JP2545759B2 - カメラの測光装置 - Google Patents
カメラの測光装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は撮影画面を複数の測光領
域に分割して測光するマルチ測光回路を備えたＴＴＬ方
式のカメラにおける測光装置に関する。
域に分割して測光するマルチ測光回路を備えたＴＴＬ方
式のカメラにおける測光装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から複数の測光方式（例えば平均測
光方式、中央重点測光方式、スポット測光方式）を備
え、これらの測光方式を、外部操作可能な切り換え部材
を操作することにより切り換え可能な測光装置が知られ
ている（例えば特開昭５７−８４４４１号公報）。
光方式、中央重点測光方式、スポット測光方式）を備
え、これらの測光方式を、外部操作可能な切り換え部材
を操作することにより切り換え可能な測光装置が知られ
ている（例えば特開昭５７−８４４４１号公報）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述したような中央重
点測光方式やスポット測光方式はマルチ測光方式に比べ
ると一種独特な測光方式である。このためマルチ測光方
式を備えたカメラを用いる場合に、使用者は、他の測光
方式よりもマルチ測光方式で測光を行なうことが多々あ
る。このように複数の測光方式を備えるカメラにおいて
は、使用者が用いることの多い測光方式（例えばマルチ
測光方式）というものを備えていることが望ましい。ま
た特別の測光方式（例えば中央重点測光方式やスポット
測光方式）を用いて測光を行なう場合以外は、通常、測
光装置としては頻繁に用いる測光方式（例えばマルチ測
光方式）に設定されていることが望ましい。
点測光方式やスポット測光方式はマルチ測光方式に比べ
ると一種独特な測光方式である。このためマルチ測光方
式を備えたカメラを用いる場合に、使用者は、他の測光
方式よりもマルチ測光方式で測光を行なうことが多々あ
る。このように複数の測光方式を備えるカメラにおいて
は、使用者が用いることの多い測光方式（例えばマルチ
測光方式）というものを備えていることが望ましい。ま
た特別の測光方式（例えば中央重点測光方式やスポット
測光方式）を用いて測光を行なう場合以外は、通常、測
光装置としては頻繁に用いる測光方式（例えばマルチ測
光方式）に設定されていることが望ましい。
【０００４】しかしながら従来の測光方式切り換え部材
は、いわゆる状態スイッチ（使用者が切り換え部材の設
定位置を変位せしめた後に操作を解除すると、切り換え
部材は変位後の設定位置に存在し続けるスイッチ）であ
るため、撮影者が測光方式を特別な測光方式（例えば中
央重点測光方式やスポット測光方式等）に設定した後
に、頻繁に用いる測光方式（例えばマルチ測光方式）に
設定し直す動作を忘れると、以後ずっと上述したような
特別な測光方式で測光し続ける恐れがあった。
は、いわゆる状態スイッチ（使用者が切り換え部材の設
定位置を変位せしめた後に操作を解除すると、切り換え
部材は変位後の設定位置に存在し続けるスイッチ）であ
るため、撮影者が測光方式を特別な測光方式（例えば中
央重点測光方式やスポット測光方式等）に設定した後
に、頻繁に用いる測光方式（例えばマルチ測光方式）に
設定し直す動作を忘れると、以後ずっと上述したような
特別な測光方式で測光し続ける恐れがあった。
【０００５】本発明の目的は、測光方式を特別な測光方
式に切り換える操作を行った後でも、頻繁に用いる測光
方式への設定の直し忘れのない測光装置を提供すること
にある。
式に切り換える操作を行った後でも、頻繁に用いる測光
方式への設定の直し忘れのない測光装置を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的達成のために本
発明では、複数の測光方法により測光可能な測光手段
(8,A2,A3,A4)と、外部操作可能であり、該操作により初
期位置から移動位置に変位可能であり、該操作が解除さ
れると該移動位置から該初期位置に自動的に復帰する選
択手段(17,SW1)と備え、前記選択手段は、前記初期位置
にある時に、該複数の測光方式の中から第１の測光方式
を選択して前記測光手段を作動せしめ、前記移動位置に
ある時に、該第１の測光方式とは異なる第２の測光方式
を選択して該測光手段を作動せしめるようにカメラの測
光装置を構成した。
発明では、複数の測光方法により測光可能な測光手段
(8,A2,A3,A4)と、外部操作可能であり、該操作により初
期位置から移動位置に変位可能であり、該操作が解除さ
れると該移動位置から該初期位置に自動的に復帰する選
択手段(17,SW1)と備え、前記選択手段は、前記初期位置
にある時に、該複数の測光方式の中から第１の測光方式
を選択して前記測光手段を作動せしめ、前記移動位置に
ある時に、該第１の測光方式とは異なる第２の測光方式
を選択して該測光手段を作動せしめるようにカメラの測
光装置を構成した。
【０００７】
