JP2023118160A - 半導体モジュールおよび電力変換器 - Google Patents

半導体モジュールおよび電力変換器 Download PDF

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Abstract

【課題】バスバーの配線インダクタンスを効果的に抑制することにより、配線インダクタンスに起因したサージ電圧を低減する。【解決手段】直列接続された第1半導体素子103aと第2半導体素子103bから成るスイッチング回路を有し、第1半導体素子103aの正極側が接続される第1バスバー201と、第2半導体素子103bの負極側が接続される第2バスバー202と、第1半導体素子103aの負極側と第2半導体素子103bの正極側が接続される第3バスバー203を設け、第1バスバー201と第2バスバー202と第3バスバー203は同一方向に延びるとともに、第1バスバー201と第2バスバー202のうちのいずれか一方のバスバーは、第3バスバー203、及び第1バスバー201と第2バスバー202のうちの他方のバスバーを挟み込むように配置されている。【選択図】図3

Description

本願は、半導体モジュールとそれを備えた電力変換器に関するものである。
電力変換器では、電力密度が高く、電力損失の小さな電力変換器が求められており、電力を供給するIGBT(INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR)又はMOSFET(METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR FIELD-EFFECT TRANSISTOR)などのスイッチング素子の大電流化、高電圧化および高速スイッチング化が進められている。このようにスイッチング素子の大電流化、高電圧化および高速スイッチング化が進められると、スイッチング時に発生するサージ電圧が増大する。これにより、スイッチング素子のスイッチング損失および発熱が増加する。発熱を抑制するためには高放熱部材を備えることが考えられるが、コストアップ又は装置の大型化は避けられないものとなる。
スイッチング素子のスイッチングに起因したサージ電圧の大きさは、スイッチング素子と電気的に接続されるバスバーなどの配線インダクタンスの大きさに依存する。この配線インダクタンスが大きい場合には、サージ電圧が大きくなる。配線インダクタンスを低減するためには、バスバーを短くしたり、又一対のバスバーの発生磁束を打ち消すことが出来るように、互いに逆方向に電流が流れるようにすることが有効な手段となる。
従来においては、上アームと下アームのスイッチング素子が直列接続された半導体モジュールにおけるバスバーにおいて、上アームのスイッチング素子の正電極側が接続される正極入力バスバーと下アームのスイッチング素子の負極側が接続される負極入力バスバーと上アームのスイッチング素子の負極側と下アームのスイッチング素子の正極側が接続される出力バスバーがあり、正極入力バスバーと負極入力バスバーを同じ高さに平行に配置し、正極入力バスバー及び負極入力バスバーに対して、出力バスバーを直交するように配置するものがあった。そして出力バスバーにより上アームと下アームのスイッチング素子を接続することで、正極入力バスバー及び負極入力バスバーに対して垂直方向となる配線を使うことなくモジュールをコンパクトに構成し、配線インダクタンスの増加を抑制しているものがあった。更に、平行配置された正極入力バスバーと負極入力バスバーは互いに逆方向に電流が流れるため、発生磁束がキャンセルされ、インダクタンスを小さくするようにしている(特許文献1参照)。
特許第3793407号
上記特許文献1の電力変換器では、バスバーの配線を極力コンパクトにして、一対の正極入力バスバーと負極入力バスバーを互い平行に配置することにより、インダクタンスを低減するようにしている。しかし、一対の正極入力バスバーおよび負極入力バスバーに対して直交して間に配置される出力バスバー部にモジュールケースとの締結部を設けているため、出力バスバーが長くなり、正極入力バスバーと負極入力バスバーの距離を大きくとる必要がある。従って、一対のバスバー間における磁束のキャンセル効果だけでは、インダクタンスを十分に低減できない。さらには、出力バスバーにおいては、正極入力バスバーおよび負極入力バスバーに対して直交する方向に電流が流れるので、出力バスバーと正極入力バスバー、および出力バスバーと負極入力バスバー間において、発生する磁束が互いにキャンセルされない。よって出力バスバーにおける配線インダクタンスは低減できておらず、半導体モジュール全体において、インダクタンスの低減を図ることができない。
本願は、上記のような課題を解決するための技術を開示するものであり、バスバーの配線インダクタンスを効果的に抑制できる半導体モジュール及び電力変換器を提供することを目的とする。
