JPH04225149A - 自動光学検査システム用3状態データベース装置および方法 - Google Patents
自動光学検査システム用3状態データベース装置および方法Info
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- JPH04225149A JPH04225149A JP3077627A JP7762791A JPH04225149A JP H04225149 A JPH04225149 A JP H04225149A JP 3077627 A JP3077627 A JP 3077627A JP 7762791 A JP7762791 A JP 7762791A JP H04225149 A JPH04225149 A JP H04225149A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 12
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 101000997616 Mycobacterium tuberculosis (strain ATCC 25618 / H37Rv) 4-hydroxy-3-methylbut-2-enyl diphosphate reductase 1 Proteins 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30141—Printed circuit board [PCB]
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷回路板(PCB)
の生産に使用される欠陥検出システムに関し、特に製造
された印刷回路板の欠陥検査において使用されるPCB
パターンの公差情報を含む遷移状態データベース(TD
B)を生成するシステムに関する。
の生産に使用される欠陥検出システムに関し、特に製造
された印刷回路板の欠陥検査において使用されるPCB
パターンの公差情報を含む遷移状態データベース(TD
B)を生成するシステムに関する。
【0002】
【発明の背景】印刷回路板は、今日ではほとんど完全に
自動化されたプロセスにより製造されている。特定の印
刷回路板に対する回路が、印刷回路板の設計図を生成す
るのみでなく回路板上の全てのデバイスに対する回路板
のレイアウトを提供するコンピュータ援用設計(CAD
)装置を用いて生成される。この印刷回路板レイアウト
情報は、印刷回路板の製作のため必要な図版(アートワ
ーク)を露光するレーザ・プロッタの如き装置に対して
提供される。この図版は、一連の透明および不透明な領
域を印刷回路板のデバイスと対応する特徴点として含ん
でいる。
自動化されたプロセスにより製造されている。特定の印
刷回路板に対する回路が、印刷回路板の設計図を生成す
るのみでなく回路板上の全てのデバイスに対する回路板
のレイアウトを提供するコンピュータ援用設計(CAD
)装置を用いて生成される。この印刷回路板レイアウト
情報は、印刷回路板の製作のため必要な図版(アートワ
ーク)を露光するレーザ・プロッタの如き装置に対して
提供される。この図版は、一連の透明および不透明な領
域を印刷回路板のデバイスと対応する特徴点として含ん
でいる。
【0003】しかし、印刷回路板あるいはPCB図版に
おいては、印刷回路板を使いものにならなくするおそれ
がある欠陥が存在し得る。従って、図版あるいは印刷回
路板を比較することができる基準を持つことが望ましい
。これらの欠陥は、図版の収縮あるいは製造プロセスに
おける障害を含む種々の原因があり得る。印刷回路板に
おける欠陥の検出のための公知のシステムは、製造プロ
セスにおいて起生した誤差を検出するため、しばしば単
に与えられた印刷回路板を基準、即ち欠陥のない印刷回
路板(即ち、規範回路板)に比較するものであった。 しかし、この単なる比較は、回路板を受入れられないこ
とはない多数の非常に小さな欠陥をもたらすことになる
。更に、図版の収縮により生じた回路板の特徴点に対す
る全体的な変化は、全ての特徴点が規範回路板に対する
単なる比較に基くシステムにおける欠陥として検出され
る結果となることがままある。
おいては、印刷回路板を使いものにならなくするおそれ
がある欠陥が存在し得る。従って、図版あるいは印刷回
路板を比較することができる基準を持つことが望ましい
。これらの欠陥は、図版の収縮あるいは製造プロセスに
おける障害を含む種々の原因があり得る。印刷回路板に
おける欠陥の検出のための公知のシステムは、製造プロ
セスにおいて起生した誤差を検出するため、しばしば単
に与えられた印刷回路板を基準、即ち欠陥のない印刷回
路板(即ち、規範回路板)に比較するものであった。 しかし、この単なる比較は、回路板を受入れられないこ
とはない多数の非常に小さな欠陥をもたらすことになる
。更に、図版の収縮により生じた回路板の特徴点に対す
る全体的な変化は、全ての特徴点が規範回路板に対する
単なる比較に基くシステムにおける欠陥として検出され
る結果となることがままある。
【0004】ある公知の光学式PCB検査システムは、
特徴点から離して図版上に置かれる検査マークを検査す
るように構成されている。印刷回路板上の見当マークの
寸法が、収縮の程度を決定するため基準と比較される。 この収縮がある大きさを越えると、回路板は欠陥を持つ
ものと見做される。
特徴点から離して図版上に置かれる検査マークを検査す
るように構成されている。印刷回路板上の見当マークの
寸法が、収縮の程度を決定するため基準と比較される。 この収縮がある大きさを越えると、回路板は欠陥を持つ
ものと見做される。
【0005】印刷回路板の特徴点と対応する情報がディ
ジタル化され、磁気テープの如き磁気媒体に記憶される
。しかし、結果として生じるラスタ(X,Y)データ・
ファイルあるいはデータベースの厳密な大きさは、記憶
量を減らして処理速度を増すためデータが圧縮されるこ
とを必要とする。米国電話電信会社(AT&T)等の企
業により使用されるフォーマットである、ランレングス
・コード化(RLE)フォーマットおよび走査線更新(
SLU)を含む種々の圧縮されたデータベース・フォー
マットが、当技術において見出される。
ジタル化され、磁気テープの如き磁気媒体に記憶される
。しかし、結果として生じるラスタ(X,Y)データ・
ファイルあるいはデータベースの厳密な大きさは、記憶
量を減らして処理速度を増すためデータが圧縮されるこ
とを必要とする。米国電話電信会社(AT&T)等の企
業により使用されるフォーマットである、ランレングス
・コード化(RLE)フォーマットおよび走査線更新(
SLU)を含む種々の圧縮されたデータベース・フォー
マットが、当技術において見出される。
【0006】PCBの特徴点のイメージを生じるために
は、データ・ファイルがラスタ・フォーマットに圧縮解
除されて、本発明の譲受人であるGerber Sc
ientific Instrument社が市販す
るLDI1500の如きレーザ直接イメージ生成装置(
LDI)へ与えられねばならない。印刷回路板上のデバ
イスおよび基準イメージ上の特徴点の比較は、これもG
erber Scientific Instru
ment社により市販されるモデル1850欠陥検出シ
ステムの如き装置によって行われる。
は、データ・ファイルがラスタ・フォーマットに圧縮解
除されて、本発明の譲受人であるGerber Sc
ientific Instrument社が市販す
るLDI1500の如きレーザ直接イメージ生成装置(
LDI)へ与えられねばならない。印刷回路板上のデバ
イスおよび基準イメージ上の特徴点の比較は、これもG
erber Scientific Instru
ment社により市販されるモデル1850欠陥検出シ
ステムの如き装置によって行われる。
【0007】個々の印刷回路板の特徴点に対する公差を
提供することになる、印刷回路板の欠陥検出において使
用される圧縮ラスタ・データからデータベースを生成す
るための方法および装置を備えることが望ましい。
提供することになる、印刷回路板の欠陥検出において使
用される圧縮ラスタ・データからデータベースを生成す
るための方法および装置を備えることが望ましい。
【0008】
【発明の概要】本発明の目的は、個々の印刷回路板の特
徴点に対する公差を有するデータベースを生成する印刷
回路板の自動的光学式検査システムにおいて使用される
方法および装置の提供にある。
徴点に対する公差を有するデータベースを生成する印刷
回路板の自動的光学式検査システムにおいて使用される
方法および装置の提供にある。
【0009】本発明の別の目的は、3状態データベース
を特徴とする上記の形式の方法および装置の提供にある
。
を特徴とする上記の形式の方法および装置の提供にある
。
【0010】本発明によれば、PCBの製造における図
版に使用される印刷回路板(PCB)の特徴点のイメー
ジを表わす信号のデータベースを生成するための装置で
あって、ピクセル列からなるこのイメージはPCBの特
徴点と対応する黒の状態ピクセルによる一連の走査線に
整列された第1の状態(黒)あるいは第2の状態(白)
のいずれか一方を有し、各走査線は同じ状態の少なくと
も1つのピクセルランからなる。本装置は、現在の走査
線および前の走査線と対応する信号を受取るための第1
の機構と、第1のランの終りにおけるピクセルとその時
の走査線上の第2のランの初めにおけるピクセルとによ
り形成されるラン境界を識別するための第2の機構と、
ランの状態を判定するための第3の機構とからなってい
る。本装置はまた、その時の走査線のラン境界と一致す
る前の走査線におけるラン状態を判定するための第4の
機構と、第1および第2のランにおける境界付近の予め
選定されたピクセルの公差数の状態である第3の状態(
グレー)へ変化させる第5の機構とを含む。第6の機構
は、ラン境界ピクセルの1つと一致する前の走査線のラ
ンが異なる状態にあるならば、第1の状態のピクセルか
らなる第1あるいは第2のランの一方と一致する隣接の
走査線における第3の状態ピクセルへ変化する。この第
6の機構はまた、その時の走査線境界と一致する予め選
定されたピクセルの公差数を含む3状態ピクセルへ変化
する。
版に使用される印刷回路板(PCB)の特徴点のイメー
ジを表わす信号のデータベースを生成するための装置で
あって、ピクセル列からなるこのイメージはPCBの特
徴点と対応する黒の状態ピクセルによる一連の走査線に
整列された第1の状態(黒)あるいは第2の状態(白)
のいずれか一方を有し、各走査線は同じ状態の少なくと
も1つのピクセルランからなる。本装置は、現在の走査
線および前の走査線と対応する信号を受取るための第1
の機構と、第1のランの終りにおけるピクセルとその時
の走査線上の第2のランの初めにおけるピクセルとによ
り形成されるラン境界を識別するための第2の機構と、
ランの状態を判定するための第3の機構とからなってい
る。本装置はまた、その時の走査線のラン境界と一致す
る前の走査線におけるラン状態を判定するための第4の
機構と、第1および第2のランにおける境界付近の予め
選定されたピクセルの公差数の状態である第3の状態(
グレー)へ変化させる第5の機構とを含む。第6の機構
は、ラン境界ピクセルの1つと一致する前の走査線のラ
ンが異なる状態にあるならば、第1の状態のピクセルか
らなる第1あるいは第2のランの一方と一致する隣接の
走査線における第3の状態ピクセルへ変化する。この第
6の機構はまた、その時の走査線境界と一致する予め選
定されたピクセルの公差数を含む3状態ピクセルへ変化
する。
【0011】
【実施例】まず図1において、印刷回路板の製造に用い
られるシステム10を表わす一連のデバイスが概略図で
示される。典型的には、印刷回路板上に形成される回路
は、回路の構成図を含むデータ・ファイルを生成するC
AD/CAM装置(ブロック12)を用いて生成される
。ブロック14において、このデータ・ファイルがプロ
グラムに入力されて、印刷回路板に対する物理的レイア