【作用】外部操作可能であり、該操作に応じて測光方式
を切り換える選択手段を、該操作が解除されると、該操
作により移動した位置から該操作前の初期位置に自動的
に復帰するよう構成したので、測光方式の切り換え操作
を行った後でも、頻繁に用いる測光方式への設定の直し
忘れがない。
を切り換える選択手段を、該操作が解除されると、該操
作により移動した位置から該操作前の初期位置に自動的
に復帰するよう構成したので、測光方式の切り換え操作
を行った後でも、頻繁に用いる測光方式への設定の直し
忘れがない。
【０００８】
【実施例】以下、添付の図面に示された本発明の実施例
について詳しく説明する。図１は本発明の実施例に用い
られる光学系の配置図である。対物レンズ１内の絞り２
を通過した光は、フィルム面３に向かうが、その撮影光
路上に設けられた可動ミラー４により反射され、焦点板
５上に被写体像が結像される。この焦点板５からの光
は、コンデンサレンズ６、ペンタプリズム７を介して観
察される。またその一部はさらに結像レンズ８を介して
受光部９に達し、その受光部上に焦点板５上の被写体像
が結像レンズ８によって再結像される。その受光部９
は、図２の如く、フィルム面３に共役な焦点板５上の撮
影画面を複数の測光領域に分割するように５個のフォト
ダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 にて構成されている。こ
の５個のフォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 はモザイ
ク状に形成され、撮影画面の周辺領域は４個のフォトダ
イオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ4 にて分割して測光され、ま
た中央領域は撮影画面中心に配置された１個のフォトダ
イオードＳＰＤ5 によって測光される。
について詳しく説明する。図１は本発明の実施例に用い
られる光学系の配置図である。対物レンズ１内の絞り２
を通過した光は、フィルム面３に向かうが、その撮影光
路上に設けられた可動ミラー４により反射され、焦点板
５上に被写体像が結像される。この焦点板５からの光
は、コンデンサレンズ６、ペンタプリズム７を介して観
察される。またその一部はさらに結像レンズ８を介して
受光部９に達し、その受光部上に焦点板５上の被写体像
が結像レンズ８によって再結像される。その受光部９
は、図２の如く、フィルム面３に共役な焦点板５上の撮
影画面を複数の測光領域に分割するように５個のフォト
ダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 にて構成されている。こ
の５個のフォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 はモザイ
ク状に形成され、撮影画面の周辺領域は４個のフォトダ
イオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ4 にて分割して測光され、ま
た中央領域は撮影画面中心に配置された１個のフォトダ
イオードＳＰＤ5 によって測光される。
【０００９】図３は、本発明の実施例を示すブロック図
である。破線にて囲まれた測光回路Ａ1 は前述の５個の
フォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 を含み、その５個
のフォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 はそれぞれＯＰ
アンプを介して、分割された測光領域の光に対応した光
電出力Ｐ1 〜Ｐ5 をそれぞれマルチ測光演算回路Ａ2に
出力する。
である。破線にて囲まれた測光回路Ａ1 は前述の５個の
フォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 を含み、その５個
のフォトダイオードＳＰＤ1 〜ＳＰＤ5 はそれぞれＯＰ
アンプを介して、分割された測光領域の光に対応した光
電出力Ｐ1 〜Ｐ5 をそれぞれマルチ測光演算回路Ａ2に
出力する。
【００１０】一方、図１に示す如き、撮影レンズ１の開
放口径を通過した光をその撮影レンズの焦点面またはそ
の共役面にて測光するいわゆるＴＴＬ開放測光方式のカ
メラにおいては、受光部９に達する光量は、レンズの開
放絞り径によって制限され、さらに撮影画面周辺部はビ
グネッティングやコサイン四乗則等により減少する。従
って、撮影画面の各測光領域での光電出力Ｐ1 〜Ｐ
5 は、分割された各測光領域に対応する被写体輝度ＢＶ
1 〜ＢＶ5 （アペックス値）に対して、レンズの開放絞
り値ＡＶ0 分だけ低下し、さらに中央測光領域では極め
て少なく無視しうる程度のビグネッティング等の影響が
撮影画面の周辺部では大きくなるので周辺領域において
はその光量減少分（開放補正量）γだけ出力レベルが低
下する。従って、分割された各領域のＴＴＬ開放測光出
