JP2574904Y2 - 電子部品のリ−ド曲り検査装置 - Google Patents
電子部品のリ−ド曲り検査装置Info
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- JP2574904Y2 JP2574904Y2 JP1992016751U JP1675192U JP2574904Y2 JP 2574904 Y2 JP2574904 Y2 JP 2574904Y2 JP 1992016751 U JP1992016751 U JP 1992016751U JP 1675192 U JP1675192 U JP 1675192U JP 2574904 Y2 JP2574904 Y2 JP 2574904Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、アキシャルリ−ド型の
電子部品のリ−ド線の曲り検査を画像処理によって行な
うリ−ド曲り検査装置に関するものである。
電子部品のリ−ド線の曲り検査を画像処理によって行な
うリ−ド曲り検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、アキシャルリ−ド型のインダク
タ，コンデンサ等におけるリ−ド線の曲り検査は、塗
装，マ−キング，テ−ピング等の工程の前段階において
チェ−ン等で搬送される部品を目視にて確認することで
行なわれており、リ−ド線に曲りがあるものはこの際に
手作業にて取除かれていた。
タ，コンデンサ等におけるリ−ド線の曲り検査は、塗
装，マ−キング，テ−ピング等の工程の前段階において
チェ−ン等で搬送される部品を目視にて確認することで
行なわれており、リ−ド線に曲りがあるものはこの際に
手作業にて取除かれていた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかし上記従来の検査
方法では、作業者夫々で良否の判定基準が異なるため、
良否判定を画一的に、且つ正確に行なうことが困難であ
り、また搬送される部品の向きや視認の角度によってリ
−ド曲りが見逃される恐れが高く、後工程である塗装，
マ−キング，テ−ピング等の工程において多くの不良を
発生していた。
方法では、作業者夫々で良否の判定基準が異なるため、
良否判定を画一的に、且つ正確に行なうことが困難であ
り、また搬送される部品の向きや視認の角度によってリ
−ド曲りが見逃される恐れが高く、後工程である塗装，
マ−キング，テ−ピング等の工程において多くの不良を
発生していた。
【０００４】本考案は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、リ−ド曲りを抜けなく的
確に判定できる電子部品のリ−ド曲り検査装置を提供す
ることにある。
で、その目的とするところは、リ−ド曲りを抜けなく的
確に判定できる電子部品のリ−ド曲り検査装置を提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本考案では、アキシャルリ−ド型の電子部品を両リ
−ド線を支承した状態で連続的に搬送する搬送部材と、
搬送電子部品の上方に位置し電子部品の２次元画像を撮
像可能な撮像器と、少なくとも撮像器の下を通過する電
子部品のリ−ド線に周方向の回動力を付与し該電子部品
を回動させる部品回動手段と、回動状態にある電子部品
が撮像器の真下にきたことを検知する撮像タイミング検
知手段と、タイミング検知手段からの検知信号に基づい
て撮像器から画像デ−タを取込むと共に、該画像デ−タ
が良品位置から外れている場合にリ−ド曲りと判定する
画像判定手段とから、電子部品のリ−ド曲り検査装置を
構成している。
め、本考案では、アキシャルリ−ド型の電子部品を両リ
−ド線を支承した状態で連続的に搬送する搬送部材と、
搬送電子部品の上方に位置し電子部品の２次元画像を撮
像可能な撮像器と、少なくとも撮像器の下を通過する電
子部品のリ−ド線に周方向の回動力を付与し該電子部品
を回動させる部品回動手段と、回動状態にある電子部品
