JP2517277Y2 - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
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- JP2517277Y2 JP2517277Y2 JP1992001552U JP155292U JP2517277Y2 JP 2517277 Y2 JP2517277 Y2 JP 2517277Y2 JP 1992001552 U JP1992001552 U JP 1992001552U JP 155292 U JP155292 U JP 155292U JP 2517277 Y2 JP2517277 Y2 JP 2517277Y2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この考案はプリント基板(ベアボ
ード)の配線パターン(プリントパターン)の導通・短
絡を検査するためのプリント基板検査装置に関する。さ
らに詳しくは、プリント基板と、検査用プローブを配列
したプローブ保持板との相対的な位置ずれを検出し、そ
の検出データに基づいて位置ずれを補正しうるプリント
基板検査装置に関する。
ード)の配線パターン(プリントパターン)の導通・短
絡を検査するためのプリント基板検査装置に関する。さ
らに詳しくは、プリント基板と、検査用プローブを配列
したプローブ保持板との相対的な位置ずれを検出し、そ
の検出データに基づいて位置ずれを補正しうるプリント
基板検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプリント基板検査装置は一般的に
図9に示す構成を備えている。図9において61はベー
スであり、ベース61上にはエアシリンダなどの上下駆
動機構62が設けられている。さらにその上にはプリン
ト基板63を支持するための下側検査治具64が取り付
けられている。ベース61の4隅に立設した支柱65の
上端には、プローブ保持板66が取り付けられている。
そのプローブ保持板66にはプリント基板63の回路パ
ターン67上の所定の検査点と対応するプローブ(ピン
プローブ)68が植え込まれている。なお図9の69は
上下ガイド機構である。
図9に示す構成を備えている。図9において61はベー
スであり、ベース61上にはエアシリンダなどの上下駆
動機構62が設けられている。さらにその上にはプリン
ト基板63を支持するための下側検査治具64が取り付
けられている。ベース61の4隅に立設した支柱65の
上端には、プローブ保持板66が取り付けられている。
そのプローブ保持板66にはプリント基板63の回路パ
ターン67上の所定の検査点と対応するプローブ(ピン
プローブ)68が植え込まれている。なお図9の69は
上下ガイド機構である。
【0003】このものを使用する場合、まず検査すべき
プリント基板63を下側検査治具64に載置し、上下駆
動機構62でプリント基板63を所定圧でプローブ保持
板66に当接させる。ついでプローブ68を通じて配線
パターンにおける断線や短絡の有無、導通抵抗の大きさ
など検査するのである。
プリント基板63を下側検査治具64に載置し、上下駆
動機構62でプリント基板63を所定圧でプローブ保持
板66に当接させる。ついでプローブ68を通じて配線
パターンにおける断線や短絡の有無、導通抵抗の大きさ
など検査するのである。
【0004】ところが近年、配線パターンの高密度化
(ファインパターン化)が進められている。そのためプ
リント基板63の外形を基準としたり、ガイドピン70
を基準穴71に嵌合させるだけではプローブ68の先端
を正確に回路パターンに当てることができない。
(ファインパターン化)が進められている。そのためプ
リント基板63の外形を基準としたり、ガイドピン70
を基準穴71に嵌合させるだけではプローブ68の先端
を正確に回路パターンに当てることができない。
【0005】そこでプローブ68を接触させる前に、プ
ローブ保持板66とプリント基板63の位置ずれを工業
用テレビカメラを利用した画像処理装置によって計測
し、そのデータに基づいて位置ずれを補正することが行
われている。図9の72はかかる位置ずれ補正のために
上下駆動装置62と下側検査治具64との間に介在され
るX-Y-θ可動テーブルである。現在一般的に行なわれて
いる位置ずれの検出方法においては、図10に示すよう
にプローブ保持板66とプリント基板63の間にカメラ
74を入れている。そしてそのカメラ74でプローブ保
持板66のアライメントピン75とプリント基板63の
基準マーク76の位置ずれを計測するのである。ここに
