Ｆ＝１．Ｇ＝
Ｏであるので、条件式（１）を満たすことになる。よっ
て、第３図（ｅ）において「×」で示す画素部分は塗り
つぶすべき画素とするため、データ「Ｏ」状態からデー
タ「１」に更新変更される。そして、次の画素に処理が
移行すると、この画素部分は輪郭線上のものであり、自
身の画素Ｅ＝１によりそのままデータ「１」として更新
される。

第３図（ｆ）は更に処理が進み、処理対象画素位置「×
」が閉図形輪郭線の画素外に隣接する画素位置にある場
合を示す。この場合には、処理対象画素Ｅ自身がＯであ
り、かつ、右側の画素Ｃ，Ｆが共に０であるので、画素
り、Ｇ　（Ｄ＝１．Ｇ＝１）のデータに関係なく条件式
（１）を満足せず、塗りつぶされない。

しかして、画像メモリ１全体についてこのような条件式
（１）を満足するか否かの論理演算を伴う処理を行なっ
た結果は、例えば第３図（ｇ）に示すような状態となり
、「■」で示す画像輪郭データにより囲まれた閉図形の
内部領域が「・」で示すように全て塗りつぶし処理され
た状態で更新格納される。

このような本実施例方式による閉図形の内部領域の塗り
つぶしによれば、例えば第４図（ａ）に示すようにイメ
ージキャナ等により読取られて画像メモリ１中に格納さ
れた輪郭線データの一部に１画素分程度の画像欠損があ
ったとしても、主・副読取り走査に際して処理対象画素
が条件式（１）を満足するか否かにより処理を進めてい
けば、第４図（ｂ）に示すような満足し得る閉図形内部
領域の塗りつぶし結果が得られる。

又、イメージスキャナ等による読取りに際して原稿の地
肌汚れをも画像データとして読取り、これを画像メモリ
１中に第５図に示すように格納されたとしても、一般に
はこれらの地肌汚れ画像画素は集中せずに離散しいるの
で、当該画像画素部分以外の画素部分では条件式（１）
を満足することは殆どないので、これらの画像画素を閉
図形の輪郭画素と誤認定して誤った塗りつぶしを行なう
ようなことはない。つまり、第５図に示すような画像メ
モリ１内のデータ状態の場合には、上述したように塗り
つぶし論理演算処理を行なっても結果は変化せず、この
第５図に示す状態のままとなる。

なお、このような地肌汚れ等に基づく散在画像データを
考慮した場合、これらは殆どの場合正常なデータではな
いので、条件式（１）の他にも更に条件式を付加し、処
理対象画素Ｅが周囲画素に対して全く孤立して存在して
いると判断された場合には、この処理対象画素の画像デ
ータを逆に「０」に書換えるようにすれば、散在ノイズ
画像を消去することもできる。

なお、上述した説明では、処理対象画素の塗りつぶしの
判定に隣接する３Ｘ３画素マトリックス２の範囲を考慮
して処理するようにしたが、更に広範囲の周囲画素、例
えば４×４画素マトリックス分の画素データを考慮する
ようにしてもよい。

又、条件式（１）自体もこれに限定されるものではなく
、適宜条件を追加・変更してなる条件式により論理演算
するようにしてもよい。

ところで、通常の閉図形の場合であれば、前述したよう
に多少の画像欠損、ノイズ画像データ等が存在しても、
殆ど満足し得る内部領域の塗りつぶしができる。しかし
、例えば閉図形といっても、例えば第６図（ａ）に示す
ようなＴ字状の如き輪郭線を持つ場合には塗りつぶしの
一部に誤りを生ずる。即ち、前述したように主・副読取
り走査に伴い各処理対象画素毎に条件式（１）による論
理演算を行なった場合、画像メモリ１上での塗りつぶし
結果は第６図（ｂ）のようになる。ここに、「○Ｊで示
す部分も条件式（１）を満足することにより、「・」と
同様に塗りつぶし処理された画素部分を示すものであり
、閉図形の外側領域をも部分的に塗りつぶしてしまうこ
とになる。

