JP2508349B2 - 冗長構成の伝送路切替スイツチ - Google Patents
冗長構成の伝送路切替スイツチInfo
- Publication number
- JP2508349B2 JP2508349B2 JP5817890A JP5817890A JP2508349B2 JP 2508349 B2 JP2508349 B2 JP 2508349B2 JP 5817890 A JP5817890 A JP 5817890A JP 5817890 A JP5817890 A JP 5817890A JP 2508349 B2 JP2508349 B2 JP 2508349B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test pattern
- transmission line
- selector
- switching
- transmission
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は伝送路切替に係り、特に運用時に切替試験可
能な冗長構成の伝送路切替スイツチに関するものであ
る。
能な冗長構成の伝送路切替スイツチに関するものであ
る。
従来のこの種の伝送路切替スイツチの構成の一例を第
３図に示し説明する。
３図に示し説明する。
図において、19,20は伝送路で、この伝送路19と伝送
路20を切替えるセレクタ21と、このセレクタ21の故障を
監視するために伝送路19を流れる信号にテストパターン
001を挿入するテストパターン挿入回路22と、セレクタ2
1の後の伝送路25にテストパターン001が正常かどうかを
検出するためのテストパターン検出回路24と、伝送路20
を流れる信号にテストパターン002を挿入するテストパ
ターン挿入回路23と、セレクタ21の後の伝送路25にテス
トパターン002が正常かどうかを検出するためのテスト
パターン検出回路24を有する構成となつていた。
路20を切替えるセレクタ21と、このセレクタ21の故障を
監視するために伝送路19を流れる信号にテストパターン
001を挿入するテストパターン挿入回路22と、セレクタ2
1の後の伝送路25にテストパターン001が正常かどうかを
検出するためのテストパターン検出回路24と、伝送路20
を流れる信号にテストパターン002を挿入するテストパ
ターン挿入回路23と、セレクタ21の後の伝送路25にテス
トパターン002が正常かどうかを検出するためのテスト
パターン検出回路24を有する構成となつていた。
上述した従来の伝送路切替スイツチでは、それ自体が
冗長構成となつていないので、運用中に伝送路切替スイ
ツチが正常に動作するかどうかを試験しようとしたと
き、瞬断が生じる可能性があるという課題があつた。
冗長構成となつていないので、運用中に伝送路切替スイ
ツチが正常に動作するかどうかを試験しようとしたと
き、瞬断が生じる可能性があるという課題があつた。
本発明の冗長構成の伝送路切替スイツチは、伝送装置
の伝送路切替を行うパツケージの伝送路切替スイツチに
おいて、第１の伝送路と第２の伝送路を切替える第１の
セレクタと上記第１の伝送路の第１の分岐点から分岐し
た第３の伝送路と上記第２の伝送路の第２の分岐点から
分岐した第４の伝送路を切替える第２のセレクタと、第
１のセレクタの出力信号を伝送する第５の伝送路と前記
第２のセレクタの出力信号を伝送する第６の伝送路を切
替える第３のセレクタと、上記第１の分岐点からみて上
記第１のセレクタと反対側の上記第１の伝送路上の点で
その第１の伝送路を流れるデータに監視用の第１のテス
トパターンを挿入する第１のテストパターン挿入回路
と、上記第２の分岐点からみて上記第２のセレクタと反
対側の上記第２の伝送路上の点でその第２の伝送路を流
れるデータに監視用の第２のテストパターンを挿入する
第２のテストパターン挿入回路と、上記第５の伝送路上
において上記第１のセレクタで選択したデータの上記第
１のテストパターンまたは上記第２のテストパターンを
抽出してその第１のセレクタの動作が正常か否かを検出
する第１のテストパターン検出回路と、上記第６の伝送
路上において上記第２のセレクタで選択したデータの上
記第１のテストパターンまたは上記第２のテストパター
ンを抽出してその第２のセレクタの動作が正常か否かを
検出する第２のテストパターン検出回路と、上記第５の
伝送路を流れるデータに監視用の第３のテストパターン
を挿入する第３のテストパターン挿入回路と、上記第６
の伝送路を流れるデータに監視用のの第４のテストパタ
