JP2540971B2 - レベル変換回路 - Google Patents

レベル変換回路

Info

Publication number
JP2540971B2
JP2540971B2 JP2062261A JP6226190A JP2540971B2 JP 2540971 B2 JP2540971 B2 JP 2540971B2 JP 2062261 A JP2062261 A JP 2062261A JP 6226190 A JP6226190 A JP 6226190A JP 2540971 B2 JP2540971 B2 JP 2540971B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
effect transistor
output signal
input
field effect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2062261A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03262324A (ja
Inventor
弘行 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP2062261A priority Critical patent/JP2540971B2/ja
Priority to US07/667,491 priority patent/US5162677A/en
Publication of JPH03262324A publication Critical patent/JPH03262324A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2540971B2 publication Critical patent/JP2540971B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
    • H03K19/01721Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/017509Interface arrangements
    • H03K19/017518Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET]
    • H03K19/017527Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET] with at least one differential stage
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/0944Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
    • H03K19/09448Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路に用いられるレベル変換回路
に利用され、特に、微小振幅を大振幅に高速レベル変換
するレベル変換回路に関する。
〔概要〕
本発明は、微小振幅の入力信号をバイポーラトランジ
スタから構成された入力バッファ回路に入力し、その出
力を相補型インバータ回路で大振幅の出力信号にレベル
変換出力するレベル変換回路において、 相補型インバータ回路を構成するPチャネルおよびN
チャネル電界効果トランジスタのゲート間にカップリン
グ用のコンデンサを接続し、一方のゲート端子の電位を
電位設定回路によって設定することにより、 高速化と消費電力の低減化とを図ったものである。
〔従来の技術〕
第7図は第一従来例を示す回路図である。
本第一従来例は、ECL(エミッタカップルドロジッ
ク)レベルの入力信号を受けるECL型の入力バッファ回
路(ECL)10の出力信号Xが、CMOSインバータ回路を形
成するPチャネルMOSトランジスタ(以下、PMOSTとい
う。)M71のゲートに入り、NチャネルMOSトランジスタ
(以下、NMOSTという。)M72はNMOSTM74とともにカレン
トミラー回路を形成している。この電流源としてNMOSTM
74のドレインにPMOSTM73のドレインを接続し、PMOSTM73
ソース側に出力信号を入力し、ゲート電圧を適当な設
定値(VR2)として与える。そして、PMOSTM71とNMOSTM
72との共通ドレインから出力信号OUTが出力されるよう
に、レベル変換部(LC)20が構成されている。(例え
ば、特開昭63−272119号参照)。
次に、本第一従来例の動作について説明する。