使用されているカメラ74は、上下両方の画像を同時に
モニター77に写し出せるような光学系(ハーフミラー
ないしプリズム)Pを備えている。このものは上下を同
時に照明すればアライメントピン75と基準マーク76
が重なって見える。しかし実際には片方ずつ交互に照明
したり、交互にメカニカルシャッターを開閉して、それ
ぞれの画像を取り込むようにしている。
ローブ保持板66とプリント基板63の位置ずれを工業
用テレビカメラを利用した画像処理装置によって計測
し、そのデータに基づいて位置ずれを補正することが行
われている。図9の72はかかる位置ずれ補正のために
上下駆動装置62と下側検査治具64との間に介在され
るX-Y-θ可動テーブルである。現在一般的に行なわれて
いる位置ずれの検出方法においては、図10に示すよう
にプローブ保持板66とプリント基板63の間にカメラ
74を入れている。そしてそのカメラ74でプローブ保
持板66のアライメントピン75とプリント基板63の
基準マーク76の位置ずれを計測するのである。ここに
使用されているカメラ74は、上下両方の画像を同時に
モニター77に写し出せるような光学系(ハーフミラー
ないしプリズム)Pを備えている。このものは上下を同
時に照明すればアライメントピン75と基準マーク76
が重なって見える。しかし実際には片方ずつ交互に照明
したり、交互にメカニカルシャッターを開閉して、それ
ぞれの画像を取り込むようにしている。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】すなわち、この装置に
おいては、実質的にはそれぞれの対象物(75、76)
の位置をカメラ74を基準として測定している。そして
それらをモニター77上で合成したうえで、両者の相対
位置ずれの数値に換算する。そのため、カメラの光軸の
ズレがそのまま検出精度に影響してくる。さらに、カメ
ラとプローブ保持板の距離Aと、カメラとプリント基板
の距離Bとを同一に保たなければ倍率の違いによる誤差
が大きくなるという問題がある。さらに、プローブ保持
板66とプリント基板63とを接近させる前に、カメラ
74を両者の間から退避させる必要がある。したがっ
て、検査時間がこの退避時間分だけ長くなる。また、退
避させる為、カメラ74を可動アームなどに取りつけて
いる。したがって機構が複雑になり、アーム位置の再現
精度の維持が困難で、しかも検査誤差が大きくなりやす
いといったメカニズムに基づく問題がある。
おいては、実質的にはそれぞれの対象物(75、76)
の位置をカメラ74を基準として測定している。そして
それらをモニター77上で合成したうえで、両者の相対
位置ずれの数値に換算する。そのため、カメラの光軸の
ズレがそのまま検出精度に影響してくる。さらに、カメ
ラとプローブ保持板の距離Aと、カメラとプリント基板
の距離Bとを同一に保たなければ倍率の違いによる誤差
が大きくなるという問題がある。さらに、プローブ保持
板66とプリント基板63とを接近させる前に、カメラ
74を両者の間から退避させる必要がある。したがっ
て、検査時間がこの退避時間分だけ長くなる。また、退
避させる為、カメラ74を可動アームなどに取りつけて
いる。したがって機構が複雑になり、アーム位置の再現
精度の維持が困難で、しかも検査誤差が大きくなりやす
いといったメカニズムに基づく問題がある。
【0007】そこで本出願人は先に、図9の想像線で示
すようにプローブ保持板66にカメラ74を高い再現精
度で着脱自在に取りつけうる筒状体78を設けることを
提案した(実開平1−180780号公報参照)。この
ものは可動アームが不要であり、また基準マークのカメ
ラの視野中心からのずれによって、プリント基板−プロ
ーブ保持板間のずれを直接検出することができる。
すようにプローブ保持板66にカメラ74を高い再現精
度で着脱自在に取りつけうる筒状体78を設けることを
提案した(実開平1−180780号公報参照)。この
ものは可動アームが不要であり、また基準マークのカメ
ラの視野中心からのずれによって、プリント基板−プロ
ーブ保持板間のずれを直接検出することができる。
【0008】しかし、この装置においては、カメラを取
りつける筒状体78のプローブ群に対する位置精度の確
保という製造上の問題が新たに生ずることがわかった。
また、いずれの装置においても、プローブ保持板66と
プリント基板63とを近づける間に誤差が生じたり、プ
ローブ68を押し付けたときに新たな誤差が生じること
がある。本考案は、前記従来の装置の問題を解消し、位
置ずれ検出精度が高く、調整作業が容易なプリント基板
検査装置を提供することを目的とする。