ウトを生成する。データの量は、2つの空間座標(X,
Y)および黒か白のいずれかのピクセルの状態を表わす
1つの座標により印刷回路板上の各点即ちピクセルが記
述されねばならないためかなりのものになる。対応する
データ・ファイルの大きさは非常に大きなものとなり、
従ってほとんどのシステムはデータの圧縮のため幾つか
の公知の手法の1つを用いることになる。これらの手法
は、上記のAT&Tフォーマットの如き種々のランレン
グス・コード化フォーマットあるいは走査線更新(SL
U)フォーマットを含む。従って、このデータ・ファイ
ルは、印刷回路板の製作に必要な図版を作るため使用さ
れるフォトプロッタ16を含む一連の装置へ渡される。 このフォトプロッタは、典型的にはレーザ直接イメージ
生成装置(LDI)である。LDIは、書込みプラテン
に対して露光レーザ・ビーム走査点を移動し、入力デー
タにより指令されるようにビームを変調してオン/オフ
させる。線が引かれた後、プラテンが約0.001mm
(約1ミル)動かされ、次の線が引かれる。このプロセ
スは、イメージ全体がフィルム上に露光されるまで継続
する。フルサイズのPCBイメージの場合は、各々17
,800ビット、即ち2225バイトあるいは16ビッ
ト・ワードで1112.5からなる24,200回の走
査が行われる。最後に、ブロック18において、公知の
装置を用いて印刷回路板が製作される。
られるシステム10を表わす一連のデバイスが概略図で
示される。典型的には、印刷回路板上に形成される回路
は、回路の構成図を含むデータ・ファイルを生成するC
AD/CAM装置(ブロック12)を用いて生成される
。ブロック14において、このデータ・ファイルがプロ
グラムに入力されて、印刷回路板に対する物理的レイア
ウトを生成する。データの量は、2つの空間座標(X,
Y)および黒か白のいずれかのピクセルの状態を表わす
1つの座標により印刷回路板上の各点即ちピクセルが記
述されねばならないためかなりのものになる。対応する
データ・ファイルの大きさは非常に大きなものとなり、
従ってほとんどのシステムはデータの圧縮のため幾つか
の公知の手法の1つを用いることになる。これらの手法
は、上記のAT&Tフォーマットの如き種々のランレン
グス・コード化フォーマットあるいは走査線更新(SL
U)フォーマットを含む。従って、このデータ・ファイ
ルは、印刷回路板の製作に必要な図版を作るため使用さ
れるフォトプロッタ16を含む一連の装置へ渡される。 このフォトプロッタは、典型的にはレーザ直接イメージ
生成装置(LDI)である。LDIは、書込みプラテン
に対して露光レーザ・ビーム走査点を移動し、入力デー
タにより指令されるようにビームを変調してオン/オフ
させる。線が引かれた後、プラテンが約0.001mm
(約1ミル)動かされ、次の線が引かれる。このプロセ
スは、イメージ全体がフィルム上に露光されるまで継続
する。フルサイズのPCBイメージの場合は、各々17
,800ビット、即ち2225バイトあるいは16ビッ
ト・ワードで1112.5からなる24,200回の走
査が行われる。最後に、ブロック18において、公知の
装置を用いて印刷回路板が製作される。
【0012】印刷回路板を欠陥について試験するため、
圧縮されたデータ・ファイルもまた、上記のモデル18
50欠陥検出システムの如き印刷回路板欠陥検出システ
ム20へ送られる。以下本文において詳細に述べるよう
に、このモデル1850は、データをラスタ・フォーマ
ットへ圧縮解除して、印刷回路板の完全に欠陥のない基
準イメージを生成する。次いで、このイメージは、検証
(照合)ステーション22において後で検証することが
できる欠陥を標定するために、印刷回路板の走査された
イメージと対比するため使用することができる。
圧縮されたデータ・ファイルもまた、上記のモデル18
50欠陥検出システムの如き印刷回路板欠陥検出システ
ム20へ送られる。以下本文において詳細に述べるよう
に、このモデル1850は、データをラスタ・フォーマ
ットへ圧縮解除して、印刷回路板の完全に欠陥のない基
準イメージを生成する。次いで、このイメージは、検証
(照合)ステーション22において後で検証することが
できる欠陥を標定するために、印刷回路板の走査された
イメージと対比するため使用することができる。
【0013】図2は、印刷回路板即ちPCBの図版にお
ける誤りを見出すため使用される本発明により提供され
る欠陥検出システム24の部分の動作の概略図である。 本システム24は、以下に詳細に述べる方法で2状態(
黒、白)RLEデータから3状態(黒、白、グレー)の
RLEデータを有する遷移データベース(TDB)26
を生成するデータ公差査定装置を含む。本発明は2状態
RLEデータを3状態RLEデータへ変換することが望
ましいが、当業者は、ラスタ・フォーマットにおける2
状態のデータもまたソフトウエアにおける適当な変更に
より3状態のラスタ・データベースへ処理できることが
判るであろう。
ける誤りを見出すため使用される本発明により提供され
る欠陥検出システム24の部分の動作の概略図である。 本システム24は、以下に詳細に述べる方法で2状態(
黒、白)RLEデータから3状態(黒、白、グレー)の
RLEデータを有する遷移データベース(TDB)26
を生成するデータ公差査定装置を含む。本発明は2状態
RLEデータを3状態RLEデータへ変換することが望
ましいが、当業者は、ラスタ・フォーマットにおける2
状態のデータもまたソフトウエアにおける適当な変更に
より3状態のラスタ・データベースへ処理できることが
判るであろう。
【0014】印刷回路板における特徴点と対応する圧縮
データは、ランレングス・コード化データのSLUフォ
ーマットでCADシステムから与えられる(ブロック2
8)。このデータは次に、望ましくはモデル1850欠
陥検出システムの特性であるGerber Scie
ntific Instrumentの16ビット・
フォーマットであることが望ましい16ビットのRLE
フォーマットへ変換される。このデータは、ラスタ・フ
ォーマットへ圧縮解除(decompress)される
(ブロック32)。大半のコンピュータは、大きなラス
タ・イメージを主メモリーに保持する容量を持たない。 例えば、約0.005mm(約5ミル)の解像度で約4
57×610mm(18×24インチ)のPCBイメー
ジは、200MB以上のメモリーを要する。その結果、
システムは、以下に述べる方法で走査線のブロックでR
LEイメージをハイブリッド・ラスタ・フォーマットへ
変換する。ここで、走査線の各ブロックについてランの
リストおよびラスタ・データのブロックにより記述する
。
データは、ランレングス・コード化データのSLUフォ
ーマットでCADシステムから与えられる(ブロック2
8)。このデータは次に、望ましくはモデル1850欠
陥検出システムの特性であるGerber Scie
ntific Instrumentの16ビット・
フォーマットであることが望ましい16ビットのRLE
フォーマットへ変換される。このデータは、ラスタ・フ
ォーマットへ圧縮解除(decompress)される
(ブロック32)。大半のコンピュータは、大きなラス
タ・イメージを主メモリーに保持する容量を持たない。 例えば、約0.005mm(約5ミル)の解像度で約4
57×610mm(18×24インチ)のPCBイメー
ジは、200MB以上のメモリーを要する。その結果、
システムは、以下に述べる方法で走査線のブロックでR
LEイメージをハイブリッド・ラスタ・フォーマットへ
変換する。ここで、走査線の各ブロックについてランの
リストおよびラスタ・データのブロックにより記述する
。
【0015】データの公差査定装置は、ブロック34に
おいて、ハイブリッド・フォーマットRLEデータを受
取り、各印刷回路板の特徴点に予め定めた値の大きさ公
差を与えるようこのデータを以下に述べる方法で修正す
る。特徴点の公差は、第3のグレー状態で表わされる。 この公差データは次に、PCBの欠陥の検出の際システ
ム24により使用されるためにRLEフォーマットへ公
知の方法で再び圧縮される。
おいて、ハイブリッド・フォーマットRLEデータを受
取り、各印刷回路板の特徴点に予め定めた値の大きさ公
差を与えるようこのデータを以下に述べる方法で修正す
る。特徴点の公差は、第3のグレー状態で表わされる。 この公差データは次に、PCBの欠陥の検出の際システ
ム24により使用されるためにRLEフォーマットへ公
知の方法で再び圧縮される。
【0016】上記の如く、CADシステムにより生成さ
れるデータは、1インチ(約25.4mm)当たり16
00バイトの密度の圧縮形態で業界互換の9トラック位
相符号化方式の磁気テープ上に書込まれる。このデータ
・バイトは、最上位バイトが最初に現れるように標準的
なIBMフォーマットでテープ上に構成される。全1巻
の磁気テープは、ハードウエア・テープ・マークに適当
なラベルを付して1つ以上のイメージ・データ・セット
を含む。テープ・ラベルは、IBM刊行物「OS/VS
テープ・ラベル」(文書番号GC26−3795)に詳
細が記される如きANSIテープ・ラベル規格の一変形
を使用する。ラベルの各レコードは、7ビットのASC
IIコードで書かれた80バイトの物理レコードである
。 各レコードの最初の4バイトは、特定のラベル・レコー
ド・テープの識別子を構成する。5つのテープ・ラベル
・レコード・タイプ、即ち、VOL.1(ボリューム見
出しラベル)、HDR 1(ファイル見出しラベル・
レコード番号1)、HDR2(ファイル見出しレコード
番号2)、EOF 1(ファイル後書きラベル・レコ
ード番号1)、およびEOF 2(ファイル後書きラ
ベル・レコード番号2)のどれでもよい。
れるデータは、1インチ(約25.4mm)当たり16
00バイトの密度の圧縮形態で業界互換の9トラック位
相符号化方式の磁気テープ上に書込まれる。このデータ
・バイトは、最上位バイトが最初に現れるように標準的
なIBMフォーマットでテープ上に構成される。全1巻
の磁気テープは、ハードウエア・テープ・マークに適当
なラベルを付して1つ以上のイメージ・データ・セット
を含む。テープ・ラベルは、IBM刊行物「OS/VS
テープ・ラベル」(文書番号GC26−3795)に詳
細が記される如きANSIテープ・ラベル規格の一変形
を使用する。ラベルの各レコードは、7ビットのASC
IIコードで書かれた80バイトの物理レコードである
。 各レコードの最初の4バイトは、特定のラベル・レコー
ド・テープの識別子を構成する。5つのテープ・ラベル
・レコード・タイプ、即ち、VOL.1(ボリューム見
出しラベル)、HDR 1(ファイル見出しラベル・
レコード番号1)、HDR2(ファイル見出しレコード
番号2)、EOF 1(ファイル後書きラベル・レコ
ード番号1)、およびEOF 2(ファイル後書きラ
ベル・レコード番号2)のどれでもよい。
【0017】データ・セットは、4096バイトの長さ
の物理レコードに分けられる。各物理レコードは、論理
レコード境界に拘わらず完全に充填される。従って、論
理レコードは物理レコード境界と重なり得、レコード・
ギャップにより生じるハードウエアの問題を無視するこ
とができる。2つの連続するハードウエア・マークが、
テープ上の最後のEOF2ラベルに続き、テープの論理
的終端を示す。
の物理レコードに分けられる。各物理レコードは、論理
レコード境界に拘わらず完全に充填される。従って、論
理レコードは物理レコード境界と重なり得、レコード・
ギャップにより生じるハードウエアの問題を無視するこ
とができる。2つの連続するハードウエア・マークが、
テープ上の最後のEOF2ラベルに続き、テープの論理
的終端を示す。
【0018】図3は、上記のテープの論理レコード・フ
ォーマットの概略図である。テープ38は、イメージ見
出し(ヘッダ)40、走査線1(42)、走査線2(4
4)、および走査線N(46)を含む幾つかのセクショ
ンからなる。イメージ見出しは、走査当たりのバイト数
、走査線数、任意のオペレータ・メッセージにおける文