力Ｐ1 〜Ｐ5 は、 Ｐ1 ＝ＢＶ1 −ＡＶ0 −γ （１） Ｐ2 ＝ＢＶ2 −ＡＶ0 −γ （２） Ｐ3 ＝ＢＶ3 −ＡＶ0 −γ （３） Ｐ4 ＝ＢＶ4 −ＡＶ0 −γ （４） Ｐ5 ＝ＢＶ5 −ＡＶ0 （５） となる。
放口径を通過した光をその撮影レンズの焦点面またはそ
の共役面にて測光するいわゆるＴＴＬ開放測光方式のカ
メラにおいては、受光部９に達する光量は、レンズの開
放絞り径によって制限され、さらに撮影画面周辺部はビ
グネッティングやコサイン四乗則等により減少する。従
って、撮影画面の各測光領域での光電出力Ｐ1 〜Ｐ
5 は、分割された各測光領域に対応する被写体輝度ＢＶ
1 〜ＢＶ5 （アペックス値）に対して、レンズの開放絞
り値ＡＶ0 分だけ低下し、さらに中央測光領域では極め
て少なく無視しうる程度のビグネッティング等の影響が
撮影画面の周辺部では大きくなるので周辺領域において
はその光量減少分（開放補正量）γだけ出力レベルが低
下する。従って、分割された各領域のＴＴＬ開放測光出
力Ｐ1 〜Ｐ5 は、 Ｐ1 ＝ＢＶ1 −ＡＶ0 −γ （１） Ｐ2 ＝ＢＶ2 −ＡＶ0 −γ （２） Ｐ3 ＝ＢＶ3 −ＡＶ0 −γ （３） Ｐ4 ＝ＢＶ4 −ＡＶ0 −γ （４） Ｐ5 ＝ＢＶ5 −ＡＶ0 （５） となる。
【００１１】さて、マルチ測光演算回路Ａ2 は、上記の
ＴＴＬ開放測光出力Ｐ1 〜Ｐ5 を入力するとともに、第
１情報設定回路Ａ3 から開放Ｆ値補正のための情報とし
て開放絞り値情報ＡＶ0 等を受け取り、開放補正量γや
開放Ｆ値に対する補正がなされる。その補正方法は、特
開昭５６−７４２２６号公等の公開特許公報に開示さ
れ、既に公知であるからここではその詳しい説明は省略
する。
ＴＴＬ開放測光出力Ｐ1 〜Ｐ5 を入力するとともに、第
１情報設定回路Ａ3 から開放Ｆ値補正のための情報とし
て開放絞り値情報ＡＶ0 等を受け取り、開放補正量γや
開放Ｆ値に対する補正がなされる。その補正方法は、特
開昭５６−７４２２６号公等の公開特許公報に開示さ
れ、既に公知であるからここではその詳しい説明は省略
する。
【００１２】このマルチ測光演算回路Ａ2 は、測光回路
Ａ1 からの開放絞り状態での光電出力Ｐ1 〜Ｐ5 と第１
情報設定回路Ａ3 からの開放絞り値情報ＡＶ0 を受け
て、光電出力Ｐ1 〜Ｐ5 を適当に処理し、下記の適正測
光出力Ｐ6 を出力する。 Ｐ6 ＝ＢＶans −ＡＶ0 （６） ここでＢＶans は、開放測光における周辺測光領域に対
する開放補正量γを加味してマルチ測光演算回路Ａ2 に
て演算した適正輝度値である。なお、測光回路Ａ 1 とマ
ルチ測光演算回路Ａ2 をもってマルチ測光回路が構成さ
れる。また、このマルチ測光演算回路Ａ2 の処理内容に
ついては、特開昭５５−１１４９１６号や特開昭５７−
４２０２６号の公開特許公報に開示されているので、こ
こでの詳しい説明は省略する。
Ａ1 からの開放絞り状態での光電出力Ｐ1 〜Ｐ5 と第１
情報設定回路Ａ3 からの開放絞り値情報ＡＶ0 を受け
て、光電出力Ｐ1 〜Ｐ5 を適当に処理し、下記の適正測
光出力Ｐ6 を出力する。 Ｐ6 ＝ＢＶans −ＡＶ0 （６） ここでＢＶans は、開放測光における周辺測光領域に対
する開放補正量γを加味してマルチ測光演算回路Ａ2 に
て演算した適正輝度値である。なお、測光回路Ａ 1 とマ
ルチ測光演算回路Ａ2 をもってマルチ測光回路が構成さ
れる。また、このマルチ測光演算回路Ａ2 の処理内容に
ついては、特開昭５５−１１４９１６号や特開昭５７−
４２０２６号の公開特許公報に開示されているので、こ
こでの詳しい説明は省略する。
【００１３】このマルチ測光演算回路Ａ2 からの適正測
光出力Ｐ6 とフォトダイオードＳＰＤ5 からの光電出力
（中央測光出力）Ｐ5 ’とは、絞り込みスイッチＳＷ1
からの切り替え信号によって制御される切り替え回路Ａ
4 に出力される。この絞り込みスイッチＳＷ1 は、後で
詳述する絞り込み操作手段に連動して作動し、その絞り
込みスイッチＳＷ1 がＯＮのとき、絞りが所定のプリセ
ット絞り値まで絞り込まれると同時に、絞り込まれた絞
り開口を通過した光に対応するフォトダイオードＳＰＤ
5 の絞り込み測光出力（光電出力）Ｐ5 ’は、切り替え
回路Ａ4 を介して次段の演算回路Ａ8 へ出力される。ま
た、絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＦＦのときは、マルチ
測光演算回路Ａ2 からの適正測光出力Ｐ6 がその切り替
え回路Ａ 4 を介して演算回路Ａ8 に出力される。
光出力Ｐ6 とフォトダイオードＳＰＤ5 からの光電出力
（中央測光出力）Ｐ5 ’とは、絞り込みスイッチＳＷ1
からの切り替え信号によって制御される切り替え回路Ａ
4 に出力される。この絞り込みスイッチＳＷ1 は、後で
詳述する絞り込み操作手段に連動して作動し、その絞り
込みスイッチＳＷ1 がＯＮのとき、絞りが所定のプリセ
ット絞り値まで絞り込まれると同時に、絞り込まれた絞
り開口を通過した光に対応するフォトダイオードＳＰＤ
5 の絞り込み測光出力（光電出力）Ｐ5 ’は、切り替え
回路Ａ4 を介して次段の演算回路Ａ8 へ出力される。ま