りつける筒状体78のプローブ群に対する位置精度の確
保という製造上の問題が新たに生ずることがわかった。
また、いずれの装置においても、プローブ保持板66と
プリント基板63とを近づける間に誤差が生じたり、プ
ローブ68を押し付けたときに新たな誤差が生じること
がある。本考案は、前記従来の装置の問題を解消し、位
置ずれ検出精度が高く、調整作業が容易なプリント基板
検査装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1のプリント基板
検査装置においては、 A)基準マークを有するプリント基板を保持する第1治
具、 B)以下のb1)プローブ保持板および、b2)カメラ
を有する第2治具、 b1)前記プリント基板の配線パターンと当接されるプ
ローブを保持するプローブ保持板であって、前記プリン
ト基板の基準マークと対応し前記基準マークよりも大き
く貫通形成された基準孔を有するプローブ保持板、 b2)前記プローブ保持板とは離して設けられ、前記基
準孔および前記基準マークの画像信号を出力するカメ
ラ、 C)前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動さ
せることにより、前記プローブを前記プリント基板の配
線パターンと当接させる駆動機構、 D)前記プローブが前記プリント基板の配線パターンと
当接された状態における画像信号に基づいて、前記プリ
ント基板と前記プローブ保持板との位置ずれを演算する
ズレ演算処理部、 E)前記ズレ演算処理部における演算結果に基づいて、
前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動させる
ことにより、前記プリント基板と前記プローブ保持板と
の位置ずれを矯正する補正機構、を備えたことを特徴と
する。請求項2のプリント基板検査装置においては、前
記検出機構が2個一対で設けられていることを特徴とす
る。
検査装置においては、 A)基準マークを有するプリント基板を保持する第1治
具、 B)以下のb1)プローブ保持板および、b2)カメラ
を有する第2治具、 b1)前記プリント基板の配線パターンと当接されるプ
ローブを保持するプローブ保持板であって、前記プリン
ト基板の基準マークと対応し前記基準マークよりも大き
く貫通形成された基準孔を有するプローブ保持板、 b2)前記プローブ保持板とは離して設けられ、前記基
準孔および前記基準マークの画像信号を出力するカメ
ラ、 C)前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動さ
せることにより、前記プローブを前記プリント基板の配
線パターンと当接させる駆動機構、 D)前記プローブが前記プリント基板の配線パターンと
当接された状態における画像信号に基づいて、前記プリ
ント基板と前記プローブ保持板との位置ずれを演算する
ズレ演算処理部、 E)前記ズレ演算処理部における演算結果に基づいて、
前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動させる
ことにより、前記プリント基板と前記プローブ保持板と
の位置ずれを矯正する補正機構、を備えたことを特徴と
する。請求項2のプリント基板検査装置においては、前
記検出機構が2個一対で設けられていることを特徴とす
る。
【0010】
【作用】請求項1のプリント基板検査装置においては、
前記駆動機構は、前記第1治具または前記第2治具を相
対的に移動させることにより、前記プローブを前記プリ
ント基板の配線パターンと当接させる。前記プローブ保
持板は、前記基準マークよりも大きく貫通形成された基
準孔を有する。また、前記カメラは、前記基準孔および
前記基準マークの画像信号を出力する。前記ズレ演算処
理部は、前記プローブが前記プリント基板の配線パター
ンと当接された状態における画像信号に基づいて、前記
プリント基板と前記プローブ保持板との位置ずれを演算
する。
前記駆動機構は、前記第1治具または前記第2治具を相
対的に移動させることにより、前記プローブを前記プリ
ント基板の配線パターンと当接させる。前記プローブ保
持板は、前記基準マークよりも大きく貫通形成された基
準孔を有する。また、前記カメラは、前記基準孔および
前記基準マークの画像信号を出力する。前記ズレ演算処
理部は、前記プローブが前記プリント基板の配線パター
ンと当接された状態における画像信号に基づいて、前記
プリント基板と前記プローブ保持板との位置ずれを演算
する。
【0011】したがって、前記プローブ保持板とプリン
ト基板とを当接させた状態で両者の画像をカメラに取り
入れて、これに基づいて、前記位置ずれを求めることが