が撮像器の真下にきたことを検知する撮像タイミング検
知手段と、タイミング検知手段からの検知信号に基づい
て撮像器から画像デ−タを取込むと共に、該画像デ−タ
が良品位置から外れている場合にリ−ド曲りと判定する
画像判定手段とから、電子部品のリ−ド曲り検査装置を
構成している。
【０００６】
【作用】本考案に係る曲り検査装置では、回動機構によ
って電子部品のリ−ド線に周方向の回動力を付与し、該
電子部品を撮像器の下を通過する際に回動させるように
しているので、リ−ド線に多少なりの曲りがあるものは
上記の回動によって揺動を生じる。つまり、リ−ド線に
曲りがある電子部品を撮像した場合には、該画像デ−タ
は上記の揺動によって必ず良品位置から外れることにな
る。
って電子部品のリ−ド線に周方向の回動力を付与し、該
電子部品を撮像器の下を通過する際に回動させるように
しているので、リ−ド線に多少なりの曲りがあるものは
上記の回動によって揺動を生じる。つまり、リ−ド線に
曲りがある電子部品を撮像した場合には、該画像デ−タ
は上記の揺動によって必ず良品位置から外れることにな
る。
【０００７】
【実施例】図１乃至図５は本考案の一実施例を示すもの
で、図１は搬送部材を省略した曲り検査装置の構成図、
図２は被検査部品の上面図、図３は検査装置の要部上面
図、図４は図２のＡ−Ａ線断面図、図５はリ−ド曲り判
定の説明図である。
で、図１は搬送部材を省略した曲り検査装置の構成図、
図２は被検査部品の上面図、図３は検査装置の要部上面
図、図４は図２のＡ−Ａ線断面図、図５はリ−ド曲り判
定の説明図である。
【０００８】図１において、Ｂは被検査部品、１は搬送
部材、２は支持部材、３は回動機構、４は撮像タイミン
グセンサ、５はカメラ、６はマイクロコンピュ−タ構成
の画像判定装置、７はモニタ−、８は除去機構である。
部材、２は支持部材、３は回動機構、４は撮像タイミン
グセンサ、５はカメラ、６はマイクロコンピュ−タ構成
の画像判定装置、７はモニタ−、８は除去機構である。
【０００９】被検査部品Ｂはアキシャルリ−ド型の電子
部品、例えばインダクタ，コンデンサ等であり、図２に
示すように、略円柱形状を成す本体Ｂａの両端部に同一
長さのリ−ド線Ｂｂを同軸上に有している。
部品、例えばインダクタ，コンデンサ等であり、図２に
示すように、略円柱形状を成す本体Ｂａの両端部に同一
長さのリ−ド線Ｂｂを同軸上に有している。
【００１０】搬送部材１は、図３及び図４に示すよう
に、被検査部品Ｂの本体Ｂａよりも大きな間隔おいて平
行な一対のチェ−ン１ａから成り、各チェ−ン１ａの上
縁には等間隔でリ−ド線支承用の凹部１ｂが形成されて
いる。この搬送部材１は図示省略の駆動源によって所定
方向に一定速度で移動する。上記の被検査部品Ｂは両リ
−ド線Ｂｂを対向する凹部１ｂに支承され、搬送方向と
直交する向きで搬送部材１と共に一定速度で移動する。
に、被検査部品Ｂの本体Ｂａよりも大きな間隔おいて平
行な一対のチェ−ン１ａから成り、各チェ−ン１ａの上
縁には等間隔でリ−ド線支承用の凹部１ｂが形成されて
いる。この搬送部材１は図示省略の駆動源によって所定
方向に一定速度で移動する。上記の被検査部品Ｂは両リ
−ド線Ｂｂを対向する凹部１ｂに支承され、搬送方向と
直交する向きで搬送部材１と共に一定速度で移動する。
【００１１】支持部材２は、図３及び図４にも示すよう
に、平坦な上面２ａの両端に傾斜面２ａを有する長手部
品から成り、各チェ−ン１ａの内側にその上面２ａが凹
部１ｂの最深部よりも僅かに高くなるように配置されて
いる。搬送部材１と共に移動する被検査部品Ｂのリ−ド
線Ｂｂは、支持部材２に差し掛かったところで凹部１ｂ
の最深部から傾斜面２ｂを通じて上面２ａ上に移行し、
該上面２ａでリ−ド線Ｂｂを支承される。
に、平坦な上面２ａの両端に傾斜面２ａを有する長手部
品から成り、各チェ−ン１ａの内側にその上面２ａが凹
部１ｂの最深部よりも僅かに高くなるように配置されて
いる。搬送部材１と共に移動する被検査部品Ｂのリ−ド
線Ｂｂは、支持部材２に差し掛かったところで凹部１ｂ
の最深部から傾斜面２ｂを通じて上面２ａ上に移行し、