た、絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＦＦのときは、マルチ
測光演算回路Ａ2 からの適正測光出力Ｐ6 がその切り替
え回路Ａ 4 を介して演算回路Ａ8 に出力される。
【００１４】さらに絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＦＦの
ときは、第２情報設定回路Ａ5 から、図示されない絞り
環のプリセット絞り情報Ｐ7 が消去回路Ａ6 を介して出
力される。そのプリセット絞り情報Ｐ7 は次の式にて示
される。 Ｐ7 ＝ＡＶ−ＡＶ0 （７） 但し、ＡＶはプリセット絞り値、ＡＶ0 は開放絞り値
で、Ｐ7 は絞り込み段数に対応する。また、絞り込みス
イッチＳＷ1 がＯＮときは消去回路Ａ6 の作用により、 Ｐ7 ＝０ （８） となり絞り段数に対応する出力Ｐ7 は消去される。
ときは、第２情報設定回路Ａ5 から、図示されない絞り
環のプリセット絞り情報Ｐ7 が消去回路Ａ6 を介して出
力される。そのプリセット絞り情報Ｐ7 は次の式にて示
される。 Ｐ7 ＝ＡＶ−ＡＶ0 （７） 但し、ＡＶはプリセット絞り値、ＡＶ0 は開放絞り値
で、Ｐ7 は絞り込み段数に対応する。また、絞り込みス
イッチＳＷ1 がＯＮときは消去回路Ａ6 の作用により、 Ｐ7 ＝０ （８） となり絞り段数に対応する出力Ｐ7 は消去される。
【００１５】さらにまた、第３情報設定回路Ａ7 から
は、フィルム感度情報Ｐ8 が出力される。 Ｐ8 ＝ＳＶ （９） ここでＳＶはフィルム感度のアペックス値である。
は、フィルム感度情報Ｐ8 が出力される。 Ｐ8 ＝ＳＶ （９） ここでＳＶはフィルム感度のアペックス値である。
【００１６】演算回路Ａ8 では、切り替え回路Ａ4 の出
力Ｐ5 ’（絞り込み測光におけるＳＰＤ5 の光電出力）
またはＰ6 （マルチ測光演算回路Ａ4 の出力）と第２情
報設定回路Ａ5 の出力Ｐ7 、第３情報設定回路Ａ7 の出
力Ｐ8 に対して、次のアペックス演算が行われる。 Ｐ9 ＝（Ｐ5 ’またはＰ6 ）−Ｐ7 ＋Ｐ8 （１０） さて、絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＦＦで、通常の開放
測光の場合には、切り替え回路Ａ4 の出力は適正測光出
力Ｐ6 となる。従って、（１０）式は（６）式、（７）
式および（９）式から、 Ｐ9 ＝ＢＶans −ＡＶ0 −（ＡＶ−ＡＶ0 ）＋ＳＶ （１１） となり、この（１１）式から、 Ｐ9 ＝ＢＶans ＋ＳＶ−ＡＶ（≡ＴＶans ） が得られ、マルチ測光時のシャッタ速度（ＴＶans ）と
なる。
力Ｐ5 ’（絞り込み測光におけるＳＰＤ5 の光電出力）
またはＰ6 （マルチ測光演算回路Ａ4 の出力）と第２情
報設定回路Ａ5 の出力Ｐ7 、第３情報設定回路Ａ7 の出
力Ｐ8 に対して、次のアペックス演算が行われる。 Ｐ9 ＝（Ｐ5 ’またはＰ6 ）−Ｐ7 ＋Ｐ8 （１０） さて、絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＦＦで、通常の開放
測光の場合には、切り替え回路Ａ4 の出力は適正測光出
力Ｐ6 となる。従って、（１０）式は（６）式、（７）
式および（９）式から、 Ｐ9 ＝ＢＶans −ＡＶ0 −（ＡＶ−ＡＶ0 ）＋ＳＶ （１１） となり、この（１１）式から、 Ｐ9 ＝ＢＶans ＋ＳＶ−ＡＶ（≡ＴＶans ） が得られ、マルチ測光時のシャッタ速度（ＴＶans ）と
なる。
【００１７】また、絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＮのと
き、切り替え回路Ａ4 の出力はＰ5’となり、第２情報
設定回路Ａ5 の出力Ｐ7 は消去回路Ａ6 の作用により０
（ゼロ）となる。さらに、絞りはら開放状態（ＡＶ0 ）
から絞り込まれた状態（ＡＶ）になるので（５）式か
ら、 Ｐ5 ＝ＢＶ5 −ＡＶ （１２） となる。よって、 Ｐ9 ＝（ＢＶ5 −ＡＶ0 ）−０＋ＳＶ（≡ＴＶ5 ） （１３） となり、中央部のフォトダイオードＳＰＤ5 のみの出
力に基づくシャッタ速度が得られる。
き、切り替え回路Ａ4 の出力はＰ5’となり、第２情報
設定回路Ａ5 の出力Ｐ7 は消去回路Ａ6 の作用により０
（ゼロ）となる。さらに、絞りはら開放状態（ＡＶ0 ）
から絞り込まれた状態（ＡＶ）になるので（５）式か
ら、 Ｐ5 ＝ＢＶ5 −ＡＶ （１２） となる。よって、 Ｐ9 ＝（ＢＶ5 −ＡＶ0 ）−０＋ＳＶ（≡ＴＶ5 ） （１３） となり、中央部のフォトダイオードＳＰＤ5 のみの出
力に基づくシャッタ速度が得られる。
【００１８】この演算回路Ａ8 の出力Ｐ9 は公知の表示
回路Ａ9 を介してシャッタ速度として表示され、また、
この出力Ｐ9 に基づいて公知のシャッタ制御回路Ａ10を
介してシャッタ速度が制御される。図４は、本発明の実
施例の要部をなす絞り込みスイッチ部の平面図で、図５
は図４の断面図である。図４において、カメラ本体１１
側の図示されないレンズマウント近傍の回転中心Ｃ1 を
