JP2549008Y2 - 素子測定用治具 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、３本の端子を有するクリスタルフィルタ等
の素子を保持し、この素子の周波数特性等の測定を行う
ために用いられる素子測定用治具に関するものである。

〔従来の技術〕 従来、クリスタルフィルタ等の素子Ｗの周波数特性や
伝送特性を測定するには第６図及び第７図に示すような
治具101が用いられていた。この治具101は、プリント配
線基板102に測定対象の素子Ｗの端子Ｌが挿通されるピ
ンソケット103が設けられ、基板102の表面をアース面
に、裏面を回路面に成形されている。測定対象の素子Ｗ
であるクリスタルフィルタは、３本の端子Ｌを有してお
り、中央をアース端子L1、両端の一方を入力端子L2、他
方を出力端子L3とされている。つまり、プリント配線基
板102に設けられた各ピンソケット103に各端子L1,L2,L3
がそれぞれ挿通されるようになっているとともに、両端
のピンソケット103のうち一方のピンソケット103aには
基板102の回路面に形成された入力回路104が接続され、
他方のピンソケット103bには出力回路105が接続され
る。そして、各回路104,105には各々コネクタ106が設け
られ、プリント配線基板102の両端に突設されている。
また、中央のピンソケット103cには、前記各回路104,10
5とは接続しないアースライン107が形成され、プリント
配線基板102に対して鉛直方向に垂下したシールド板108
が半田等によって固設されている。このシールド板108
は、素子Ｗの出力側の端子L3と、アース端子L1との間に
設けられ、各端子L1,L3を断絶し、各端子L1,L3間の信号
が飛び交わないように設けられている。

〔考案が解決しようとする課題〕

しかしながら、上述した従来の治具101では、素子Ｗ
の各端子Ｌ間を単にシールド板108で仕切る構造であ
り、この従来の治具の構造では空気を媒介として信号が
飛び交ってしまうという問題がある。

また、各回路104,105が一枚のプリント配線基板102上
に構成されているため、この基板102を介して上記同様
の問題が発生してしまう。

さらに、クリスタルフィルタ等の素子Ｗは端子Ｌが細
く、長く、可撓性に富んで形成されているため、ピンソ
ケット103への挿入が容易に行えず、作業が煩雑になる
という問題がある。

また、素子Ｗの端子Ｌはピンソケット103に挿通され
た状態で測定が行われるがこの挿通状態では素子Ｗがピ
ンソケット103に触れているだけであり、確実に保持さ
れていないという欠点がある。

そこで本考案は、簡素な構造であるとともに、確実に
素子を保持でき、測定時に各端子間の信号の混入等が発
生しない素子測定用治具を提供することを目的としてい
る。

〔課題を解決するための手段〕

次に、上記の目的を達成するための手段を実施例に対
応する第１図を参照して説明する。

この考案の素子測定用治具は、入力及び出力のリード
端子と、それらのリード端子間の中央にアース端子L1を
有する素子Ｗを保持し、該素子の測定を行うために用い
られる素子測定用治具において、 外部からの入力信号を前記素子の入力のリード端子へ
伝達するために、板面に対して突出して設けられた入力
接点部材５を備えた入力配線基板２と、 前記素子の出力のリード端子からの信号を外部へ出力
するために、板面に対して突出して設けられた出力接点
部材８を備えた出力配線基板３と、 前記入力配線基板と出力配線基板とが前記各接点部材
を同一方向に向け、かつ各接点部材間の距離を前記素子
の両端のリード端子間の距離と一致させて並列固定され
るとともに、前記入力配線基板と出力配線基板に挟まれ
て該入力配線基板と出力配線基板をシールド区分し、前
記素子のアース端子に接触する第１突起部12を有した導
電性の第１のアースブロック10と、 前記各接点部材と対向して前記素子の入力及び出力の
リード端子をそれぞれ挟持する一対の絶縁部16,16、及
び前記第１突起部と対向して前記アース端子を挟持する
当接部15を有する第２のアースブロック13と、 を具備したことを特徴としている。

