JP2538671Y2 - パルス計測装置 - Google Patents

パルス計測装置

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JP2538671Y2
JP2538671Y2 JP3297490U JP3297490U JP2538671Y2 JP 2538671 Y2 JP2538671 Y2 JP 2538671Y2 JP 3297490 U JP3297490 U JP 3297490U JP 3297490 U JP3297490 U JP 3297490U JP 2538671 Y2 JP2538671 Y2 JP 2538671Y2
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JP
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measurement
logic
generation device
memory
pulse
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JP3297490U
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充幸 座光寺
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案はパルス計測装置に関し、更に詳しくは、小規
模の回路構成で多機能のパルス計測が可能なパルス計測
装置に関する。
〈従来の技術〉 パルス計測は多岐にわたり、計測対象によっては特異
な測定が必要な場合もある。
これら予想される全てのパルス計測の要求を充足させ
るハードウェアのロジック回路を用意すると回路規模が
膨大になり、コストが極めて高くなる。
〈考案が解決しようとする問題点〉 本考案はこのような点に着目してなされたものであ
り、所望のパルス計測動作に必要な計測用ロジック回路
をソフトウェアで生成し、生成したソフトウェアの計測
用ロジック回路を用いてパルス計測動作を実行すること
によって、小規模の回路構成で多機能のパルス計測が可
能な汎用性に富むパルス計測装置を提供することを目的
とする。
〈課題を解決するための手段〉 上記課題を解決する本考案は、 ロードされるロジックデータに基づいてソフトウェア
で計測用ロジック回路を生成し、生成された計測用ロジ
ック回路を用いて所定のパルス計測動作を実行するロジ
ック生成デバイスと、 各種のパルス計測モードで用いる計測用ロジック回路
を生成するためのロジックデータが格納された第1のメ
モリと、 前記ロジック生成デバイスの計測結果を選択的に一時
格納する第2のメモリと、 計測目的に適合するロジックデータを前記第1のメモ
リから選択的に読み出してロジック生成デバイスにロー
ドするとともに、前記第2のメモリに格納された計測結
果を読み取る制御手段と、 を具備したことを特徴とするパルス計測装置である。
〈作用〉 本考案のパルス計測装置において、ロジック生成デバ
イスは制御手段からの指示でロードされるロジックデー
タに基づいて所望のパルス計測動作に必要な計測用ロジ
ック回路をソフトウェアで生成し、生成された計測用ロ
ジック回路を用いて所定のパルス計測動作を実行する。
そして、計測結果を第2のメモリに格納する。制御手段
は第2のメモリから計測結果を読み取る。
〈実施例〉 以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に説明す
る。
第1図は本考案の一実施例の構成図である。図におい
て、ロジック生成デバイス1は、必要とするパルス計測
動作に用いる計測用ロジック回路をソフトウェアで生成
する機能及び生成した計測用ロジック回路を用いて所定
のパルス計測動作を実行する機能を持っている。該ロジ
ック生成デバイス1には、リードオンリメモリ(ROM)
2またはホストコンピュータ3から各種のパルス計測モ
ードに対応したロジックデータが選択的にロードされ
る。このようなロジック生成デバイス1としては、例え
ばザイリンクス社からLCA(Logic Cell Array)という
商品名で販売されているロジック回路を用いることがで
きる。フロントエンド部4は入力端子5に加えられる計
測対象のパルス信号をロジック生成デバイス1に入力す
るものであり、例えばアナログレベルのパルス信号をTT
Lレベルに変換するように構成されていて、入力保護回
路やスレッショルド設定回路等が含まれる。ランダムア
クセスメモリ(RAM)6は、例えば高速パルス信号を計
測する場合に計測結果を一時的に格納しておき、計測終
了後にホストコンピュータ3に伝送するために用いられ
る。システムバスインターフェース7はこれら各構成ブ