できる。したがって、プリント基板をプローブ保持板に
接近させる操作中に生ずるずれ、およびプリント基板を
プローブに押し当てるときに生ずるずれなどが測定に影
響しない。すなわち、実際にプリント基板をプローブに
押し当てるという導通検査時と同じ条件で位置ずれを測
定することができる。
ト基板とを当接させた状態で両者の画像をカメラに取り
入れて、これに基づいて、前記位置ずれを求めることが
できる。したがって、プリント基板をプローブ保持板に
接近させる操作中に生ずるずれ、およびプリント基板を
プローブに押し当てるときに生ずるずれなどが測定に影
響しない。すなわち、実際にプリント基板をプローブに
押し当てるという導通検査時と同じ条件で位置ずれを測
定することができる。
【0012】請求項2のプリント基板検査装置において
は、前記検出機構が2個一対で設けられている。したが
って、水平方向の位置ずれを検出することができる。
は、前記検出機構が2個一対で設けられている。したが
って、水平方向の位置ずれを検出することができる。
【0013】
【実施例】つぎに図面を参照しながら本考案の装置を説
明する。
明する。
【0014】図1は本考案の装置の一実施例を示す構成
図であり、プリント基板にプローブを当接させる直前の
状態を示している。
図であり、プリント基板にプローブを当接させる直前の
状態を示している。
【0015】図1において1は上側の固定ベースであ
り、固定ベース1の下面にX−Y−θ駆動装置2を介し
て上側検査治具3のヘッドベース3aが取りつけられて
いる。ヘッドベース3aの下面には、カメラ4が取りつ
けられており、さらに支柱5によって間隔をあけてプロ
ーブ保持板6が取りつけられている。プローブ保持板6
はプローブ7を保持するべース板8と、その下面に設け
られるガイド板9とからなる。ガイド板9はプローブ7
のピン部の位置精度を確保するためのものであり、通常
NC加工機で加工される。前記ベース板8のカメラ4と
対応する位置には径が大きい貫通孔10が形成され、そ
れと同軸となるようにガイド板9に有底の穴11が形成
されている。さらにその穴11の底板12には同心状に
基準孔13が形成されている。
り、固定ベース1の下面にX−Y−θ駆動装置2を介し
て上側検査治具3のヘッドベース3aが取りつけられて
いる。ヘッドベース3aの下面には、カメラ4が取りつ
けられており、さらに支柱5によって間隔をあけてプロ
ーブ保持板6が取りつけられている。プローブ保持板6
はプローブ7を保持するべース板8と、その下面に設け
られるガイド板9とからなる。ガイド板9はプローブ7
のピン部の位置精度を確保するためのものであり、通常
NC加工機で加工される。前記ベース板8のカメラ4と
対応する位置には径が大きい貫通孔10が形成され、そ
れと同軸となるようにガイド板9に有底の穴11が形成
されている。さらにその穴11の底板12には同心状に
基準孔13が形成されている。
【0016】下側の固定ベース15上には、上下駆動機
構であるプレス16を介して下側検査治具17が設けら
れている。下側検査治具17の上には、4本のポスト1
8を介して、検査されるべきプリント基板19が載置さ
れている。プリント基板19の上面には、前記基準孔1
3と対応する位置に、基準マーク20が設けられてい
る。
構であるプレス16を介して下側検査治具17が設けら
れている。下側検査治具17の上には、4本のポスト1
8を介して、検査されるべきプリント基板19が載置さ
れている。プリント基板19の上面には、前記基準孔1
3と対応する位置に、基準マーク20が設けられてい
る。
【0017】すなわちカメラ4、基準孔13および基準
マーク20は同一軸心上に配列されている。基準孔13
の直径は基準マーク20よりも大きく、たとえば1.2 〜
3倍程度が好ましい。
マーク20は同一軸心上に配列されている。基準孔13
の直径は基準マーク20よりも大きく、たとえば1.2 〜
3倍程度が好ましい。
【0018】なおポスト18をエアシリンダなどを内蔵
するスプリングポストによって構成し、下側検査治具1
7のベース17aにプリント基板1の下側の回路パター
ンを検出するプローブ7aを追加してもよい。このもの
はプリント基板1の両面を同時に検査することができ
る。
するスプリングポストによって構成し、下側検査治具1
7のベース17aにプリント基板1の下側の回路パター
ンを検出するプローブ7aを追加してもよい。このもの
はプリント基板1の両面を同時に検査することができ
る。
【0019】図1の21はプローブ7と接触される配線
パターンの一部であり、22はカメラ4からの画像信号