ーンを挿入する第４のテストパターン挿入回路と、上記
第３のセレクタで選択したデータの上記第３のテストパ
ターンまたは上記第４のテストパターンを抽出してその
第３のセレクタの動作が正常か否かを検出する第３のテ
ストパターン検出回路を有するものである。
の伝送路切替を行うパツケージの伝送路切替スイツチに
おいて、第１の伝送路と第２の伝送路を切替える第１の
セレクタと上記第１の伝送路の第１の分岐点から分岐し
た第３の伝送路と上記第２の伝送路の第２の分岐点から
分岐した第４の伝送路を切替える第２のセレクタと、第
１のセレクタの出力信号を伝送する第５の伝送路と前記
第２のセレクタの出力信号を伝送する第６の伝送路を切
替える第３のセレクタと、上記第１の分岐点からみて上
記第１のセレクタと反対側の上記第１の伝送路上の点で
その第１の伝送路を流れるデータに監視用の第１のテス
トパターンを挿入する第１のテストパターン挿入回路
と、上記第２の分岐点からみて上記第２のセレクタと反
対側の上記第２の伝送路上の点でその第２の伝送路を流
れるデータに監視用の第２のテストパターンを挿入する
第２のテストパターン挿入回路と、上記第５の伝送路上
において上記第１のセレクタで選択したデータの上記第
１のテストパターンまたは上記第２のテストパターンを
抽出してその第１のセレクタの動作が正常か否かを検出
する第１のテストパターン検出回路と、上記第６の伝送
路上において上記第２のセレクタで選択したデータの上
記第１のテストパターンまたは上記第２のテストパター
ンを抽出してその第２のセレクタの動作が正常か否かを
検出する第２のテストパターン検出回路と、上記第５の
伝送路を流れるデータに監視用の第３のテストパターン
を挿入する第３のテストパターン挿入回路と、上記第６
の伝送路を流れるデータに監視用のの第４のテストパタ
ーンを挿入する第４のテストパターン挿入回路と、上記
第３のセレクタで選択したデータの上記第３のテストパ
ターンまたは上記第４のテストパターンを抽出してその
第３のセレクタの動作が正常か否かを検出する第３のテ
ストパターン検出回路を有するものである。
本発明においては、運用中に伝送路切替スイツチの切
替動作が正常に行われるかどうかを無瞬断で試験でき
る。
替動作が正常に行われるかどうかを無瞬断で試験でき
る。
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明による冗長構成の伝送路切替スイツチ
の一実施例を示すブロツク図である。
の一実施例を示すブロツク図である。
図において、１は伝送路４と伝送路５を切替えるセレ
クタ、２は伝送路４の分岐点10から分岐した伝送路６と
伝送路５の分岐点11から分岐した伝送路７を切替えるセ
レクタ、３はセレクタ１の出力信号を伝送する伝送路８
とセレクタ２の出力信号を伝送する伝送路９を切替える
セレクタ、12は分岐点10からみてセレクタ１と反対側の
伝送路４上の点でセレクタ１とセレクタ２の切替動作が
正常に行なわれているかを監視するためにその伝送路４
を流れるデータに監視用のテストパターン01を挿入する
テストパターン挿入回路、13は分岐点11からみてセレク
タ２と反対側の伝送路５上の点でセレクタ１とセレクタ
２の切替動作が正常に行なわれているかを監視するため
にその伝送路５を流れるデータに監視用のテストパター
ン02を挿入するテストパターン挿入回路、14は伝送路８
上においてセレクタ１で選択したデータのテストパター
ン01またはテストパターン02を抽出してそのセレクタ１
の動作が正常か否かを検出するテストパターン検出回
路、15は伝送路９上においてセレクタ２で選択したデー
タのテストパターン01またはテストパターン02を抽出し
てそのセレクタ２の動作が正常か否かを検出するテスト
パターン検出回路、16はセレクタ３の切替動作が正常に
行われているかどうかを監視するために伝送路８を流れ
るデータに監視用のテストパターン03を挿入するテスト
パターン挿入回路、17は伝送路９を流れるデータに監視
用のテストパターン04を挿入するテストパターン挿入回
路、18はセレクタ３で選択したデータのテストパターン
03またはテストパターン04を抽出してそのセレクタ３の
動作が正常か否かを検出するテストパターン検出回路で
ある。
クタ、２は伝送路４の分岐点10から分岐した伝送路６と
伝送路５の分岐点11から分岐した伝送路７を切替えるセ
レクタ、３はセレクタ１の出力信号を伝送する伝送路８
とセレクタ２の出力信号を伝送する伝送路９を切替える
セレクタ、12は分岐点10からみてセレクタ１と反対側の
