JP2527501B2

JP2527501B2 - 自動光学検査システム用３状態デ―タベ―ス装置および方法

Info

Publication number: JP2527501B2
Application number: JP3077627A
Authority: JP
Inventors: スコット・フィリップ・スニートカ
Original assignee: ガーバー・システムス・コーポレーション
Priority date: 1990-04-10
Filing date: 1991-04-10
Publication date: 1996-08-28
Anticipated expiration: 2011-08-28
Also published as: FR2660772B1; JPH04225149A; GB2243682A; GB9105492D0; FR2660772A1; US5157762A; DE4111490A1; GB2243682B; DE4111490C2

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、印刷回路板（ＰＣＢ）
の生産に使用される欠陥検出システムに関し、特に製造
された印刷回路板の欠陥検査において使用されるＰＣＢ
パターンの公差情報を含む３状態遷移データベース（Ｔ
ＤＢ）を生成するシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】印刷回路板は、今日ではほとんど完全に
自動化されたプロセスにより製造されている。特定の印
刷回路板に対する回路が、印刷回路板の設計図を生成す
るのみでなく回路板上の全てのデバイスに対する回路板
のレイアウトを提供するコンピュータ援用設計（ＣＡ
Ｄ）装置を用いて生成される。この印刷回路板レイアウ
ト情報は、印刷回路板の製作のため必要な図版（アート
ワーク）を露光するレーザ・プロッタの如き装置に対し
て提供される。この図版は、黒の状態のピクセルからな
るＰＣＢ回路の特徴部分（パターン部分）に対応して、
一連の透明および不透明な領域を含んでいる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、印刷回路板あ
るいはＰＣＢ図版においては、印刷回路板を使いものに
ならなくするおそれがある欠陥が存在し得る。従って、
図版あるいは印刷回路板と比較することができる基準を
持つことが望ましい。これらの欠陥は、図版の収縮ある
いは製造プロセスにおける障害を含む種々の原因があり
得る。印刷回路板における欠陥の検出のための公知のシ
ステムは、製造プロセスにおいて生じた誤差を検出する
ため、しばしば単に与えられた印刷回路板を基準、即ち
欠陥のない印刷回路板（即ち、規範回路板）と比較する
ものであった。しかし、この単なる比較は、許容可能な
範囲にある多数の非常に小さな欠陥を回路板にもたらす
ことになる。更に、図版の収縮により回路板のパターン
部が全体的に変化すると、規範回路板との単なる比較で
は全てのパターンが欠陥として検出される可能性が生じ
る。

【０００４】ある公知の光学式ＰＣＢ検査システムは、
パターン部から離れて図版上に設けられる検査マークを
検査するように構成されている。印刷回路板上のその検
査マークの寸法が、収縮の程度を決定するため基準と比
較される。この収縮がある大きさを越えると、回路板は
欠陥を持つものと見做される。

【０００５】印刷回路板のパターン部と対応する情報が
ディジタル化され、磁気テープの如き磁気媒体に記憶さ
れる。しかし、結果として生じるラスタ（Ｘ，Ｙ）デー
タ・ファイルあるいはデータベースの厳密な大きさは、
記憶量を減らして処理速度を増すためデータが圧縮され
ることを必要とする。米国電話電信会社（ＡＴ＆Ｔ）等
の企業により使用されるフォーマットである、ランレン
グス・コード化（ＲＬＥ）フォーマットおよび走査線更
新（ＳＬＵ）を含む種々の圧縮されたデータベース・フ
ォーマットが、当技術において見出される。

【０００６】ＰＣＢのパターン部のイメージを生じるた
めには、データ・ファイルがラスタ・フォーマットに圧
縮解除されて、本発明の譲受人であるＧｅｒｂｅｒＳ
ｃｉｅｎｔｉｆｉｃＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔ社が市販す
るＬＤＩ１５００の如きレーザ直接イメージ生成装置
（ＬＤＩ）へ与えられねばならない。印刷回路板上のデ
バイスおよび基準イメージ上のパターン部の比較は、こ
れもＧｅｒｂｅｒＳｃｉｅｎｔｉｆｉｃＩｎｓｔｒ
ｕｍｅｎｔ社により市販されるモデル１８５０欠陥検出
システムの如き装置によって行われる。

【０００７】個々の印刷回路板のパターン部に対する公
差を提供することになる、印刷回路板の欠陥検出におい
て使用される圧縮ラスタ・データからデータベースを生
成するための方法および装置を備えることが望ましい。

【０００８】本発明の目的は、印刷回路板の自動的光学
式検査システムにおいて使用するための、個々の印刷回
路板のパターン部に対する公差情報を含む遷移データベ
ースを生成する方法および装置を提供することである。

【０００９】本発明の別の目的は、３状態遷移データベ
ースを特徴とする上記の形式の方法および装置の提供に
ある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、ＰＣＢ
（印刷回路板）の検査に使用されるＰＣＢのパターン部
のイメージを表わす２状態データベースから３状態遷移
データベースを生成するための装置であって、ピクセル
列からなるこのイメージはＰＣＢのパターン部と対応す
る黒の状態ピクセルによる連続する走査線に配列された
第１の状態（黒）あるいは第２の状態（白）のいずれか
一方を有し、各走査線は同じ状態のピクセルからなる少
なくとも１つのラン（１つの走査線において同じ状態が
連続するピクセル列）からなる。本装置は、現在（その
時処理中）の走査線およびその前の走査線と対応する信
号を受取るための第１の機構と、現在の走査線上の第１
のランの終りにおけるピクセルと第２のランの初めにお
けるピクセルとにより形成されるラン境界を識別するた
めの第２の機構と、ランの状態を判定するための第３の
機構とからなっている。本装置は、また、現在の走査線
のラン境界と位置が一致する前の走査線におけるラン状
態を判定するための第４の機構と、第１および第２のラ
ンにおける境界付近の予め選定された公差数のピクセル
を第３の状態（グレー）に変化させる第５の機構とを含
む。第６の機構は、ラン境界ピクセルの１つと位置が一
致する前の走査線のランが異なる状態にあるならば、第
１の状態のピクセルからなる第１あるいは第２のランの
一方と位置が一致する隣接の走査線において第３の状態
ピクセルに変化させる。この第６の機構はまた、現在の
走査線上のラン境界と位置が一致する予め選定されたピ
クセルの公差数を含むピクセルを第３のピクセルに変化
させる。