字数およびオペレータ・メッセージに関する情報を含む
。走査線1に対応する最初のワード48は、この特定の
走査線に対する反復走査回数を表わす。2番目の見出し
ワード50は、線1本当たりのラン数の詳細を示す。 周知の如く、1つのランは1つの走査線における同じ状
態の連続する文字(ピクセル)数である。圧縮されたイ
メージ・データ・レコード52が、検査合計トレーラ5
4と同様に続く。同じワード形態が残りの走査線におい
て使用される。最初の見出しワードは、走査線の初期の
カラー状態(黒/白)、イメージ標識の終りおよび走査
データに対する反復カウントを定義する。例えば、ビッ
ト14=1は、その時のイメージの最後の走査線レコー
ドを表示する。垂直方向圧縮は、重複走査線を圧縮する
ことにより行われる。ビット0乃至13は、このレコー
ドにおける走査線データがイメージ化される回数のカウ
ントを含み、ここで1つの1は走査線の1つのコピーが
生じるべきことを意味する。典型的には、2番目の見出
しワードが誤り検査のため使用され、走査線レコードに
おける圧縮データ・ワード数のカウントを含む。データ
ベースは、各走査線内の連続カラー・ビットのカウント
により圧縮される。圧縮されたデータ・ワードは、実質
的に一連のオン/オフ・カウントである。各16ビット
のデータ・ワードは、2つの可能なモードの1つとして
解釈される。最初のモードであるモード0は、密ではな
いイメージ領域においてはオプションである。2番目の
モードであるモード1は、イメージ領域が密になる即ち
輻輳する時に更に有効となる。ビット15は、それぞれ
データ・ワード毎のモードを表示する。これは、モード
0に対しては0、モード1に対しては1である。15ビ
ットのカウントが17,800ビットの最大走査幅を越
えるため、単色の走査線は1データ・ワードに圧縮する
ことができる。従って、カラーあるいは状態の変化があ
る時のみ、より多くのデータ・ワードが必要となる。モ
ード0においては、変化毎に1データ・ワードが存在す
る。
ォーマットの概略図である。テープ38は、イメージ見
出し(ヘッダ)40、走査線1(42)、走査線2(4
4)、および走査線N(46)を含む幾つかのセクショ
ンからなる。イメージ見出しは、走査当たりのバイト数
、走査線数、任意のオペレータ・メッセージにおける文
字数およびオペレータ・メッセージに関する情報を含む
。走査線1に対応する最初のワード48は、この特定の
走査線に対する反復走査回数を表わす。2番目の見出し
ワード50は、線1本当たりのラン数の詳細を示す。 周知の如く、1つのランは1つの走査線における同じ状
態の連続する文字(ピクセル)数である。圧縮されたイ
メージ・データ・レコード52が、検査合計トレーラ5
4と同様に続く。同じワード形態が残りの走査線におい
て使用される。最初の見出しワードは、走査線の初期の
カラー状態(黒/白)、イメージ標識の終りおよび走査
データに対する反復カウントを定義する。例えば、ビッ
ト14=1は、その時のイメージの最後の走査線レコー
ドを表示する。垂直方向圧縮は、重複走査線を圧縮する
ことにより行われる。ビット0乃至13は、このレコー
ドにおける走査線データがイメージ化される回数のカウ
ントを含み、ここで1つの1は走査線の1つのコピーが
生じるべきことを意味する。典型的には、2番目の見出
しワードが誤り検査のため使用され、走査線レコードに
おける圧縮データ・ワード数のカウントを含む。データ
ベースは、各走査線内の連続カラー・ビットのカウント
により圧縮される。圧縮されたデータ・ワードは、実質
的に一連のオン/オフ・カウントである。各16ビット
のデータ・ワードは、2つの可能なモードの1つとして
解釈される。最初のモードであるモード0は、密ではな
いイメージ領域においてはオプションである。2番目の
モードであるモード1は、イメージ領域が密になる即ち
輻輳する時に更に有効となる。ビット15は、それぞれ
データ・ワード毎のモードを表示する。これは、モード
0に対しては0、モード1に対しては1である。15ビ
ットのカウントが17,800ビットの最大走査幅を越
えるため、単色の走査線は1データ・ワードに圧縮する
ことができる。従って、カラーあるいは状態の変化があ
る時のみ、より多くのデータ・ワードが必要となる。モ
ード0においては、変化毎に1データ・ワードが存在す
る。
【0019】初期のカラー状態が走査線のヘッダ上に示
される。モード1においては、2つの7ビット・カウン
タ(ビット8乃至14)および(ビット0乃至6)が反
対のカラー状態を表わす。モード1は、0より大きいが
128より小さい1対の連続カウントが存在する時にの
み使用される。ビット8乃至14は、常に先行するデー
タ・ワードからの反対色の状態である最初のカウントを
表わす。ビット0乃至6は、第2のカウントを表わし、
常にカウンタ1からの反対色(状態)である。ビット7
は、誤り検査の目的のため使用されるカラー同期ビット
である。これは、カウンタ2が生じるカラーを反映しな
ければならない。ビット7は、カウンタ2のカラー状態
を制御しないが、レーザのイメージ化ハードウエアがデ
ータと同期されることを確認する際に使用される。例え
ば、もし先行するデータ・ワードがモード1であり、か
つあるデータ伝送において誤りビット15が落ちて誤っ
てモード0を表示したならば、2つのカラー遷移状態で
はなく1つの遷移状態であってカラー状態をして同期を
失わしめる。このことは、ハードウエアのカラー状態が
次のモード1のデータ・ワードのビット7と一致しなか
った時、検出されることになる。データベースがイメー
ジされる時、誤りメッセージが結果として生じる。また
、システム24の圧縮解除プロセッサへ送られる「遅さ
係数」もまた存在し、これは各走査線が出力に反復され
るべき回数を示す。このパラメータはまた、出力データ
ベースにおいて、そのアイドル・パターンにおけるプリ
アンブルに続いてレーザ直接イメージ化(LDI)光学
系へ挿入される。
される。モード1においては、2つの7ビット・カウン
タ(ビット8乃至14)および(ビット0乃至6)が反
対のカラー状態を表わす。モード1は、0より大きいが
128より小さい1対の連続カウントが存在する時にの
み使用される。ビット8乃至14は、常に先行するデー
タ・ワードからの反対色の状態である最初のカウントを
表わす。ビット0乃至6は、第2のカウントを表わし、
常にカウンタ1からの反対色(状態)である。ビット7
は、誤り検査の目的のため使用されるカラー同期ビット
である。これは、カウンタ2が生じるカラーを反映しな
ければならない。ビット7は、カウンタ2のカラー状態
を制御しないが、レーザのイメージ化ハードウエアがデ
ータと同期されることを確認する際に使用される。例え
ば、もし先行するデータ・ワードがモード1であり、か
つあるデータ伝送において誤りビット15が落ちて誤っ
てモード0を表示したならば、2つのカラー遷移状態で
はなく1つの遷移状態であってカラー状態をして同期を
失わしめる。このことは、ハードウエアのカラー状態が
次のモード1のデータ・ワードのビット7と一致しなか
った時、検出されることになる。データベースがイメー
ジされる時、誤りメッセージが結果として生じる。また
、システム24の圧縮解除プロセッサへ送られる「遅さ
係数」もまた存在し、これは各走査線が出力に反復され
るべき回数を示す。このパラメータはまた、出力データ
ベースにおいて、そのアイドル・パターンにおけるプリ
アンブルに続いてレーザ直接イメージ化(LDI)光学
系へ挿入される。
【0020】望ましい実施態様に関して詳細に示される
圧縮フォーマットは、走査線間の相違および類似点を示
すため使用されるコード群に基いている。各コード・ワ
ードは、16ビット長であり、コード番号を含む最上位
の4ビットでフォーマットされる。最下位の12ビット
は、コードに関連する情報を含む。コードに従って、コ
ード・ワードに続いて付加的なワードが存在し得る。
圧縮フォーマットは、走査線間の相違および類似点を示
すため使用されるコード群に基いている。各コード・ワ
ードは、16ビット長であり、コード番号を含む最上位
の4ビットでフォーマットされる。最下位の12ビット
は、コードに関連する情報を含む。コードに従って、コ
ード・ワードに続いて付加的なワードが存在し得る。
【0021】16の使用可能なコード番号の内11がそ
の時定義される。
の時定義される。
【0022】
コード番号
記 事
1
2進走査線 2
前の走査線の反復
3
走査線 4
全走査線
5
バイト・ストリング・クリヤ
6
バイト・ストリングのセット 7
更新の終
り 8
メッセージ/コメント
11
イメージの終り 13
軸の設定
14
yの設定コード1ないし7は実際に使用されて、PC
Bの特徴点イメージを表わす。更に、コード8、11、
13および14は、イメージの大きさを定義し、また必
要なコメントを行うために使用される。フルサイズのイ
メージは、これらのコードを使用してだけ表現される。 各コードと関連するワード・グループのより詳細な記述
は、「Model 588 AT&T Tape
Format Specification
for the LDI 1500 Lase
r Plotter」なるGerber Scie
ntific Instrument社文献に見出す
ことができる。
記 事
1
2進走査線 2
前の走査線の反復
3
走査線 4
全走査線
5
バイト・ストリング・クリヤ
6
バイト・ストリングのセット 7
更新の終
り 8
メッセージ/コメント
11
イメージの終り 13
軸の設定
14
yの設定コード1ないし7は実際に使用されて、PC
Bの特徴点イメージを表わす。更に、コード8、11、
13および14は、イメージの大きさを定義し、また必
要なコメントを行うために使用される。フルサイズのイ
メージは、これらのコードを使用してだけ表現される。 各コードと関連するワード・グループのより詳細な記述
は、「Model 588 AT&T Tape
Format Specification
for the LDI 1500 Lase
r Plotter」なるGerber Scie
ntific Instrument社文献に見出す
ことができる。
【0023】AT&TのSLUテープにおける2つのコ
ードが、前の走査線における個々のビットを変更して次
の走査線を生成する。「5」のコードが、与えられたア
ドレスで始まるビットをクリヤする。「6」のコードが
これらのビットをセットする。これらのコードは、2つ
の方法で実現することができる。その第1は、変更され
たビットのみがコード化されることを前提とする。 「1」のビットが0にセットされ、「0」のビットが1
にセットされる。これは、実質的には反転プロセスであ
り、従って2つではなく唯1つのコード化を必要とする
。これらのコードを実現する他の方法は、変更を伴うラ
ンレングス・コード化ビット・ストリングと見做すこと
ができる。もし1つのビット・ストリングの終りに状態
の変更が生じるならば、このストリングの全長がコード
化される。この変化は、ストリングの両端に変化が生じ
るならば、より良好な圧縮のため2つの代わりに1つの
コードの使用を結果としてもたらし得る。
ードが、前の走査線における個々のビットを変更して次
の走査線を生成する。「5」のコードが、与えられたア
ドレスで始まるビットをクリヤする。「6」のコードが
これらのビットをセットする。これらのコードは、2つ
の方法で実現することができる。その第1は、変更され
たビットのみがコード化されることを前提とする。 「1」のビットが0にセットされ、「0」のビットが1
にセットされる。これは、実質的には反転プロセスであ
り、従って2つではなく唯1つのコード化を必要とする
。これらのコードを実現する他の方法は、変更を伴うラ
ンレングス・コード化ビット・ストリングと見做すこと
ができる。もし1つのビット・ストリングの終りに状態
の変更が生じるならば、このストリングの全長がコード
化される。この変化は、ストリングの両端に変化が生じ