該上面２ａでリ−ド線Ｂｂを支承される。
【００１２】回動機構３は、図３及び図４にも示すよう
に、搬送方向に間隔をおいて直交する一対の軸杆３ａ
と、各軸杆３ａに支持部材２と同一幅で配置されたプ−
リ３ｂと、搬送方向で対向するプ−リ３ｂに巻付けられ
たゴムベルト３ｃと、一方の軸杆３ａを回転駆動する図
示省略の回転駆動源とから成る。各ゴムベルト３ｃの下
辺部分は、支持部材２夫々の上面２ａとリ−ド線Ｂｂの
径よりも小さな間隔をおいて平行に対向している。
に、搬送方向に間隔をおいて直交する一対の軸杆３ａ
と、各軸杆３ａに支持部材２と同一幅で配置されたプ−
リ３ｂと、搬送方向で対向するプ−リ３ｂに巻付けられ
たゴムベルト３ｃと、一方の軸杆３ａを回転駆動する図
示省略の回転駆動源とから成る。各ゴムベルト３ｃの下
辺部分は、支持部材２夫々の上面２ａとリ−ド線Ｂｂの
径よりも小さな間隔をおいて平行に対向している。
【００１３】この回動機構３は、回転駆動源の作動でゴ
ムベルト３ｃを同図において半時計回り方向に回転させ
ることが可能であり、支持部材２の上面２ａに移行した
被検査部品Ｂのリ−ド線Ｂｂは、各ゴムベルト３ｃの下
辺部分と接触して周方向の回動力を付与され、これによ
り被検査部品Ｂが上記とは逆方向に回動する。
ムベルト３ｃを同図において半時計回り方向に回転させ
ることが可能であり、支持部材２の上面２ａに移行した
被検査部品Ｂのリ−ド線Ｂｂは、各ゴムベルト３ｃの下
辺部分と接触して周方向の回動力を付与され、これによ
り被検査部品Ｂが上記とは逆方向に回動する。
【００１４】撮像タイミングセンサ４は光電スイッチや
マイクロスイッチ等から成り、搬送部材１の一方のチェ
−ン１ａの近傍に固定配置されている。この撮像タイミ
ングセンサ４は、チェ−ン１ａの凹部１ｂ等を検知対象
とし、回動状態にある被検査部品Ｂの１つがカメラ５の
真下、つまり撮像の中心にきたところで撮像タイミング
信号を発生する。
マイクロスイッチ等から成り、搬送部材１の一方のチェ
−ン１ａの近傍に固定配置されている。この撮像タイミ
ングセンサ４は、チェ−ン１ａの凹部１ｂ等を検知対象
とし、回動状態にある被検査部品Ｂの１つがカメラ５の
真下、つまり撮像の中心にきたところで撮像タイミング
信号を発生する。
【００１５】カメラ５はＣＣＤ等を用いた２次元カメラ
から成り、被検査部品Ｂの２次元画像を撮像する。この
カメラ５は、支持部材２上にリ−ド線Ｂｂを支承される
被検査部品Ｂの上方に所定間隔をおいて下向きに固定配
置されている。
から成り、被検査部品Ｂの２次元画像を撮像する。この
カメラ５は、支持部材２上にリ−ド線Ｂｂを支承される
被検査部品Ｂの上方に所定間隔をおいて下向きに固定配
置されている。
【００１６】画像判定装置６はカメラ５からの画像デ−
タに基づいて部品の良否判定を行なうためのもので、撮
像タイミングセンサ４からの撮像タイミング信号に基づ
いてカメラ５から画像デ−タを取込むと共、該画像デ−
タが良品位置から外れている場合にリ−ド曲りと判定
し、不良品除去信号を除去機構８に送出する。この画像
処理装置６における判定は後に詳述する。
タに基づいて部品の良否判定を行なうためのもので、撮
像タイミングセンサ４からの撮像タイミング信号に基づ
いてカメラ５から画像デ−タを取込むと共、該画像デ−
タが良品位置から外れている場合にリ−ド曲りと判定
し、不良品除去信号を除去機構８に送出する。この画像
処理装置６における判定は後に詳述する。
【００１７】モニタ−７はカメラ５で撮像された被検査
部品Ｂの画像を表示するためのものである。作業者はこ
のモニタ−７を通じて被検査部品Ｂの画像を確認するこ
とができる。
部品Ｂの画像を表示するためのものである。作業者はこ
のモニタ−７を通じて被検査部品Ｂの画像を確認するこ
とができる。
【００１８】除去機構８は不良と判定された被検査部品
Ｂを搬送部材１から除去するためのもので、搬送部材１
に支承される被検査部品Ｂを該搬送部材１から取外すこ
とが可能な吸着機構や押出機構等から成る。この除去機
構８は回動機構３の後段に配置され、上記不良品除去信