【００１１】

【実施例】まず図１において、印刷回路板の製造に用い
られるシステム１０を表わす一連のデバイスが概略図で
示される。典型的には、印刷回路板上に形成される回路
は、回路の構成図を含むデータ・ファイルを生成するＣ
ＡＤ／ＣＡＭ装置（ブロック１２）を用いて生成され
る。ブロック１４において、このデータ・ファイルがプ
ログラムに入力されて、印刷回路板に対する物理的レイ
アウトを生成する。データの量は、２つの空間座標
（Ｘ，Ｙ）および黒か白のいずれかのピクセルの状態を
表わす１つの座標により印刷回路板上の各点即ちピクセ
ルが記述されねばならないためかなりの量になる。対応
するデータ・ファイルの大きさは非常に大きなものとな
り、従ってほとんどのシステムはデータの圧縮のため幾
つかの公知の手法の１つを用いることになる。これらの
手法は、上記のＡＴ＆Ｔフォーマットの如き種々のラン
レングス・コード化フォーマットあるいは走査線更新
（ＳＬＵ）フォーマットを含む。従って、このデータ・
ファイルは、印刷回路板の製作に必要な図版を作るため
使用されるフォトプロッタ１６を含む一連の装置へ与え
られる。このフォトプロッタは、典型的にはレーザ直接
イメージ生成装置（ＬＤＩ）である。ＬＤＩは、書込み
プラテンに対して露光レーザ・ビーム走査点を移動し、
入力データにより指令されるようにビームを変調してオ
ン／オフさせる。線が引かれた後、プラテンが約０．０
０１mm（約１ミル）動かされ、次の線が引かれる。この
プロセスは、イメージ全体がフィルム上に露光されるま
で継続する。フルサイズのＰＣＢイメージの場合は、各
々１７，８００ビット、即ち２２２５バイトあるいは１
６ビット・ワードで１１１２．５からなる２４，２００
回の走査が行われる。最後に、ブロック１８において、
公知の装置を用いて印刷回路板が製作される。

【００１２】印刷回路板を欠陥について試験するため、
圧縮されたデータ・ファイルもまた、上記のモデル１８
５０欠陥検出システムの如き印刷回路板欠陥検出システ
ム２０へ送られる。以下本文において詳細に述べるよう
に、このモデル１８５０は、データをラスタ・フォーマ
ットへ圧縮解除して、印刷回路板の完全に欠陥のない基
準イメージを生成する。次いで、このイメージは、検証
（照合）ステーション２２において後で検証することが
できるように欠陥の位置を決定するために、印刷回路板
の走査されたイメージと対比するため使用することがで
きる。

【００１３】図２は、印刷回路板即ちＰＣＢの図版にお
ける欠陥を見出すため使用される本発明により提供され
る欠陥検出システム２４の部分の動作を示す概略図であ
る。本システム２４は、以下に詳細に述べる方法で２状
態（黒、白）ＲＬＥデータから３状態（黒、白、グレ
ー）のＲＬＥデータを有する遷移データベース（ＴＤ
Ｂ）２６を生成するデータ公差査定装置を含む。本発明
は２状態ＲＬＥデータを３状態ＲＬＥデータへ変換する
ことが望ましいが、当業者は、ラスタ・フォーマットに
おける２状態のデータもまたソフトウエアにおける適当
な変更により３状態のラスタ・データベースへ処理でき
ることが判るであろう。

【００１４】印刷回路板におけるパターン部と対応する
圧縮データは、ランレングス・コード化データのＳＬＵ
フォーマットでＣＡＤシステムから与えられる（ブロッ
ク２８）。このデータは次に、望ましくはモデル１８５
０欠陥検出システムの特性であるＧｅｒｂｅｒＳｃｉ
ｅｎｔｉｆｉｃＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔの１６ビット・
フォーマットであることが望ましい１６ビットのＲＬＥ
フォーマットへ変換される。このデータは、ラスタ・フ
ォーマットへ圧縮解除（ｄｅｃｏｍｐｒｅｓｓ）される
（ブロック３２）。大半のコンピュータは、大きなラス
タ・イメージを主メモリーに保持する容量を持たない。
例えば、約０．００５mm（約５ミル）の解像度で約４５
７×６１０mm（１８×２４インチ）のＰＣＢイメージ
は、２００ＭＢ以上のメモリーを要する。その結果、シ
ステムは、以下に述べる方法で走査線のブロックでＲＬ
Ｅイメージをハイブリッド・ラスタ・フォーマットへ変
換する。ここで、走査線の各ブロックについてランのリ
ストおよびラスタ・データのブロックにより記述する。

【００１５】データの公差査定装置は、ブロック３４に
おいて、ハイブリッド・フォーマットＲＬＥデータを受
取り、各印刷回路板のパターン部に予め定めた値の公差
を与えるようこのデータを以下に述べる方法で修正す
る。パターン部の公差は、第３のグレー状態で表わされ
る。この公差データは次に、ＰＣＢの欠陥の検出の際シ
ステム２４により使用されるためにＲＬＥフォーマット
へ公知の方法で再び圧縮される。

【００１６】上記の如く、ＣＡＤシステムにより生成さ
れるデータは、１インチ（約２５．４mm）当たり１６０
０バイトの密度の圧縮形態で業界互換の９トラック位相
符号化方式の磁気テープ上に書込まれる。このデータ・
バイトは、最上位バイトが最初に現れるように標準的な
ＩＢＭフォーマットでテープ上に構成される。全１巻の
磁気テープは、ハードウエア・テープ・マークに適当な
ラベルを付して１つ以上のイメージ・データ・セットを
含む。テープ・ラベルは、ＩＢＭ刊行物「ＯＳ／ＶＳテ
ープ・ラベル」（文書番号ＧＣ２６−３７９５）に詳細
が記される如きＡＮＳＩテープ・ラベル規格の１つのバ
ージョンを使用する。ラベルの各レコードは、７ビット
のＡＳＣＩＩコードで書かれた８０バイトの物理レコー
ドである。各レコードの最初の４バイトは、特定のラベ
ル・レコード・テープの識別子を構成する。５つのテー
プ・ラベル・レコード・タイプ、即ち、ＶＯＬ．１（ボ
リューム見出しラベル）、ＨＤＲ１（ファイル見出し
ラベル・レコード番号１）、ＨＤＲ２（ファイル見出
しレコード番号２）、ＥＯＦ１（ファイル後書きラベ
ル・レコード番号１）、およびＥＯＦ２（ファイル後
書きラベル・レコード番号２）のどれでもよい。

【００１７】データ・セットは、４０９６バイトの長さ
の物理レコードに分けられる。各物理レコードは、論理
レコード境界に拘わらず完全に充填される。従って、論
理レコードは物理レコード境界と重なり得、レコード・
ギャップにより生じるハードウエアの問題を無視するこ
とができる。２つの連続するハードウエア・マークが、
テープ上の最後のＥＯＦ２ラベルに続き、テープの論理
的終端を示す。

【００１８】図３は、上記のテープの論理レコード・フ
ォーマットの概略図である。テープ３８は、イメージ見
出し（ヘッダ）４０、走査線１（４２）、走査線２（４
４）、および走査線Ｎ（４６）を含む幾つかのセクショ
ンからなる。イメージ見出しは、走査当たりのバイト
数、走査線数、任意のオペレータ・メッセージにおける
文字数およびオペレータ・メッセージに関する情報を含
む。走査線１に対応する最初のワード４８は、この特定
の走査線に対する反復走査回数を表わす。２番目の見出
しワード５０は、線１本当たりのラン数の詳細を示す。
周知の如く、１つのランは１つの走査線における同じ状
態の連続する文字（ピクセル）数である。圧縮されたイ
メージ・データ・レコード５２が、検査合計（チェック
サム）トレーラ５４と同様に続く。同じワード形態が残
りの走査線においても使用される。最初の見出しワード
は、走査線の初期のカラー状態（黒／白）、イメージ標
識の終りおよび走査データに対する反復カウントを定義
する。例えば、ビット１４＝１は、その時のイメージの
最後の走査線レコードを表示する。垂直方向圧縮は、重
複走査線を圧縮することにより行われる。ビット０乃至
１３は、このレコードにおける走査線データがイメージ
化される回数のカウントを含み、ここで１つの１は走査
線の１つのコピーが生じるべきことを意味する。典型的
には、２番目の見出しワードが誤り検査のため使用さ
れ、走査線レコードにおける圧縮データ・ワード数のカ
ウントを含む。データベースは、各走査線内の連続カラ
ー・ビットのカウントにより圧縮される。圧縮されたデ
ータ・ワードは、実質的に一連のオン／オフ・カウント
である。各１６ビットのデータ・ワードは、２つの可能
なモードの１つとして解釈される。最初のモードである
モード０は、密ではないイメージ領域においてはオプシ
ョンである。２番目のモードであるモード１は、イメー
ジ領域が密になる即ち輻輳する時に更に有効となる。ビ
ット１５は、それぞれデータ・ワード毎のモードを表示
する。これは、モード０に対しては０、モード１に対し
ては１である。１５ビットのカウントが１７，８００ビ
ットの最大走査幅を越えるため、単色の走査線は１デー
タ・ワードに圧縮することができる。従って、カラーあ
るいは状態の変化がある時のみ、より多くのデータ・ワ
ードが必要となる。モード０においては、変化毎に１デ
ータ・ワードが存在する。