中心として回転可能に支持されたカメラ側絞り駆動レバ
ー１２は、その折り曲げ先端部１２ａがレンズ側絞り駆
動レバー１３と係合して、通常は引っ張りばね１４の付
勢力に抗して、そのレンズ側絞り駆動レバー１３を図４
中で実線で示す位置に保持している。この状態では、撮
影レンズ側の絞り２（図１参照）は開放絞りの状態に置
かれている。なお、そのカメラ側絞り駆動レバー１２
は、図示されない公知のミラー駆動機構に連動して、可
動ミラー４が上昇するとき図４中で反時計方向へ回動
し、可動ミラー４が下降するとき、引っ張りばね１４の
付勢力に抗して時計方向に回動してレンズ側絞り駆動レ
バー１３を介して絞り開口を変化させる如く構成されて
いる。
回路Ａ9 を介してシャッタ速度として表示され、また、
この出力Ｐ9 に基づいて公知のシャッタ制御回路Ａ10を
介してシャッタ速度が制御される。図４は、本発明の実
施例の要部をなす絞り込みスイッチ部の平面図で、図５
は図４の断面図である。図４において、カメラ本体１１
側の図示されないレンズマウント近傍の回転中心Ｃ1 を
中心として回転可能に支持されたカメラ側絞り駆動レバ
ー１２は、その折り曲げ先端部１２ａがレンズ側絞り駆
動レバー１３と係合して、通常は引っ張りばね１４の付
勢力に抗して、そのレンズ側絞り駆動レバー１３を図４
中で実線で示す位置に保持している。この状態では、撮
影レンズ側の絞り２（図１参照）は開放絞りの状態に置
かれている。なお、そのカメラ側絞り駆動レバー１２
は、図示されない公知のミラー駆動機構に連動して、可
動ミラー４が上昇するとき図４中で反時計方向へ回動
し、可動ミラー４が下降するとき、引っ張りばね１４の
付勢力に抗して時計方向に回動してレンズ側絞り駆動レ
バー１３を介して絞り開口を変化させる如く構成されて
いる。
【００１９】また一方、カメラ本体１１には図４に示す
如くその側壁を貫通する回転軸１５が設けられ、回転軸
１５の一端には小ねじ１６により絞り込み操作レバー１
７が固定され、他端にはスイッチレバー１８が一体に固
定されている。このスイッチレバー１８は、コイルねじ
りばね１９により時計方向に回動しう得るように付勢さ
れている。そのスイッチレバー１８の一方の腕に形成さ
れた折り曲げ部１８ａは、カメラ側絞り駆動レバー１２
に突設された係合ピン２０と当接し、スイッチレバー１
８がコイルねじりばね１９の付勢力に抗して反時計方向
に回転するときに、カメラ側絞り駆動レバー１２を回転
中心Ｃ1 の周りに反時計方向に回動させるように構成さ
れている。
如くその側壁を貫通する回転軸１５が設けられ、回転軸
１５の一端には小ねじ１６により絞り込み操作レバー１
７が固定され、他端にはスイッチレバー１８が一体に固
定されている。このスイッチレバー１８は、コイルねじ
りばね１９により時計方向に回動しう得るように付勢さ
れている。そのスイッチレバー１８の一方の腕に形成さ
れた折り曲げ部１８ａは、カメラ側絞り駆動レバー１２
に突設された係合ピン２０と当接し、スイッチレバー１
８がコイルねじりばね１９の付勢力に抗して反時計方向
に回転するときに、カメラ側絞り駆動レバー１２を回転
中心Ｃ1 の周りに反時計方向に回動させるように構成さ
れている。
【００２０】また、スイッチレバー１８の他方の腕に
は、スイッチ基板２１上を摺動する一対のスイッチブラ
シ２２ａ、２２ｂが設けられている。そのスイッチ基板
２１上には、スイッチブラシ２２ａおよび２２ｂの摺動
する軌道上に電気的良導体のスイッチパターン２３ａお
よび２３ｂが形成されている。一方のスイッチブラシ２
２ａは、グランドのパターン２３ａと常時接触してその
上を摺動し、他方のスイチパターン２２ｂは、スイッチ
レバー１８の反時計方向の回動の終期に他方のパターン
２３ｂに接触導通する如く構成されている。この他方の
スイッチパターン２３ｂは図３における切り替え回路Ａ
4 及び消去回路Ａ6 に接続される。なお、スイッチ基板
２１、スイッチブラシ２２ａ、２２ｂ、およびスイッチ
パターン２３ａ、２３ｂをもって、図３における絞り込
みスイッチＳＷ1 が構成される。
は、スイッチ基板２１上を摺動する一対のスイッチブラ
シ２２ａ、２２ｂが設けられている。そのスイッチ基板
２１上には、スイッチブラシ２２ａおよび２２ｂの摺動
する軌道上に電気的良導体のスイッチパターン２３ａお
よび２３ｂが形成されている。一方のスイッチブラシ２
２ａは、グランドのパターン２３ａと常時接触してその
上を摺動し、他方のスイチパターン２２ｂは、スイッチ
レバー１８の反時計方向の回動の終期に他方のパターン
２３ｂに接触導通する如く構成されている。この他方の
スイッチパターン２３ｂは図３における切り替え回路Ａ
4 及び消去回路Ａ6 に接続される。なお、スイッチ基板
２１、スイッチブラシ２２ａ、２２ｂ、およびスイッチ
パターン２３ａ、２３ｂをもって、図３における絞り込
みスイッチＳＷ1 が構成される。
【００２１】図４の絞り込みスイッチ部は上記の如く構
成されているので、通常はスイッチレバー１８がコイル
ねじりばね１９の付勢力により図４中で実線で示す位置