入力信号INとしてECLレベル(ハイレベル−0.9V、ロ
ウレベル−1.7V)の微小振幅信号が与えられると、バイ
ポーラトランジスタ(以下、BIPTという。)Q1と定電流
源Iiからなる入力エミッタフォロア(以下EFという。)
回路を介して、BIPTQ2およびQ3からなるカレントスイッ
チのBIPTQ2側のベースに入力信号IN、BIPTQ3側のベース
に基準電圧VR1が入り、定電流源Isと負荷抵抗R1およびR
2により決まる振幅が、EF用BIPTQ4およびQ5を介して正
相の出力信号X、逆相の出力信号として出力される。
この入力バッファ回路10の出力振幅は、次段のレベル変
換部20の入力になるため、できるだけ大きくした方がよ
いが、入力バッファ回路10での遅れが顕著にならない適
値として約1.5V程度が一般的である。従って、「ハイ」
レベルはPN接合順方向電圧により−0.8V、「ロウ」レベ
ルは−2.3Vとなる。
この入力バッファ回路10からの信号がレベル変換部20
に入力されたとき、まず「ハイ」レベル入力では、CMOS
インバータを形成するPMOSTM71は、しきい値電圧VTP
−0.8Vのため「オフ」する。一方、ソース入力PMOSTM73
は、ゲートの基準電圧VR2を、 (出力信号XおよびXの振幅+しきい値VTP)=−2.5V に設定してあるために「オン」し、飽和領域で動作させ
ることにより定電流源として働く。ゲートおよびドレイ
ンを接続したNMOSTM74がこの定電流源の負荷となり、CM
OSインバータを形成するNMOSTM72をカレントミラー回路
として「オン」させる。従って、CMOSインバータからの
出力信号OUTは、NMOSTM72により電荷の放電がなされ電
位は最低電位(VEE)となる。
次に、「ロウ」レベルが入力されたときは、PMOSTM71
が「オン」し、NMOSTM73はソース・ゲート電圧にしきい
値電圧VTPしか立たないために「オフ」し、カレントミ
ラーを形成するNMOSTM74およびM72も「オフ」する。従
って、出力信号OUTはPMOSTM71による充電作用で最高電
位(Vcc)になる。
第8図は第二従来例を示す回路図である。
本第二従来例は、第8図に示すように、第一従来例に
対し、大振幅信号を出力するCMOSインバータのPMOSTM81
をソース入力タイプとし、カレントミラー回路側のNMOS
TM82およびM84の電流源側のPMOSTM83をゲート入力タイ
プに入れ換えた回路である。基準電圧VR3は同一電圧で
ある。(例えば、国際固体回路カンファレンスの論文抄
録、「ISSCC DIGEST OF TECHNICAL PAPERS」(1989)pp
32−33参照)。
第一従来例では、レベル変換部20への入力信号である
出力信号Xに対し、逆相の信号が出力信号OUTとして得
られるのに対し、第二従来例では、同相の出力信号OUT
が得られる。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来のレベル変換回路では、CMOSインバータを形
成するNMOST側の「オン」および「オフ」は、ソース入
力方式またはゲート入力方式のPMOSTスイッチを受けたN
MOSTカレントミラー回路を通して行われるために遅延時
間が大きい。また。出力が「ロウ」レベルのときには、
NMOSTのカレントミラー回路が「オン」するため貫通電
流が流れる。
また、動作速度の高速化を図るためには、トランジス
タの「オン」能力を高くする必要があるため、前記貫通
電流の増大および「オフ」時でも多少の貫通電流が必要
となる。従って、これらの特性は多数本の入力信号をレ
ベル変換する半導体集積回路においては、高速化と低消
費電力を実現するための大きな課題となっている。
本発明の目的は、前記の課題を解決することにより、
高速化と低消費電力化とを図ったレベル変換回路を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の第一の観点は、差動結合されたバイポーラト
ランジスタのエミッタカップルドロジック回路により微
小振幅の入力信号を入力し所定の位相および振幅を有す
る出力信号にして出力する入力バッファ回路と、互いに
そのドレインが接続されたPチャネルの第一の電界効果
トランジスタとNチャネルの第二の電界効果トランジス
タとによって構成され、この第一の電界効果トランジス
タまたは第二の電界効果トランジスタのゲート端子に前
記入力バッファ回路からの出力信号が入力され、前記両
電界効果トランジスタの共通ドレインが出力端子に接続
された相補型インバータ回路を含むレベル変換部とを備
えたレベル変換回路において、前記第一および第二の電
界効果トランジスタのゲート端子間に接続されたコンデ
ンサと、前記入力バッファ回路からの出力信号がゲート
に入力されていない方の前記第一または第二の電解効果