本願に開示される半導体モジュールは、
直列接続された第1半導体素子と第2半導体素子から成るスイッチング回路を有し、
前記第1半導体素子の正極側に接続される第1バスバーと、
前記第2半導体素子の負極側に接続される第2バスバーと、
前記第1半導体素子の負極側と前記第2半導体素子の正極側に接続される第3バスバーを設け、
前記第1バスバーと前記第2バスバーと前記第3バスバーは同一方向に延びるとともに、
前記第1バスバーと前記第2バスバーのうちのいずれか一方のバスバーは、前記第3バスバー、及び前記第1バスバーと前記第2バスバーのうちの他方のバスバーを挟み込むように配置されているものである。
本願に開示される電力変換器は、半導体モジュールに加わる直流電圧を平滑化するための平滑コンデンサを有し、
第1バスバーは前記平滑コンデンサの正極側配線と接続するための第1端子部を有し、
第2バスバーは前記平滑コンデンサの負極側配線と接続するための第2端子部を有し、
前記第1端子部と前記第2端子部は同一方向に突出しているものである。
本願に開示される半導体モジュール及び電力変換器によれば、バスバーの配線インダクタンスを効果的に抑制することができる。
実施の形態1による半導体モジュールを備えた電力変換装置を示す回路図である。 三相インバータ回路のうちU相アームのスイッチング動作を示す回路図である。 実施の形態1による半導体モジュールを示す平面断面図である。 図3におけるA-A線断面図である。 実施の形態1による半導体モジュールを示す平面断面図である。 図5におけるB-B線断面図である。 図3に示された半導体モジュールの構成に平滑コンデンサを接続した状態を示す平面断面図である。 図7におけるC-C線断面図である。 実施の形態1による半導体モジュールを示す平面断面図である。 半導体モジュールのバスバーの形状を示す簡略平面図である。 自己インダクタンスと合成インダクタンスの比率の関係を、解析で計算した結果を示すグラフである。 実施の形態2による半導体モジュールを示す平面断面図である。 実施の形態2による半導体モジュールを示す平面断面図である。 実施の形態2による半導体モジュールにおける等価回路図である。
実施の形態1.
本実施の形態は、バスバーを有する半導体モジュール及びこの半導体モジュールを備えた電力変換器に関するものである。
図1は実施の形態1による半導体モジュールを備えた電力変換装置を示す回路図であり、三相交流モータの駆動を行う三相インバータ回路を示す構成図である。本実施の形態による電力変換装置は、直流電源101及び三相交流モータ106を有している。そして直流電源101は半導体モジュールに加わる直流電圧を平滑化するための平滑コンデンサ102に接続され、平滑コンデンサ102の後段には、スイッチング素子103a、103bが直列接続されたU相アーム103、スイッチング素子104a、104bが直列接続されたV相アーム104、スイッチング素子105a、105bが直列接続されたW相アーム105からなる三相インバータ回路が接続される。この三相インバータ回路の後段に三相交流モータ106が接続される。そして、各相アーム103~105のスイッチング素子103a~105bを所定の順番でオン、オフ制御して、三相の交流電流を生成し、三相交流モータ106を駆動している。
スイッチング素子103a~105bは、例えばMOSFET(METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR FIELD-EFFECT TRANSISTOR)で構成される。なお、スイッチング素子103a~105bは、ダイオードが逆並列接続されたIGBT(INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR)等の自己消弧型半導体スイッチング素子、SiC(SILICON CARBIDE)又はGaN(GALLIUM NITRIDE)などで構成されたワイドバンドギャップ半導体を使用しても良い。本実施の形態では、スイッチング素子103a~105bとしてMOSFETを用いた場合について説明する。
また、U相アーム103、V相アーム104、W相アーム105は、例えば上アームと下アームのスイッチング素子とバスバーを樹脂モールドで一体化した2in1構造の半導体モジュールで構成される。なお、三相の上アームと下アームの全てのスイッチング素子を樹脂モールドで一体化した6in1構造の半導体モジュールで構成しても良い。本実施の形態では、2in1構造の半導体モジュールを用いる場合について説明する。
次に配線インダクタンスとサージ電圧の関係について説明する。図2は簡略化のため図1の三相インバータ回路のうちU相アーム103のスイッチング動作を示す回路図であり、三相交流モータ106をインダクタンス負荷113に置き換えた回路を示している。サージ電圧の発生原理は図1の三相インバータ回路と同じであり、図2を用いて説明する。なお、図2では、平滑コンデンサ102の正極側の配線インダクタンスを107で示し、負極側の配線インダクタンスを108で示している。