〔作用〕

入力配線基板２と出力配線基板３とは第１突起部12に
よって区分され第１のアースブロック10に並列固定され
る。各基板2,3に突出して設けられる入力接点５及び出
力接点８の間隔は、素子Ｗの両端の端子Ｌ間の距離と一
致させて固定される。

これにより、入・出力接点5,8及び突起部12は素子Ｗ
の３本の端子Ｌにそれぞれ対応し、第２のアースブロッ
ク13の各クランプ片16,16及び第２突起部15とによって
素子Ｗの各端子Ｌが挟持される。

〔実施例〕

第１図は本考案による素子測定用治具の一実施例を示
す概略斜視図である。

この素子測定用治具１は、第１図に示すようにクリス
タルフィルタ等の３本の端子を有した素子Ｗの特性等を
測定するために用いられる治具で、特に、中央の端子L1
がアース端子とされている素子Ｗを測定する際に用いら
れるものである。

この素子測定用治具１は、第１図に示すように、第１
のアースブロックとしてのベース部10と、このベース部
10に固定される一対の基板2,3と、第２のアースブロッ
クとしての挟持部13とで大略構成されている。

まず、一対の基板2,3は、一方が入力配線基板２を構
成し、他方が出力配線基板３を構成している。

入力配線基板２は、表面に信号源（図示せず）側と素
子とのインピーダンス整合を図るための入力回路４が実
装されている。この入力回路４の一端には、基板２の表
面に対して突出して形成された入力接点５が設けられて
いる。また、入力回路４の他端には、入力端子として入
力コネクタ６が接続されている。この入力コネクタ６は
基板２の端縁に延出して設けられている。

一方、出力配線基板３には、表面に測定器（図示せ
ず）側と素子との間のインピーダンス整合を図るために
出力回路７が実装されている。この出力回路７の一端に
は前述した入力回路４と同様に基板３の表面に対して突
出して形成された出力接点８が設けられ、また、他端に
は、出力端子としての出力コネクタ９が接続されてい
る。そして、この出力コネクタ９は基板３の端縁に延出
して設けられている。なお、これら入・出力配線基板2,
3は、各部4,5,6,7,8,9が対称となって配設されている。

次に、ベース部10は、導電性の良い材質からなり、矩
形な平板状の基部11の長手方向中央に第１突起部12を有
した略凸形状に形成されている。このベース部10の第１
突起部12をはさんだ基部11の両脇には、前述した入力配
線基板２及び出力配線基板３が並列して固定されるよう
になっている。すなわち、並列する各基板2,3が第１突
起部12で区分されるようになっている。各基板2,3は、
各々の接点5,8が設けられている表面を、同一方向に向
けて固定されるとともに、各々の接点5,8が第１突起部1
2から等距離に設定され、かつ、各接点5,8間の距離が前
述した素子Ｗの両端の端子L2,L3の距離と一致するよう
に固設される。また、これら接点5,8の端面と第１突起
部12の端面とは同一面となるように設定される。なお、
各基板2,3の両コネクター6,9はベース部10の両端に位置
するようになっている。

次に挟持部13は、前述したベース部10とほぼ同形状で
矩形な平板状の基部14に当接部としての第２突起部15を
有した略凸形状に形成されている。この第２突起部15の
両脇には、絶縁材質より形成された絶縁部としての方形
状の一対のクランプ片16,16が突出して設けられてい
る。これらクランプ片16,16は、前述したベース部10に
固設される入・出力配線基板2,3の各々の接点5,8に対向
する位置に設けられている。そして、これらクランプ片
16,16の先端面と第２突起部15の端面とは同一面上とな
るように形成されている。