に基づいてX-Y-θ駆動部2に補正信号を送るための画像
処理部である。
パターンの一部であり、22はカメラ4からの画像信号
に基づいてX-Y-θ駆動部2に補正信号を送るための画像
処理部である。
【0020】図2は前記カメラ4が取り込んだ画像を示
すモニター画面を拡大して示している。本実施例では左
右2個所の基準マーク20をそれぞれのカメラ4で検出
し、画像処理部22で基準孔13の輪郭の中心Oa と基
準マーク20の中心Om とのX軸方向の誤差ΔXおよび
Y軸方向の誤差ΔYを各基準マークについて測定する。
そして検出値に基づいてプリント基板19のX軸方向、
Y軸方向および垂直軸回りの回転方向のズレを算出し、
X-Y-θ駆動部2へ補正量を出力するのである。図3は図
1の装置の制御回路をさらに詳しく説明するブロック線
図である。図3において、3は前述の上側検査治具、2
2はカメラ4からの画像を2値化処理し、X-Y-θ駆動部
2のモータM1 、M2 、M3 に補正信号を送る画像処理
部である。23および24はそれぞれプレス16などの
機構の運転を行うためのメカ操作パネルおよびシーケン
サである。それらはメカ部分の動作確認用のセンサおよ
び動作を行わせるアクチュエータ25と結合されてい
る。また26はプローブ7からの信号を取り入れるため
のスキャナであり、27はテスタ操作パネルである。な
お、28はそのテスタ操作パネル27用のプリンタ、2
9は各プリント基板ごとに準備された導通検査用の設定
データの記録媒体(フロッピーディスクなど)である。
30は導通検査の手順を制御するためのテスタコントロ
ーラである。なお前記画像処理部22には各カメラと対
応するモニタ31が接続されている。つぎに図3のブロ
ック線図および図4の動作シーケンス図を参照しながら
図1の装置の動作を説明する。
すモニター画面を拡大して示している。本実施例では左
右2個所の基準マーク20をそれぞれのカメラ4で検出
し、画像処理部22で基準孔13の輪郭の中心Oa と基
準マーク20の中心Om とのX軸方向の誤差ΔXおよび
Y軸方向の誤差ΔYを各基準マークについて測定する。
そして検出値に基づいてプリント基板19のX軸方向、
Y軸方向および垂直軸回りの回転方向のズレを算出し、
X-Y-θ駆動部2へ補正量を出力するのである。図3は図
1の装置の制御回路をさらに詳しく説明するブロック線
図である。図3において、3は前述の上側検査治具、2
2はカメラ4からの画像を2値化処理し、X-Y-θ駆動部
2のモータM1 、M2 、M3 に補正信号を送る画像処理
部である。23および24はそれぞれプレス16などの
機構の運転を行うためのメカ操作パネルおよびシーケン
サである。それらはメカ部分の動作確認用のセンサおよ
び動作を行わせるアクチュエータ25と結合されてい
る。また26はプローブ7からの信号を取り入れるため
のスキャナであり、27はテスタ操作パネルである。な
お、28はそのテスタ操作パネル27用のプリンタ、2
9は各プリント基板ごとに準備された導通検査用の設定
データの記録媒体(フロッピーディスクなど)である。
30は導通検査の手順を制御するためのテスタコントロ
ーラである。なお前記画像処理部22には各カメラと対
応するモニタ31が接続されている。つぎに図3のブロ
ック線図および図4の動作シーケンス図を参照しながら
図1の装置の動作を説明する。
【0021】導通検査を始める前に、あらかじめ検査す
べきプリント基板19に応じた下側検査治具17および
上側検査治具3をそれぞれプレス16およびX-Y-θ駆動
部2にセットしておく。
べきプリント基板19に応じた下側検査治具17および
上側検査治具3をそれぞれプレス16およびX-Y-θ駆動
部2にセットしておく。
【0022】検査においてはまずプリント基板19を手
動により(またはローダーで)載置する。プリント基板
19があることを確認した上で(図4の31)プレス1
6が上昇し(32)、プローブ7に配線パターン21を
押し当てる。それにより配線パターン21の断線・短絡
を検査し(33)、さらに画像処理部22が基準マーク
20と基準孔13の画像を読み込み(35)ついで2値
化処理などを行ない位置ずれを検出し(36)、検査終
了後プレス16を下降(34)する。導通テストの結果
が良であればプリント基板19はそのまま排出され、導
通テストの結果にしたがってふりわけられる。
動により(またはローダーで)載置する。プリント基板
19があることを確認した上で(図4の31)プレス1
6が上昇し(32)、プローブ7に配線パターン21を
押し当てる。それにより配線パターン21の断線・短絡
を検査し(33)、さらに画像処理部22が基準マーク