号に基づいて作動する。
Ｂを搬送部材１から除去するためのもので、搬送部材１
に支承される被検査部品Ｂを該搬送部材１から取外すこ
とが可能な吸着機構や押出機構等から成る。この除去機
構８は回動機構３の後段に配置され、上記不良品除去信
号に基づいて作動する。
【００１９】以下に上述のリ−ド曲り検査装置の動作及
び曲り判定について説明する。
び曲り判定について説明する。
【００２０】搬送部材１と共に移動する被検査部品Ｂの
リ−ド線Ｂｂは、支持部材２に差し掛かったところでチ
ェ−ン１ａの凹部１ｂの最深部から傾斜面２ｂを通じて
上面２ａ上に移行する。
リ−ド線Ｂｂは、支持部材２に差し掛かったところでチ
ェ−ン１ａの凹部１ｂの最深部から傾斜面２ｂを通じて
上面２ａ上に移行する。
【００２１】支持部材２の上面２ａ上に移行した被検査
部品Ｂのリ−ド線Ｂｂは、図３及び図４で時計回り方向
に回転する回動機構３の各ゴムベルト３ｃの下辺部分に
接触して周方向の回動力を付与され、これにより被検査
部品Ｂが上記とは逆方向に回動する。
部品Ｂのリ−ド線Ｂｂは、図３及び図４で時計回り方向
に回転する回動機構３の各ゴムベルト３ｃの下辺部分に
接触して周方向の回動力を付与され、これにより被検査
部品Ｂが上記とは逆方向に回動する。
【００２２】この回動状態にある被検査部品Ｂの１つが
カメラ５の真下にきたところでは、撮像タイミングセン
サ４の撮像信号に基づいて、カメラ５から画像判定装置
６に被検査部品Ｂの画像デ−タが取込まれる。
カメラ５の真下にきたところでは、撮像タイミングセン
サ４の撮像信号に基づいて、カメラ５から画像判定装置
６に被検査部品Ｂの画像デ−タが取込まれる。
【００２３】被検査部品Ｂを回動状態のままで撮像して
いるので、リ−ド線Ｂｂに多少なりの曲りがあるものは
上記の回動によって搬送方向に沿って前後に揺動を生じ
ることになり、図５に示すように良品Ｄ（図中２点鎖
線）が本来あるべき位置、実施例の場合では画面ＧのＸ
−Ｙ軸中央から必ず外れることになる。
いるので、リ−ド線Ｂｂに多少なりの曲りがあるものは
上記の回動によって搬送方向に沿って前後に揺動を生じ
ることになり、図５に示すように良品Ｄ（図中２点鎖
線）が本来あるべき位置、実施例の場合では画面ＧのＸ
−Ｙ軸中央から必ず外れることになる。
【００２４】例えば、良品Ｄを撮像した場合に画面中央
に現れる輝度デ−タを予め記憶させておき、該基準輝度
デ−タと被検査部品Ｂで得られる輝度デ−タを比較すれ
ば、輝度デ−タがない場合や輝度デ−タに変化が生じた
場合にはこれらを不良品と判定することが可能となる。
に現れる輝度デ−タを予め記憶させておき、該基準輝度
デ−タと被検査部品Ｂで得られる輝度デ−タを比較すれ
ば、輝度デ−タがない場合や輝度デ−タに変化が生じた
場合にはこれらを不良品と判定することが可能となる。
【００２５】被検査部品Ｂにリ−ド曲りがあると判定さ
れた場合には、画像判定装置６から出される不良品除去
信号に基づいて除去機構８が作動し、搬送部材１から該
被検査部品Ｂが除去される。
れた場合には、画像判定装置６から出される不良品除去
信号に基づいて除去機構８が作動し、搬送部材１から該
被検査部品Ｂが除去される。
【００２６】このように上述のリ−ド曲り検査装置によ
れば、被検査部品Ｂのリ−ド線Ｂｂに回動力を付与する
ことで、リ−ド線Ｂｂに生じている曲りを被検査部品Ｂ
の揺動に変換することができるので、揺動状態が現れる
画像デ−タを良品のものと比較すれば両者の位置ずれに
よってリ−ド曲りを抜けなく的確に判定できる。しか
も、良否判定に複雑な演算を必要としないので画像判定
装置６を簡略且つ安価に構成でき、またリ−ド曲りの良
否判定を高速で行なえる。
れば、被検査部品Ｂのリ−ド線Ｂｂに回動力を付与する
ことで、リ−ド線Ｂｂに生じている曲りを被検査部品Ｂ
の揺動に変換することができるので、揺動状態が現れる
画像デ−タを良品のものと比較すれば両者の位置ずれに
よってリ−ド曲りを抜けなく的確に判定できる。しか
も、良否判定に複雑な演算を必要としないので画像判定