【００１９】最初のカラー状態が走査線のヘッダ上に示
される。モード１においては、２つの７ビット・カウン
タ（ビット８乃至１４）および（ビット０乃至６）が反
対のカラー状態を表わす。モード１は、０より大きいが
１２８より小さい１対の連続カウントが存在する時にの
み使用される。ビット８乃至１４は、常に先行するデー
タ・ワードからの反対色の状態である最初のカウントを
表わす。ビット０乃至６は、第２のカウントを表わし、
常にカウンタ１からの反対色（状態）である。ビット７
は、誤り検査の目的のため使用されるカラー同期ビット
である。これは、カウンタ２が生じるカラーを反映しな
ければならない。ビット７は、カウンタ２のカラー状態
を制御しないが、レーザのイメージ化ハードウエアがデ
ータと同期されることを確認する際に使用される。例え
ば、もし先行するデータ・ワードがモード１であり、か
つあるデータ伝送において誤りビット１５が落ちて誤っ
てモード０を表示したならば、２つのカラー遷移状態で
はなく１つの遷移状態であってカラー状態をして同期を
失わしめる。このことは、ハードウエアのカラー状態が
次のモード１のデータ・ワードのビット７と一致しなか
った時、検出されることになる。データベースがイメー
ジ化される時、誤りメッセージが結果として生じる。ま
た、システム２４の圧縮解除プロセッサへ送られる「遅
さ係数」もまた存在し、これは各走査線が出力に反復さ
れるべき回数を示す。このパラメータはまた、出力デー
タベースにおいて、そのアイドル・パターンにおけるプ
リアンブルに続いてレーザ直接イメージ化（ＬＤＩ）光
学系へ挿入される。

【００２０】望ましい実施態様に関して詳細に示される
圧縮フォーマットは、走査線間の相違および類似点を示
すため使用されるコード群に基いている。各コード・ワ
ードは、１６ビット長であり、コード番号を含む上位の
４ビットでフォーマットされる。下位の１２ビットは、
コードに関連する情報を含む。コードに従って、コード
・ワードに続いて付加的なワードが存在し得る。

【００２１】１６の使用可能なコード番号の内１１がそ
の時定義される。

【００２２】コード番号記事１２進走査線２前の走査線の反復３走査線４全走査線５バイト・ストリング・クリヤ６バイト・ストリングのセット７更新の終り８メッセージ／コメント１１イメージの終り１３軸の設定１４ｙの設定コード１ないし７は実際に使用されて、ＰＣＢのパター
ン部のイメージを表わす。更に、コード８、１１、１３
および１４は、イメージの大きさを定義し、また必要な
コメントを行うために使用される。フルサイズのイメー
ジは、これらのコードを使用してだけ表現される。各コ
ードと関連するワード・グループのより詳細な記述は、
「Ｍｏｄｅｌ５８８ＡＴ＆ＴＴａｐｅＦｏｒｍ
ａｔＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｆｏｒｔｈｅ
ＬＤＩ１５００ＬａｓｅｒＰｌｏｔｔｅｒ」なる
ＧｅｒｂｅｒＳｃｉｅｎｔｉｆｉｃＩｎｓｔｒｕｍ
ｅｎｔ社文献に見出すことができる。

【００２３】ＡＴ＆ＴのＳＬＵテープにおける２つのコ
ードが、前の走査線における個々のビットを変更して次
の走査線を生成する。「５」のコードが、与えられたア
ドレスで始まるビットをクリヤする。「６」のコードが
これらのビットをセットする。これらのコードは、２つ
の方法で実現することができる。その第１は、変更され
たビットのみがコード化されることを前提とする。
「１」のビットが０にセットされ、「０」のビットが１
にセットされる。これは、実質的には反転プロセスであ
り、従って２つではなく唯１つのコード化を必要とす
る。これらのコードを実現する他の方法は、変更を伴う
ランレングス・コード化ビット・ストリングと見做すこ
とができる。もし１つのビット・ストリングの終りに状
態の変更が生じるならば、このストリングの全長がコー
ド化される。この変化は、ストリングの両端に変化が生
じるならば、より良好な圧縮のため２つの代わりに１つ
のコードの使用を結果としてもたらし得る。

【００２４】次に図４においては、印刷回路板上のデバ
イスを表わすＰＣＢ図版のパターン部５５の一部の平面
図が示される。走査線５６、５７、５８、５９および６
０が、ＰＣＢの図版上に書込まれることになる。各走査
線は、ピクセルの線形列からなる。走査線５６はパター
ン部６１の外側にあり、従って、図中の全ての「クリ
ヤ」ピクセルあるいはデータベース・イメージにおける
「白」のピクセルを有する。走査線５７〜５９は、ＰＣ
Ｂのパターン部を含み、各々が白のピクセル６４のラン
が続く「黒」のピクセル６３のランが後に続いた白のピ
クセル６２のランを有する。走査線６０は、ＰＣＢのパ
ターン部６０の外側にあるため、全ての白のピクセルか
らなっている。走査線５６および６０は、白の唯１つの
ランからなるものと考えることができるが、走査線５７
〜５９はそれぞれ３つのラン、即ち１つの白の後に１つ
の黒が続きその後１つの白が続くものと考えることがで
きる。

【００２５】上記の如く、本発明は、基準データベース
におけるＰＣＢの図版のパターン部がそれに対する寸法
的な公差を含むように修正される遷移データベースを提
供するものである。システム２４においては、全体的に
内側／外側のパターン部の公差の大きさが予め定義され
る。３つの状態、即ちシステム２４による出力として生
じるランレングス・コード化イメージ・データは、オン
／オフ／無定義ピクセル、あるいは例示の目的のため用
いられる黒／白／グレーの表示を特徴とする。

【００２６】図５は、本発明による処理の後の図４に示
すＰＣＢパターン部を含む。黒のピクセルは、パターン
が現れねばならないイメージ領域を表わし、白のパター
ンはパターンが現れてはならないイメージ領域を表わ
す。グレーのピクセルは、パターン（黒のピクセル）の
存否が重要でないイメージ領域を表わす。これらの「グ
レー」のピクセルは、パターンの縁部に起生し、内側／
外側の公差あるいは受入れ得るパターンの変形を表わ
す。図５においては、領域６５が現れねばならないパタ
ーン部の問題の部分と対応する。領域６６はこのパター
ン部の見かけの領域であるが、領域６７はパターン部が
持ち得る最大領域を表わす。

