JP2542033B2 - 芳香族ポリアミド樹脂およびこれを用いた耐熱性感光材料 - Google Patents

芳香族ポリアミド樹脂およびこれを用いた耐熱性感光材料

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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電気またはエレクトロニクス装置、たとえ
ば半導体、コンデンサー、および印刷回路上のレリーフ
構造の形成、また半導体工業における固体素子の絶縁層
や保護層の形成に有用な、放射線感受性または光重合性
を有する芳香族ポリアミドに関する。
[従来の技術] 耐熱性に優れた感光材料、特に半導体工業における固
体素子の絶縁層やパッシベーション層としては一般に無
機物質が用いられてきた。これらの無機物質からなる層
は熱的に安定であり、化学的にも不活性であるので半導
体素子に要求される条件を充たしているが、柔軟性に欠
け、こわれ易いという欠点がある。近年、ポリイミド樹
脂のような耐熱性の高い樹脂の使用が試みられている。
ポリイミド樹脂は300℃以上の耐熱性と化学的安定性
を有し、また、適度な柔軟性を有するため、無機物質に
みられるような欠点を改善することができる。しかし、
ポリイミド樹脂はそれ自体に放射線感受性や感光性を持
たないため、感光材料として使用するためには他の感光
材料、例えばクロム化合物(Polymer Eng.& Sci.,11、
426(1971))などを混合する必要がある。このように
混合物として使用する場合は、感光材料として保存性が
劣るばかりでなく、ポリイミド樹脂本来の優れた特性を
損なうことが多い。また、西独公開特許公報第1,764,97
7号によれば、ポリイミド前駆体(ポリアミド酸)から
成る層の上に通常のフォトレジストを用いてパターンを
形成し、レジストがなくなった部分のポリイミド前駆体
の溶出、レジスト剥離、ポリイミド前駆体の熱処理をお
こなってポリイミドのレリーフパターンを得ているが、
このような方法では作業工程数が多く、工業的には極め
て不利である。
[問題点を解決するための手段] 本発明者らは、前記のような従来の耐熱性感光樹脂の
持つ問題点を解決すべく鋭意検討の結果、一般式(I)
で表わされている新規な樹脂を見出し本発明を完成させ
るに至ったものである。
すなわち本発明は一般式 (式中R1は2価の芳香族炭化水素基で、−OH基はアミド
基に対して、オルトまたはペリの位置にある。R2は2価
の炭化水素基で、活性エネルギー線により、2量化また
は重合可能な炭素−炭素二重結合を含む。nは重合度を
示す。)で表される芳香族ポリアミド樹脂、さらには、
これらの新規な芳香族ポリアミド樹脂(I)を主成分と
する耐熱性感光材料である。
一般式(I)で表される新規な化合物は、一般式 (式中R1は芳香族炭化水素基で、−NH2基は−OH基とオ
ルトまたはペリの位置にある。)で表されるジアミンと
一般式 (式中R2は前記と同じ。)で表わされるジカルボン酸、
または一般式 (式中R2は前記と同じ。Xはハロゲンを表わす。)で表
わされるジカルボン酸ジハライド、もしくは一般式 (式中R2は前記と同じ。R′はアルキル基またはフェニ
ル基を表わす。)で表わされるジカルボン酸ジエステ
ル、または一般式 (式中R2は前記と同じ。)で表わされるカルボン酸無水
物のいずれかと反応させることにより製造することがで
きる。
また、本発明において、一般式(IV)で表わされるジ
カルボン酸、一般式(V)で表わされるジカルボン酸ジ
ハライド、一般式(VI)で表わされるジカルボン酸ジエ
ステル、一般式(VII)で表わされるカルボン酸無水物
としては、例えば、パラフェニレンジアクリル酸、パラ
フェニレンジアクリル酸ジクロリド、パラフェニレンジ
アクリル酸ジエチルエステル、パラフェニレンジアクリ
ル酸ジメチルエステル、パラフェニレンジアクリル酸ジ
フェニルエステルなどが有効である。
本発明において、一般式(III)で表わされる芳香族
ジアミンとしては、例えば、2,2−ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3′−ジアミノ
−4,4′−ジヒドロキシビフェニル、4,4′−ジアミノ−