トランジスタのゲート端子に定常時に与えるゲート電位
を設定する電位設定回路とを備え、この電位設定回路
は、前記第一の電界効果トランジスタが導通状態または
第二の電界効果トランジスタが非導通状態になる第一の
値に設定する第一の基準電源と、前記第一の電界効果ト
ランジスタが非導通状態または第二の電界効果トランジ
スタが導通状態になる第二の値に設定する第二の基準電
源と、前記入力バッファ回路からの出力信号に基づいて
第一の基準電源と第二の基準電源とを切り換えてゲート
端子に接続する第一の制御回路とを含むことを特徴とす
る。
また本発明の第二の観点の電位設定回路は、前記第一
の電界効果トランジスタが導通状態または前記第二の電
界効果トランジスタが非導通状態になる第一の値に設定
する第一の基準電源と、この第一の基準電源と前記第一
または第二の電界効果トランジスタのゲート端子間に接
続された抵抗と、前記入力バッファ回路からの出力信号
に基づいて前記第一の値または前記抵抗によって分圧さ
れた前記第一の電界効果トランジスタ非導通状態または
第二の電界効果トランジスタが導通状態になる第二の値
を切り換えてゲート端子に接続する第二の制御回路とを
含むことを特徴とする。
〔作用〕
相補型インバータを構成する例えばPMOSTとNMOSTのゲ
ート間に接続されたコンデンサはカップリングコンデン
サとして動作し、PMOSTのゲートに入力された入力バッ
ファ回路の出力信号は同時にNMOSTのゲートに与えられN
MOSTの「オン」・「オフ」動作が速くなる。そして、こ
のNMOSTの「オン」・「オフ」動作は、その定常時のゲ
ート電位を、入力バッファ回路の出力信号に従ってNMOS
Tが確実に「オン」・「オフ」動作を行うように、ゲー
ト電位設定回路により設定される。
従って、入力バッファ回路の出力信号によるNMOSTの
「オン」・「オフ」動作が高速化され、結果として回路
の高速化と、CMOSインバータ回路の貫通電流の低減によ
る低消費電力化とを図ることが可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の第一実施例を示す回路図である。
入力信号INとしてECLレベル(「ハイ」レベル=−0.9
V、「ロウ」レベル=−1.7V)の微小振幅の信号が与え
られる。入力信号INは、BIPTQ1の入力EFを通り、エミッ
タ結合型電流スイッチを形成するBIPTQ2およびQ3のBIPT
Q2側ベースに入り、BIPTQ3側には基準電圧VR1(=−2.1
V)が与えられる。定電流源Isによるコレクタの負荷抵
抗R1およびR2の電圧降下の有無により「ロウ」レベルお
よび「ハイ」レベルを発生し、これら信号が出力EF回路
のBIPTQ4およびQ5のベースに入力され、それらのエミッ
タからそれぞれ入力信号INに対する同相および逆相の出
力信号Xおよびが出力される。IEはこの出力EF回路の
定電流源である。
この入力バッファ回路(ECL)10の出力信号Xおよび
はレベル変換部(LC)30に入力される。出力信号
は、CMOSインバータを形成するPMOSTM11およびNMOSTM12
のPMOSTM11のゲートに入力される。NMOSTM12のゲートは
出力信号Xラインとの間にカップリング用のコンデンサ
C11を介して接続されており、このインバータの出力が
レベル変換回路の出力信号OUTとなる。
この駆動用CMOSインバータ回路(LC(a))30aの他
にNMOSTM12のゲート電位Vaの定常時のレベルを設定する
ゲート電位設定回路(LC(b))30bがある。これは出
力信号をゲートに受けるPMOSTM13とこの負荷としてド
レインとゲートとの短絡したNMOSTM14、およびこの出力
電圧Vbを入力とするPMOSTM16およびNMOSTM15とからなる
CMOSインバータ回路を有し、PMOSTM16のソースは設定さ
れた基準電圧VR2に接続され、NMOSTM15のソースには、
別の基準電圧VR2aが接続され、このCMOSインバータ回路
の出力がNMOSTM12のゲートに接続されるような回路構成
となっている。
本発明の特徴、第1図において、駆動用CMOSインバー
タ回路30aを構成する第一の電界効果トランジスタであ
るPMOSTM11と第二の電界効果トランジスタであるNMOSTM
12のゲート間に、カップリング用のコンデンサC11を接
続し、さらにNMOSTM12のゲート電位を、入力バッファ回
路10の出力信号に従ってNMOSTM12を「オン」または
「オフ」させる第一の値または第二の値に切り換えて設
定するゲート電位設定回路30bを設けたことにある。
次に、本第一実施例の動作について第2図(a)およ
び(b)を用いて説明する。第2図(a)は入力信号が
変化したときの回路内部接点電位の時間変化を示し、第