【００２７】上記の如く、イメージは走査線ブロック内
で処理され、図６および図７は１つのブロックの処理を
表わす。当業者は、ブロック間の境界に特別の注意を払
わねばならないこと、およびこれら境界条件が周知の方
法で取扱われることが判るであろう。

【００２８】図６は、ハイブリッド・ラスタ・データベ
ースを生成する際システム２４により使用されるアルゴ
リズム６８の概略図である。図６乃至図９において使用
される略語のまとめを以下に示す。

【００２９】前の終り：前の線におけるランの終了ピク
セル＃現在（その時）の終り：現在（その時処理中の）の線の
ランの終了ピクセル＃前のスタート：前の（現在の前の）線におけるランの開
始ピクセル＃現在（その時）のスタート：現在の線のランの開始ピク
セル＃前の状態：前の線におけるランの状態現在（その時）の状態：現在の線におけるランの状態最後のピクセル：走査線における最後のピクセルラン数：走査線におけるランの＃現在（その時）のピクセル：走査線における現在のピク
セル＃現在（その時）の状態：現在の状態（黒または白）ランの初め：現在のランに対する開始ピクセル＃ランの終り：現在のランに対する終了ピクセル＃ランの状態：現在のランに対する状態アルゴリズム６８は、ＲＬＥフォーマットのデータ・フ
ァイルの各走査線毎のラスタ・フォーマットランのリス
トへの変換の概要を示す。各ランは、開始ピクセル番
号、終了ピクセル番号および状態即ちカラーを有する。
ブロック６９において、アルゴリズムがそのブロックに
対する全ての走査線が入力されたかどうかを判定する。
もし全ての走査線が入力されたならば、システムはブロ
ック７０でこのアルゴリズムから抜ける。もしそうでな
ければ、走査線の見出しワード番号１がブロック７１で
読出される。その時のピクセル状態は、ブロック７２に
おけるワード番号１から決定される。その時のピクセル
は、ブロック７４においてゼロにセットされ、ランの番
号はブロック７６においてゼロにセットされる。ワード
番号２に対する走査線の見出しは、走査線におけるラン
を記述するワード番号を判定するため読出される（ブロ
ック７８）。

【００３０】ブロック８０において、アルゴリズム６８
が、走査線に対するワード番号が全て読出されたかどう
かを判定する。もしそうであれば、プログラムはブロッ
ク６９へ戻る。もしそうでなければ、次のワードが読出
される（ブロック８２）。ブロック８４において、ワー
ドが長いモードであるかどうかが決定される。もしそう
であれば、制御ランにおけるピクセルの番号が最初のワ
ードの０乃至１４ビットから決定される（ブロック８
６）。ブロック８８において、その時のランに対する開
始ピクセルが、走査線上のその時のピクセルにセットさ
れる。ブロック９０において、その時のランに対する終
了ピクセル番号が、その時のピクセル番号、プラス、ラ
ンにおけるピクセル番号、マイナス１に等しくセットさ
れる。ブロック９２において、その時のランに対する状
態は、その時の状態、即ち黒あるいは白に等しくセット
される。次に、ブロック９４において、本アルゴリズム
は、走査線上のラン番号をラン番号、プラス１に等しく
セットし、ブロック９６において走査線上のその時のピ
クセル番号がその時のピクセル番号、プラスその時のラ
ンに対するピクセル番号に等しくセットされる。

【００３１】ブロック８０において、ワードが長いモー
ドでなければ、アルゴリズム６８はブロック９８にエン
トリし、ワードのビット８乃至１４のその時のランにお
けるピクセル番号を取得し、その時のランに対する開始
ピクセル番号を前記走査線上のその時のピクセル番号に
等しくセットする（ブロック１００）。アルゴリズム
は、その時のランに対する終了ピクセル番号を、その時
のピクセル番号、プラス、ランにおけるピクセル番号、
マイナス１に等しくセットする（ブロック１０２）。次
に、ブロック１０４において、その時のランに対する状
態は、その時の状態の反対に等しくセットされる、即ち
プログラムが状態を「トグル」する。次いで、走査線上
のラン番号は、走査線上のラン番号、プラス１に等しく
セットされ（ブロック１０６）、走査線上のその時のピ
クセル番号はその時のピクセル番号、プラスその時のラ
ンに対するピクセル番号に等しくセットされる（ブロッ
ク１０８）。

【００３２】アルゴリズム６８は、ブロック１１０で継
続し、ワードのビット０乃至７のその時のランに対する
ピクセル番号をブロック１１２で取得し、その時のラン
に対する開始ピクセル番号をその時のピクセル番号に等
しくセットする。その時のランに対する終了ピクセル番
号は、その時のピクセル番号、プラス、ランにおけるピ
クセル番号、マイナス１に等しくセットされる（ブロッ
ク１１４）。アルゴリズムは、その時のランに対する状
態をその時の状態の反対に等しくセットすることによ
り、その時の状態をトグルする（ブロック１１６）。次
いで、このアルゴリズムは、走査線上のラン番号をラン
番号、プラス１に等しくセットし（ブロック１１８）、
走査線上のその時のピクセル番号を、その時のピクセル
番号、プラスその時のランに対するピクセル番号に等し
くセットする（ブロック１２０）。

【００３３】当業者は、図６に示した如きアルゴリズム
６８がシステム２４において同時に実行するある処理を
省略することが判るであろう。走査線に対するランのリ
ストに入れると共に、本アルゴリズムはまた、走査線に
対するラスタ・リストを埋めて各ピクセル毎の状態を表
示する。上記の如く、イメージの処理は走査線のブロッ
クにおいてアルゴリズム６８により行われる。走査線の
見出しワード番号１は、走査線が反復される回数を指定
する。その結果、もし走査線が５回反復されねばならな
いとすれば、ラン・リストおよびラスタ・リストが５回
コピーされる。ブロック内の各走査線毎にラン・リスト
およびラスタ・リストに入れた後、これらリストは以下
に詳細に述べる別のアルゴリズムに対する入力として使
用される。

【００３４】次に図７において、本発明による３状態の
ラスタ・イメージの生成の際システム２４により使用さ
れるアルゴリズム１２２が示される。要約すれば、アル
ゴリズム１２２は、２つの走査線即ちその時（現在処理
中）の走査線およびその前の走査線に沿って指標付けを
行い、状態の遷移がその時の走査線において検出される
とき垂直方向に隣接するランの状態を比較する。その時
の走査線における状態の遷移は、水平方向におけるパタ
ーン部の初めまたは終りを表わす。隣接する走査線にお
けるラン間の状態の遷移は、垂直方向におけるパターン
部の初めまたは終りを表わす。本アルゴリズムは、その
時の走査線におけるパターン部の初めおよび終りに隣接
する選択された数のピクセルのピクセル状態を変化させ
る。隣接する垂直方向のランの比較により、本アルゴリ
ズムはまた、図４に示されるように、元のパターン部の
内側および外側の両方の多数の走査線に沿ってピクセル
のカラー即ち状態を変更する。