本考案の素子測定用治具１は以上のように構成されて
おり、ベース部10と挟持部13とを対向させて、素子Ｗの
両端の端子L2,L3を入・出力配線基板2,3の各接点5,8と
これら接点5,8に対向する一対のクランプ片16,18によっ
て挟持するとともに、各部10,13の各突起部12,15によっ
て素子Ｗのアース端子L1を挟持するようになっている。

ここで、上記のように構成された素子測定用治具１の
挟持手段について、第２図乃至第５図を参照して述べ
る。

まずはじめに、第１の挟持手段例として手動の検査治
具21について述べる。この検査治具21は、略Ｌ字形状の
ベースブロック22と略Ｚ字形状の移動ブロック23とで構
成され、第２図に示すように、ベースブロック22の垂直
部24に前記治具１のベース部10を固定し、移動ブロック
23の垂直部25に挟持部13を固定する。各ブロック22,23
は枢軸26で回動自在に取付けられ、各ブロック22,23の
対向する各水平部27,28間に板バネ等の弾性部材29を介
設し、治具１のベース部10と挟持部13とを常時接触させ
る方向に付勢するようになっている。この検査治具21に
よれば、ベースブロック22と移動ブロック23との両水平
部27,28を把持し、ベース部10と挟持部13との間隔をあ
けてクリスタルフィルタ等の素子Ｗを挿入れ、把持を解
除することで素子Ｗを挟持することができる。素子Ｗを
挟持している状態では板バネ29の付勢力が働いており、
素子Ｗの各端子L1,L2,L3と入・出力接点5,8及び第１突
起部12とが確実に接触している。そして、各コネクタ6,
9にケーブルを介して測定器等が接続されることによ
り、素子Ｗの周波数特性等を測定する。

次に、第２の挟持手段例として、クランプ装置31につ
いて第３図乃至第５図を参照して説明する。

なお、このクランプ装置31に取付けられる素子測定用
治具１は、入・出力配線基板2,3に設けられる入・出力
コネクタ6,9が、第４図に示すように下方に同一方向と
なって延出して設けられる。

このクランプ装置31は、搬送部と、前記素子測定用治
具１と、板バネと、駆動部とで大略構成されている。

まず、搬送部32は図示しない駆動源によって素子Ｗを
搬送するもので、一対のレール33,34に多数並列される
素子Ｗを順次搬送するようになっている。各レール33,3
4間の間隔は素子Ｗの素子Ｌが挿通された状態でスムー
ズに動く程度に設定されている。

次に素子測定用治具１は、第３図に示すようにベース
部10が前記一対のレール33,34の一方のレール33下面に
固設されている。また、挟持部13は、駆動ブロック35の
一端に略一体に成形されている。この駆動ブロック35は
中途部に軸受部36が突出成形されており、装置本体に突
設される枢軸37を中心に回動自在に設けられるととも
に、一端の挟持部13が前記一対のレール33,34の他方の
レール34下面に位置し、ベース部10と対向するようにな
っている。また、この駆動ブロック35の他端は、下方向
に延出して形成されている。

次に、板バネ38は、略Ｓ字状に形成され、基端38aが
装置本体に固定され、先端38bが前記駆動ブロック35の
一端に接触している。この板バネ38の弾性力の働く方向
は駆動ブロック35を前記ベース部10の方向へ押圧付勢す
るように設定されている。すなわち、この板バネ38によ
ってベース部10と挟持部13とは常に接触するようになっ
ている。

駆動部39は、図示していないが、エアシリンダ等の直
動機構等を用い前記駆動ブロックの他端を押動するよう
になっている。つまり、この駆動部39の押圧によって駆
動ブロック35が枢軸37を中心に第３図中Ａ方向に回動す
るようになっている。

以上のように構成されたクランプ装置31は、駆動部39
の作動によって駆動ブロック35が枢軸37を中心に回動
し、駆動ブロック35の一端が板バネ38の付勢力に抗して
ベース部10から離脱し、このベース部10と挟持部13との
間に間隙を生じさせる。同時に搬送部32の作動で素子Ｗ
がレール33,34に沿って搬送される。

