JPS6091454A - 集積回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は命令プログラムを記憶したＲＯＭをプロセッサ
と集積一体化した集積回路に係シ、特にその命令実行テ
ストを簡易に行い得るようにした改良された集積回路に
関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

集積回路技術の発展に伴い、プログラム制御方式のグロ
セ、すを高密度集積化してなる所副１チッグ型の集積回
路が数多く開発されている。

また最近では、上記プロセッサの動作を規定する命令プ
ログラムを格納したＲＯＭをも、上記プロセッサと共に
集積一体化した集積回路も開発されている。

しかして、このようなＲＯＭを内蔵したノロセッサから
なる集積回路にあっては、そのノロセッサに外部から命
令を与える必要がないので、命令入出力端子等が不要と
なり、その小屋化・高集積化に大きく寄与する。

ところが、このようにして命令入出力用の端子が省かれ
た集積回路にあって、そのプロセッサの命令実行動作等
をテストしようとする場合、外部からテストに必要な命
令を与えることができないと云う不具合がある。そこで
従来、プロセッサ本来の動作時に命令入力以外の用途に
用いられている端子を利用し、テストモード時にはこの
端子を利用してテスト命令を与えることが考えられてい
る。然し乍ら、このようにすると、１つの端子が果す役
割を内部的に切換える必要が鼠り、集積回路内部の信号
径路が複雑化する不具合が生じた。しかも命令入力用と
して使用できる端子数が少ない場合には、１つの命令を
数サイクルに亘って入力しなければならない等の問題が
生じ、テスト所要時間が長くなった。また、その集積回
路の製造の観点に立脚した場合、テストの為に１つの端
子に複数の役割を持たせるべく、多くの付加回路が必要
となり、結局チツｆ面積の増大、ひいては歩留りの低下
、製造コストの増大等を招来した。しかし、上述したテ
ストは不可欠であり、大きな味題となっていた。

〔発明の目的〕

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、プログラム命令を格納したＲＯ
Ｍをプロセッサと共に集積一体化してなる集積回路のテ
ストを、集積回路本体の複雑化を招くことなしに簡易に
行い得ることを可能とした実用性の高い構成の集積回路
を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、例えば第１図に示されるようにプログラム命
令を格納したＲＯＭ　１　、このＲＯＭ　１から読出さ
れた命令を格納する命令レジスタ２、この酪令しノスタ
２にセットされた命令に従ってプロセッサの動作実行を
制御する制御回路３、そして、アキュムレータ４にセッ
トされたデータや、外部データレジスタ５にセットされ
たデータ等をパス６を介して受渡しし乍ら前記命令に従
う演算を実行する演算器７を含むノロセッサとを集積一
体化してなる集積回路において、テストモードが設定さ
れたとき、前記命令レジスタ２にセットされた命令のノ
ロセッサによる実行終了を検出し、上記命令レジスタ２
に前記外部データレジスタ５のデータを該命令レジスタ
２に転送すべき命令をセットするようにした本のである
。

つまり、テストモードが設定されたとき、プロセッサに
よる命令実行の終了を検出して命令レジスタ２に成る特
定の命令をセットし、この成る特定の命令の実行によっ
て前記外部データレジスタ５にセットされたデータを該
命令レジスタ２に転送するようにしたものである。

〔発明の効果〕

かくして本発明によれば、命令レジスタ２にセットして
プロセッサを作動させるべき本来の命令に加えて、外部
データレジスタ５のデータを命令レジスタ２に転送すべ
き１つの命令を加えるだけで、極めて簡単に外部からの
テスト命令をプロセッサに与えることが可能となる。し
かも回路的には、僅かの付加回路の追加でよく、信１号
径路１の複雑化を招くこともないので、製作上非常に有
利である。また集積回路本体が本来有しているデータ入
出力端子をそのまま利用し５− て外部からテスト命令を与えることができるので、その
テスト制御も簡単である。またテスト所要時間の大幅な
短縮化を図り得る等、実用上多大なる効果が奏せられる
。

〔発明の実施例〕

以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。

第１図は前述したように、ＲＯＭ内蔵型プロセッサから
なる従来一般的な構成の集積回路の概略構成を示すもの
である。ＲＯＭ　Ｊから続出されて命令レジスタ２にセ
ットされる命令は、例えば第２図（ａ）　（ｂ）に示す
如き１２ビツトの演算命令や、転送命令等からなる。こ
の演算命令は、４ビツトＩＺ）８フイールドでパス６へ
のデータ出力レジスタを指定し、８ビツトのＯＰフィー
ルドで上記パス６上のデータとアキュムレータ１との間
で行われる演算の種類を指定するものとなっている。尚
、この演算は演算器７にて実行され、その演算結果はア
キュムレータ４に格納される。また、・第２図（ｂ）に
示す転送命令は、４ビ６− ットのＳフィールドで示されるレジスタのデータを、４
ビツトのＤフィールドで指定されるレジスタ（ディステ
ィネーション・レジスタ）へ転送するものとなっている
。また信号線Ｗ、Ｒは、前記プロセッサとは独立に、前
記外部データレジスタ５にデータを書込み、また読出す
為の制御信号を与えるものである。

このよう々基本構成を有する集積回路に対して、本発明
に係る集積回路は、例えば第３図に示すように集積回路
本体にテストモードを設定する手段、つまりテストモー
ド設定信号入力端子ＴＳＭを設け、更にデータレジスタ
５のデータを命令レジスタ２に転送すべき命令を発生す
るＩＲロード命令発生器８、また命令レジスタ２ニセツ
トするデータを選択するセレクタ９を備えて構成される
。