2図(b)は電源VEEに流れる電源電流の時間変化を示
す。まず時刻t1で入力信号INが「ロウ」レベルから「ハ
イ」レベルに変化したとき、入力バッファ回路10の逆相
の出力信号は「ハイ」レベル−0.8Vから「ロウ」レベ
ル−2.3Vへ急速に降下する。この振幅は約1.5Vである
が、この値はECL回路の高速性を保てる最大の振幅まで
大きくし次段のレベル変換をできるだけ容易にする最適
値である。
レベル変換部30の駆動用CMOSインバータ30aのPMOSTM
11のゲートに出力信号Xが入力される。PMOSTM11のしき
い値VTPを、VTP≒−0.8Vに設定することにより、出力信
号の降下でこのPMOSTM11は「オフ」から「オン」に変
化する。同時に出力信号Xの降下信号はコンデンサC11
を介してNMOSTM12のゲートに伝わるため、NMOSTM12のゲ
ート電位Vaが定常時でVa=−2.3Vに設定されていれば、
ゲート電位Vaは出力信号の変化に遅れることなく降下
し−3.8Vまで下がる。NMOSTM12のしきい値電圧VTNをVTN
≒0.7Vに設定しておけば、電源電圧VEE=−4.5V状態で
はNMOSTM12は「オン」から「オフ」に変化する。従っ
て、駆動用CMOSインバータ回路30aの出力信号OUTは、負
側の電源電圧VEEから正側の電源電圧VCCまで上昇する。
次に、入力信号INが時刻t2で「ハイ」レベルから「ロ
ウ」レベルに変化したときの動作となり、出力信号は
−2.3Vから−0.8Vに上昇するため、PMOSTM11は「オン」
から「オフ」に変化し、ゲート電位Vaが定常時でVa=−
3.8Vに設定されていれば、出力信号Xの変化に対応しゲ
ート電位Vaも−3.8Vから−2.3Vに上昇するので、NMOSTM
12は「オフ」から「オン」に変化し、出力信号OUTは電
源電圧VCCから電源電圧VEEに降下する。
つまり、カップリング用のコンデンサC11により入力
された逆相の出力信号の信号変化は、同時刻でNMOSTM
12のゲートに伝わり、駆動用CMOSインバータ回路30aのP
MOSTM11およびNMOSTM12を「オン」または「オフ」させ
ることができるため、高速で電源電圧間の大振幅信号を
出力でき、かつ通常のCMOS回路と同様に貫通電流をほと
んど無くすことが可能となる。ただし、NMOSTM12のゲー
ト電位Vaの定常時での電位を設定し、次の過渡変動に備
えなければならないため、定常時のゲート電位設定回路
30bが必要となる。
次に、このゲート電位設定回路(LC(b))30bの動
作を説明する。出力信号が「ハイ」レベルのときは、
PMOSTM13は「オフ」するので出い電圧Vbは「ロウ」レベ
ル(≒−3.8V)となり、CMOSインバータのPMOSTM16
「オン」、NMOSTM15は「オフ」となる。従って、Va=VR
2となり、VR2=−2.3Vに設定されていればよい。また出
力信号が「ロウ」レベルのときは出力電圧Vbは−2V程
度まで上昇するので、PMOSTM16は「オフ」、NMOSTM15
「オン」となり、VR2a=−3.8Vに設定されていればよ
い。これらの設定電位は最低電位をVEEとしたとき、出
力信号の振幅VxおよびNMOSTのしきい値電圧VTNにより
下式で与えられる。
ゲート電位Vaは、コンデンサC11とPMOSTM16またNMOST
M15のオン時のインピーダンスによる時定数に従う充放
電により定常設定値に近づく。この速度は高速にする必
要はないので、PMOSTM16およびNMOSTM15のインピーダン
スを充分大きくすることにより、(C11を0.1〜0.3pF程
度にした場合、50〜100KΩ程度)、出力信号からコン
デンサC11を通して伝わる急峻な過渡信号は、この充放
電の影響をほとんど受けずにゲート電位Vaに変化を生じ
させる。
レベル変換部30の電流量の変化は定常的に見て流れる
部分は出力信号が「ロウ」レベルのときのPMOSTM13
よびNMOSTM14を通る貫通電流のみである。ただし、この
回路は定常電圧設定用なので速度応答を高くする必要が
ないため、デバイスの能力は小さく、電流量はわずか
(<0.1mA)でよい。その他には過渡的に生じる駆動用C
MOSインバータ回路30aのPMOSTM11およびNMOSTM12の「オ
ン」・「オン」時間での貫通電流、および出力信号OUT
に付加する容量の充放電電流のみである。
第3図は本発明の第二実施例を示す回路図である。
本第二実施例は、入力バッファ回路(ECL)10は、第
1図の第一実施例と同じである。そして、レベル変換部
(LC1)40aおよび(LC2)40bのNMOSTM32のゲート電位Va
のゲート電位設定回路が異なっている。
すなわち、本発明の特徴とするところの、基準電圧は
VR2のみであり、基準電圧VR2を発生する基準電圧発生回