るならば、より良好な圧縮のため2つの代わりに1つの
コードの使用を結果としてもたらし得る。
【0024】次に図4においては、印刷回路板上のデバ
イスを表わすPCB図版の特徴点55の一部の平面図が
示される。走査線56、57、58、59および60が
、PCBの図版上に書込まれることになる。各走査線は
、ピクセルの線形列からなる。走査線56は特徴点61
の外側にあり、従って、図中の全ての「クリヤ」ピクセ
ルあるいはデータベース・イメージにおける「白」のピ
クセルを有する。走査線57〜59は、PCBの特徴点
を含み、各々が白のピクセル64のランが続く「黒」の
ピクセル63のランが後に続いた白のピクセル62のラ
ンを有する。走査線60は、PCBの特徴点60の外側
にあるため、全ての白のピクセルからなっている。走査
線56および60は、白の唯1つのランからなるものと
考えることができるが、走査線57〜59はそれぞれ3
つのラン、即ち1つの白が続く1つの黒が後に続く1つ
の白からなるものと考えることができる。
イスを表わすPCB図版の特徴点55の一部の平面図が
示される。走査線56、57、58、59および60が
、PCBの図版上に書込まれることになる。各走査線は
、ピクセルの線形列からなる。走査線56は特徴点61
の外側にあり、従って、図中の全ての「クリヤ」ピクセ
ルあるいはデータベース・イメージにおける「白」のピ
クセルを有する。走査線57〜59は、PCBの特徴点
を含み、各々が白のピクセル64のランが続く「黒」の
ピクセル63のランが後に続いた白のピクセル62のラ
ンを有する。走査線60は、PCBの特徴点60の外側
にあるため、全ての白のピクセルからなっている。走査
線56および60は、白の唯1つのランからなるものと
考えることができるが、走査線57〜59はそれぞれ3
つのラン、即ち1つの白が続く1つの黒が後に続く1つ
の白からなるものと考えることができる。
【0025】上記の如く、本発明は、基準データベース
におけるPCBの図版の特徴点がそれに対する寸法的な
公差を含むように修正される過渡的データベースをもた
らすものである。システム24においては、大域の内側
/外側の特徴点の公差が大きさにおいて予め定義される
。3つの状態、即ちシステム24による出力として生じ
るランレングス・コード化イメージ・データは、オン/
オフ/無定義ピクセル、あるいは例示の目的のため用い
られる黒/白/グレーの表示を特徴とする。
におけるPCBの図版の特徴点がそれに対する寸法的な
公差を含むように修正される過渡的データベースをもた
らすものである。システム24においては、大域の内側
/外側の特徴点の公差が大きさにおいて予め定義される
。3つの状態、即ちシステム24による出力として生じ
るランレングス・コード化イメージ・データは、オン/
オフ/無定義ピクセル、あるいは例示の目的のため用い
られる黒/白/グレーの表示を特徴とする。
【0026】図5は、本発明による処理の後の図4に見
出されるPCB特徴点を含む。黒のピクセルは、パター
ンが現れねばならないイメージ領域を表わし、白のパタ
ーンはパターンが現れてはならないイメージ領域を表わ
す。グレーのピクセルは、パターン(黒のピクセル)の
発現の存否が重要でないイメージ領域を表わす。これら
の「グレー」のピクセルは、パターンの縁部に起生し、
内側/外側の公差あるいは受入れ得るパターンの変形を
表わす。図5においては、領域65が現れねばならない
特徴点の問題の部分と対応する。領域66はこの特徴点
の見かけの領域であるが、領域67は特徴点が持ち得る
最大領域を表わす。
出されるPCB特徴点を含む。黒のピクセルは、パター
ンが現れねばならないイメージ領域を表わし、白のパタ
ーンはパターンが現れてはならないイメージ領域を表わ
す。グレーのピクセルは、パターン(黒のピクセル)の
発現の存否が重要でないイメージ領域を表わす。これら
の「グレー」のピクセルは、パターンの縁部に起生し、
内側/外側の公差あるいは受入れ得るパターンの変形を
表わす。図5においては、領域65が現れねばならない
特徴点の問題の部分と対応する。領域66はこの特徴点
の見かけの領域であるが、領域67は特徴点が持ち得る
最大領域を表わす。
【0027】上記の如く、イメージは走査線ブロック内
で処理され、図6および図7は1つのブロックの処理を
表わす。当業者は、ブロック間の境界に特別の注意を払
わねばならないこと、およびこれら境界条件が周知の方
法で取扱われることが判るであろう。
で処理され、図6および図7は1つのブロックの処理を
表わす。当業者は、ブロック間の境界に特別の注意を払
わねばならないこと、およびこれら境界条件が周知の方
法で取扱われることが判るであろう。
【0028】図6は、ハイブリッド・ラスタ・データベ
ースを生成する際システム24により使用されるアルゴ
リズム68の概略図である。図6乃至図9において使用
される略語のまとめを以下に示す。
ースを生成する際システム24により使用されるアルゴ
リズム68の概略図である。図6乃至図9において使用
される略語のまとめを以下に示す。
【0029】前の終り:前の線におけるランの終了ピク
セル#その時の終り:その時の線におけるランの終了ピ
クセル#前のスタート:前の線におけるランの開始ピク
セル#その時のスタート:その時の線におけるランの開
始ピクセル#前の状態:前の線におけるランの状態その
時の状態:走査線における最後のピクセルラン数:走査
線におけるランの#その時のピクセル:走査線における
その時のピクセル#その時の状態:その時の状態(黒ま
たは白)ランの初め:その時のランに対する開始ピクセ
ル#ランの終り:その時のランに対する終了ピクセル#
ランの状態:その時のランに対する状態アルゴリズム6
8は、RLEフォーマットのデータ・ファイルの各走査
線毎のラスタ・フォーマットランのリストへの変換の概
要を示す。各ランは、開始ピクセル番号、終了ピクセル
番号および状態即ちカラーを有する。ブロック69にお
いて、アルゴリズムが問題のブロックに対する全ての走
査線が入力されたかどうかを判定する。もし全ての走査
線が入力されたならば、システムはブロック70でこの
アルゴリズムから抜ける。もしそうでなければ、走査線
の見出しワード番号1がブロック71で読出される。そ
の時のピクセル状態は、ブロック72におけるワード番
号1から決定される。その時のピクセルは、ブロック7
4においてゼロにセットされ、ランの番号はブロック7
6においてゼロにセットされる。ワード番号2に対する
走査線の見出しは、走査線におけるランを記述するワー
ド番号を判定するため読出される(ブロック78)。
セル#その時の終り:その時の線におけるランの終了ピ
クセル#前のスタート:前の線におけるランの開始ピク
セル#その時のスタート:その時の線におけるランの開
始ピクセル#前の状態:前の線におけるランの状態その
時の状態:走査線における最後のピクセルラン数:走査
線におけるランの#その時のピクセル:走査線における
その時のピクセル#その時の状態:その時の状態(黒ま
たは白)ランの初め:その時のランに対する開始ピクセ
ル#ランの終り:その時のランに対する終了ピクセル#
ランの状態:その時のランに対する状態アルゴリズム6
8は、RLEフォーマットのデータ・ファイルの各走査
線毎のラスタ・フォーマットランのリストへの変換の概
要を示す。各ランは、開始ピクセル番号、終了ピクセル
番号および状態即ちカラーを有する。ブロック69にお
いて、アルゴリズムが問題のブロックに対する全ての走
査線が入力されたかどうかを判定する。もし全ての走査
線が入力されたならば、システムはブロック70でこの
アルゴリズムから抜ける。もしそうでなければ、走査線
の見出しワード番号1がブロック71で読出される。そ
の時のピクセル状態は、ブロック72におけるワード番
号1から決定される。その時のピクセルは、ブロック7
4においてゼロにセットされ、ランの番号はブロック7
6においてゼロにセットされる。ワード番号2に対する
走査線の見出しは、走査線におけるランを記述するワー
ド番号を判定するため読出される(ブロック78)。
【0030】ブロック80において、アルゴリズム68
が、走査線に対するワード番号が全て読出されたかどう
かを判定する。もしそうであれば、プログラムはブロッ
ク69へ戻る。もしそうでなければ、次のワードが読出
される(ブロック82)。ブロック84において、ワー
ドが長いモードであるかどうかが決定される。もしそう
であれば、制御ランにおけるピクセルの番号が最初のワ
ードの0乃至14ビットから決定される(ブロック86
)。ブロック88において、その時のランに対する開始
ピクセルが、走査線上のその時のピクセルにセットされ
る。ブロック90において、その時のランに対する終了
ピクセル番号が、その時のピクセル番号、プラス、ラン
におけるピクセル番号、マイナス1に等しくセットされ
る。ブロック92において、その時のランに対する状態
は、その時の状態、即ち黒あるいは白に等しくセットさ
れる。次に、ブロック94において、本アルゴリズムは
、走査線上のラン番号をラン番号、プラス1に等しくセ
ットし、ブロック96において走査線上のその時のピク
セル番号がその時のピクセル番号、プラスその時のラン
に対するピクセル番号に等しくセットされる。
が、走査線に対するワード番号が全て読出されたかどう
かを判定する。もしそうであれば、プログラムはブロッ
ク69へ戻る。もしそうでなければ、次のワードが読出
される(ブロック82)。ブロック84において、ワー
ドが長いモードであるかどうかが決定される。もしそう
であれば、制御ランにおけるピクセルの番号が最初のワ
ードの0乃至14ビットから決定される(ブロック86
)。ブロック88において、その時のランに対する開始
ピクセルが、走査線上のその時のピクセルにセットされ
る。ブロック90において、その時のランに対する終了
ピクセル番号が、その時のピクセル番号、プラス、ラン
におけるピクセル番号、マイナス1に等しくセットされ
る。ブロック92において、その時のランに対する状態
は、その時の状態、即ち黒あるいは白に等しくセットさ
れる。次に、ブロック94において、本アルゴリズムは
、走査線上のラン番号をラン番号、プラス1に等しくセ
ットし、ブロック96において走査線上のその時のピク
セル番号がその時のピクセル番号、プラスその時のラン
に対するピクセル番号に等しくセットされる。
【0031】ブロック80において、ワードが長いモー
ドでなければ、アルゴリズム68はブロック98にエン
トリし、ワードのビット8乃至14のその時のランにお
けるピクセル番号を取得し、その時のランに対する開始
ピクセル番号を前記走査線上のその時のピクセル番号に
等しくセットする(ブロック100)。アルゴリズムは
、その時のランに対する終了ピクセル番号を、その時の
ピクセル番号、プラス、ランにおけるピクセル番号、マ
イナス1に等しくセットする(ブロック102)。次に
、ブロック104において、その時のランに対する状態
は、その時の状態の反対に等しくセットされる、即ちプ
ログラムが状態を「トグル」する。次いで、走査線上の
ラン番号は、走査線上のラン番号、プラス1に等しくセ
ットされ(ブロック106)、走査線上のその時のピク
セル番号はその時のピクセル番号、プラスその時のラン
に対するピクセル番号に等しくセットされる(ブロック
108)。
ドでなければ、アルゴリズム68はブロック98にエン
トリし、ワードのビット8乃至14のその時のランにお
けるピクセル番号を取得し、その時のランに対する開始
ピクセル番号を前記走査線上のその時のピクセル番号に
等しくセットする(ブロック100)。アルゴリズムは
、その時のランに対する終了ピクセル番号を、その時の
ピクセル番号、プラス、ランにおけるピクセル番号、マ
イナス1に等しくセットする(ブロック102)。次に
、ブロック104において、その時のランに対する状態
は、その時の状態の反対に等しくセットされる、即ちプ
ログラムが状態を「トグル」する。次いで、走査線上の
ラン番号は、走査線上のラン番号、プラス1に等しくセ