又スイッチング素子(第1半導体素子)103aのドレイン側の配線インダクタンスを109で示し、スイッチング素子103aのソース側(スイッチング素子103bのドレイン側)の配線インダクタンスを110で示し、スイッチング素子103b(第2半導体素子)のソース側の配線インダクタンスを111で示し、スイッチング素子103aとスイッチング素子103bの接続点Xと、負荷インダクタンス113の間の配線インダクタンスを112で示している。具体的には、配線インダクタンス109~112は半導体モジュール内のバスバーに起因した配線インダクタンスである。
スイッチング素子103aがONの状態からOFFの状態になったときのオフサージ電圧ΔVsについて説明する。図2において、スイッチング素子103aがONのときは実線矢印で示す電流経路が形成され、スイッチング素子103aがOFFのときは一点鎖線矢印で示す電流経路が形成される。スイッチング素子103aがONからOFFとなるときに電流経路が切り替わるので、配線に流れる電流はdi/dtの傾きで変化する。そして配線インダクタンス107の大きさをL107、配線インダクタンス108の大きさをL108、配線インダクタンス109の大きさをL109、配線インダクタンス110の大きさをL110、配線インダクタンス111の大きさをL111とすると、オフサージ電圧ΔVsは次式(1)で示すことができる。
ΔVs=(L107+L108+L109+L110+L111)×di/dt・・・・(1)
(1)式に示すように、オフサージ電圧ΔVsは配線インダクタンスL107、L108、L109、L110、L111の和に比例する。したがって、これらの配線インダクタンス成分を減少させることができれば、サージ電圧を低減することができる。
図3は実施の形態1による半導体モジュールを示す平面断面図、図4は図3におけるA-A線断面図である。図3、図4において、半導体モジュールの高さ方向をZ方向とし、Z方向に対して垂直な方向をX方向、Y方向とする。即ちX-Y方向は半導体モジュールにおける平面方向となる。図3はX-Y方向における平面図であり、図4はX-Z方向における断面図である。図において、スイッチング素子103a、103bとPバスバー201、Nバスバー202a、Nバスバー202b、ACバスバー203、負荷バスバー204が樹脂モールドされており、半導体モジュール(第1半導体モジュール)200が構成されている。モールド樹脂208は、エポキシ樹脂等の絶縁樹脂材料からなり、樹脂モールドされる各構成部品を成形型内に配置したのち、成形型内に樹脂を注入し、封止することで成形される。
図3、図4において、上アームのスイッチング素子103aの正極側が接続されるバスバーをPバスバー(第1バスバー)201とし、下アームのスイッチング素子103bの負極側が接続されるバスバーをNバスバー(第2バスバー)202a、202bとし、上アームのスイッチング素子103aの負極側と下アームのスイッチング素子103bの正極側が接続されるバスバーをACバスバー(第3バスバー)203とする。モールド樹脂208の内部においては、Pバスバー201と放熱板205は接合部材213aを介して接続され、放熱板205とスイッチング素子103aのドレイン端子は接合部材213bを介して接続され、スイッチング素子103aのソース端子とACバスバー203は接合部材213cを介して接続され、ACバスバー203と放熱板206は接合部材213dを介して接続され、放熱板206とスイッチング素子103bのドレイン端子は接合部材213eを介して接続され、スイッチング素子103bのソース端子とNバスバー202は接合部材213fを介して接続され、放熱板206と負荷バスバー204は接合部材213gを介して接続される。放熱板205、206は銅などの金属導体で構成され、放熱板205はスイッチング素子103aのドレイン端子と同電位であり、放熱板206はスイッチング素子103bのドレイン端子と同電位となる。接合部材213a~213gは半田などで構成される。放熱板205、206は絶縁シート207を介して、銅などで構成される金属プレート212に接続され、モジュール外部とは絶縁される。