路62とNMOSTM32のゲートとの間には抵抗R31を入れ、CMO
Sインバータの出力電圧Vbがゲートに入るNMOSTM35のソ
ースには、ドレイン・ゲートを短絡したNMOSTM36を入れ
て、出力電圧Vcを保つようにしてある。
このようにすることにより、NMOSTM32のゲート電位Va
の定常電位は、出力信号が「ハイ」レベルのときNMOS
TM35は「オフ」し、ゲート電位Vaは抵抗R31を通す充放
電電流によりVa=VR2となる。出力信号が「ロウ」レ
ベルのときPMOSTM31が「オン」し、オンインピーダンス
が、 NMOSTM35<<NMOSTM36 に設定してあれば、基準電圧VR2と電源電圧VEEとの和を
抵抗R31とNMOSTM36とのインピーダンス比で分圧する点
にゲート電位Vaは設定される。このとき、NMOSTM36とM
32はカレントミラー回路となるため、NMOSTM36に流れる
貫通電流が充分小さければ、NMOSTM32もほとんど「オ
フ」状態となる。
前記に説明したとおり基準電圧発生回路65とNMOSTM32
のゲート間インピーダンスは充分大きいので(R31は50K
〜数100KΩの高抵抗)、貫通電流も数10μA程度でほと
んど無視できる程度である。また、この高抵抗R31は抵
抗素子として半導体基板表面の不純物拡散層により形成
すると大面積が必要となるので、ポリシリコン層の配線
抵抗を利用すれば、基準電圧発生回路62との間の配線の
一部を金属からポリシリコンに変えるだけで形成でき、
レベル変換回路のレイアウト面積を小さくすることがで
きる。なお、第3図において、61は基準電圧VR1を発生
する基準電圧発生回路である。
第4図は本発明の第三実施例の要部を示す回路図で、
レベル変換後の出力に大負荷容量が付加している場合に
対応した高駆動能力のレベル変換部(LC)50を示す。
入力バッファ回路の出力信号に対し、レベル変換後
の大振幅を出す駆動要CMOSインバータ回路(LC(a))
50aおよびこのインバータ回路のNMOSTM42のゲート電位V
aのゲート電位設定回路(LC(b))50bは第3図の第二
実施例と同様である。
これに加え、本発明の特徴とするところの、出力信号
OUTを動かす駆動回路としてNPN型のBIPTQ41およびQ42
直列接続したトーテムポール型の駆動回路(LC(c))
50cを含んでいる。ここで、レベル変換後のCMOSインバ
ータの出力電圧VdがVCC側のBIPTQ41のベースに入力さ
れ、CMOSインバータのNMOSTM42のゲートとNMOSTM47のゲ
ートは接続され同一のゲート電位Vaに保たれる。そし
て、このNMOSTM47のドレインは出力信号OUTに、ソース
はVEE側のBIPTQ42のベースに接続される。このベースに
はNMOSTM47「オフ」時にBIPTQ42をオフさせるための抵
抗R42がVEE間に入っている。
本第四実施例の動作は、出力信号が「ロウ」レベル
のとき、PMOSTM41が「オン」し、このPMOSTM41を通して
ベース電流がBIPTQ41に供給され、電流増幅率hfe倍の大
きなコレクタ電流で出力信号OUTの負荷容量を急速に充
電し、出力信号OUTを≒VCCに引き上げる。出力信号Xが
「ハイ」レベルのとき、ゲート電位Vaが≒−2.3Vの高電
位になるため、NMOSTM47は「オン」し、出力OUTからNMO
STM47を通ってBIPTQ42にベース電流が供給され、hfe倍
の大きなコレクタ電流で出力信号OUTの負荷容量を急速
に放電し、出力信号を≒VEEまで引き下げる。このと
き、NMOSTM42も「オン」するので、出力電圧Vdも引き下
げられてBIPTQ41は出力信号OUTよりも速く下げられてい
る。
第5図は本発明の第四実施例を示す回路図で、入力バ
ッファ回路およびレベル変換部に加えてデコーダ回路を
含む場合を示す。
本第四実施例では、さらに本発明の特徴とするところ
の、2個の入力信号IN1およびIN2に対しそれぞれ入力バ
ッファ回路(ECL1)10aおよび(ECL2)10bがあり、それ
ぞれから肯定および否定の信号が出力されるが、出力EF
用のBIPTQ6およびQ7をマルチエミッタ型とし、第5図の
ようにエミッタ結合しワイヤード・オアをとることによ
り、出力信号X1〜X4のいずれか1個のみが「ロウ」レベ
ルで他3本が「ハイ」レベルのデコーダ回路(DEC)70
を形成したものである。
このデコーダ回路70を加えたことによるレベルの変化
や、速度遅れなどはほとんど生じないので、この出力信
号X1〜X4を直接レベル変換部(LC1)60a、(LC2)60b、
(LC3)60cおよび(LC4)60dにそれぞれ入力することに
より、大振幅のデコード後の出力信号OUT1〜OUT4が得ら
れる。
この構成での利点は、レベル変換後にデコーダを形成
する場合、デコーダの一部をレベル変換前に取り入れら