【００３５】上記の如く、ハイブリッド・ラスタ・イメ
ージは、ＲＬＥフォーマット形式の走査線データから形
成される連続する複数の走査線からなっている。望まし
い実施態様においては、図７のアルゴリズム１２２は、
垂直方向に隣接する走査線とその時の走査線上の隣接す
るピクセル間でピクセル単位の比較は行わない。むし
ろ、同じ状態の「ラン」の終りと対応するその時あるい
は前の走査線におけるピクセルの位置（即ちその番号）
間で比較が行われる。このランの比較は、連続的ピクセ
ル比較よりも著しく効率的である。

【００３６】アルゴリズム１２２は、ブロック１２４に
おいて、２つの隣接する走査線と対応する信号を受取
る。これらの走査線は、図６に関して概要が示されたア
ルゴリズムに従って生成されたものである。１つの最初
の走査線において、本アルゴリズムが初期化プロセスの
部分として比較されるべき最初の走査線に対して全て白
のピクセルの「線０」を提供する。ブロック１２５にお
いて、本アルゴリズムは、このブロックにおいて走査線
の処理が完了したかどうかを判定する。もしそうであれ
ば、このアルゴリズムはブロック２７で終了する。もし
そうでなければ、本アルゴリズムは、図８に関して以下
において詳細に述べるアルゴリズムへ進む。ブロック１
２６において、このアルゴリズムは、前の走査線上のラ
ンの終了ピクセル番号をその時の走査線上のランの終了
ピクセル番号と比較する。

【００３７】もし前の走査線上のランの終了ピクセル番
号がその時の走査線上のランの終了ピクセル番号より大
きければ、アルゴリズムがその時および前の走査線上の
隣接するランの状態を調べる（ブロック１２８）。もし
これらが同じものであれば、アルゴリズムはブロック１
３０へ進み、前の走査線上のランの終了ピクセル番号を
その時の走査線上のランの終了ピクセル番号、プラス１
に等しくセットする。ブロック１３２において、アルゴ
リズムは、その時の走査線上の次のランへ進み、その後
図８に関して以下に詳細に述べる別のアルゴリズムへ進
む。ブロック１２８の前に否定の判定に到達していたな
らば、アルゴリズムは図９に関して以下に詳細に述べる
アルゴリズムへ進むる（ブロック１３６）。

【００３８】もし前の走査線上のランの終了ピクセル番
号がブロック１３８で判定される如きその時の走査線上
のランの終了ピクセル番号より小さければ、アルゴリズ
ムはその時の走査線上のランの状態と比較される如き前
の走査線上のランの状態を調べることになる（ブロック
１４０）。もし状態が等しければ、アルゴリズムは、ブ
ロック１４２において、その時の走査線上のランの開始
ピクセル番号を前の走査線上のランの終了ピクセル番
号、プラス１に等しくセットする。ブロック１４４にお
いて、アルゴリズムは前の走査線上の次のランへ進む。
しかし、ブロック１４０において否定の判定に達するな
らば、アルゴリズムは図９に関して以下に詳細に述べる
アルゴリズムへ進むことになる（ブロック１４６）。

【００３９】もしブロック１３８において否定の判定に
達したならば、アルゴリズムはブロック１４８におい
て、前の走査線上のランの状態がその時の走査線上のラ
ンの状態と等しいかどうかを判定する。もしそうであれ
ば、アルゴリズムは、ブロック１５０において、前の走
査線上のランの終了ピクセルが走査線の最後のピクセル
と一致するかどうかを判定する。もしそうであれば、ア
ルゴリズムは図８に関して以下に詳細に述べるアルゴリ
ズムを実行し（ブロック１５２）、次の走査線へ進む
（ブロック１５４）。もし走査線の終りに達しなけれ
ば、アルゴリズムは、ブロック１５６において、前およ
びその時の走査線上の次のランへ進み、図８に関して以
下に詳細に述べるアルゴリズムへ進む（ブロック１５
７）。もしブロック１４８において前の走査線上のラン
の状態がその時のランの状態に等しくなければ、アルゴ
リズムは図８に関して以下に詳細に述べるアルゴリズム
へ進む（ブロック１５８）。

【００４０】本発明は、略々見かけのパターン部の大き
さだけ隔てられた内側および外側のパターン部の両公差
をもたらすものである。本発明の望ましい実施態様にお
いて用いられる、図８および図９に関して詳細に述べる
アルゴリズムは、それぞれ、水平（走査線を横切る）お
よび垂直（走査線に接する）方向においてこれらのパタ
ーン部の公差を提供するため使用される。ピクセルの予
め定めた番号は、パターン部の公差となるように決定さ
れる。次に図８においては、本発明により提供されるシ
ステム２４により使用されるアルゴリズム１５８が示さ
れる。このアルゴリズム１５８は、図７に関して以下に
詳細に述べるアルゴリズム１２２においてシステムによ
り行われた判定に従ってアクセスされる。

【００４１】ブロック１６０において、その時のランの
状態が決定される。もしこの状態が黒であるならば、ア
ルゴリズムは、ブロック１６２において、開始プラス、
前に選択された公差の値と対応するピクセル番号より１
小さい部分をグレー・ピクセルにセットする。ブロック
１６４において、次に本アルゴリズムは、開始ピクセル
番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス１を
グレー・ピクセルにセットする。ブロック１６２および
１６４において実行されるステップは、それぞれパター
ン部の初めにおいて内側および外側のパターン部の公差
を確立する。

【００４２】しかし、もしランの状態が黒であると判定
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック１６６
において、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピ
クセル番号マイナス１までをグレー・ピクセルにセット
することになる。ブロック１６８において、アルゴリズ
ムは、開始ピクセルから開始ピクセルプラス公差値マイ
ナス１をグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロ
ック１６６および１６８のアルゴリズムにより実行され
るステップは、それぞれパターン部の終りに対する内側
および外側のパターン部の公差を確立する。

【００４３】図９は、垂直即ち隣接する走査線方向にパ
ターン部公差を確立するためシステム２４により実行さ
れるアルゴリズム１７０の概略図である。上記の如く、
各走査線は関連する走査線番号を有する。アルゴリズム
１７０は、図７に関して先に詳細に述べたアルゴリズム
１２２のシステムによる判定に従ってアクセスされる。
ブロック１７２において、その時の走査線上のランの状
態が判定される。もしこの状態が黒ならば、アルゴリズ
ムは、ブロック１７４において、その時の走査線、およ
びその走査線番号がその時の走査線番号プラス公差値マ
イナス１に等しい走査線に対してその時のランの開始、
マイナス公差値からその時のランの終りプラス公差値ま
でをグレー・ピクセルにセットする。ブロック１７６に
おいて、アルゴリズムは次に、その時の走査線マイナス
公差値から始まり、その時の走査線番号、マイナス１に
対して、その時のランの開始、マイナス公差値からその
時のランの終りプラス公差値までをグレー・ピクセルに
セットする。ブロック１７４、１７６において実行され
るステップは、それぞれパターン部の初めにおいて内側
および外側の垂直のパターン部公差を確立する。

【００４４】しかし、もしランの状態が黒であると判定
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック１７８
において、その時の走査線マイナス公差値からその時の
走査線マイナス１に対して、その時のランの開始、マイ
ナス公差値からその時のランの終りプラス公差値までを
グレー・ピクセルに、セットすることになる。ブロック
１８０においては、アルゴリズムは、その時の走査線プ
ラス公差値、マイナス１に対して、その時のランの初
め、マイナス公差値からその時のランの終りプラス公差
値までをグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロ
ック１７８および１８０においてアルゴリズムにより実
行されるステップは、それぞれパターン部の終りに対す
る内側および外側のパターン部の公差を確立する。当業
者は、図７および図８に関して本文に詳細に述べたアル
ゴリズムが図４に示した如きパターン部に適用されるこ
とが判るであろう。