ットされ(ブロック106)、走査線上のその時のピク
セル番号はその時のピクセル番号、プラスその時のラン
に対するピクセル番号に等しくセットされる(ブロック
108)。
【0032】アルゴリズム68は、ブロック110で継
続し、ワードのビット0乃至7のその時のランに対する
ピクセル番号をブロック112で取得し、その時のラン
に対する開始ピクセル番号をその時のピクセル番号に等
しくセットする。その時のランに対する終了ピクセル番
号は、その時のピクセル番号、プラス、ランにおけるピ
クセル番号、マイナス1に等しくセットされる(ブロッ
ク114)。アルゴリズムは、その時のランに対する状
態をその時の状態の反対に等しくセットすることにより
、その時の状態をトグルする(ブロック116)。次い
で、このアルゴリズムは、走査線上のラン番号をラン番
号、プラス1に等しくセットし(ブロック118)、走
査線上のその時のピクセル番号を、その時のピクセル番
号、プラスその時のランに対するピクセル番号に等しく
セットする(ブロック120)。
続し、ワードのビット0乃至7のその時のランに対する
ピクセル番号をブロック112で取得し、その時のラン
に対する開始ピクセル番号をその時のピクセル番号に等
しくセットする。その時のランに対する終了ピクセル番
号は、その時のピクセル番号、プラス、ランにおけるピ
クセル番号、マイナス1に等しくセットされる(ブロッ
ク114)。アルゴリズムは、その時のランに対する状
態をその時の状態の反対に等しくセットすることにより
、その時の状態をトグルする(ブロック116)。次い
で、このアルゴリズムは、走査線上のラン番号をラン番
号、プラス1に等しくセットし(ブロック118)、走
査線上のその時のピクセル番号を、その時のピクセル番
号、プラスその時のランに対するピクセル番号に等しく
セットする(ブロック120)。
【0033】当業者は、図6に示した如きアルゴリズム
68がシステム24において同時に実行するある処理を
省略することが判るであろう。走査線に対するランのリ
ストに入れると共に、本アルゴリズムはまた、走査線に
対するラスタ・リストを埋めて各ピクセル毎の状態を表
示する。上記の如く、イメージの処理は走査線のブロッ
クにおいてアルゴリズム68により行われる。走査線の
見出しワード番号1は、走査線が反復される回数を指定
する。その結果、もし走査線が5回反復されねばならな
いとすれば、ラン・リストおよびラスタ・リストが5回
コピーされる。ブロック内の各走査線毎にラン・リスト
およびラスタ・リストに入れた後、これらリストは以下
に詳細に述べる別のアルゴリズムに対する入力として使
用される。
68がシステム24において同時に実行するある処理を
省略することが判るであろう。走査線に対するランのリ
ストに入れると共に、本アルゴリズムはまた、走査線に
対するラスタ・リストを埋めて各ピクセル毎の状態を表
示する。上記の如く、イメージの処理は走査線のブロッ
クにおいてアルゴリズム68により行われる。走査線の
見出しワード番号1は、走査線が反復される回数を指定
する。その結果、もし走査線が5回反復されねばならな
いとすれば、ラン・リストおよびラスタ・リストが5回
コピーされる。ブロック内の各走査線毎にラン・リスト
およびラスタ・リストに入れた後、これらリストは以下
に詳細に述べる別のアルゴリズムに対する入力として使
用される。
【0034】次に図7において、本発明による3状態の
ラスタ・イメージの生成の際システム24により使用さ
れるアルゴリズム122が示される。要約すれば、アル
ゴリズム122は、2つの走査線即ちその時の走査線お
よび前の走査線に沿って指標付けを行い、状態の遷移が
その時の走査線において検出される解き垂直方向に隣接
するランの状態を比較する。その時の走査線における状
態の遷移は、水平方向における特徴点の初めまたは終り
を表わす。隣接する走査線におけるラン間の状態の遷移
は、垂直方向における特徴点の初めまたは終りを表わす
。本アルゴリズムは、その時の走査線における特徴点の
初めおよび終りに隣接する選択数のピクセルに対するピ
クセル状態を変化させる。隣接する垂直方向のランの比
較により、本アルゴリズムはまた、図4に示されるよう
に、元の特徴点の内側および外側の両方の多数の走査線
に沿ってピクセルのカラー即ち状態を変更する。
ラスタ・イメージの生成の際システム24により使用さ
れるアルゴリズム122が示される。要約すれば、アル
ゴリズム122は、2つの走査線即ちその時の走査線お
よび前の走査線に沿って指標付けを行い、状態の遷移が
その時の走査線において検出される解き垂直方向に隣接
するランの状態を比較する。その時の走査線における状
態の遷移は、水平方向における特徴点の初めまたは終り
を表わす。隣接する走査線におけるラン間の状態の遷移
は、垂直方向における特徴点の初めまたは終りを表わす
。本アルゴリズムは、その時の走査線における特徴点の
初めおよび終りに隣接する選択数のピクセルに対するピ
クセル状態を変化させる。隣接する垂直方向のランの比
較により、本アルゴリズムはまた、図4に示されるよう
に、元の特徴点の内側および外側の両方の多数の走査線
に沿ってピクセルのカラー即ち状態を変更する。
【0035】上記の如く、ハイブリッド・ラスタ・イメ
ージは、RLEフォーマットにおける対応する一連の走
査線データから形成される一連の走査線からなっている
。望ましい実施態様においては、図7のアルゴリズム1
22は、垂直方向に隣接する走査線とその時の走査線上
の隣接するピクセル間でピクセル単位の比較は行わない
。むしろ、同じ状態の「ラン」の終りと対応するその時
あるいは前の走査線におけるピクセルの場所あるいは等
しくはその番号間で比較が行われる。このランの比較は
、直線状のピクセル比較よりも著しく効率的である。
ージは、RLEフォーマットにおける対応する一連の走
査線データから形成される一連の走査線からなっている
。望ましい実施態様においては、図7のアルゴリズム1
22は、垂直方向に隣接する走査線とその時の走査線上
の隣接するピクセル間でピクセル単位の比較は行わない
。むしろ、同じ状態の「ラン」の終りと対応するその時
あるいは前の走査線におけるピクセルの場所あるいは等
しくはその番号間で比較が行われる。このランの比較は
、直線状のピクセル比較よりも著しく効率的である。
【0036】アルゴリズム122は、ブロック124に
おいて、2つの隣接する走査線と対応する信号を受取る
。これらの走査線は、図6に関して概要が示されたアル
ゴリズムに従って生成されたものである。1つの最初の
走査線において、本アルゴリズムが初期化プロセスの部
分として比較されるべき最初の走査線に対して全て白の
ピクセルの「線0」を提供する。ブロック125におい
て、本アルゴリズムは、このブロックにおいて走査線の
処理を行うかどうかを判定する。もしそうであれば、こ
のアルゴリズムはブロック27で終了する。もしそうで
なければ、本アルゴリズムは、図8に関して以下におい
て詳細に述べるアルゴリズムへ抜ける。ブロック126
において、このアルゴリズムは、前の走査線上のランの
終了ピクセル番号をその時の走査線上のランの終了ピク
セル番号と比較する。
おいて、2つの隣接する走査線と対応する信号を受取る
。これらの走査線は、図6に関して概要が示されたアル
ゴリズムに従って生成されたものである。1つの最初の
走査線において、本アルゴリズムが初期化プロセスの部
分として比較されるべき最初の走査線に対して全て白の
ピクセルの「線0」を提供する。ブロック125におい
て、本アルゴリズムは、このブロックにおいて走査線の
処理を行うかどうかを判定する。もしそうであれば、こ
のアルゴリズムはブロック27で終了する。もしそうで
なければ、本アルゴリズムは、図8に関して以下におい
て詳細に述べるアルゴリズムへ抜ける。ブロック126
において、このアルゴリズムは、前の走査線上のランの
終了ピクセル番号をその時の走査線上のランの終了ピク
セル番号と比較する。
【0037】もし前の走査線上のランの終了ピクセル番
号がその時の走査線上のランの終了ピクセル番号より大
きければ、アルゴリズムがその時および前の走査線上の
隣接するランの状態を調べる(ブロック128)。もし
これらが同じものであれば、アルゴリズムはブロック1
30へ進み、前の走査線上のランの終了ピクセル番号を
その時の走査線上のランの終了ピクセル番号、プラス1
に等しくセットする。ブロック132において、アルゴ
リズムは、その時のセット上の次のランへ進み、その後
図8に関して以下に詳細に述べる別のアルゴリズムへ進
む。否定の判定がブロック128に早く到達したならば
、アルゴリズムは図9に関して以下に詳細に述べるアル
ゴリズムへ抜ける(ブロック136)。
号がその時の走査線上のランの終了ピクセル番号より大
きければ、アルゴリズムがその時および前の走査線上の
隣接するランの状態を調べる(ブロック128)。もし
これらが同じものであれば、アルゴリズムはブロック1
30へ進み、前の走査線上のランの終了ピクセル番号を
その時の走査線上のランの終了ピクセル番号、プラス1
に等しくセットする。ブロック132において、アルゴ
リズムは、その時のセット上の次のランへ進み、その後
図8に関して以下に詳細に述べる別のアルゴリズムへ進
む。否定の判定がブロック128に早く到達したならば
、アルゴリズムは図9に関して以下に詳細に述べるアル
ゴリズムへ抜ける(ブロック136)。
【0038】もし前の走査線上のランの終了ピクセル番
号がブロック138で判定される如きその時の走査線上
のランの終了ピクセル番号より小さければ、アルゴリズ
ムはその時の走査線上のランの状態と比較される如き前
の走査線上のランの状態を調べることになる(ブロック
140)。もし状態が等しければ、アルゴリズムは、ブ
ロック142において、その時の走査線上のランの開始
ピクセル番号を前の走査線上のランの終了ピクセル番号
、プラス1に等しくセットする。ブロック144におい
て、アルゴリズムは前の走査線上の次のランへ進む。 しかし、ブロック140において否定の判定に達するな
らば、アルゴリズムは図9に関して以下に詳細に述べる
アルゴリズムへ進むことになる(ブロック146)。
号がブロック138で判定される如きその時の走査線上
のランの終了ピクセル番号より小さければ、アルゴリズ
ムはその時の走査線上のランの状態と比較される如き前
の走査線上のランの状態を調べることになる(ブロック
140)。もし状態が等しければ、アルゴリズムは、ブ
ロック142において、その時の走査線上のランの開始
ピクセル番号を前の走査線上のランの終了ピクセル番号
、プラス1に等しくセットする。ブロック144におい
て、アルゴリズムは前の走査線上の次のランへ進む。 しかし、ブロック140において否定の判定に達するな
らば、アルゴリズムは図9に関して以下に詳細に述べる
アルゴリズムへ進むことになる(ブロック146)。
【0039】もしブロック138において否定の判定に
達したならば、アルゴリズムはブロック148において
、前の走査線上のランの状態がその時の走査線上のラン
の状態と等しいかどうかを判定する。もしそうであれば
、アルゴリズムは、ブロック150において、前の走査
線上のランの終了ピクセルが走査線の最後のピクセルと
対応するかどうかを判定する。もしそうであれば、アル
ゴリズムは図8に関して以下に詳細に述べるアルゴリズ
ムを実行し(ブロック152)、次の走査線へ進む(ブ
ロック154)。もし走査線の終りに達しなければ、ア
ルゴリズムは、ブロック156において、前およびその
時の走査線上の次のランへ進み、図8に関して以下に詳
細に述べるアルゴリズムへ進む(ブロック157)。も
しブロック148において前の走査線上のランの状態が
その時のランの状態に等しくなければ、アルゴリズムは
図8に関して以下に詳細に述べるアルゴリズムへ抜ける
(ブロック158)。
達したならば、アルゴリズムはブロック148において
、前の走査線上のランの状態がその時の走査線上のラン
の状態と等しいかどうかを判定する。もしそうであれば