れるので、デコーダ段数を減らせることにある。さらに
レベル変換への入力信号は1個のみ「ロウ」レベルで他
の多数本は「ハイ」レベルのため、わずかに流れる貫通
電流をさらに減少させることができることである。
最後に本発明のレベル変換回路(第5図の第四実施
例)を256K〜1MビットのスタティクRAMに応用した場合
の従来回路との特性比較を第6図に示す。ここでは、ワ
ード線256本をアドレス8本によりデコードする回路を
想定し、レベル変換回路部分での電源電流に対する遅延
時間の関係を表している。
従来回路例で示したレベル変換回路の入力に対する同
相出力タイプ(第一従来例)と逆相出力タイプ(第二従
来例)と比較し本発明の回路を利用した場合、電源電流
は1/5〜1/6になり遅延時間も30〜40%速くなり、大幅な
消費電力削減と高速化が同時に実現できることがわか
る。
〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明は、レベル変換回路の出
力駆動用CMOSインバータのPチャネル側のゲートに入力
信号を直接入れて「オン」・「オフ」を行い、Nチャネ
ル側のゲートは、入力端子との間に設けたカップリング
コンデンサにより時刻遅れなしで入力信号が伝わり「オ
ン」・「オフ」させることができるため、従来のNチャ
ネル側をカレントミラー回路で構成していたレベル変換
回路に比べ、1/5〜1/6の消費電力で、遅延時間が30〜40
%短縮され高速化が実現できる効果がある。
さらに、容量カップリングされているNチャネルMOST
のゲート端子には、定常状態でのレベル設定回路を設け
ることにより安定したレベル変換動作を確実に行える効
果も得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第一実施例を示す回路図。 第2図(a)および(b)はその動作を示す波形図。 第3図は本発明の第二実施例を示す回路図。 第4図は本発明の第三実施例を示す回路図。 第5図は本発明の第四実施例を示す回路図。 第6図は本発明の実施例と従来例との特性比較図。 第7図は第一従来例を示す回路図。 第8図は第二従来例を示す回路図。 10……入力バッファ回路(ECL)、10a……入力バッファ
回路(ECL1)、10b……入力バッファ回路(ECL2)、2
0、20a、30、50……レベル変換部(LC)、30a、50a……
駆動用CMOSインバータ回路(LC(a))、30b、50b……
ゲート電位設定回路(LC(b))、40a、60a……レベル
変換部(LC1)、40b、60b……レベル変換部(LC2)、50
c……駆動回路(LC(c))、60c……レベル変換部(LC
3)、60d……レベル変換部(LC4)、61、62……基準電
圧発生回路、70……デコーダ回路(DEC)、C11、C31、C
41……コンデンサ、IE、Ii、Is……定電流源、IN、I
N1、IN2……入力信号、M11、M13、M16、M31、M33
M41、M43、M71、M73、M81、M83……PチャネルMOSトラ
ンジスタ、M12、M14、M15、M32、M34、M35、M36、M42
M44、M45、M46、M47、M72、M74、M82、M84……Nチャネ
ルMOSトランジスタ、OUT、OUT1〜OUT4、X、X、X1〜X4
……出力信号、Q1〜Q7、Q41、Q42……バイポーラトラン
ジスタ(NPN型)、R1、R2……負荷抵抗、R31、R32
R41、R42……抵抗、Va……ゲート電位、Vb、Vc、Vd……
出力電圧、VCC、VEE……電源、VR1、VR2、VR2a、VR3
…基準電圧。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】差動結合されたバイポーラトランジスタの
    エミッタカップルドロジック回路により微小振幅の入力
    信号を入力し所定の位相および振幅を有する出力信号に
    して出力する入力バッファ回路と、 互いにそのドレインが接続されたPチャネルの第一の電
    界効果トランジスタとNチャネルの第二の電界効果トラ
    ンジスタとによって構成され、この第一の電界効果トラ
    ンジスタまたは第二の電界効果トランジスタのゲート端
    子に前記入力バッファ回路からの出力信号が入力され、
    前記両電界効果トランジスタの共通ドレインが出力端子
    に接続された相補型インバータ回路を含むレベル変換部
    と を備えたレベル変換回路において、 前記第一および第二の電界効果トランジスタのゲート端
    子間に接続されたコンデンサと、 前記入力バッファ回路からの出力信号がゲートに入力さ
    れていない方の前記第一または第二の電界効果トランジ
    スタのゲート端子に定常時に与えるゲート電位を設定す
