JP2533433Y2 - 実装基板およびプリント基板検査用支持装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、プリント基板に実装された電子部品を検査
する際等に、プローブが当接する側とは反対側で該プリ
ント基板を支え若しくは押さえ支持するプリント基板検
査用支持装置に関するものである。

（従来の技術） 従来、第３図に示すように、プリント基板１に実装さ
れている電子部品２を検査する場合には、プローブ３を
当てる側とは反対側で該プリント基板１をプリント基板
支持装置４で支持していた。

このプリント基板支持装置４は、支持基台５と該支持
基台５の片面に突設されていてプリント基板１の板面の
各部を支持する複数の支持ピン６と、支持基台５の昇降
操作をロッド7aを介して行うシリンダー７とを有して構
成されていた。また、プローブ３をあてる側のプリント
基板１の縁部は、支持部材８でプリント基板１の上昇を
阻止するように支持していた。

（考案が解決しようとする課題） しかしながら、このようなプリント基板支持装置で
は、プローブ３をプリント基板１の各半田付け部９等か
らなるテストポイントに順次当てながら、プローブ３を
移動しつつ検査をする際、該プローブ３がプリント基板
１から離れたときに該プリント基板１が振動し、つぎに
プローブ３が降下したときに次のテストポイントに正確
に当らず、測定結果が不正確になる問題点があった。

本考案の目的は、プローブがプリント基板が離れると
きに該プリント基板が振動するのを防止できるプリント
基板検査用支持装置を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するための本考案の構成を説明する
と、本考案は、支持基台に突設された複数の支持ピンで
プリント基板の板面の各部を支持する実装基板およびプ
リント基板（以下プリント基板と云う）検査用支持装置
に於いて、前記支持基台の複数箇所には前記プリント基
板を吸引して前記各支持ピンに引きつけたり、プリント
基板自体のしなりや振動をおさえる基板矯正機構として
の吸引ユニットが設けられていることを特徴とする。

（作用） このような構成で、各吸引ユニットの吸引ヘッド部を
プリント基板の板面の複数箇所に当てて該プリント基板
を吸引すると、プリント基板は各支持ピンに引き付け固
定される。したがって、プローブを該プリント基板の或
るテストポイントに当てて検査を行い、そのテストポイ
ントの検査が済んでプローブが離れるとき、該プリント
基板が振動しなくなる。このため、その次のテストポイ
ントにプローブを正確にあてることができ、測定結果が
正確になる。

（実施例） 以下、本考案の実施例を第１図及び第２図を参照して
詳細に説明する。

なお、前述した第３図と対応する部分には、同一符号
を付けて示している。

図示のように、本実施例のプリント基板検査用支持装
置４は、支持基台５が鉄等の磁性材で構成され、該支持
基台５の複数箇所にはプリント基板１を吸引して各支持
ピン６に引き付ける吸引ユニット10が設けられている。
該吸引ユニット10は第２図に示すように、棒状のスタン
ド部11と、該スタンド部11の下端のディスク部12に嵌合
されるとともに支持基台５に該スタンド部11を起立させ
るマグネット13と、スタンド部11の上部のネジ孔14に螺
合されていてロックナット15でロックされている高さ調
整ボルト16と、該高さ調整ボルト16の上端に取付けられ
ている吸引体17と、該吸引体17の先端に設けられている
ゴム製の吸引ヘッド部18とで構成されている。前記吸引
体17には、その吸引孔19に連通させて吸引ホース20が接
続され、図示しない真空ポンプからの真空引きで吸引が
行われるようになっている。

このような吸引ユニット10は、そのマグネット13を利
用して適宜な位置で支持基台５に立設される、吸引ヘッ
ド部18の高さは、ロックナット15を緩めて高さ調整ボル
ト16で調整する。かかる状態で各支持ピン６の上にプリ
ント基板１を乗せ、各吸引ユニット10を真空ポンプで吸
引作動させる。これによりプリント基板１が吸引され、
各支持ピン６に引き付け固定される。従って、プローブ
３を該プリント基板１の或るテストポイントに当てて検
査を行い、そのテストポイントの検査が済んでプローブ
３が離れるとき、該プリント基板１が振動しなくなる。
このため、その次のテストポイントにプローブ３を正確
に当てることが出来、測定結果が正確になる。

なお、このプリント基板支持装置４は、第１図の状態
とは上下反転させて検査を行うこともできる。

また、吸引ユニット10は、ネジ止め等で支持基台５に
固定させることもできる。

（考案の効果） 以上説明したように本考案に係るプリント基板検査用
支持装置では、支持基台の複数箇所に吸引ユニットを設
けているので、これら吸引ユニットによるプリント基板
の吸引で該プリント基板を各支持ピンに引き付け水平面
を維持して固定することができる。従って、プローブを
該プリント基板の或るテストポイントに当てて検査を行
い、そのテストポイントの検査が済んでポローブが離れ
るとき、該プリント基板が振動しなくなり、このため次
のテストポイントにプローブを正確にあてることがで
き、正確な測定結果を得ることができる。このため、本
考案によれば、検査を容易に正確に行うことができると
ともに、信頼性の向上となる。

また本装置は、プリント基板検査にも、そのま適用出
来ることは勿論であるが、チップマウンタ等で基板上に
チップをマウントする際、基板を安定させるためにも、
当然応用出来るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係るプリント基板支持装置の一実施例
の使用状態における一部縦断側面図、第２図は本実施例
で用いている吸引ユニットの一部縦断側面図、第３図は
従来のプリント基板支持装置の使用状態の一部縦断側面
図である。 １……プリント基板、２……電子部品、３……プロー
ブ、４……プリント基板支持装置、５……支持基台、６
……支持ピン、７……シリンダー、7a……ロッド、８…
…支持部材、９……半田付け部（テストポイント）、10
……吸引ユニット、11……スタンド部、12……ディスク
部、13……マグネット、14……ネジ孔、15……ロックナ
ット、16……高さ調整ボルト、17……吸引体、18……吸
引ヘッド部、19……吸引孔、20……吸引ホース。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】支持基台に突設された複数の支持ピンでプ
   リント基板の板面の各部を支持する実装基板およびプリ
   ント基板検査用支持装置に於いて、前記支持基台の複数
   箇所には前記プリント基板を吸引して前記各支持ピンに
   引きつけたり、プリント基板自体のしなりや振動をおさ
   える基板矯正機構としての吸引ユニットが設けられてい
   ることを特徴とするプリント基板検査用支持装置。