素子Ｗが所定の位置で停止すると、駆動部39は作動を
やめ、駆動ブロック35に対する押動を停止する。する
と、板バネ38の付勢力が働き、駆動ブロック35は回動
し、この駆動ブロック35の一端の挟持部13がベース部10
側へ移動する。これにより素子Ｗの各端子L1,L2,L3は挟
持される（第５図参照）。挟持された素子Ｗは板バネ38
の付勢力により確実に保持されるとともに、各端子L2,L
3が入・出力接点5,8に確実に接触する。そして、ケーブ
ル40を介して接続された測定器（図示せず）により素子
の特性の測定が行われる。

このクランプ装置31によれば、素子Ｗの測定を自動化
することがけい、これにより多量の素子Ｗの測定処理を
行える。

本実施例では第２のアースブロック（挟持部）13が略
凸形状に形成され、クランプ片16が設けられている形状
とした例について述べたが平板状に形成されてもよい。
この場合、素子Ｗの両端の端子L2,L3と接触する部分、
すなわち、第１のアースブロック（ベース部）10側の入
・出力接点5,8に対応する部分である絶縁部16は絶縁材
料で形成されるようにする。

〔考案の効果〕

以上説明したように本考案による素子測定用治具は、
素子を第１、第２のアースブロックで挟持して保持する
構造なので、素子の保持を容易に行えるとともに、挟持
することで、素子の各端子が入・出力配線基板の各接点
に確実に接触させることができる。

また、入・出力配線基板が各々別構成で第１のアース
ブロックに並列固定されるとともに、このアースブロッ
クに形成された第１突起部によって各基板が区分され絶
縁されるため測定時の信号の混入等が発生せず、また、
素子のアース端子も両アースブロックの突起部と当接部
に接触保持されるために測定時の際のクロストークを低
減させることができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による素子測定用治具の一実施例を示す
概略斜視図、第２図は同素子測定用治具を用いた検査治
具の側断面図、第３図は同素子測定用治具を用いたクラ
ンプ装置の概略側面図、第４図は第３図におけるIV-IV
線断面図、第５図は第３図におけるＶ-Ｖ線断面図、第
６図および第７図は従来の素子測定用治具の正面図およ
び底面図である。 １……素子測定用治具、２……入力配線基板、３……出
力配線基板、５……入力接点、８……出力接点、10……
第１のアースブロック（ベース部）、12……第１突起
部、13……第２のアースブロック（挟持部）、15……当
接部（第２突起部）、16……絶縁部（クランプ片）、Ｌ
……端子、L1……アース端子、Ｗ……素子。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】入力及び出力のリード端子と、それらのリ
   ード端子間の中央にアース端子（L1）を有する素子
   （Ｗ）を保持し、該素子の測定を行うために用いられる
   素子測定用治具において、 外部からの入力信号を前記素子の入力のリード端子へ伝
   達するために、板面に対して突出して設けられた入力接
   点部材（５）を備えた入力配線基板（２）と、 前記素子の出力のリード端子からの信号を外部へ出力す
   るために、板面に対して突出して設けられた出力接点部
   材（８）を備えた出力配線基板（３）と、 前記入力配線基板と出力配線基板とが前記各接点部材を
   同一方向に向け、かつ各接点部材間の距離を前記素子の
   両端のリード端子間の距離と一致させて並列固定される
   とともに、前記入力配線基板と出力配線基板に挟まれて
   該入力配線基板と出力配線基板をシールド区分し、前記
   素子のアース端子に接触する第１突起部（12）を有した
   導電性の第１のアースブロック（10）と、 前記各接点部材と対向して前記素子の入力及び出力のリ
   ード端子をそれぞれ挟持する一対の絶縁部（16,16）、
   及び前記第１突起部と対向して前記アース端子を挟持す
   る当接部（15）を有する第２のアースブロック（13）
   と、 を具備したことを特徴とする素子測定用治具。