しかるに、このような「○」で示す誤った塗りつぶしを
なくすためには、同図（ｂ）に示したような左側から右
側への主走査読取りだけでなく、同図（Ｃ）に示すよう
に逆方向、即ち右側から左側に向けての主走査読取りを
も行ない、両者の論理積をとるようにすればよい。つま
り、２回の処理を行なうが、主走査方向を逆とさせるも
のである。

主走査方向が逆の場合、第２図に示した３×３画素マト
リックス２の配置も逆となり、条件式（１）に変更はな
い。つまり、主走査方向を逆とした場合の処理結果は第
６図（Ｃ）に示すようになり、誤った塗りつぶし画素「
ｏ」部分は逆側に生ずる。

そして、第６図（ｂ）（Ｃ）の両者の論理積をとれば、
「○」部分の画像データは無効となり、「■」及び「・
」で示す正常な部分のみが有効な塗りつぶし後のデータ
となる。

ここに、この第６図のような主走査方向について往復の
処理を行なうためには、一方向からの処理に基づく塗り
つぶし論理演算処理結果を一時記憶しておくメモリが必
要となる。この際、画像メモリ１上の１ラインをこの目
的のために使用することによっても実現可能であるが、
メモリアクセスが煩雑化し、処理速度が遅くなってしま
うことを考えると、独立したラインメモリを設けて処理
する方がよい。

更に、閉図形として、例えば第７図（ａ）に示すような
上下左右に凹部を有するような輪郭線を持つものの場合
、第６図で説明した主走査方向の往塩処理及び論理積に
よる処理を行なっても、誤った塗りつぶし画素を生じ得
る。即ち、第７図（ｂ）は第６図の場合と同様に主走査
方向には往復方向で処理し、論理積をもとってなる結果
を示すもので、左右の凹部外については誤りを生じない
が、副走査方向である上下の輪郭線中の例えば下側の凹
部の外側も「Ｏ」で示すように誤って塗りつぶしてしま
うからである。つまり、この部分は主走査方向について
往復処理をしても、何れも条件式（１）を満足してしま
うからである。

この場合、このような「Ｏ」で示す誤った塗りつぶしを
なくすためには、同図（ｂ）に示したような往復主走査
を伴う上方から下方への副走査読取りだけでなく、同図
（Ｃ）に示すように逆方向、即ち下側から上側に向けて
の副走査読取りをも行ない、両者の論理積をとるように
すればよい。つまり、副走査方向についても上下往復走
査を行なえばよい。副走査方向が逆の場合でも、第２図
に示した３×３画素マトリックス２の配置には変更がな
く、条件式（１）にも変更はない。つまり、副走査方向
を逆とした場合の処理結果は第７図（ｅ）に示すように
なり、誤った塗りつぶし画素「Ｏ」部分は逆側、即ち上
部の凹部内に生ずる。そして、第７図（ｂ）（Ｃ）の両
者の論理積をとれば、「０１部分の画像データは無効と
なり、「■」及び「・」で示す正常な部分のみが有効な
塗りつぶし後のデータとなる。

このような主・副走査方向の双方について往復方向の走
査を伴う処理を行なうためには、例えば一方向からの副
走査による塗りつぶし演算処理結果を一時記憶する画像
メモリが必要となる。この場合、画像メモリを２Ｎ行Ｘ
Ｍ列×１ビットなる構成のものとしてもよいが、メモリ
アクセスが煩雑となるので、Ｎ行×Ｍ列×２ビット構成
の画像メモリとした方が高速処理に適したものとなる。

つまり、Ｎ行ＸＭ列の画像メモリを２個（２面）持たせ
ることになる。

しかして、上述した全ての処理、即ち主・副読取り走査
に伴う論理演算処理は勿論、前述した如き主・副読取り
走査の双方を往復走査処理する場合をも含めて、高速で
効率よく閉図形の内部領域の塗りつぶし処理を行なうた
めには、例えば第８図に示すような回路構成により実現
できる。まず、Ｍ列×Ｎ行の２値構造の２面の画像メモ
リｌａ。