伝送路４上の点でセレクタ１とセレクタ２の切替動作が
正常に行なわれているかを監視するためにその伝送路４
を流れるデータに監視用のテストパターン01を挿入する
テストパターン挿入回路、13は分岐点11からみてセレク
タ２と反対側の伝送路５上の点でセレクタ１とセレクタ
２の切替動作が正常に行なわれているかを監視するため
にその伝送路５を流れるデータに監視用のテストパター
ン02を挿入するテストパターン挿入回路、14は伝送路８
上においてセレクタ１で選択したデータのテストパター
ン01またはテストパターン02を抽出してそのセレクタ１
の動作が正常か否かを検出するテストパターン検出回
路、15は伝送路９上においてセレクタ２で選択したデー
タのテストパターン01またはテストパターン02を抽出し
てそのセレクタ２の動作が正常か否かを検出するテスト
パターン検出回路、16はセレクタ３の切替動作が正常に
行われているかどうかを監視するために伝送路８を流れ
るデータに監視用のテストパターン03を挿入するテスト
パターン挿入回路、17は伝送路９を流れるデータに監視
用のテストパターン04を挿入するテストパターン挿入回
路、18はセレクタ３で選択したデータのテストパターン
03またはテストパターン04を抽出してそのセレクタ３の
動作が正常か否かを検出するテストパターン検出回路で
ある。
つぎにこの第１図に示す実施例の動作を第２図を参照
して説明する。
して説明する。
いま、動作説明図である第２図に示すように、セレク
タ１は伝送路４を選択し、セレクタ２は伝送路７を選択
し、セレクタ３は伝送路８を選択していて、すべてのセ
レクタは正常であるとする。このとき、現用伝送路は、
伝送路４から伝送路８を経てセレクタ３の出力信号を伝
送する伝送路までの伝送路であり、予備伝送路は、伝送
路５から伝送路７を経て伝送路９までの伝送路である。
タ１は伝送路４を選択し、セレクタ２は伝送路７を選択
し、セレクタ３は伝送路８を選択していて、すべてのセ
レクタは正常であるとする。このとき、現用伝送路は、
伝送路４から伝送路８を経てセレクタ３の出力信号を伝
送する伝送路までの伝送路であり、予備伝送路は、伝送
路５から伝送路７を経て伝送路９までの伝送路である。
上記の運用状態でこの実施例に示す伝送路切替スイツ
チが正常に動作することを無瞬断で試験できることを説
明する。
チが正常に動作することを無瞬断で試験できることを説
明する。
まず、テストパターン挿入回路12とテストパターン検
出回路14間と，テストパターン挿入回路16とテストパタ
ーン検出回路18間の現用伝送路は正常である。また、テ
ストパターン挿入回路13とテストパターン検出回路15間
の予備伝送路は正常である。
出回路14間と，テストパターン挿入回路16とテストパタ
ーン検出回路18間の現用伝送路は正常である。また、テ
ストパターン挿入回路13とテストパターン検出回路15間
の予備伝送路は正常である。
つぎに、セレクタ２を現用系のクロツクを用いて現用
伝送路側に切替えることにより、テストパターン挿入回
路12とテストパターン検出回路15間が、正常かどうかを
試験できる。さらに、セレクタ３を現用系のクロツクを
用いて伝送路９側へ切替えることにより、無瞬断でテス
トパターン挿入回路17とテストパターン検出回路18間が
正常であるかどうかを試験でき、最後にセレクタ１を予
備系のクロツクを用いて現用系から予備系へ切替えるこ
とにより、テストパターン挿入回路13とテストパターン
検出回路14間が正常であるかどうかを試験することがで
きる。
伝送路側に切替えることにより、テストパターン挿入回
路12とテストパターン検出回路15間が、正常かどうかを
試験できる。さらに、セレクタ３を現用系のクロツクを
用いて伝送路９側へ切替えることにより、無瞬断でテス
トパターン挿入回路17とテストパターン検出回路18間が
正常であるかどうかを試験でき、最後にセレクタ１を予
備系のクロツクを用いて現用系から予備系へ切替えるこ
とにより、テストパターン挿入回路13とテストパターン
検出回路14間が正常であるかどうかを試験することがで
きる。
以上説明したように本発明は、伝送路切替スイツチを
冗長構成にしていることにより、運用中に伝送路切替ス
イツチの切替動作が正常に行なわれるかどうかを無瞬断
で試験することができる効果がある。
冗長構成にしていることにより、運用中に伝送路切替ス
イツチの切替動作が正常に行なわれるかどうかを無瞬断
で試験することができる効果がある。
第１図は本発明による冗長構成の伝送路切替スイツチの
一実施例を示すブロツク図、第２図は第１図の動作説明