20と基準孔13の画像を読み込み(35)ついで2値
化処理などを行ない位置ずれを検出し(36)、検査終
了後プレス16を下降(34)する。導通テストの結果
が良であればプリント基板19はそのまま排出され、導
通テストの結果にしたがってふりわけられる。
【0023】テストの結果が不良で、位置ずれが許容範
囲を超えるときは、X-Y-θ駆動部2に補正信号を発し、
先の位置ずれデータを基に、位置ずれが解消するように
上側検査治具3の全体を移動させる。
囲を超えるときは、X-Y-θ駆動部2に補正信号を発し、
先の位置ずれデータを基に、位置ずれが解消するように
上側検査治具3の全体を移動させる。
【0024】ついで再度プレスを上昇させ(40)、上
記と同じ検査(導通テストおよび位置ずれ検出)が行な
われる。このようにして位置ずれが許容範囲内に入るま
で上記手順を繰り返す。
記と同じ検査(導通テストおよび位置ずれ検出)が行な
われる。このようにして位置ずれが許容範囲内に入るま
で上記手順を繰り返す。
【0025】前述したごとく、本考案では実際にプレス
した状態で位置ずれ検出を行なっている。このことは実
際の導通検査(プロービング)の状態での位置ずれを検
出しているといえる。さらに位置ずれ検出は導通テスト
と同時に進行しているので、従来装置のようなカメラを
退避させる時間ロスがない。なお上記の装置において、
カメラ4による位置検出を行なった後、モニター(図3
の31)を見ながら手動で上側検出治具3の位置補正を
行なうようにしてもよい。
した状態で位置ずれ検出を行なっている。このことは実
際の導通検査(プロービング)の状態での位置ずれを検
出しているといえる。さらに位置ずれ検出は導通テスト
と同時に進行しているので、従来装置のようなカメラを
退避させる時間ロスがない。なお上記の装置において、
カメラ4による位置検出を行なった後、モニター(図3
の31)を見ながら手動で上側検出治具3の位置補正を
行なうようにしてもよい。
【0026】つぎに前記プリント基板検出装置のさらに
好ましい実施例を説明する。
好ましい実施例を説明する。
【0027】図5のガイド板9には円筒状の貫通孔41
が形成され、その貫通孔41の内部の底部側に、金属製
(たとえばステンレス製)のカップ状ブッシュ42が嵌
入されている。そしてブッシュ42の底板43に基準孔
44が形成されている。
が形成され、その貫通孔41の内部の底部側に、金属製
(たとえばステンレス製)のカップ状ブッシュ42が嵌
入されている。そしてブッシュ42の底板43に基準孔
44が形成されている。
【0028】このようにして基準孔44を形成すると、
プローブガイド用の孔のNC加工機による加工のときに
同時に前記貫通孔41を加工しうる。したがってプロー
ブ配置位置と基準孔44の配置関係が正確になる利点が
ある。
プローブガイド用の孔のNC加工機による加工のときに
同時に前記貫通孔41を加工しうる。したがってプロー
ブ配置位置と基準孔44の配置関係が正確になる利点が
ある。
【0029】前記貫通孔41をそのまま基準孔とするこ
ともできるが、加工壁の仕上がり具合によっては画像デ
ータに誤差が生ずる可能性がある。しかし前記のように
独立したブッシュ42を用いると基準孔44の加工精度
を向上させることができ、それにより2値化画像の質を
向上させることができる。さらに金属製ブッシュ42で
基準孔44を形成しておくと、基準マーク45(金属
製)と同等の光学的反射率をうることができる。そのた
め一層明瞭な2値化図形をうることができる。
ともできるが、加工壁の仕上がり具合によっては画像デ
ータに誤差が生ずる可能性がある。しかし前記のように
独立したブッシュ42を用いると基準孔44の加工精度
を向上させることができ、それにより2値化画像の質を
向上させることができる。さらに金属製ブッシュ42で
基準孔44を形成しておくと、基準マーク45(金属
製)と同等の光学的反射率をうることができる。そのた
め一層明瞭な2値化図形をうることができる。
【0030】ちなみに金属ブッシュ42のカメライメー
ジは、たとえば図6のaのようになる。それを2値化処
理すると図6のbに示すように明暗が強調され、輪郭が
明瞭になる。図5の45はプリント基板19に形成した
基準マークの一例を示している。プリント基板19は通
常はガラス繊維混入のエポキシ樹脂製であり、その表面
にレジスト46が被覆されている。また基準マーク45
のまわりには四角形のレジスト中抜き部47が形成され
(図6の符号47参照)、その表面には表面用エポキシ
樹脂(ツヤ消し)の層が形成される。基準マーク45は
通常はその中抜き部47の中央に回路パターン形成時に
同じ導体(たとえば銅、ハンダ)を円形にプリントして