セレクタ９は、前記命令レジスタ２にセットされた命令
およびテストモード設定信号ＴＳＭを受けて動作する制
御回路３の制御を受けて、前記ＲＯＭ　Ｊから読出され
るプログラム命令、ＩＲロード命令発生器８から出力さ
れるＩＲロード命令または前記パス６を介して転送され
る前記外部データレジスタ５がらのデータを選択的に取
込み、これを出力するものである。尚、前記ＩＲロード
命令は前記第２図（ｂ）に示す如きフォーマットを有し
、そのＳフィールドで外部データレジスタ５を指定し、
同時にＤフィールドで命令レジスタ２を指定するものと
なっている。また外部データレジスタ５への外部からの
データ書込み、または外部データレジスタ５がらの外部
へのデータ読出しは、プロセラ′すとは独立に、且つ信
号Ｗ、Ｈに従って制御されて行われることは太うまでも
ない。

このように構成された装置によれば、信号Ｔ８Ｍが′Ｏ
”であるとき、装置本体にはテスト・モードが設定され
ることはなく、従って装置本体は第１図に示すものと全
く同様に、つまりＲＯＭ　１から読出されるプログラム
命令を順に命令レジスタ２にセットし、そのセットした
命令を順に実行す′る。この状態が装置本体の本来の動
作形態である。

これに対して今、信号ＴＳＭが１”に設定されると、こ
れによって装置本体にテストモードが設定される。この
ようにしてテストモート力設定されると、制御回路３は
前記命令レジスタ２にセットされ、現在実行中の命令の
実行終了を待ってセレクタ９の出方を切換え、前記ＲＯ
Ｍ１からのデータ（命令）に代えて、ＩＲロード命令発
生器８からの命令を命令レジスタ２にセットする。この
ＩＲロード命令の命令レジスタ２へのセットにより、制
御回路３は次の動作サイクルで上記ＩＲロード命令を実
行することになシ、従って外部データレジスタ５にセッ
トされているデータが前記パス６、セレクタ９を介して
命令レジスタ２に転送されることになる。故にこのとき
、外部データレジスタ５に予めテストに必要なテスト命
令をセットしておけば、このテスト命令が命令レジスタ
２にセットされることになり、次の動作サイクルでこの
テスト命令が実行されることになる。

９− 第４図は上述した一連の動作を示すものでおる。この図
に示されるように、信号ＴＳＭを与えるに先立って、外
部レジスタ５に必要なテスト命令をセットしておけば、
上記信号ＴＳＭによるテストモード設定によって、上記
テスト命令を効果的に実行させることができる。しかも
内部的には、テストモード設定時に、外部データレジス
タのデータを命令レジスタに転送させるべき命令を、命
令レジスタ２にセットするだけで外部からのテスト命令
を効果的に取込むことができる。またこのテスト命令の
取込みを、外部データの入出力端子をそのまま利用して
行い得るので、極めて簡単であり、従来のように命令と
データとの信号径路を切換える等の煩らゎしさがない。

またこのような構成であれば、信号ＴＳＭを順次与える
ことによって、外部から与えた１つのテスト命令を実行
する都度、命令レジスタ２にＩＲロード命令をセ、トシ
、これによって次の外部テスト命令・を上記命令レジス
タ２にセットす１０− ることかできるので、そのテストを連続的に、且つ効率
良く行うことが可能となる。

尚、テスト結果を外部へ出力したい場谷には、例えばテ
スト命令としてアキュムレータ４にセットされているテ
スト結果データを外部データレジスタ５に転送するべく
転送命令を与えるようにすればよい。

以上説明したように本発明によれば、テストモード時に
、外部データレジスタ５のデータを命令レジスタ２に転
送させると云う命令を設け、且つ上記テストモードを設
定する為の信号ＴＳＭ端子を設けるだけで、そのテスト
を極めて効果的に行い得る。しかも、任意のテスト命令
を与えて、装置本体が持つ本来のスピードでテストを実
行することができ、装置構成の複雑化も殆んど招かない
ので、その実用的利点は絶大である。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。ま
た前述したＩＲロード命令をＲＯＭ　１の特定番地に登
録しておき、これを強制的に命令レジスタ２にセットす
るようにしてもよい。またテスト命令として、外部デー
タの取込み命令を加えておき、外部からのテスト命令を
自動読込みするようにしてもよい。要するに本発明は、
その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の集積回路の要部基本構成図、第２図（ａ
）　（ｂ）は命令のフォーマット例を示す図、第３図は
本発明の一実施例に係る集積回路の要部基本構成図、第
４図は同実施例の動作シーケンスを示す図である。 １・・・ＲＯＭ、！・・・命令レジスタ、３・・・制御
回路、４・・・アキュムレータ、５・・・外部データレ
ジスタ、６・・・パス、１・・・演算器、８・・・ＩＲ
ロード命令発生器、９・・・セレクタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プログラム命令を記憶したＲＯＭと、このＲＯＭから読
   出された命令を格納する命令レジスタと、この命令レジ
   スタに格納された命令を実行するノロセ、すと、外部入
   力データを格納する外部データレジスタとを集積一体化
   してなる集積回路ニおいて、この集積回路本体にテスト
   モードを設定する手段と、この手段によシテストモード
   が設定されたとき、前記命令レジスタに格納された命令
   の前記プロセッサによる実行終了を検出し、この実行終
   了時に前記命令レジスタに前記外部データレソスタに格
   納されたデータを前記命令レジスタに転送すべき命令を
   セットする手段とを設けたことを特徴とする集積回路。