3,3′−ジヒドロキシビフェニル、ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシフェニル)スルホン、3,3,−ジアミノ−
4,4′−ジヒドロキシベンゾフェノン、ビス(3−アミ
ノ−4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(3−アミ
ノ−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、1−フェニル
−1,1−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)
エタン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)
スルフィド、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、1−フェニル−1,
1−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)トリ
フルオロエタン、1−トリフルオロメチル−1,1−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1,
3−トリメチル−3(3′−アミノ−4′−ヒドロキ
シ)−5−ヒドロキシ−6−アミノ−インダン、1,4−
ジアミノ−2,5−ジヒドロキシベンゼン、1,5−ジアミノ
−2,4−ジヒドロキシベンゼン、3,3′−ジアミノ−4,
4′−ジヒドロキシターフェニルなどが有効である。な
お、これらの芳香族ジアミンは単独で用いることも、ま
た二種類以上を混合して用いることも可能である。この
場合には対応する共重合体が得られる。
本発明化合物の製造において、一般式(III)で表わ
される芳香族ジアミンと一般式(IV)で表わされる芳香
族ジカルボン酸、または、一般式(VII)で表わされる
カルボン酸無水物との反応では、N,N−ジメチルホルム
アミド、N,N−ジメチルアセトアミオ、N−メチル−2
−ピロリドン、ジメチルスルホキシド、ピリジンなどの
極性有機溶媒中で室温ないし溶媒の沸点の範囲で、ま
た、一般式(V)で表わされる芳香族ジカルボン酸ジハ
ライドとの反応は、同様の溶媒中で−10〜50℃の範囲で
反応させる。また、一般式(III)で表わされる芳香族
ジアミンと一般式(VI)で表わされる芳香族ジカルボン
酸ジエステルとの反応は50〜300℃の範囲が好ましい。
本発明の芳香族ポリアミド樹脂を感光材料として使用
する場合はこれを主成分として通常溶液の形で調合さ
れ、必要に応じて、増感剤、光開始剤、共重合モノマ
ー、基板との接着を良好にする接着助剤などの添加剤を
添加して使用される。使用する溶媒としては主成分であ
る芳香族ポリアミド樹脂および増感剤、光開始剤、共重
合モノマーなどの添加剤を共に溶解し得る溶媒が用いら
れるが、一般に使用される極性溶媒を広く用いることが
できる。例えば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジ
メチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、テトラヒドロフラン、シクロヘキ
サノンなどが有効である。
光開始剤、増感剤は、「材料技術,2(10),(198
4),P553〜570」、「“増感剤",講談社,1987,P64〜84,P
247〜260」に詳細に記載されており、これらの内から適
宜選択でき、具体的には、例えば、ベンゾフェノン、ミ
ヒラズケトン、4,4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾ
フェノン、アセトフェノン、トリクロロアセトフェノ
ン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、
1,1−ジエトキシ−1−アセトフェノン、4′−メチル
チオ−1,1−ジメチル−1−モルホリノアセトフェノ
ン、2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオフェノン、
メチルベンゾイルホルメイト、ベンゾイルエーテル、2
−t−ブチル−9,10−アントラキノン、1,2−ベンゾ−