ｌｂが設けられている。そして、手書き原稿等に書かれ
た閉図形等を含む画像データを読取るイメージスキャナ
３が１面側の画像メモリ１ａに接続されている。即ち、
イメージスキャナ３で読取った画像データ（勿論、閉図
形の輪郭線データ等を含む）は画像メモリｌａ内に格納
される。この際、タイミング制御回路４によるタイミン
グ制御を伴い、アドレス回路５による行・列両方向のア
ドレス指定に従い各画素部分にデータ「ＩＪ又は「０」
が格納される。

しかして、画像メモリ１ａ内に格納された各種データ中
の閉図形内部領域の塗りつぶし処理を行なう際には、こ
の画像メモリ１ａの各画素のデータはアドレス回路５に
よる行・列アドレス指定により左側から右側へ順方向の
主走査読取りが順次行なわれ、処理対象画素毎に前述し
た論理演算処理が行なわれる。この処理時にもタイミン
グ制御回路４によりタイミングがとられる。このように
主走査により画像メモリ１ａ中から読取られた画像デー
タは３×３画素マトリックス２に対応する３Ｘ３画素ラ
ッチマトリックス回路６に送出される。この３×３画素
ラッチマトリックス回路６には１行×Ｍ列×４本構成の
ラインメモリ７を介して前行、前々行の２行分の主走査
データも送出されてくるので、３行分のデータが存在し
、３×３マトリツクスを構成し得る状態となる。

この結果、第２図で示した３Ｘ３画素マトリックス２の
場合と同様に、処理対象画素Ｅのデータを始め、その周
囲の画素についてのデータも３×３画素ラッチマトリッ
クス回路６内に揃うので、これらのデータが論理回路８
に送られ、処理対象画素Ｅが条件式（１）を溝たすか否
かの論理演算処理が行なわれる。この結果により、塗り
つぶすか否かの判定がなされる。処理対象画素について
の論理回路８による判定結果は、ラインメモリ７の１つ
に出力されて一時格納される。

このようして、ある行についての順方向の主走査が終了
すると、今度はタイミング制御回路４が画像メモリＹａ
中の同一行（同一副走査ライン）ついて、右側から左側
に向けて逆方向の主走査を行なうようにアドレス回路５
を制御し、逆方向の主走査読取りが行なわれる。この場
合の処理も同一行についての順方向の主走査の場合と同
様であるが、論理回路８による判定結果はラインメモリ
７中の異なる１本中に格納される。そして、このような
逆方向についての主走査処理も終了すると、主走査方向
における往復結果、即ち２本のラインメモリ７に格納さ
れている判定結果の論理積が論理回路８においてとられ
るにれが、第６図の場合で説明した主走査方向について
の往復処理に対応する。

同一行について論理積をとった結果としてのデータは、
今度は論理回路８から２面目の画像メモリ１ｂの対応ア
ドレスライン上に格納される。このようにして、ある行
についての往復主走査処理が終了したら、行アドレスを
インクリメトし、次の行に副走査させ、二の行について
同様に往復主走査処理を行なう。このようにして、最終
行までの処理を同様に繰返す。

これにより、画像メモリ１ａに格納された画像データに
ついての往復主走査・上→下方向副走査による塗りつぶ
し処理が終了し、その結果は画像メモリｌｂに格納され
た状態となる。

この後、今度は副走査方向を下→上方向と前回とは逆方
向とし、往復主走査を同様に繰返す処理を行なわせる。

この場合、各行の処理結果が得られたら、ラインメモリ
７中の１本に一時格納され、既に同一行について画像メ
モリ１ｂに格納されているデータとの論理積が論理回路
８により演算される。この論理積結果は、当該行につい
ての正式データとして画像メモリ１ｂ中の該当行部分に
更新格納される。このようにして、副走査が逆方向に進
行するのに伴い、画像メモリ１ｂ内の各行のデータも下
側の行から主・副走査とも往復走査を経た後の正式なも
のに順次更新格納される。そして、１行目の処理で終了
する。