にあり、スイッチブラシ２２ｂはスイッチパターン２３
ｂに接触しない。従って、絞り込みスイッチＳＷ1 はＯ
ＦＦ状態にあり、図３における切り替え回路Ａ4 はフォ
トダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 を遮断しマルチ測
光演算回路Ａ2 のマルチ測光出力Ｐ6 を演算回路Ａ8 に
送る。また第２情報設定回路Ａ5 からは、絞り込み段数
に相当する絞りプリセット情報Ｐ7 が演算回路Ａ8 に送
られる。そこで、演算回路Ａ8 ではプリセット情報Ｐ7
およびフィルム感度情報Ｐ8 とマルチ測光出力Ｐ5 とか
ら、既に説明した如きマルチ測光時のシャッタ速度が得
られる。
成されているので、通常はスイッチレバー１８がコイル
ねじりばね１９の付勢力により図４中で実線で示す位置
にあり、スイッチブラシ２２ｂはスイッチパターン２３
ｂに接触しない。従って、絞り込みスイッチＳＷ1 はＯ
ＦＦ状態にあり、図３における切り替え回路Ａ4 はフォ
トダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 を遮断しマルチ測
光演算回路Ａ2 のマルチ測光出力Ｐ6 を演算回路Ａ8 に
送る。また第２情報設定回路Ａ5 からは、絞り込み段数
に相当する絞りプリセット情報Ｐ7 が演算回路Ａ8 に送
られる。そこで、演算回路Ａ8 ではプリセット情報Ｐ7
およびフィルム感度情報Ｐ8 とマルチ測光出力Ｐ5 とか
ら、既に説明した如きマルチ測光時のシャッタ速度が得
られる。
【００２２】一方、絞り込み測光の場合には、絞り込み
操作レバー１７を回転軸１５を中心に反時計方向に回動
すると、回転軸１５を介して絞り込み操作レバー１７と
一体に結合されたスイッチレバー１８がコイルねじりば
ね１９の付勢力に抗して反時計方向に回動する。このス
イッチレバー１８の反時計方向の回動により、その一方
のの腕の折り曲げ部１８ａはカメラ側絞り駆動レバー１
２の係合ピン２０に当接し、そのカメラ側絞り駆動レバ
ー１２を図示されないミラー駆動機構に無関係に反時計
方向に回動する。このカメラ側絞り駆動レバー１２の反
時計方向の回動に追従して、引っ張りばね１４の付勢力
によりレンズ側絞り駆動レバー１３が下降し、絞りは予
め設定された絞り値まで絞られる。また、スイッチレバ
ー１８の反時計方向の回動により、絞り込みスイッチＳ
Ｗ1 のスイッチブラシ２２ａおよび２２ｂはスイッチ基
板２１上を摺動し、スイッチレバー１８の反時計方向の
回動の終期すなわち、カメラ側絞り駆動レバー１２、絞
り込み操作レバー１７およびスイッチレバー１８がそれ
ぞれ図４中で二点鎖線にて示す位置に来たとき、スイッ
チブラシ２２ｂはスイッチパターン２３ｂに接触導通
し、絞り込みスイッチＳＷ1 はＯＮ状態となる。従って
絞りは所定絞り値まで絞り込まれると同時（全く同時で
なくてもよい）に絞り込みスイッチＳＷ1 はＯＮとな
る。
操作レバー１７を回転軸１５を中心に反時計方向に回動
すると、回転軸１５を介して絞り込み操作レバー１７と
一体に結合されたスイッチレバー１８がコイルねじりば
ね１９の付勢力に抗して反時計方向に回動する。このス
イッチレバー１８の反時計方向の回動により、その一方
のの腕の折り曲げ部１８ａはカメラ側絞り駆動レバー１
２の係合ピン２０に当接し、そのカメラ側絞り駆動レバ
ー１２を図示されないミラー駆動機構に無関係に反時計
方向に回動する。このカメラ側絞り駆動レバー１２の反
時計方向の回動に追従して、引っ張りばね１４の付勢力
によりレンズ側絞り駆動レバー１３が下降し、絞りは予
め設定された絞り値まで絞られる。また、スイッチレバ
ー１８の反時計方向の回動により、絞り込みスイッチＳ
Ｗ1 のスイッチブラシ２２ａおよび２２ｂはスイッチ基
板２１上を摺動し、スイッチレバー１８の反時計方向の
回動の終期すなわち、カメラ側絞り駆動レバー１２、絞
り込み操作レバー１７およびスイッチレバー１８がそれ
ぞれ図４中で二点鎖線にて示す位置に来たとき、スイッ
チブラシ２２ｂはスイッチパターン２３ｂに接触導通
し、絞り込みスイッチＳＷ1 はＯＮ状態となる。従って
絞りは所定絞り値まで絞り込まれると同時（全く同時で
なくてもよい）に絞り込みスイッチＳＷ1 はＯＮとな
る。
【００２３】この絞り込みスイッチＳＷ1 がＯＮ状態に
なると、図３中で、切り替え回路Ａ 4 はマルチ測光出力
Ｐ6 を遮断し、受光部９（図２参照）の中央部に配置さ
れたフォトダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 ’を演算
回路Ａ8 へ送る。このときの測光出力Ｐ5 ’は既に絞り
を所定の絞り値までの絞り込んだ時の光に基づく測光出
力であるから、演算回路Ａ8 において絞り値情報を加算
する必要がない。従って第２情報設定回路Ａ5 から演算
回路Ａ8 へは絞り込み値Ｐ7 ＝０が削除回路Ａ 6 を介し
て入力される。この場合、演算回路Ａ8 においては、フ
ォトダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 ’と第３情報設