9,10−アントラキノン、N−メチル−1,2−ナフトチア
ゾイル−2,2−ジベンゾイルエチレン、キサントン、チ
オキサントン、2−クロロチオキサントン、ベンジル、
ベンジルジメチルジチオカーバメイト、1−フェニル−
1,2−プロパンジオン−2−(0−ベンゾイル)オキシ
ム、5−ニトロアセナフテン、クロロヒドロキシベンズ
アントロンなどが有効である。
共重合モノマーとしては、モノマレイド、ポリマレイ
ド、アクリル酸、メタクリル酸、あるいはそれらの誘導
体が有効であるが、これらに限定されるものではない。
本発明の感光材料の種々の基板への接着性を向上させ
るために接着助剤を用いることも可能である。接着助剤
としては、例えばビニルトリエトキシシラン、ビニルト
リメトキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピルトリ
メトキシシランなどの有機ケイ素化合物が有効である。
本発明の新規な耐熱性感光材料は通常のフォトレジス
ト技術でパターン加工することができる。基板への塗布
は例えば高速回転塗布機(スピンナー)で行うことがで
きる。この塗布膜にメガマスクを置き活性エネルギー線
を照射する。活性エネルギー線としてはX線、電子線、
紫外線、可視光線などが例として挙げられる。
次いで未露光部を現像液で溶解除去することにより、
レリーフパターンを得る。現像液としては、感光材料の
溶剤であるジメチルスルホキシド、N−メチルピロリド
ン、ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフラン、シク
ロヘキサノンなどと、感光材料の貧溶剤であるメタノー
ル、エタノール、酢酸エチル、メチルセルソルブ、酢酸
イソアミルなどを単独もしくは適当に混合して使用す
る。
本発明の新規な化合物のうち一般式(I)で表わされ
る化合物はポリベンズオキサゾールの前駆体であり、現
像後得られたパターンを熱処理もしくは化学処理するこ
とにより環化され、ポリベンズオキサゾールとなり、よ
り優れた耐熱性を持つレリーフパターンに変換しうる。
本発明の感光材料により得られたパターンは400℃付近
まで重量減少が見られず、優れた耐熱性を示す。また、
優れた機械的特性、絶縁特性、誘電特性、耐候性、防湿
性を有しており、半導体の保護膜、パッシベーション
膜、集積回路の絶縁膜、あるいはプリント回路の半田付
保護膜などの形成に有用である。さらに高耐熱性のフォ
トレジストとして金属蒸着やドライエッチングプロセス
への応用も可能である。
以下、実施例により本発明をより具体的に説明する
が、これに限定されるものではない。
実施例1[一般式(II)の化合物] 3,3′−ジヒドロキシ−4,4′−ジアミノビフェニル4.
32gを100mlのナス型フラスコに採り、ジメチルアセトア
ミド40mlを加えて溶解した。この溶液をドライアイス−
アセトン浴上で完全に凍結し、P−フェニレンジアクリ
ル酸ジクロリド5.10gを加えた。次に浴を氷冷に替え、
8時間撹拌を続けた。反応終了後溶液を200mlのメタノ
ール中に投入し、ポリマーを析出させた。得られたポリ
マーは、赤外線吸光分析、元素分析、NMR分析により、
式(1)で表わされるポリアミドであることを確認し
た。
固有粘度 ηinh=1.02dL/g(ジメチルアセトアミド中、30℃) 赤外線吸収スペクトル(フィルム) 3100cm-1(ν OH) 1600cm-1(ν C=0) 1620cm-1(ν C=C) 1050cm-1(芳香族C=C) 元素分析 C H N 理論値(%) 72.35 4.55 7.03 分析値(%) 72.11 4.53 7.09 得られたポリマー10部をN−メチル−2−ピロリドン
90部に溶解し、ミヒラーズケトン0.5部を加えて溶液と
した。得られた溶液をスピンナーを用いてシリコンウェ
ハー上に塗布し、100℃でで3分間乾燥して厚さ1μm
の塗膜を得た。塗膜の上にフォトマスクを密着させ、30
cmの距離から450Wの高圧水銀ランプで10分間露光した。
露光後シクロヘキサノン(80部)/メチルセルソルブ
(20部)の混合液で現像し、レリーフパターンを得た。
このパターンを300℃で5分間熱処理し耐熱性のパター
ンを得た。
このパターンは400℃付近まで加熱しても、パターン