、アルゴリズムは、ブロック150において、前の走査
線上のランの終了ピクセルが走査線の最後のピクセルと
対応するかどうかを判定する。もしそうであれば、アル
ゴリズムは図8に関して以下に詳細に述べるアルゴリズ
ムを実行し(ブロック152)、次の走査線へ進む(ブ
ロック154)。もし走査線の終りに達しなければ、ア
ルゴリズムは、ブロック156において、前およびその
時の走査線上の次のランへ進み、図8に関して以下に詳
細に述べるアルゴリズムへ進む(ブロック157)。も
しブロック148において前の走査線上のランの状態が
その時のランの状態に等しくなければ、アルゴリズムは
図8に関して以下に詳細に述べるアルゴリズムへ抜ける
(ブロック158)。
【0040】本発明は、略々見かけの特徴点の大きさだ
け隔てられた内側および外側の特徴点の両公差をもたら
すものである。本発明の望ましい実施態様において用い
られる、図8および図9に関して詳細に述べるアルゴリ
ズムは、それぞれ、水平(走査線を横切る)および垂直
(走査線に接する)方向においてこれらの特徴点の公差
を提供するため使用される。ピクセルの予め定めた番号
は、特徴点の公差となるように決定される。次に図8に
おいては、本発明により提供されるシステム24により
使用されるアルゴリズム158が示される。このアルゴ
リズム158は、図7に関して以下に詳細に述べるアル
ゴリズム122においてシステムにより達する判定に従
ってアクセスされる。
け隔てられた内側および外側の特徴点の両公差をもたら
すものである。本発明の望ましい実施態様において用い
られる、図8および図9に関して詳細に述べるアルゴリ
ズムは、それぞれ、水平(走査線を横切る)および垂直
(走査線に接する)方向においてこれらの特徴点の公差
を提供するため使用される。ピクセルの予め定めた番号
は、特徴点の公差となるように決定される。次に図8に
おいては、本発明により提供されるシステム24により
使用されるアルゴリズム158が示される。このアルゴ
リズム158は、図7に関して以下に詳細に述べるアル
ゴリズム122においてシステムにより達する判定に従
ってアクセスされる。
【0041】ブロック160において、その時のランの
状態が決定される。もしこの状態が黒であるならば、ア
ルゴリズムは、ブロック162において、開始プラス、
前に選択された公差の値と対応するピクセル番号より1
小さい部分をグレー・ピクセルにセットする。ブロック
164において、次に本アルゴリズムは、開始ピクセル
番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス1を
グレー・ピクセルにセットする。ブロック162および
164において実行されるステップは、それぞれ特徴点
の初めにおいて内側および外側の特徴点の公差を確立す
る。
状態が決定される。もしこの状態が黒であるならば、ア
ルゴリズムは、ブロック162において、開始プラス、
前に選択された公差の値と対応するピクセル番号より1
小さい部分をグレー・ピクセルにセットする。ブロック
164において、次に本アルゴリズムは、開始ピクセル
番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス1を
グレー・ピクセルにセットする。ブロック162および
164において実行されるステップは、それぞれ特徴点
の初めにおいて内側および外側の特徴点の公差を確立す
る。
【0042】しかし、もしランの状態が黒であると判定
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック166
において、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピ
クセル番号マイナス1までをグレー・ピクセルにセット
することになる。ブロック168において、アルゴリズ
ムは、開始ピクセルから開始ピクセルプラス公差値マイ
ナス1をグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロ
ック166および168においてアルゴリズムにより実
行されるステップは、それぞれ特徴点の終りに対する内
側および外側の特徴点の公差を確立する。
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック166
において、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピ
クセル番号マイナス1までをグレー・ピクセルにセット
することになる。ブロック168において、アルゴリズ
ムは、開始ピクセルから開始ピクセルプラス公差値マイ
ナス1をグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロ
ック166および168においてアルゴリズムにより実
行されるステップは、それぞれ特徴点の終りに対する内
側および外側の特徴点の公差を確立する。
【0043】図9は、垂直あるいは隣接する走査線方向
に特徴点公差を確立するためシステム24により実行さ
れるアルゴリズム170の概略図である。上記の如く、
各走査線は関連する走査線番号を有する。アルゴリズム
170は、図7に関して先に詳細に述べたアルゴリズム
122においてシステムにより達する判定に従ってアク
セスされる。ブロック172において、その時の走査線
上のランの状態が判定される。もしこの状態が黒ならば
、アルゴリズムは、ブロック174において、その時の
走査線、およびその走査線番号がその時の走査線番号プ
ラス公差値マイナス1に等しい走査線に対してその時の
ランの開始、マイナス公差値からその時のランの終りプ
ラス公差値までをグレー・ピクセルにセットする。ブロ
ック176において、アルゴリズムは次に、その時の走
査線マイナス公差値から始まり、その時の走査線番号、
マイナス1に対して、その時のランの開始、マイナス公
差値からその時のランの終りプラス公差値までをグレー
・ピクセルにセットする。ブロック174、176にお
いて実行されるステップは、それぞれ特徴点の初めにお
いて内側および外側の垂直の特徴点公差を確立する。
に特徴点公差を確立するためシステム24により実行さ
れるアルゴリズム170の概略図である。上記の如く、
各走査線は関連する走査線番号を有する。アルゴリズム
170は、図7に関して先に詳細に述べたアルゴリズム
122においてシステムにより達する判定に従ってアク
セスされる。ブロック172において、その時の走査線
上のランの状態が判定される。もしこの状態が黒ならば
、アルゴリズムは、ブロック174において、その時の
走査線、およびその走査線番号がその時の走査線番号プ
ラス公差値マイナス1に等しい走査線に対してその時の
ランの開始、マイナス公差値からその時のランの終りプ
ラス公差値までをグレー・ピクセルにセットする。ブロ
ック176において、アルゴリズムは次に、その時の走
査線マイナス公差値から始まり、その時の走査線番号、
マイナス1に対して、その時のランの開始、マイナス公
差値からその時のランの終りプラス公差値までをグレー
・ピクセルにセットする。ブロック174、176にお
いて実行されるステップは、それぞれ特徴点の初めにお
いて内側および外側の垂直の特徴点公差を確立する。
【0044】しかし、もしランの状態が黒であると判定
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック178
において、その時の走査線マイナス公差値からその時の
走査線マイナス1に対して、その時のランの開始、マイ
ナス公差値からその時のランの終りプラス公差値までを
グレー・ピクセルに、セットすることになる。ブロック
180においては、アルゴリズムは、その時の走査線プ
ラス公差値、マイナス1に対して、その時のランの初め
、マイナス公差値からその時のランの終りプラス公差値
までをグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロッ
ク178および180においてアルゴリズムにより実行
されるステップは、それぞれ特徴点の終りに対する内側
および外側の特徴点の公差を確立する。当業者は、図7
および図8に関して本文に詳細に述べたアルゴリズムが
図4に示した如き特徴点を圧縮することになることを保
証することが判るであろう。
されなかったならば、アルゴリズムは、ブロック178
において、その時の走査線マイナス公差値からその時の
走査線マイナス1に対して、その時のランの開始、マイ
ナス公差値からその時のランの終りプラス公差値までを
グレー・ピクセルに、セットすることになる。ブロック
180においては、アルゴリズムは、その時の走査線プ
ラス公差値、マイナス1に対して、その時のランの初め
、マイナス公差値からその時のランの終りプラス公差値
までをグレー・ピクセルにセットする。同様に、ブロッ
ク178および180においてアルゴリズムにより実行
されるステップは、それぞれ特徴点の終りに対する内側
および外側の特徴点の公差を確立する。当業者は、図7
および図8に関して本文に詳細に述べたアルゴリズムが
図4に示した如き特徴点を圧縮することになることを保
証することが判るであろう。
【0045】同様に、本発明はその望ましい実施態様に
関して示し記したが、当業者は、本発明の趣旨および範
囲から逸脱することなく他の色々な変更、省略および付
加が可能であることを理解すべきである。
関して示し記したが、当業者は、本発明の趣旨および範
囲から逸脱することなく他の色々な変更、省略および付
加が可能であることを理解すべきである。
【図1】印刷回路板の製造において使用される幾つかの
デバイスを示す概略図である。
デバイスを示す概略図である。
【図2】本発明により提供される装置を含む印刷回路板
の欠陥検出システムを示す概略図である。
の欠陥検出システムを示す概略図である。
【図3】図2のシステムにおいて使用される圧縮された
データ・レコードに対する論理レコード・フォーマット
を示す概略図である。
データ・レコードに対する論理レコード・フォーマット
を示す概略図である。
【図4】同様な色のピクセルランとして表わされるPC
B素子の特徴点を有する一連の走査線の概略図である。
B素子の特徴点を有する一連の走査線の概略図である。
【図5】内側および外側公差を特徴とする本発明により
提供されるPCB特徴点のイメージの図である。
提供されるPCB特徴点のイメージの図である。
【図6】圧縮走査線データ信号を受取りこの信号をハイ
ブリッド・ラスタ・フォーマットへ変換するため図2の
装置により使用されるアルゴリズムを示す概略図である
。
ブリッド・ラスタ・フォーマットへ変換するため図2の
装置により使用されるアルゴリズムを示す概略図である
。
【図7】個々のPCB特徴点の公差を有する3状態ラス
タ・イメージを生成するため図2の装置により使用され
るアルゴリズムを示す概略図である。
タ・イメージを生成するため図2の装置により使用され
るアルゴリズムを示す概略図である。
【図8】その時の走査線と交差するPCB特徴点に対す
る公差を生成する際図7のアルゴリズムによりアクセス
されるアルゴリズムの概略図である。
る公差を生成する際図7のアルゴリズムによりアクセス
されるアルゴリズムの概略図である。
【図9】その時の走査線に隣接する走査線におけるPC
B特徴点公差を生成する際図7のアルゴリズムによりア
クセスされるアルゴリズムの概略図である。
B特徴点公差を生成する際図7のアルゴリズムによりア
クセスされるアルゴリズムの概略図である。
10 印刷回路板製造システム
12 CAD/CAM装置
14 物理的レイアウト・プログラム16 フォト
プロッタ 18 印刷回路板の製作 20 印刷回路板欠陥検出システム 22 検証ステーション 24 欠陥検出システム 26 遷移データベース(TDB) 28 走査線の更新(SLU) 30 ランレングス・コード化(RLE)フォーマッ
ト32 ラスタ・フォーマット圧縮解除34 特徴