ここで、Pバスバー201に起因する配線インダクタンスは、図2中の配線インダクタンス109に該当し、Nバスバー202に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス111に該当し、ACバスバー203に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス110に該当し、負荷バスバー204に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス112に該当する。また、Pバスバー201と平滑コンデンサ102の正極側配線との接続端子を209とし、Nバスバー202a、202bと平滑コンデンサ102の負極側配線との接続端子を210a、210bとし、負荷バスバー204と負荷配線との接続端子を211としている。なお、スイッチング素子103a、103bのゲート配線などの制御回路配線は図示を省略している。
図3において、Nバスバー202a、202bはPバスバー201およびACバスバー203を挟み込むように配置している。詳細に説明すると、半導体モジュール200において、Pバスバー201の正極側接続端子209と、Nバスバー202a、202bの負極側接続端子210a、bが突出する方向(X方向)において、2つに枝分かれになるよう配置された(平面断面形状がコ字状)Nバスバー202a、202bの間に、Pバスバー201およびACバスバー203を配置している。なお、X方向とそれに直交するY方向のXY平面において、Pバスバー201、Nバスバー202a、202b、ACバスバー203の面の少なくとも一部を、概ね同一平面に、かつ平行となるように配置している。即ち図4に示すように、例えばACバスバー203の一部に段差部203A、203Bが存在する場合でも、Pバスバー201、Nバスバー202a、202b、ACバスバー203の面の他の部分は概ね同一平面かつ平行となっている。
次に図3に示す半導体モジュール200の構成により、Pバスバー201、Nバスバー202a、202b、ACバスバー203に起因した配線インダクタンス109、110、111が低減できる効果について説明する。サージ電圧が発生する際の電流経路を図3中の点線矢印で示す。Nバスバー202a、202bに挟み込むように配置されたPバスバー201およびACバスバー203には、Nバスバー202a、202bとは逆向きに電流が流れる。つまり、Pバスバー201およびACバスバー203の両隣に逆向きの電流が流れるNバスバー202a、202bを配置することで、Pバスバー201およびACバスバー203と、Nバスバー202a、202bのそれぞれに発生する磁束を効果的にキャンセルできる。従ってPバスバー201、Nバスバー202a、202b、ACバスバー203に起因した配線インダクタンス109、110、111を低減することができる。なお、Pバスバー201、Nバスバー202a、202b、ACバスバー203を同一平面(XY平面)に配置することにより、異なる平面で配置する場合よりも、Nバスバー202a、202bとPバスバー201との距離、及びNバスバー202a、202bとACバスバー203との距離を短くすることができ、磁束のキャンセル効果が高い。
図5は実施の形態1による別の半導体モジュールを示す平面断面図、図6は図5におけるB-B線断面図である。図3、図4においては、Nバスバー202a、202bがPバスバー201およびACバスバー203を挟み込むように配置する場合について説明したが、図5に示すように、Pバスバー301a、301bがNバスバー302およびACバスバー303を挟み込むように配置する構成でも良い。
図において、スイッチング素子103a、103bとPバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303は樹脂モールドされている。モールド樹脂308は、エポキシ樹脂等の絶縁樹脂材料からなり、樹脂モールドされる各構成部品を成形型内に配置したのち、成形型内に樹脂を注入し、封止することで成形される。
モールド樹脂308の内部においては、Pバスバー301aと放熱板306は接合部材313aを介して接続され、Pバスバー301bと放熱板306は接合部材313bを介して接続され、放熱板306とスイッチング素子103aのドレイン端子は接合部材313cを介して接続され、スイッチング素子103aのソース端子とACバスバー303は接合部材313dを介して接続され、ACバスバー303と放熱板305は接合部材313eを介して接続され、放熱板305とスイッチング素子103bのドレイン端子は接合部材313fを介して接続され、スイッチング素子103bのソース端子とNバスバー302は接合部材313gを介して接続され、スイッチング素子103aのソース端子と負荷バスバー304が接合部材313dを介して接続される。
放熱板305、306は銅などの金属導体で構成し、放熱板306はスイッチング素子103aのドレイン端子と同電位となるとともに、放熱板305はスイッチング素子103bのドレイン端子と同電位となる。放熱板305、306は絶縁シート307を介して、銅などで構成される金属プレート312に接続され、モジュール外部とは絶縁される。