定回路Ａ7 のフィルム感度値Ｐ8 とに基づいてシャッタ
速度値Ｐ9 が決定され出力される。すなわち、この絞り
込み操作レバー１７を操作して絞り込み測光を行う場合
には、撮影画面の中央部領域を測光するいわゆるスポッ
ト測光または中央重点測光に基づいて露出が決定され
る。
なると、図３中で、切り替え回路Ａ 4 はマルチ測光出力
Ｐ6 を遮断し、受光部９（図２参照）の中央部に配置さ
れたフォトダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 ’を演算
回路Ａ8 へ送る。このときの測光出力Ｐ5 ’は既に絞り
を所定の絞り値までの絞り込んだ時の光に基づく測光出
力であるから、演算回路Ａ8 において絞り値情報を加算
する必要がない。従って第２情報設定回路Ａ5 から演算
回路Ａ8 へは絞り込み値Ｐ7 ＝０が削除回路Ａ 6 を介し
て入力される。この場合、演算回路Ａ8 においては、フ
ォトダイオードＳＰＤ5 の測光出力Ｐ5 ’と第３情報設
定回路Ａ7 のフィルム感度値Ｐ8 とに基づいてシャッタ
速度値Ｐ9 が決定され出力される。すなわち、この絞り
込み操作レバー１７を操作して絞り込み測光を行う場合
には、撮影画面の中央部領域を測光するいわゆるスポッ
ト測光または中央重点測光に基づいて露出が決定され
る。
【００２４】なお上記実施例においては、マルチ測光回
路に絞り込み測光時、適正露出を得るために必要な補正
値（変化する絞り値と各交換レンズの焦点距離との組み
合わせで与えるため膨大な情報量となる）が与えられて
いないため、第１情報設定回路の情報（開放補正値）の
みを使って絞り込み測光を行った場合、間違った露出を
与えてしまう。そこで補正値のいらない中央重点測光回
路を用いて絞り込み測光をすれば、開放測光時のマルチ
測光まではゆかないものの、開放補正値をそのまま、絞
り込み時マルチ測光に使って得られた露出値よりは適正
な露出値を得ることができる。一方、絞り込みレバーを
操作しなければならない撮影条件というのは、レンズの
被写界深度の確認と、特殊な開放測光ができないレンズ
を装着した場合で、前者の場合、被写界深度確認後開放
状態に戻すことが多く、絞り込んだまま撮影するのは誤
って開放状態に戻すのを忘れてしまうか、特別の場合だ
けである。後者の場合はマルチ測光が不可能で中央重点
測光しかできない。一般撮影の場合、開放測光でのマル
チ測光が大半を占めるわけで、上記絞り込みレバーを操
作して撮影する場合は数少ない。それならばマルチ測光
を絞り込み撮影時に行う場合必要となるところの補正値
を加えて大きな回路とするよりは、補正値がいらなくて
開放測光時の補正値を使った場合のマルチ測光の露出値
よりも適正値となるところの中央重点測光による露出値
を使うようにすることでカメラの大型化、コストアップ
を防ぐことができる。
路に絞り込み測光時、適正露出を得るために必要な補正
値（変化する絞り値と各交換レンズの焦点距離との組み
合わせで与えるため膨大な情報量となる）が与えられて
いないため、第１情報設定回路の情報（開放補正値）の
みを使って絞り込み測光を行った場合、間違った露出を
与えてしまう。そこで補正値のいらない中央重点測光回
路を用いて絞り込み測光をすれば、開放測光時のマルチ
測光まではゆかないものの、開放補正値をそのまま、絞
り込み時マルチ測光に使って得られた露出値よりは適正
な露出値を得ることができる。一方、絞り込みレバーを
操作しなければならない撮影条件というのは、レンズの
被写界深度の確認と、特殊な開放測光ができないレンズ
を装着した場合で、前者の場合、被写界深度確認後開放
状態に戻すことが多く、絞り込んだまま撮影するのは誤
って開放状態に戻すのを忘れてしまうか、特別の場合だ
けである。後者の場合はマルチ測光が不可能で中央重点
測光しかできない。一般撮影の場合、開放測光でのマル
チ測光が大半を占めるわけで、上記絞り込みレバーを操
作して撮影する場合は数少ない。それならばマルチ測光
を絞り込み撮影時に行う場合必要となるところの補正値
を加えて大きな回路とするよりは、補正値がいらなくて
開放測光時の補正値を使った場合のマルチ測光の露出値
よりも適正値となるところの中央重点測光による露出値
を使うようにすることでカメラの大型化、コストアップ
を防ぐことができる。
【００２５】なお上記の実施例において、絞り込みスイ
ッチＳＷ1 とは別に絞り込みレバー１７とは無関係に操
作し得る切り替えスイッチＳＷ2 を破線にて示す如く付
加し、この切り替えスイッチＳＷ2 がＯＮ状態になった
ときに切り替え回路Ａ4 が作動してマルチ測光回路の適
正測光出力Ｐ6 の代わりに、中央領域測光回路の測光出
力Ｐ5 ’を演算回路Ａ8 に出力するようにすれば、絞り
開放で中央領域測光も可能となる。
ッチＳＷ1 とは別に絞り込みレバー１７とは無関係に操
作し得る切り替えスイッチＳＷ2 を破線にて示す如く付
加し、この切り替えスイッチＳＷ2 がＯＮ状態になった
ときに切り替え回路Ａ4 が作動してマルチ測光回路の適
正測光出力Ｐ6 の代わりに、中央領域測光回路の測光出