のぼやけや熱減量はなかった。
実施例2[一般式(I)の化合物] 実施例1と同じ方法で、2,2−ビス(3−アミノ−4
−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン7.32g
とP−フェニレンジアクリル酸ジクロリド5.10gを反応
させ、式(2)で表わされるポリマーを得た。
固有粘度 ηinh=1.02dL/g(ジメチルアセトアミド中、30℃) 赤外線吸収スペクトル(フィルム) 3100cm-1(ν OH) 1660cm-1(ν C=0) 1620cm-1(ν C=C) 1180cm-1(ν C−F) 1050cm-1(芳香族C=C) 元素分析 C H N 理論値(%) 59.13 3.31 5.11 分析値(%) 59.05 3.33 5.19 得られたポリマー10部をメチルセロソルブ90部に溶解
し、ミヒラーズケトン0.5部を加えて溶液とした。実施
例1と同じ方法で塗膜、露光し、シクロヘキサン(80
部)/メチルセロソルブ(20部)の混合液で現像するこ
とによりレリーフパターンを得た。このパターンを実施
例1と同じ条件で熱処理して耐熱性のレリーフパターン
を得た。
実施例3 実施例2で得たポリマー10部をメチルセロソルブ90部
に溶解し、5−ニトロアセナフテン0.5部を加えて溶液
とした。実施例1と同様にして塗膜、露光し、シクロヘ
キサノン(80部)/メチルセロソルブ(20部)の混合液
で現像することによりレリーフパターンを得た。このパ
ターンを実施例1と同じ条件で熱処理して耐熱性のレリ
ーフパターンを得た。
実施例4 実施例2で得たポリマー10部をメチルセロソルブ90部
に溶解し、N−メチル−1,2−ナフトチアゾール−2,2−
ジベンゾイルエチレン0.5部を加えて溶液とした。実施
例1と同様にして塗膜、露光し、メチルセロソルブ(30
部)/酢酸イソアミル(90部)の混合液で現像すること
によりレリーフパターンを得た。このパターンを実施例
1と同じ条件で熱処理して耐熱性のレリーフパターンを
得た。
実施例5 実施例2で得たポリマー10部をN−メチル−2−ピロ
リドン90部に溶解し、ミヒラーズケトン0.5部、ビスマ
レイド1部を加えて溶液とした。実施例1と同様にして
塗膜、露光し、シクロヘキサノン(80部)/メチルセロ
ソルブ(20部)の混合液で現像することによりレリーフ
パターンを得た。このパターンを実施例1と同じ条件で
熱処理して耐熱性のレリーフパターンを得た。
実施例6 実施例2で得たポリマー10部をN−メチル−2−ピロ
リドン90部に溶解し、2,2−ビス[4−(2−エトキシ
エトキシ)フェニル]プロパンジアクリレートを3部加
えて溶液とした。実施例1と同様にして塗膜、露光し、
シクロヘキサノン(40部)/酢酸イソアミル(60部)の
混合液で現像することによりレリーフパターンを得た。
このパターンを実施例1と同じ条件で熱処理して耐熱性
のレリーフパターンを得た。
[発明の効果] 本発明の新規な樹脂は感光性に優れ、かつ得られたパ
ターンは400℃付近まで重量減少が見られず、優れた耐
熱性を示す。また、優れた機械的特性、絶縁特性、誘電
特性、耐候性、防湿性を有しており、半導体の保護膜、
パッシベーション膜、集積回路の絶縁膜、あるいはプリ
ント回路の半田付保護膜などの形成に有用である。さら
に高耐熱性のフォトレジストとして金属蒸着やドライエ
ッチングプロセスへの応用も可能である。

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一般式 (式中R1は2価の芳香族炭化水素基で、−OH基はアミド
    基に対して、オルトまたはペリの位置にある。R2は2価
    の炭化水素基で、活性エネルギー線により、2量化また
    は重合可能な炭素−炭素二重結合を含む。nは重合度を
    示す。)で表される芳香族ポリアミド樹脂。
  2. 【請求項2】R2で表される2価の炭化水素基であることを特徴とする請
    求項1記載の芳香族ポリアミド樹脂。
  3. 【請求項3】請求項1または2記載の芳香族ポリアミド
    樹脂を主成分として含む耐熱性感光材料。
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