【００４５】同様に、本発明はその望ましい実施態様に
関して説明したが、当業者は、本発明の趣旨および範囲
から逸脱することなく他の種々の変更、省略および付加
が可能であることを理解すべきである。

【図面の簡単な説明】

【図１】印刷回路板の製造において使用される幾つかの
デバイスを示す概略図である。

【図２】本発明により提供される装置を含む印刷回路板
の欠陥検出システムを示す概略図である。

【図３】図２のシステムにおいて使用される圧縮された
データ・レコードに対する論理レコード・フォーマット
を示す概略図である。

【図４】同色のピクセルランとして表わされるＰＣＢ回
路パターン部を有する一連の走査線の概略図である。

【図５】内側および外側公差を特徴とする本発明により
提供されるＰＣＢパターン部のイメージの図である。

【図６】圧縮走査線データ信号を受取りこの信号をハイ
ブリッド・ラスタ・フォーマットへ変換するため図２の
装置により使用されるアルゴリズムを示す概略図であ
る。

【図７】個々のＰＣＢパターン部の公差を有する３状態
ラスタ・イメージを生成するため図２の装置により使用
されるアルゴリズムを示す概略図である。

【図８】その時の走査線と交差するＰＣＢパターン部に
対する公差を生成する際図７のアルゴリズムによりアク
セスされるアルゴリズムの概略図である。

【図９】その時の走査線に隣接する走査線におけるＰＣ
Ｂパターン部公差を生成する際図７のアルゴリズムによ
りアクセスされるアルゴリズムの概略図である。

【符号の説明】

１０印刷回路板製造システム１２ＣＡＤ／ＣＡＭ装置１４物理的レイアウト・プログラム１６フォトプロッタ１８印刷回路板の製作２０印刷回路板欠陥検出システム２２検証ステーション２４欠陥検出システム２６遷移データベース（ＴＤＢ）２８走査線の更新（ＳＬＵ）３０ランレングス・コード化（ＲＬＥ）フォーマット３２ラスタ・フォーマット圧縮解除３４パターン部公差値加算３６ＲＬＥフォーマット変換５５印刷回路板（ＰＣＢ）図版のパターン部５６、５７、５８、５９、６０走査線６１パターン部の外側６２白のピクセルのラン６３黒のピクセルのラン６４白のピクセルのラン６５、６６、６７領域６８アルゴリズム