点公差値加算 36 RLEフォーマット変換 55 印刷回路板(PCB)図版の特徴点56、57
、58、59、60 走査線61 特徴点の外側 62 白のピクセルのラン 63 黒のピクセルのラン 64 白のピクセルのラン 65、66、67 領域 68 アルゴリズム
プロッタ 18 印刷回路板の製作 20 印刷回路板欠陥検出システム 22 検証ステーション 24 欠陥検出システム 26 遷移データベース(TDB) 28 走査線の更新(SLU) 30 ランレングス・コード化(RLE)フォーマッ
ト32 ラスタ・フォーマット圧縮解除34 特徴
点公差値加算 36 RLEフォーマット変換 55 印刷回路板(PCB)図版の特徴点56、57
、58、59、60 走査線61 特徴点の外側 62 白のピクセルのラン 63 黒のピクセルのラン 64 白のピクセルのラン 65、66、67 領域 68 アルゴリズム
Claims (4)
- 【請求項1】 印刷回路板(PCB)の製造における
図版に使用されるPCBの特徴のイメージを表わす信号
のデータベースを生成する装置(26)であって、該イ
メージが一連の走査線に配置された第1の状態(63、
黒)または第2の状態(62、白)のいずれか一方を有
するピクセル列からなり、該黒の状態のピクセルが前記
PCBの特徴点と対応し、該走査線の各々が同じ状態の
ピクセルの少なくとも1つのランからなり、その時(5
7)および前(56)の走査線と対応する信号を受取る
第1の手段と、前記その時の走査線(57)における第
1のラン(62)の終りのピクセルと第2のラン(63
)の初めにおけるピクセルとにより形成されるラン境界
を識別する第2の手段と、前記ランの状態を判定する第
3の手段とを含む装置において、前記その時の走査線境
界と一致する前記前の走査線(56)におけるピクセル
の状態を判定する第4の手段と、前記第1および第2の
ランにおける前記境界周囲の予め定めた公差数のピクセ
ルの状態を第3の状態(66、グレー)へ変更する第5
の手段と、前記ランの境界ピクセルの1つと一致する前
記前の走査線のピクセルが異なる状態にあるならば、第
1の状態のピクセルからなる前記第1および第2のラン
の1つと一致した隣接する走査線における前記第3の状
態(66)のピクセルへ変更する第6の手段とを設け、
前記第6の手段が更に、前記その時の走査線の境界と一
致する予め定めた公差数のピクセルを含む前記第3の状
態(66)へ変更する装置。 - 【請求項2】 印刷回路板(PCB)の製造における
図版において使用されるPCBの特徴点(55)のイメ
ージを表わす信号のデータベースを生成する方法であり
、該イメージが一連の走査線(56、57、58)にお
いて配置された第1の状態(63、黒)または第2の状
態(62、白)のいずれか一方を有するピクセル列から
なり、該黒の状態のピクセルが前記PCBの特徴点と対
応し、前記走査線の各々が同じ状態のピクセルの少なく
とも1つのラン(62)からなる方法であって、その時
(57)および前(56)の走査線と対応する信号を受
取り、前記その時の走査線(57)における第1のラン
(62)の終りにおけるピクセルと前記第2のラン(6
3)の初めにおけるピクセルとにより形成されるランの
境界を識別し、前記ランの状態を判定するステップを含
む方法において、前記その時の走査線のピクセル境界と
一致する前記前の走査線(56)におけるピクセルの状
態を判定し、前記第1および第2のランにおける前記境
界付近の予め定めた公差数のピクセルの状態を第3の状
態(66、グレー)へ変更し、前記ランの境界のピクセ
ルの1つと一致する前記前の走査線(56)のピクセル
が異なる状態にあるならば、第1の状態のピクセルから
なる前記第1または第2のランの1つと一致する前記隣
接する走査線(56、58)におけるピクセルを前記第
3の状態(66)へ変更するステップを含み、前記その
時の走査線の境界と一致する予め定めた公差数のピクセ
ルを含む前記第3の状態のピクセルへ更に変更する方法
。 - 【請求項3】 回路の特徴点(55)を有する印刷回
路板(PCB)における欠陥を検出する際使用される3
状態の遷移データベース(TDB)を生成し、前記PC
Bのイメージと対応する信号を有するデータベースを受
取るシステム(20)であって、該データベースが、第
1の状態(63、黒)または第2の状態(62、白)の
いずれか一方であるピクセル列からなる複数の走査線(
56、57、58)を含むランレングス・コード化され
たラスタ・ハイブリッド・フォーマットにあり、前記走
査線がある走査線数および同じ状態のピクセルの少なく
とも1つのランを有するシステムにおいて、2つの隣接
する走査線、前の走査線(56)およびその時の走査線
(57)と対応する信号を受取り(125)、前の走査
線上の第1のランの終了ピクセル番号をその時の走査線
上の第1のランの終了ピクセル番号と比較し(126)
、前の走査線上のランの終了ピクセル番号がその時の走
査線(57)上のランの終了ピクセル番号より大きけれ
ば、その時の走査線(57)および前の走査線(56)
上の隣接するランの状態を調べ(128)、これら終了
ピクセル番号が同じであれば、前の走査線(56)上の
ランの開始ピクセル番号をその時の走査線上のランの終
了ピクセル番号、プラス1に等しくセットし(130)
、その時の走査線上の次のランへ進み(132)、その
後、その時の走査線のランの状態を判定し(134)、
この状態が黒であれば(160)、開始ピクセル番号か
ら開始ピクセル番号プラス公差値より1小さい番号まで
のその時の走査線のピクセルを第3の状態(グレー)へ
セットし(162)、前記開始ピクセル番号マイナス公
差値から開始ピクセル番号マイナス1までのその時の走
査線のピクセルを第3の状態へセットし(164)、状
態が白ならば、開始ピクセル番号マイナス公差値から開
始ピクセル番号マイナス1までのその時の走査線のピク
セルを第3の状態へセットし(166)、開始ピクセル
番号から開始ピクセル番号プラス公差値マイナス1まで
のその時の走査線のピクセルを第3の状態へセットし(
168)、その時および前の走査線上の隣接するランの
状態が同じでなければ(136)、その時のランの状態
を判定し(172)、この状態が黒ならば、その時の走
査線に対する、およびその時の走査線数プラス公差値マ
イナス1に等しい走査線数を持つ走査線に対してその時
のランの開始マイナス公差値からその時のランの終り、
プラス公差値までのその時の走査線のピクセルを第3の
状態へセットし(174)、その時の走査線数マイナス
公差値からその時の走査線数マイナス1までの走査線に
おいて、その時のランの初め、マイナス公差値からその
時のランの終り、プラス公差値までを第3の状態のピク
セルへセットし(176)、その時の状態が黒と判定さ
れなかった場合、その時の走査線マイナス公差値からそ
の時のラン、マイナス1までの走査線に対してその時の
ランの初め、マイナス公差値からその時のランの終り、
プラス公差値までを第3の状態のピクセルへセットし(
178)、その時の走査線からその時の走査線プラス公
差値マイナス1までの走査線において、その時のランの
初め、マイナス公差値からその時のランの終り、プラス
公差値までを第3の状態のピクセルへセットし(180
)、前の走査線上のランの終了ピクセル番号がその時の
走査線上のランの終了ピクセル番号より小さければ(1
38)、前の走査線上のラン状態をその時の走査線上の
ランの状態と比較し(140)、この状態が同じならば
、その時の走査線上のランの開始ピクセル番号を前の走
査線上のランの終了ピクセル番号プラス1に等しくセッ
トし(142)、前の走査線上の次のランへ進み(14
4)、該状態が同じでなければ、その時のランの状態を
判定し(172)、該状態が黒ならば、その時の走査線
で始まりかつその時の走査線数、プラス公差値マイナス
1と等しい走査線数を持つ走査線においてその時のラン
の初め、マイナス公差値からその時のランの終り、プラ
ス、公差値までを第3の状態のピクセルへセットし(1
74)、その時の走査線、マイナス公差値からその時の
走査線、マイナス1までの走査線において、その時のラ
ンの初め、マイナス公差値からその時のランの終り、プ
ラス公差値までを第3の状態のピクセルへセットし(1
76)、該状態が白ならば、その時の走査線マイナス公
差値から、その時の走査線マイナス1の走査線において
、その時のランの初め、マイナス公差値からその時のラ
ンの終り、プラス公差値までを第3の状態のピクセルへ
セットし(178)、その時のランの状態が黒と判定さ
れなかったならば、その時の走査線で始まり、その時の
走査線、プラス公差値マイナス1までの走査線において
、その時のランの初め、マイナス公差値からその時のラ
ンの終り、プラス公差値までを第3の状態のピクセルへ
セットし(180)、前の走査線におけるランの終了ピ
クセル番号がその時の走査線におけるランの終了ピクセ
ル番号より小さくなければ(148)、前の走査線にお
けるランの状態をその時の走査線におけるランの状態と
比較し、前記状態が同じならば、前の走査線上のランの
終了ピクセルがその時の走査線の最後のピクセルと対応
するかどうかを判定し(150)、また前記その時のラ
ンの終了ピクセルが前記最後のその時の走査線ピクセル
であるならば(152)、その時のランの状態を判定し
(160)、もしこの状態が黒ならば、初めプラス公差
値より1小さい部分からを第3の状態(グレー)のピク
セルへセットし(162)、開始ピクセル番号マイナス
公差値から開始ピクセル番号マイナス1までを第3の状
態のピクセルへセットし(164)、この状態が白なら
ば、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピクセル
番号マイナス1までを第3の状態のピクセルへセットし
(166)、開始ピクセルから開始ピクセル、プラス公
差値マイナス1までを第3の状態のピクセルへセットし
(168)、次の走査線へ進み(154)、前の走査線
上のランの状態がその時のランの状態と等しくなければ
(158)、その時のランの状態を判定し(172)、
この状態が黒ならば、その時の走査線で始まりかつその
時の走査線数プラス公差値マイナス1に等しい走査線数
を持つ走査線に対してその時のランの初め、マイナス公
差値からその時のランの終り、プラス公差値までを第3
の状態のピクセルへセットし(174)、その時の走査
線数マイナス公差値からその時の走査線マイナス1まで
の走査線において、その時のランの初め、マイナス公差
値からその時のランの終り、プラス公差値までを第3の
状態のピクセルへセットし(176)、この状態が白な
らば、その時の走査線マイナス公差値からその時の走査
線マイナス1までの走査線において、その時のランの初
めマイナス公差値から、その時のランの終り、プラス公
差値までを第3の状態のピクセルへセットし(178)
、その時のランの状態が黒であると判定されなかったな
らば、その時の走査線で始まり、その時の走査線プラス
公差値マイナス1の走査線において、その時のランの初
めマイナス公差値から、その時のランの終りプラス公差
値までを第3の状態のピクセルへセットし(180)、
前の走査線の終了ピクセル番号が前記最後の走査線のピ
クセル番号と等しくなければ、前およびその時の走査線
上の次のランへ進み(156)、その時のランの状態を
判定し(157)、この状態が黒ならば、初めプラス公
差値より1小さい部分からを第3の状態(グレー)のピ
クセルへセットし(162)、開始ピクセル番号マイナ
ス公差値から開始ピクセル番号マイナス1までを第3の
状態のピクセルへセットし(164)、状態が白ならば
、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピクセル番
号マイナス1までを第3の状態のピクセルへセットし(
166)、開始ピクセルから開始ピクセル、プラス公差
値マイナス1までを第3の状態のピクセルへセットし(
168)、次の隣接する走査線と対応する信号を受取る