ロックとシステムバス8との間のインターフェース動作
を実行する。クロック生成部9はパルス計測を実行する
場合の基準クロックを生成してロジック生成デバイス1
に供給する。ロジック生成デバイス1の内部での一連の
ロジック動作は該クロックに従って実行される。
請求範囲でいう第1のメモリ、第2のメモリ、制御手
段は、それぞれROM2、RAM6、ホストコンピュータ3に相
当する。
第2図は第1図の動作を説明するための第1図の要部
構成図である。
動作ステップは、大きく、 初期化動作 計測動作 の2ステップに分けられる。以下、各ステップについて
説明する。
初期化動作 パルス計測の種類としては、周波数,周期,パルス
数,位相差等である。例えば、周期のパルス計測では、
既知周期のパルス信号をロジック生成デバイス1に入力
し、ロジック生成デバイス1はソフトウェアの計測用の
ロジック回路に設けられたカウンタで入力パルス信号の
周期を計測し、計測結果をRAM6に格納する。ホストコン
ピュータ3はRAM6から計測結果を読み取り、計測結果が
期待値と一致しているかどうかを判断する。そこで、ホ
ストコンピュータ3は、ROM2に格納されている各種のロ
ジック情報の中から計測目的に適合する必要なロジック
情報を選択的に読み出してロジック生成デバイス1にロ
ードするように制御する。なお、必要に応じてホストコ
ンピュータ3から直接ロジック情報をロジック生成デバ
イス1にロードすることも行われる。
計測動作 このようにしてロジック生成デバイス1にロジック情
報がロードされることにより計測動作が開始される。
計測動作実行時のロジック生成デバイス1の内部のロ
ジックは、パルス計測で一般に使用されるカウンタ群等
で構成される。
計測結果は、ロジック生成デバイス1からバスインタ
ーフェース7及びシステムバス8を経由してホストコン
ピュータ3に伝送される。
なお、高速計測が要求される場合には、計測結果をRA
M6に適宜格納し、ホストコンピュータ3から読み取るよ
うにする。これらのデータ格納を行うロジック回路を生
成するためのロジックデータも初期化動作時にロジック
生成デバイス1にロードされる。
このように構成することにより、従来の汎用性の高い
パルス計測装置を実現するために必要とされるハードウ
ェアのロジック回路の大半をロジック生成デバイスで生
成するソフトウェアの計測用ロジック回路に置き換える
ことができ、回路規模は大幅に縮小され、部品点数も削
減される。この結果、コストが低減でき、信頼性の向上
が図れる。
また、計測用ロジック回路がソフトウェア的に変更で
きることから、計測モードの変更に際してもROMに格納
されているロジック情報の修正やホストコンピュータか
らロジック生成デバイスへの直接ロード等により容易に
対処できる。
〈考案の効果〉 以上詳細に説明したように、本考案によれば、小規模
の回路構成で多機能のパルス計測が可能な汎用性に富む
パルス計測装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の構成図、 第2図は第1図の動作を説明するための第1図の要部構
成図である。 1……ロジック生成デバイス 2……リードオンリメモリ(ROM) 3……ホストコンピュータ 4……フロントエンド部、5……入力端子 6……ランダムアクセスメモリ(RAM) 7……システムバスインターフェース 8……システムバス、9……クロック生成部

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ロードされるロジックデータに基づいてソ
    フトウェアで計測用ロジック回路を生成し、生成された
    計測用ロジック回路を用いて所定のパルス計測動作を実
    行するロジック生成デバイスと、 各種のパルス計測モードで用いる計測用ロジック回路を
    生成するためのロジックデータが格納された第1のメモ
    リと、 前記ロジック生成デバイスの計測結果を選択的に一時格
    納する第2のメモリと、 計測目的に適合するロジックデータを前記第1のメモリ
    から選択的に読み出してロジック生成デバイスにロード
    するとともに、前記第2のメモリに格納された計測結果
    を読み取る制御手段と、 を具備したことを特徴とするパルス計測装置。
JP3297490U 1990-03-29 1990-03-29 パルス計測装置 Expired - Lifetime JP2538671Y2 (ja)

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JPH03123292U JPH03123292U (ja) 1991-12-16
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