力Ｐ5 ’を演算回路Ａ8 に出力するようにすれば、絞り
開放で中央領域測光も可能となる。
【００２６】
【発明の効果】以上の如く本発明によれば、測光モード
を選択する第１モード選択手段を有するカメラの測光装
置において、操作手段の操作に連動して測光モードを切
り換える第２モード選択手段を、該操作手段の操作に応
じて、操作手段が操作されたとき一方の測光モードに切
り換え、該操作手段の操作が解除されたとき操作手段の
自己復帰により他方の測光モードに選択するように構成
したので、操作部材の操作に連動して測光モードの切換
え操作を行った後でも、頻繁に用いる測光モードへの設
定の直し忘れがない。
を選択する第１モード選択手段を有するカメラの測光装
置において、操作手段の操作に連動して測光モードを切
り換える第２モード選択手段を、該操作手段の操作に応
じて、操作手段が操作されたとき一方の測光モードに切
り換え、該操作手段の操作が解除されたとき操作手段の
自己復帰により他方の測光モードに選択するように構成
したので、操作部材の操作に連動して測光モードの切換
え操作を行った後でも、頻繁に用いる測光モードへの設
定の直し忘れがない。
【図１】図１は本発明を実施するためのカメラの光学系
の配置図である。
の配置図である。
【図２】図２は図１の受光部の平面図である。
【図３】図３は本発明の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】図４は本発明の要部をなすスイッチ部の平面図
である。
である。
【図５】図５は図４のスイッチ部の断面図である。
１ 撮影レンズ ２ 絞り Ａ1 測光回路 Ａ2 マルチ測光演算回路 ＳＰＤ5 中央領域測光回路 Ａ4 切り替え回路 ＳＷ1 絞り込みスイッチ １７ 絞り込み操作部材
Claims (1)
- 【請求項１】撮影画面の測光領域の範囲が異なる複数の
小単位測光領域を有し、各々の測光領域が異なる第１お
よび第２の測光モードにより測光する測光手段と、前記第１および第２の測光モードのうち、いずれかを外
部操作により選択する第１のモード 選択手段と、前記外部操作により初期位置から移動位置に変位し、該
操作が解除されると前記移動位置から初期位置へ自己復
帰する 操作手段と、前記操作手段の変位に連動して、前記第１のモード選択
手段が選択した測光モードに優先して前記第１および第
２の測光モードのいずれかを選択する第２のモード選択
手段 とを備えたことを特徴とするカメラの測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6042769A JP2545759B2 (ja) | 1994-03-14 | 1994-03-14 | カメラの測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6042769A JP2545759B2 (ja) | 1994-03-14 | 1994-03-14 | カメラの測光装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58136160A Division JP2586004B2 (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | カメラの測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06317825A JPH06317825A (ja) | 1994-11-15 |
| JP2545759B2 true JP2545759B2 (ja) | 1996-10-23 |
Family
ID=12645185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6042769A Expired - Lifetime JP2545759B2 (ja) | 1994-03-14 | 1994-03-14 | カメラの測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2545759B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS587616A (ja) * | 1981-07-07 | 1983-01-17 | Olympus Optical Co Ltd | カメラの自動露出制御装置 |
| JPS5833229A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-26 | Canon Inc | カメラ |
-
1994
- 1994-03-14 JP JP6042769A patent/JP2545759B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06317825A (ja) | 1994-11-15 |
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