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】製造された印刷回路板（ＰＣＢ）の検査
において使用され、ＰＣＢの回路パターンのイメージを
表わす２状態データベースから３状態遷移データベース
を生成する装置（２６）であって、該イメージが連続す
る複数の走査線に配列された第１の状態（６３）または
第２の状態（６２）のいずれか一方を有するピクセル列
からなり、該第１の状態のピクセルが前記ＰＣＢの回路
パターン部と対応し、前記走査線の各々が少なくとも１
つの同じ状態のピクセルランからなり、現在（５７）お
よび前（５６）の走査線と対応する信号を受取る第１の
手段と、前記現在の走査線（５７）における第１のラン
（６２）の終りのピクセルと第２のラン（６３）の初め
におけるピクセルとにより形成される現在ラン境界を識
別する第２の手段と、前記第１及び第２のランの状態を
判定する第３の手段とを含む装置において、前記現在ラ
ン境界と位置が一致する前記前の走査線（５６）におけ
るピクセルの状態を判定する第４の手段と、前記第１お
よび第２のランにおける前記ラン境界周囲の予め定めた
公差数のピクセルの状態を第３の状態（６６）へ変更す
る第５の手段と、前記現在ラン境界のピクセルの１つと
位置が一致する前記前の走査線のピクセルが異なる状態
にあるならば、第１の状態のピクセルからなる前記第１
または第２のランと位置が一致する隣接する走査線にお
けるピクセルを前記第３の状態（６６）に変更する第６
の手段と、を設け、前記第６の手段が更に、前記現在ラ
ン境界と位置が一致する予め定めた公差数のピクセルを
含むピクセルを前記第３の状態（６６）に変更すること
を特徴とする、３状態データベース生成装置。
【請求項２】製造された印刷回路板（ＰＣＢ）の検査
において使用され、ＰＣＢの回路パターンのイメージを
表わす２状態データベースから３状態遷移データベース
を生成する方法であって、該イメージが連続する複数の
走査線（５６、５７、５８）に配列された第１の状態
（６３）または第２の状態（６２）のいずれか一方を有
するピクセル列からなり、該第１の状態のピクセルが前
記ＰＣＢの回路パターン部と対応し、前記走査線の各々
が少なくとも１つの同じ状態のピクセルランからなり、
現在（５７）および前（５６）の走査線と対応する信号
を受取るステップと、前記現在の走査線（５７）におけ
る第１のラン（６２）の終りのピクセルと第２のラン
（６３）の初めにおけるピクセルとにより形成される現
在ラン境界を識別するステップと、前記第１及び第２の
ランの状態を判定するステップとを含む方法において、
前記現在ラン境界と位置が一致する前記前の走査線（５
６）におけるピクセルの状態を判定するステップと、前
記第１および第２のランにおける前記ラン境界周囲の予
め定めた公差数のピクセルの状態を第３の状態（６６）
へ変更するステップと、前記現在ラン境界のピクセルの
１つと位置が一致する前記前の走査線（５６）のピクセ
ルが異なる状態にあるならば、第１の状態のピクセルか
らなる前記第１または第２のランと位置が一致する隣接
する走査線（５６、５８）におけるピクセルを前記第３
の状態（６６）に変更するステップと、更に、前記現在
ラン境界と位置が一致する予め定めた公差数のピクセル
を含むピクセルを前記第３の状態（６６）に変更するス
テップと、を含むことを特徴とする方法。
【請求項３】印刷回路板（ＰＣＢ）のイメージと対応
する信号を有し、第１の状態（６３）または第２の状態
（６２）のいずれか一方であるピクセル列からなる複数
の走査線（５６、５７、５８）を含むランレングス・コ
ード化されたラスタ・ハイブリッド・フォーマットのデ
ータベースを受取り、回路パターン部（５５）を有する
ＰＣＢにおける欠陥を検出する際使用される３状態の遷
移データベース（ＴＤＢ）を生成するシステム（２０）
であって、前記走査線が走査線番号を有するとともに少
なくとも１つの同じ状態のピクセルのランを有するシス
テムにおいて、２つの隣接する走査線である、前の走査
線（５６）および現在の走査線（５７）と対応する信号
を受取り（１２５）、前の走査線上の第１のランの終了
ピクセル番号を現在の走査線上の第１のランの終了ピク
セル番号と比較し（１２６）、前の走査線上のランの終
了ピクセル番号が現在の走査線（５７）上のランの終了
ピクセル番号より大きければ、現在の走査線（５７）お
よび前の走査線（５６）上の隣接するランの状態を調べ
（１２８）、これら終了ピクセル番号が同じであれば、
前の走査線（５６）上のランの開始ピクセル番号を現在
の走査線上のランの終了ピクセル番号プラス１に等しく
セットし（１３０）、現在の走査線上の次のランへ進み
（１３２）、その後、現在の走査線のランの状態を判定
し（１３４）、この状態が前記第１状態であれば（１６
０）、開始ピクセル番号から開始ピクセル番号プラス公
差値より１小さい番号までの現在の走査線のピクセルを
第３の状態にセットし（１６２）、前記開始ピクセル番
号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス１まで
の現在の走査線のピクセルを第３の状態にセットし（１
６４）、状態が第２状態ならば、開始ピクセル番号マイ
ナス公差値から開始ピクセル番号マイナス１までの現在
の走査線のピクセルを第３の状態にセットし（１６
６）、開始ピクセル番号から開始ピクセル番号プラス公
差値マイナス１までの現在の走査線のピクセルを第３の
状態にセットし（１６８）、現在および前の走査線上の
隣接するランの状態が同じでなければ（１３６）、現在
のランの状態を判定し（１７２）、この状態が第１状態
ならば、現在の走査線に対して、および現在の走査線番
号プラス公差値マイナス１に等しい走査線数を有する走
査線に対して、現在のランの開始マイナス公差値から現
在のランの終りプラス公差値までの現在の走査線のピク
セルを第３の状態にセットし（１７４）、現在の走査線
番号マイナス公差値から現在の走査線番号マイナス１ま
での走査線において、現在のランの初めマイナス公差値
から現在のランの終りプラス公差値までを第３の状態の
ピクセルにセットし（１７６）、現在の状態が第２状態
ならば、現在の走査線マイナス公差値から現在のランマ
イナス１までの走査線に対して、現在のランの初めマイ
ナス公差値から現在のランの終りプラス公差値までを第
３の状態のピクセルにセットし（１７８）、現在の状態
が第１状態と判定されなかった場合、現在の走査線から
現在の走査線プラス公差値マイナス１までの走査線にお
いて、現在のランの初めマイナス公差値から現在のラン
の終りプラス公差値までを第３の状態のピクセルにセッ
トし（１８０）、前の走査線上のランの終了ピクセル番
号が現在の走査線上のランの終了ピクセル番号より小さ
ければ（１３８）、前の走査線上のラン状態を現在の走
査線上のランの状態と比較し（１４０）、この状態が同
じならば、現在の走査線上のランの開始ピクセル番号を
前の走査線上のランの終了ピクセル番号プラス１に等し
くセットし（１４２）、前の走査線上の次のランへ進み
（１４４）、該状態が同じでなければ、現在のランの状
態を判定し（１７２）、該状態が第１状態ならば、現在
の走査線で始まりかつ現在の走査線番号、プラス公差値
マイナス１と等しい走査線番号を有する走査線に対し
て、現在のランの初めマイナス公差値から現在のランの
終りプラス公差値までを第３の状態のピクセルにセット
し（１７４）、現在の走査線マイナス公差値から現在の
走査線マイナス１までの走査線において、現在のランの
初めマイナス公差値から現在のランの終りプラス公差値
までを第３の状態のピクセルにセットし（１７６）、該
状態が第２状態ならば、現在の走査線マイナス公差値か
ら現在の走査線マイナス１の走査線において、現在のラ
ンの初めマイナス公差値から現在のランの終りプラス公
差値までを第３の状態のピクセルにセットし（１７
８）、現在のランの状態が第１状態と判定されなかった
ならば、現在の走査線で始まり、現在の走査線プラス公
差値マイナス１までの走査線において、現在のランの初
めマイナス公差値から現在のランの終りプラス公差値ま
でを第３の状態のピクセルにセットし（１８０）、前の
走査線におけるランの終了ピクセル番号が現在の走査線
におけるランの終了ピクセル番号より小さくなければ
（１４８）、前の走査線におけるランの状態を現在の走
査線におけるランの状態と比較し、前記状態が同じなら
ば、前の走査線上のランの終了ピクセルが現在の走査線
の最後のピクセルと一致するかどうかを判定し（１５
０）、また前記現在のランの終了ピクセルが前記最後の
現在の走査線ピクセルであるならば（１５２）、現在の
ランの状態を判定し（１６０）、もしこの状態が第１状
態ならば、初めプラス公差値より１小さい部分からを第
３の状態のピクセルにセットし（１６２）、開始ピクセ
ル番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス１
までを第３の状態のピクセルにセットし（１６４）、こ
の状態が第２状態ならば、開始ピクセル番号マイナス公
差値から開始ピクセル番号マイナス１までを第３の状態
のピクセルにセットし（１６６）、開始ピクセルから開
始ピクセルプラス公差値マイナス１までを第３の状態の
ピクセルにセットし（１６８）、次の走査線へ進み（１
５４）、前の走査線上のランの状態が現在のランの状態
と等しくなければ（１５８）、現在のランの状態を判定
し（１７２）、この状態が第１状態ならば、現在の走査
線で始まりかつ現在の走査線番号プラス公差値マイナス
１に等しい走査線番号を有する走査線に対して、現在の
ランの初めマイナス公差値から現在のランの終りプラス