形成する。それにより基準マーク45が回路パターン2
1の位置決めの基準となるのである。基準マーク45周
辺のカメラによるイメージを図6のcに示す。このもの
は2値化処理により図6のdに示すように輪郭が明瞭に
なる。
ジは、たとえば図6のaのようになる。それを2値化処
理すると図6のbに示すように明暗が強調され、輪郭が
明瞭になる。図5の45はプリント基板19に形成した
基準マークの一例を示している。プリント基板19は通
常はガラス繊維混入のエポキシ樹脂製であり、その表面
にレジスト46が被覆されている。また基準マーク45
のまわりには四角形のレジスト中抜き部47が形成され
(図6の符号47参照)、その表面には表面用エポキシ
樹脂(ツヤ消し)の層が形成される。基準マーク45は
通常はその中抜き部47の中央に回路パターン形成時に
同じ導体(たとえば銅、ハンダ)を円形にプリントして
形成する。それにより基準マーク45が回路パターン2
1の位置決めの基準となるのである。基準マーク45周
辺のカメラによるイメージを図6のcに示す。このもの
は2値化処理により図6のdに示すように輪郭が明瞭に
なる。
【0031】プレス上昇時、すなわちプローブ保持板に
プリント基板を当接させた状態においては、2値化画像
は図6のeに示すようになる。この状態では、ブッシュ
42のランド部42aと基準マーク45の表面が明るく
なっており、ツヤ消しされたレジスト中抜き部47が暗
くなつている。したがって基準マーク45の外周および
基準孔44の内周の境界がそれぞれ明瞭である。なお図
6のeは、基準マーク45と基準孔44とがずれていな
い状態(同心状態)を示している。
プリント基板を当接させた状態においては、2値化画像
は図6のeに示すようになる。この状態では、ブッシュ
42のランド部42aと基準マーク45の表面が明るく
なっており、ツヤ消しされたレジスト中抜き部47が暗
くなつている。したがって基準マーク45の外周および
基準孔44の内周の境界がそれぞれ明瞭である。なお図
6のeは、基準マーク45と基準孔44とがずれていな
い状態(同心状態)を示している。
【0032】前記カメラ4は上側検査治具3のヘッドベ
ース板3aに固定しておくこともできる。しかしカメラ
4は高価であるので、図7〜8に示すようにヘッドベー
ス板3aに対して着脱自在に取りつけるのが好ましい。
図7〜8において、51はレールスペーサであり、52
はカメラ用レールであり、53はカメラ4に固定したT
溝54を有するベースである。なお55はリング状の照
明器具である。
ース板3aに固定しておくこともできる。しかしカメラ
4は高価であるので、図7〜8に示すようにヘッドベー
ス板3aに対して着脱自在に取りつけるのが好ましい。
図7〜8において、51はレールスペーサであり、52
はカメラ用レールであり、53はカメラ4に固定したT
溝54を有するベースである。なお55はリング状の照
明器具である。
【0033】
【考案の効果】請求項1のプリント基板検査装置におい
ては、実際に回路パターンの導通テストを行なう状態、
すなわちプローブを回路パターン表面に押圧した状態で
プリント基板のズレを検出する。そのため誤差を生じに
くく、検出精度が高い。また、導通テストと並行して位
置ずれを検出しうるので、全体として、検査時間のロス
を少なくすることができる。
ては、実際に回路パターンの導通テストを行なう状態、
すなわちプローブを回路パターン表面に押圧した状態で
プリント基板のズレを検出する。そのため誤差を生じに
くく、検出精度が高い。また、導通テストと並行して位
置ずれを検出しうるので、全体として、検査時間のロス
を少なくすることができる。
【図1】本考案の装置の一実施例を示す構成図である。
【図2】図1の装置におけるモニター画像の拡大図であ
る。
る。
【図3】図1の装置の制御系統を示すブロック線図であ
る。
る。
【図4】図1の装置の動作を示すシーケンス図である。
【図5】本考案にかかわる基準孔および基準マークの一
実施例を示す断面図である。
実施例を示す断面図である。
【図6】図5の基準孔および基準マークまわりのカメラ
画像および2値化画像を示す平面図である。
画像および2値化画像を示す平面図である。
【図7】本考案にかかわるカメラの取りつけ状態を示す
一部断面正面図である。
一部断面正面図である。
【図8】図7のカメラの取りつけ状態を示す一部断面側
面図である。
面図である。
【図9】従来のプリント基板検査装置の一例を示す構成
図である。
図である。
【図10】従来のプリント基板検査装置の他の例を示す
構成図である。
構成図である。