    る電位設定回路と を備え、 この電位設定回路は、前記第一の電界効果トランジスタ
    が導通状態または前記第二の電界効果トランジスタが非
    導通状態になる第一の値に設定する第一の基準電源と、
    前記第一の電界効果トランジスタが非導通状態または第
    二の電界効果トランジスタが導通状態になる第二の値に
    設定する第二の基準電源と、前記入力バッファ回路から
    の出力信号に基づいて第一の基準電源と第二の基準電源
    とを切り換えてゲート端子に接続する第一の制御回路と
    を含む ことを特徴とするレベル変換回路。
  2. 【請求項2】差動結合されたバイポーラトランジスタの
    エミッタカップルドロジック回路により微小振幅の入力
    信号を入力し所定の位相および振幅を有する出力信号に
    して出力する入力バッファ回路と、 互いにそのドレインが接続されたPチャネルの第一の
    電界効果トランジスタとNチャネルの第二の電界効果ト
    ランジスタとによって構成され、この第一の電界効果ト
    ランジスタまたは第二の電界効果トランジスタのゲート
    端子に前記入力バッファ回路からの出力信号が入力さ
    れ、前記両電界効果トランジスタの共通ドレインが出力
    端子に接続された相補型インバータ回路を含むレベル変
    換部と を備えたレベル変換回路において、 前記第一および第二の電界効果トランジスタのゲート端
    子間に接続されたコンデンサと、 前記入力バッファ回路からの出力信号がゲートに入力さ
    れていない方の前記第一または第二の電界効果トランジ
    スタのゲート端子に定常時に与えるゲート電位を設定す
    る電位設定回路と を備え、 この電位設定回路は、前記第一の電界効果トランジスタ
    が導通状態または前記第二の電界効果トランジスタが非
    導通状態になる第一の値に設定する第一の基準電源と、
    この第一の基準電源と前記第一または第二の電界効果ト
    ランジスタのゲート端子間に接続された抵抗と、前記入
    力バッファ回路からの出力信号に基づいて前記第一の値
    または前記抵抗によって分圧された前記第一の電界効果
    トランジスタが非導通状態または第二の電界効果トラン
    ジスタが導通状態になる第二の値を切り換えてゲート端
    子に接続する第二の制御回路とを含む ことを特徴とするレベル変換回路。
JP2062261A 1990-03-13 1990-03-13 レベル変換回路 Expired - Lifetime JP2540971B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2062261A JP2540971B2 (ja) 1990-03-13 1990-03-13 レベル変換回路
US07/667,491 US5162677A (en) 1990-03-13 1991-03-11 ECL to CMOS level conversion circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2062261A JP2540971B2 (ja) 1990-03-13 1990-03-13 レベル変換回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03262324A JPH03262324A (ja) 1991-11-22
JP2540971B2 true JP2540971B2 (ja) 1996-10-09

Family

ID=13195030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2062261A Expired - Lifetime JP2540971B2 (ja) 1990-03-13 1990-03-13 レベル変換回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5162677A (ja)
JP (1) JP2540971B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5254887A (en) * 1991-06-27 1993-10-19 Nec Corporation ECL to BiCMIS level converter
US5459411A (en) * 1992-03-26 1995-10-17 Nec Corporation Wired-OR logic circuits each having a constant current source