公差値までを第３の状態のピクセルにセットし（１７
４）、現在の走査線番号マイナス公差値から現在の走査
線マイナス１までの走査線において、現在のランの初め
マイナス公差値から現在のランの終りプラス公差値まで
を第３の状態のピクセルにセットし（１７６）、この状
態が第２状態ならば、現在の走査線マイナス公差値から
現在の走査線マイナス１までの走査線において、現在の
ランの初めマイナス公差値から現在のランの終りプラス
公差値までを第３の状態のピクセルにセットし（１７
８）、現在のランの状態が第１状態であると判定されな
かったならば、現在の走査線で始まり、現在の走査線プ
ラス公差値マイナス１の走査線において、現在のランの
初めマイナス公差値から、現在のランの終りプラス公差
値までを第３の状態のピクセルにセットし（１８０）、
前の走査線の終了ピクセル番号が前記最後の走査線のピ
クセル番号と等しくなければ、前および現在の走査線上
の次のランへ進み（１５６）、現在のランの状態を判定
し（１５７）、この状態が第１状態ならば、初めプラス
公差値より１小さい部分からを第３の状態のピクセルに
セットし（１６２）、開始ピクセル番号マイナス公差値
から開始ピクセル番号マイナス１までを第３の状態のピ
クセルにセットし（１６４）、状態が第２状態ならば、
開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピクセル番号
マイナス１までを第３の状態のピクセルにセットし（１
６６）、開始ピクセルから開始ピクセルプラス公差値マ
イナス１までを第３の状態のピクセルへセットし（１６
８）、次の隣接する走査線と対応する信号を受取る（１
５４）、ことを特徴とするシステム。
【請求項４】印刷回路板（ＰＣＢ）のイメージと対応
する信号を有し、第１の状態（６３）または第２の状態
（６２）のいずれか一方であるピクセル列からなる複数
の走査線（５６、５７、５８）を含むランレングス・コ
ード化されたラスタ・ハイブリッド・フォーマット形式
のデータベースを受取り、回路パターン部（５５）を有
するＰＣＢにおける欠陥を検出するシステム（２０）に
使用される方法であって、前記走査線は少なくとも１つ
の同じ状態のピクセルのランを有する方法において、２
つの隣接する走査線である、前の走査線（５６）および
現在の走査線（５７）と対応する信号を受取り（１２
５）、前の走査線上の第１のランの終了ピクセル番号を
現在の走査線上の第１のランの終了ピクセル番号と比較
し（１２６）、前の走査線上のランの終了ピクセル番号
が現在の走査線（５７）上のランの終了ピクセル番号よ
り大きければ、現在の走査線（５７）および前の走査線
（５６）上の隣接するランの状態を調べ（１２８）、こ
れら終了ピクセル番号が同じであれば、前の走査線（５
６）上のランの開始ピクセル番号を現在の走査線上のラ
ンの終了ピクセル番号プラス１に等しくセットし（１３
０）、現在の走査線上の次のランへ進み（１３２）、そ
の後、現在の走査線のランの状態を判定し（１３４）、
この状態が前記第１状態であれば（１６０）、開始ピク
セル番号から開始ピクセル番号プラス公差値より１小さ
い番号までの現在の走査線のピクセルを第３の状態にセ
ットし（１６２）、前記開始ピクセル番号マイナス公差
値から開始ピクセル番号マイナス１までの現在の走査線
のピクセルを第３の状態にセットし（１６４）、状態が
第２状態ならば、開始ピクセル番号マイナス公差値から
開始ピクセル番号マイナス１までの現在の走査線のピク
セルを第３の状態にセットし（１６６）、開始ピクセル
番号から開始ピクセル番号プラス公差値マイナス１まで
の現在の走査線のピクセルを第３の状態にセットし（１
６８）、現在および前の走査線上の隣接するランの状態
が同じでなければ（１３６）、現在のランの状態を判定
し（１７２）、この状態が第１状態ならば、現在の走査
線に対して、および現在の走査線番号プラス公差値マイ
ナス１に等しい走査線数を有する走査線に対して、現在
のランの開始マイナス公差値から現在のランの終りプラ
ス公差値までの現在の走査線のピクセルを第３の状態に
セットし（１７４）、現在の走査線番号マイナス公差値
から現在の走査線番号マイナス１までの走査線におい
て、現在のランの初めマイナス公差値から現在のランの
終りプラス公差値までを第３の状態のピクセルにセット
し（１７６）、現在の状態が第２状態ならば、現在の走
査線マイナス公差値から現在のランマイナス１までの走
査線に対して、現在のランの初めマイナス公差値から現
在のランの終りプラス公差値までを第３の状態のピクセ
ルにセットし（１７８）、現在の状態が第１状態と判定
されなかった場合、現在の走査線から現在の走査線プラ
ス公差値マイナス１までの走査線において、現在のラン
の初めマイナス公差値から現在のランの終りプラス公差
値までを第３の状態のピクセルにセットし（１８０）、
前の走査線上のランの終了ピクセル番号が現在の走査線
上のランの終了ピクセル番号より小さければ（１３
８）、前の走査線上のラン状態を現在の走査線上のラン
の状態と比較し（１４０）、この状態が同じならば、現
在の走査線上のランの開始ピクセル番号を前の走査線上
のランの終了ピクセル番号プラス１に等しくセットし
（１４２）、前の走査線上の次のランへ進み（１４
４）、該状態が同じでなければ、現在のランの状態を判
定し（１７２）、該状態が第１状態ならば、現在の走査
線で始まりかつ現在の走査線番号、プラス公差値マイナ
ス１と等しい走査線番号を有する走査線に対して、現在
のランの初めマイナス公差値から現在のランの終りプラ
ス公差値までを第３の状態のピクセルにセットし（１７
４）、現在の走査線マイナス公差値から現在の走査線マ
イナス１までの走査線において、現在のランの初めマイ
ナス公差値から現在のランの終りプラス公差値までを第
３の状態のピクセルにセットし（１７６）、該状態が第
２状態ならば、現在の走査線マイナス公差値から現在の
走査線マイナス１の走査線において、現在のランの初め
マイナス公差値から現在のランの終りプラス公差値まで
を第３の状態のピクセルにセットし（１７８）、現在の
ランの状態が第１状態と判定されなかったならば、現在
の走査線で始まり、現在の走査線プラス公差値マイナス
１までの走査線において、現在のランの初めマイナス公
差値から現在のランの終りプラス公差値までを第３の状
態のピクセルにセットし（１８０）、前の走査線におけ
るランの終了ピクセル番号が現在の走査線におけるラン
の終了ピクセル番号より小さくなければ（１４８）、前
の走査線におけるランの状態を現在の走査線におけるラ
ンの状態と比較し、前記状態が同じならば、前の走査線
上のランの終了ピクセルが現在の走査線の最後のピクセ
ルと一致するかどうかを判定し（１５０）、また前記現
在のランの終了ピクセルが前記最後の現在の走査線ピク
セルであるならば（１５２）、現在のランの状態を判定
し（１６０）、もしこの状態が第１状態ならば、初めプ
ラス公差値より１小さい部分からを第３の状態のピクセ
ルにセットし（１６２）、開始ピクセル番号マイナス公
差値から開始ピクセル番号マイナス１までを第３の状態
のピクセルにセットし（１６４）、この状態が第２状態
ならば、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピク
セル番号マイナス１までを第３の状態のピクセルにセッ
トし（１６６）、開始ピクセルから開始ピクセルプラス
公差値マイナス１までを第３の状態のピクセルにセット
し（１６８）、次の走査線へ進み（１５４）、前の走査
線上のランの状態が現在のランの状態と等しくなければ
（１５８）、現在のランの状態を判定し（１７２）、こ
の状態が第１状態ならば、現在の走査線で始まりかつ現
在の走査線番号プラス公差値マイナス１に等しい走査線
番号を有する走査線に対して、現在のランの初めマイナ
ス公差値から現在のランの終りプラス公差値までを第３
の状態のピクセルにセットし（１７４）、現在の走査線
番号マイナス公差値から現在の走査線マイナス１までの
走査線において、現在のランの初めマイナス公差値から
現在のランの終りプラス公差値までを第３の状態のピク
セルにセットし（１７６）、この状態が第２状態なら
ば、現在の走査線マイナス公差値から現在の走査線マイ
ナス１までの走査線において、現在のランの初めマイナ
ス公差値から現在のランの終りプラス公差値までを第３
の状態のピクセルにセットし（１７８）、現在のランの
状態が第１状態であると判定されなかったならば、現在
の走査線で始まり、現在の走査線プラス公差値マイナス
１の走査線において、現在のランの初めマイナス公差値
から、現在のランの終りプラス公差値までを第３の状態
のピクセルにセットし（１８０）、前の走査線の終了ピ
クセル番号が前記最後の走査線のピクセル番号と等しく
なければ、前および現在の走査線上の次のランへ進み
（１５６）、現在のランの状態を判定し（１５７）、こ
の状態が第１状態ならば、初めプラス公差値より１小さ
い部分からを第３の状態のピクセルにセットし（１６
２）、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピクセ
ル番号マイナス１までを第３の状態のピクセルにセット
し（１６４）、状態が第２状態ならば、開始ピクセル番
号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス１まで
を第３の状態のピクセルにセットし（１６６）、開始ピ
クセルから開始ピクセルプラス公差値マイナス１までを
第３の状態のピクセルへセットし（１６８）、次の隣接
する走査線と対応する信号を受取る（１５４）、ステッ
プを備えることを特徴とする方法。