装置６を簡略且つ安価に構成でき、またリ−ド曲りの良
否判定を高速で行なえる。
【００２７】
【考案の効果】以上詳述したように、本考案によれば、
被検査部品のリ−ド線に回動力を付与することで、リ−
ド線に生じている曲りを被検査部品の揺動に変換するこ
とができるので、揺動状態が現れる画像デ−タを良品の
ものと比較すれば両者の位置ずれによってリ−ド曲りを
抜けなく的確に判定することができる。
被検査部品のリ−ド線に回動力を付与することで、リ−
ド線に生じている曲りを被検査部品の揺動に変換するこ
とができるので、揺動状態が現れる画像デ−タを良品の
ものと比較すれば両者の位置ずれによってリ−ド曲りを
抜けなく的確に判定することができる。
【図１】本考案の一実施例を示す搬送部材を省略した曲
り検査装置の構成図
り検査装置の構成図
【図２】被検査部品の上面図
【図３】検査装置の要部上面図
【図４】図２のＡ−Ａ線断面図
【図５】リ−ド曲り判定の説明図
Ｂ…被検査部品、Ｂｂ…リ−ド線、３…回動機構、４…
撮像タイミングセンサ、５…カメラ、６…画像判定装
置。
撮像タイミングセンサ、５…カメラ、６…画像判定装
置。
Claims (1)
- 【請求項１】 アキシャルリ−ド型の電子部品を両リ−
ド線を支承した状態で連続的に搬送する搬送部材と、 搬送電子部品の上方に位置し電子部品の２次元画像を撮
像可能な撮像器と、 少なくとも撮像器の下を通過する電子部品のリ−ド線に
周方向の回動力を付与し該電子部品を回動させる部品回
動手段と、 回動状態にある電子部品が撮像器の真下にきたことを検
知する撮像タイミング検知手段と、 タイミング検知手段からの検知信号に基づいて撮像器か
ら画像デ−タを取込むと共に、該画像デ−タが良品位置
から外れている場合にリ−ド曲りと判定する画像判定手
段とを具備した、 ことを特徴とする電子部品のリ−ド曲り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992016751U JP2574904Y2 (ja) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | 電子部品のリ−ド曲り検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992016751U JP2574904Y2 (ja) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | 電子部品のリ−ド曲り検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0578000U JPH0578000U (ja) | 1993-10-22 |
| JP2574904Y2 true JP2574904Y2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=11924970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992016751U Expired - Lifetime JP2574904Y2 (ja) | 1992-03-27 | 1992-03-27 | 電子部品のリ−ド曲り検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2574904Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6073411B2 (ja) * | 2015-05-29 | 2017-02-01 | 株式会社ダイフク | 物品搬送設備 |
-
1992
- 1992-03-27 JP JP1992016751U patent/JP2574904Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0578000U (ja) | 1993-10-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980303 |