図、第３図は従来の伝送路切替スイツチの一例を示すブ
ロツク図である。 １〜３……セレクタ、４〜９……伝送路、10,11……分
岐点、12,13……テストパターン挿入回路、14,15……テ
ストパターン検出回路、16,17……テストパターン挿入
回路、18……テストパターン検出回路。
一実施例を示すブロツク図、第２図は第１図の動作説明
図、第３図は従来の伝送路切替スイツチの一例を示すブ
ロツク図である。 １〜３……セレクタ、４〜９……伝送路、10,11……分
岐点、12,13……テストパターン挿入回路、14,15……テ
ストパターン検出回路、16,17……テストパターン挿入
回路、18……テストパターン検出回路。
Claims (1)
- 【請求項１】伝送装置の伝送路切替を行うパツケージの
伝送路切替スイツチにおいて、第１の伝送路と第２の伝
送路を切替える第１のセレクタと、前記第１の伝送路の
第１の分岐点から分岐した第３の伝送路と前記第２の伝
送路の第２の分岐点から分岐した第４の伝送路を切替え
る第２のセレクタと、前記第１のセレクタの出力信号を
伝送する第５の伝送路と前記第２のセレクタの出力信号
を伝送する第６の伝送路を切替える第３のセレクタと、
前記第１の分岐点からみて前記第１のセレクタと反対側
の前記第１の伝送路上の点で該第１の伝送路を流れるデ
ータに監視用の第１のテストパターンを挿入する第１の
テストパターン挿入回路と、前記第２の分岐点からみて
前記第２のセレクタと反対側の前記第２の伝送路上の点
で該第２の伝送路を流れるデータに監視用の第２のテス
トパターンを挿入する第２のテストパターン挿入回路
と、前記第５の伝送路上において前記第１のセレクタで
選択したデータの前記第１のテストパターンまたは前記
第２のテストパターンを抽出して該第１のセレクタの動
作が正常か否かを検出する第１のテストパターン検出回
路と、前記第６の伝送路上において前記第２のセレクタ
で選択したデータの前記第１のテストパターンまたは前
記第２のテストパターンを抽出して該第２のセレクタの
動作が正常か否かを検出する第２のテストパターン検出
回路と、前記第５の伝送路を流れるデータに監視用の第
３のテストパターンを挿入する第３のテストパターン挿
入回路と、前記第６の伝送路を流れるデータに監視用の
第４のテストパターンを挿入する第４のテストパターン
挿入回路と、前記第３のセレクタで選択したデータの前
記第３のテストパターンまたは前記第４のテストパター
ンを抽出して該第３のセレクタの動作が正常か否かを検
出する第３のテストパターン検出回路を有することを特
徴とする冗長構成の伝送路切替スイツチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5817890A JP2508349B2 (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 冗長構成の伝送路切替スイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5817890A JP2508349B2 (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 冗長構成の伝送路切替スイツチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03261228A JPH03261228A (ja) | 1991-11-21 |
| JP2508349B2 true JP2508349B2 (ja) | 1996-06-19 |
Family
ID=13076748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5817890A Expired - Lifetime JP2508349B2 (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 冗長構成の伝送路切替スイツチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2508349B2 (ja) |
-
1990
- 1990-03-12 JP JP5817890A patent/JP2508349B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03261228A (ja) | 1991-11-21 |
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