(154)ステップを含む方法を特徴とするシステム。 - 【請求項4】 回路の特徴点(55)を有する印刷回
路板(PCB)における欠陥を検出するシステム(20
)に使用される方法であって、該システム(20)は前
記PCBのイメージと対応する信号を有するデータベー
スを受取り、該データベースは、第1の状態(63、黒
)または第2の状態(62、白)のいずれかにあるピク
セル列からなる複数の走査線(56、57、58)を含
むランレングス・コード化ラスタ・ハイブリッド・フォ
ーマット形式にされ、該走査線は同じ状態のピクセルの
少なくとも1つのランを有する方法において、2つの隣
接する走査線、即ち前の走査線(56)およびその時の
走査線(57)と対応する信号を受取り(125)、前
の走査線上の第1のランの終了ピクセル番号をその時の
走査線上の第1のランの終了ピクセル番号と比較し(1
26)、前の走査線上のランの終了ピクセル番号がその
時の走査線(57)上のランの終了ピクセル番号より大
きければ、その時の走査線(57)および前の走査線(
56)上の隣接するランの状態を調べ(128)、これ
ら状態が同じであれば、前の走査線(56)上のランの
開始ピクセル番号をその時の走査線上のランの終了ピク
セル番号プラス1に等しくセットし(130)、その時
の走査線上の次のランへ進み(132)、その後、その
時の走査線のランの状態を判定し(134)、状態が黒
ならば、開始ピクセル番号から開始ピクセル番号プラス
公差値マイナス1までのその時の走査線ピクセルを第3
の(グレー)状態へセットし(162)、前記開始ピク
セル番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス
1までのその時の走査線ピクセルを第3の状態にセット
し(164)、この状態が白ならば、前記開始ピクセル
番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス1ま
でのその時の走査線ピクセルを第3の状態にセットし(
166)、開始ピクセル番号から開始ピクセル番号プラ
ス公差値マイナス1までのその時の走査線ピクセルを第
3の状態にセットし(168)、その時および前の走査
線上の隣接するランの状態が同じでなければ(136)
、その時のランの状態を判定し(172)、この状態が
黒ならば、その時の走査線およびその時の走査線数プラ
ス公差値マイナス1に等しい走査線数を持つ走査線に対
してその時のランの開始マイナス公差値からその時のラ
ンの終りプラス公差値までのその時の走査線ピクセルを
第3の状態にセットし(174)、その時の走査線数マ
イナス1からその時の走査線数マイナス1の走査線にお
いて、その時のランの初めマイナス公差値からその時の
ランの終り、プラス公差値を第3の状態のピクセルにセ
ットし(176)、この状態が白ならば、その時の走査
線マイナス公差値からその時の走査線マイナス1の走査
線に対してその時のランの初めマイナス公差値からその
時のランの終り、プラス公差値を第3の状態のピクセル
にセットし(178)、その時のランの状態が黒と判定
されなかった場合、その時の走査線からその時の走査線
プラス公差値マイナス1までの走査線において、その時
のランの初めマイナス公差値からその時のランの終り、
プラス公差値までを第3の状態のピクセルにセットし(
180)、前の走査線におけるランの終了ピクセル番号
がその時の走査線におけるランの終了ピクセル番号より
小さければ(138)、前の走査線上のランの状態をそ
の時の走査線上のランの状態と比較し(140)、この
状態が同じならば、前の走査線上のランの終了ピクセル
番号プラス1に等しくその時の走査線上のランの開始ピ
クセル番号をセットし(142)、前の走査線の次のラ
ンへ進み(144)、前記状態が同じでなければ、その
時のランの状態を判定し(172)、この状態が黒なら
ば、その時の走査線で始まる走査線およびその時の走査
線数プラス公差値マイナス1に等しい走査線数を持つ走
査線に対してその時のランの初めマイナス公差値からそ
の時のランの終り、プラス公差値までを第3の状態のピ
クセルにセットし(174)、その時の走査線マイナス
公差値からその時の走査線数マイナス1に対してその時
のランの初めマイナス公差値からその時のランの終り、
プラス公差値までを第3の状態のピクセルにセットし(
176)、この状態が白ならば、その時の走査線マイナ
ス公差値からその時の走査線マイナス1に対してその時
のランの初めマイナス公差値から現在のランの終りプラ
ス、公差値までを第3の状態のピクセルにセットし(1
78)、その時のラン状態が黒と判定されなかったなら
ば、その時の走査線からその時の走査線、プラス公差値
マイナス1までの走査線において、その時のランの初め
マイナス公差値から、その時のランの終り、プラス公差
値までを第3の状態のピクセルにセットし(180)、
前の走査線上のランの終了ピクセル番号がその時の走査
線上のランの終了ピクセル番号より小さくなければ、前
の走査線上のランの状態をその時の走査線上のランの状
態と比較し、この状態が同じならば、前の走査線上のラ
ンの終了ピクセルがその時の走査線の最後のピクセルと
対応するかどうか判定し(150)、前記その時のラン
の終了ピクセルが前記最後のその時の走査線ピクセルで
あるならば、その時のランの状態を判定し(160)、
この状態が黒ならば、初めプラス公差値より1小さな部
分を第3の状態(グレー)のピクセルにセットし(16
2)、開始ピクセル番号マイナス公差値から開始ピクセ
ル番号マイナス1までを第3の状態のピクセルにセット
し(164)、この状態が白ならば、開始ピクセル番号
マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス1までを
第3の状態のピクセルにセットし(166)、開始ピク
セルから開始ピクセル、プラス公差値マイナス1までを
第3の状態のピクセルへセットし(168)、次の走査
線へ進み(154)、前の走査線上のランの状態がその
時のランの状態と等しくなければ、その時のランの状態
を判定し(172)、この状態が黒ならば、その時の走
査線から開始する走査線およびその時の走査線数プラス
公差値マイナス1に等しい走査線数を持つ走査線に対し
てその時のランの開始マイナス公差値からその時のラン
の終り、プラス公差値までを第3の状態のピクセルにセ
ットし(174)、その時の走査線マイナス公差値から
その時の走査線数マイナス1に対してその時のランの開
始マイナス公差値から、その時のランの終り、プラス公
差値までを第3の状態のピクセルにセットし(176)
、この状態が白ならば、その時の走査線マイナス公差値
で始まりその時の走査線マイナス1までの走査線におい
て、その時のランの初めマイナス公差値からその時のラ
ンの終り、プラス公差値までを第3の状態のピクセルへ
セットし(178)、その時のランの状態が黒と判定さ
れなかった場合、その時の走査線で始まりその時の走査
線、プラス公差値マイナス1までの走査線において、そ
の時のランの開始マイナス公差値からその時のランの終
り、プラス公差値までを第3の状態のピクセルにセット
し(180)、前の走査線の終了ピクセル番号が前記最
後の走査線のピクセル番号と等しくなければ、前および
その時の走査線の次のランへ進み(156)、その時の
ランの状態を判定し(157)、この状態が黒ならば、
初めプラス公差値より1小さな部分からを第3の状態(
グレー)のピクセルにセットし(162)、開始ピクセ
ル番号マイナス公差値から開始ピクセル番号マイナス1
までを第3の状態のピクセルにセットし(164)、こ
の状態が白ならば、開始ピクセル番号マイナス公差値か
ら開始ピクセル番号マイナス1までを第3の状態のピク
セルにセットし(166)、開始ピクセルから開始ピク
セル、プラス公差値マイナス1までを第3の状態のピク
セルにセットし(168)、次の隣接する走査線と対応
する信号を受取る(154)ステップを特徴とする方法
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/508,093 US5157762A (en) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | Method and apparatus for providing a three state data base for use with automatic optical inspection systems |
US508093 | 1995-07-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04225149A true JPH04225149A (ja) | 1992-08-14 |
JP2527501B2 JP2527501B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=24021356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3077627A Expired - Lifetime JP2527501B2 (ja) | 1990-04-10 | 1991-04-10 | 自動光学検査システム用3状態デ―タベ―ス装置および方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5157762A (ja) |
JP (1) | JP2527501B2 (ja) |
DE (1) | DE4111490C2 (ja) |
FR (1) | FR2660772B1 (ja) |
GB (1) | GB2243682B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN112131821B (zh) * | 2020-09-23 | 2024-05-17 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种应用于pcb加工的文字处理方法 |
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- 1990-04-10 US US07/508,093 patent/US5157762A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-03-15 GB GB9105492A patent/GB2243682B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-08 FR FR919104253A patent/FR2660772B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-09 DE DE4111490A patent/DE4111490C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-10 JP JP3077627A patent/JP2527501B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2660772A1 (fr) | 1991-10-11 |
DE4111490C2 (de) | 1995-04-27 |
FR2660772B1 (fr) | 1994-11-18 |
GB9105492D0 (en) | 1991-05-01 |
GB2243682A (en) | 1991-11-06 |
JP2527501B2 (ja) | 1996-08-28 |
DE4111490A1 (de) | 1991-10-17 |
GB2243682B (en) | 1993-10-20 |
US5157762A (en) | 1992-10-20 |
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