2 X-Y-θ駆動部 3 上側検査治具 4 カメラ 6 プローブ保持板 7 プローブ 9 ガイド板 12 底板 13 基準孔 16 プレス 17 下側検査治具 19 プリント基板 20 基準マーク 21 配線パターン
Claims (2)
- 【請求項1】A)基準マークを有するプリント基板を保
持する第1治具、 B)以下のb1)プローブ保持板および、b2)カメラ
を有する第2治具、 b1)前記プリント基板の配線パターンと当接されるプ
ローブを保持するプローブ保持板であって、前記プリン
ト基板の基準マークと対応し前記基準マークよりも大き
く貫通形成された基準孔を有するプローブ保持板、 b2)前記プローブ保持板とは離して設けられ、前記基
準孔および前記基準マークの画像信号を出力するカメ
ラ、 C)前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動さ
せることにより、前記プローブを前記プリント基板の配
線パターンと当接させる駆動機構、 D)前記プローブが前記プリント基板の配線パターンと
当接された状態における画像信号に基づいて、前記プリ
ント基板と前記プローブ保持板との位置ずれを演算する
ズレ演算処理部、 E)前記ズレ演算処理部における演算結果に基づいて、
前記第1治具または前記第2治具を相対的に移動させる
ことにより、前記プリント基板と前記プローブ保持板と
の位置ずれを矯正する補正機構、 を備えたことを特徴とするプリント基板検査装置。 - 【請求項2】請求項1のプリント基板検査装置におい
て、 前記検出機構が2個一対で設けられていること、 を特徴とするプリント基板検査 装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992001552U JP2517277Y2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992001552U JP2517277Y2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | プリント基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH072912U JPH072912U (ja) | 1995-01-17 |
JP2517277Y2 true JP2517277Y2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=11504696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1992001552U Expired - Lifetime JP2517277Y2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2517277Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4712095U (ja) * | 1971-03-10 | 1972-10-13 | ||
JP4798571B2 (ja) * | 2001-05-14 | 2011-10-19 | ヤマハファインテック株式会社 | 位置認識可能な処理装置および処理方法 |
JP5314328B2 (ja) * | 2008-06-06 | 2013-10-16 | 日置電機株式会社 | アームオフセット取得方法 |
JP5370828B2 (ja) * | 2009-05-11 | 2013-12-18 | 株式会社島津製作所 | Tftアレイ検査装置およびtft基板の位置合わせ方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01184473A (ja) * | 1988-01-19 | 1989-07-24 | Kyoei Sangyo Kk | プリント配線板検査機の位置合せ装置 |
JPH02105110U (ja) * | 1989-02-07 | 1990-08-21 | ||
JP2897890B2 (ja) * | 1990-03-30 | 1999-05-31 | 株式会社日立製作所 | 印刷精度計測方法およびその装置 |
-
1992
- 1992-01-20 JP JP1992001552U patent/JP2517277Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH072912U (ja) | 1995-01-17 |
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