このようにして、任意形状の閉図形の内部領域を塗りつ
ぶし処理後のデータは画像メモリ１ｂ内に格納されてお
り、必要に応じてイメージプリンタ等イメージ出力装置
９に出力される。

第９図は本実施例方式の塗りつぶし処理による処理前後
の各種態様を示すものである。同図（ａ）は１つの画像
メモリ内に複数個の閉図形が存在した場合を示す。図示
の如く、最初から塗りつぶし状態の閉図形であっても支
障はない。同図（ｂ）は２つの閉図形が交叉する状態で
存在する場合である（従来方式によれば、両者の重複す
る閉空間部分、即ち中央部分が白抜は状態となってしま
う）。

同図（ｃ）ははみ出し線を有する輪郭線による閉図形の
場合であり、はみ出し線間を塗りつぶさないものとなる
。同図（ｄ）は第７図の場合と同様に凹んだ輪郭や凹み
内に囲まれた他の閉図形が存在するような場合を示す。

同図（ｅ）は閉図形の内部に線、点など任意の画像が存
在する場合を示す。

同図（ｆ）は第４図で説明した場合と同様に輪郭線上に
１画素分程度の画像欠損がある場合を示す。

同図（ｇ）は閉図形の内外に例えば点状に散在するノイ
ズ画像がある場合を示し、外部のノイズ画像の影響を受
けないことを示している。

この他、各種形状、状態の閉図形の内部塗りつぶし処理
をその輪郭線に従い、適正に行なうことができる。

効果 本発明は、上述したように画像メモリ内の各画素の走査
に際して処理対象画素のデータだけでなく周囲の画素の
データをも考慮して所定の論理演算処理を行ない、塗り
つぶすか否かを判定して画像メモリ内容を更新させるよ
うにしたので、輪郭線の一部欠損や地肌汚れなどのノイ
ズ画像等の影響の少ない状態で、輪郭線に従った適正な
閉図形の内部領域の塗りつぶしができるものである。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示すもので、第１図は基本処
理を示す説明図、第２図はマトリックスの説明図、第３
図は塗りつぶし処理を順に示す説明図、第４図は輪郭線
に一部欠損がある図形の場合の処理前後の説明図、第５
図はノイズ画像の場合の説明図、第６図は往復主走査方
式を示す説明図、第７図は往復副走査方式を示す説明図
、第８図は回路図、第９図は各種図形等についての塗り
つぶし処理前後の状態を示す説明図である。 １・・・画像メモリ、Ｅ・・・処理対象画素、Ｃ，Ｄ。 Ｆ、Ｇ・・・周囲画素 （ａ）　　　　　　　　（ｂ）　　　　　　　　（Ｃ）
（ｄ）　　　　　　　　　　　　　　　（ｅ）　　　　
　　　　　　　　　　　（＋）３肚図 ５５昆 ３０図 （ａ）　　　　　　　　（ｂ）　　　　　　　　（Ｃ）
、％　７図 （ａ）　　　　　　　　（ｂ）　　　　　　　　（Ｃ）
、％ｄ　図 手続補正書（晴 昭和６２年　４月２４日

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 画像メモリ内に記憶された任意の閉図形の内部領域の画
   素を塗りつぶす閉図形内部領域の塗りつぶし方法におい
   て、前記画像メモリの各画素データを順次主走査方向と
   副走査方向とに読取り、読取つた処理対象画素データを
   当該処理対象画素データとこの処理対象画素周囲の画素
   データとを用いて当該処理対象画素を塗りつぶすか否か
   の論理演算を行ない、演算結果のデータを前記画像メモ
   リ中の当該処理対象画素部分に格納させることを特徴と
   する閉図形内部領域の塗りつぶし方法。