US5256917A (en) * 1992-04-03 1993-10-26 Motorola, Inc. ECL logic gate with voltage protection
KR970001345B1 (ko) * 1993-07-28 1997-02-05 삼성전자 주식회사 레벨 쉬프터
US7535280B2 (en) * 2004-04-30 2009-05-19 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for shifting a signal from a first reference level to a second reference level
KR100736396B1 (ko) * 2006-02-13 2007-07-09 삼성전자주식회사 저전력 소모를 위한 소 신호 수신기 및 이를 구비하는반도체 장치

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6119226A (ja) * 1984-07-05 1986-01-28 Hitachi Ltd レベル変換回路
JPH07118642B2 (ja) * 1986-01-08 1995-12-18 株式会社東芝 レベル変換回路
JPS62230222A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Toshiba Corp 入力回路
JPS63142918A (ja) * 1986-12-05 1988-06-15 Mitsubishi Electric Corp 入力回路
JP2901973B2 (ja) * 1987-04-30 1999-06-07 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
JPH0777346B2 (ja) * 1988-12-28 1995-08-16 株式会社東芝 論理レベル変換回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03262324A (ja) 1991-11-22
US5162677A (en) 1992-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900000484B1 (ko) 레벨 변환회로
KR100405814B1 (ko) 출력회로
KR940010676B1 (ko) 반도체 집적회로장치
US4779016A (en) Level conversion circuit
US4939393A (en) ECL to TTL/CMOS translator using a single power supply
JPH07107973B2 (ja) スイツチング回路
JP2585599B2 (ja) 出力インタ−フエ−ス回路
JPH06196992A (ja) 半導体集積回路装置の出力回路
US4864159A (en) ECL to CMOS transition amplifier
JPH0436606B2 (ja)
KR930001439B1 (ko) BiCMOS용 출력회로
JPH01288010A (ja) ドライバ回路
JP2540971B2 (ja) レベル変換回路
JPH07202665A (ja) ドライバ/レシーバ回路
JPH03231455A (ja) 半導体集積回路
JPH0252460B2 (ja)
US5138195A (en) Bi-CMOS logic circuit having full voltage swing and rapid turn-off
JPH0677804A (ja) 出力回路
JP2867029B2 (ja) レベル変換回路
JPH0613884A (ja) 信号トランスレータ回路
US5479005A (en) Low-power consumption bi-CMOS circuit formed by a small number of circuit components
KR0158110B1 (ko) 반도체집적회로의 바이씨모오스 레벨변환회로 및 이를 이용한 데이타출력버퍼
US5751167A (en) CMOS output buffer circuit which converts CMOS logic signals to ECL logic signals and which discharges parasitic load capacitances
JP2987971B2 (ja) レベル変換回路
US5077492A (en) Bicmos circuitry having a combination cmos gate and a bipolar transistor