ここで、Pバスバー301a、301bに起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス109に該当し、Nバスバー302に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス111に該当し、ACバスバー303に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス110に該当し、負荷バスバー304に起因する配線インダクタンスは図2中の配線インダクタンス112に該当する。
また、Pバスバー301a、301bと平滑コンデンサ102の正極側配線との接続端子を309a、309bとし、Nバスバー302と平滑コンデンサ102の負極側配線との接続端子を310とし、負荷バスバー304と負荷配線との接続端子を311としている。なお、スイッチング素子103a、103bのゲート配線などの制御回路配線は図示を省略している。
図5、図6において、Pバスバー301a、301bはNバスバー302およびACバスバー303を挟み込むように配置されている。詳細に説明すると、半導体モジュール(第2半導体モジュール)300において、Pバスバー301a、301bの端子309a、309b及びNバスバー302の端子310が突出する方向(X方向)において、2本のPバスバー301a、301bの間にNバスバー302およびACバスバー303を配置している。なお、X方向とそれに直交する方向(Y方向)のXY平面において、Pバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303の面の少なくとも一部は、概ね同一平面に、かつ平行となるように配置されている。
次に図5、図6に示す半導体モジュール300の構成において、Pバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303に起因した配線インダクタンスを低減する効果について説明する。サージ電圧が発生する際の電流経路を図5中の点線矢印で示す。2本のPバスバー301a、301bに挟み込むように配置されたNバスバー302およびACバスバー303は、Pバスバー301a、301bと逆向きに電流が流れる。つまり、Nバスバー302およびACバスバー303の両隣に逆向きの電流が流れる2本のPバスバー301a、301bを配置することで、Pバスバー301a、301bと、ACバスバー303およびNバスバー302の間において、それぞれに発生する磁束を効果的にキャンセルできる。従ってPバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303に起因した配線インダクタンス109、110、111を低減することができる。なお、Pバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303を同一平面(XY平面)内に配置することにより、異なる平面で配置するよりも、Pバスバー301a、301bと、Nバスバー302及びACバスバー303の距離を小さくすることができ、磁束のキャンセル効果が高い。
また、図3~図6に示すように、上アーム、下アームのスイッチング素子が2in1構造の半導体モジュールであれば、上アームと下アームを別のモジュールで構成するよりも、上アームと下アームを接続するためのバスバーの長さを小さく構成することができ、バスバーに起因した配線インダクタンスをより低減できる。即ち、図3~図6においては、第1半導体素子と第2半導体素子は同一のモジュールにパッケージされている。
また、図3~図6に示すように、平滑コンデンサ102の正極側配線と半導体モジュール200、300のPバスバーとの接続端子(第1端子部)209、309、及び平滑コンデンサ102の負極側配線と半導体モジュール200、300のNバスバーとの接続端子(第2端子部)210、310を同一方向に配置することにより、平滑コンデンサ102の配線インダクタンスを低減することかできる。
図7は図3に示された半導体モジュール200の構成に平滑コンデンサ102を接続した状態を示す平面断面図、図8は図7におけるC-C線断面図である。平滑コンデンサ102の正極側バスバー214は、正極側接続端子209において、半導体モジュール200のPバスバー201と接続される。又平滑コンデンサ102の負極側バスバー215a、215bは負極側接続端子210a、210bにおいて、半導体モジュール200のNバスバー202a、202bと接続される。なお、バスバー同士の接続はTIG(TUNGSTEN INERT GAS)溶接などのアーク溶接が用いられる。ここで、平滑コンデンサ102の正極側バスバー214に起因する配線インダクタンスは、図2における配線インダクタンス107に該当し、平滑コンデンサ102の負極側バスバー215a、215bに起因する配線インダクタンスは、図2における配線インダクタンス108に該当する。
図7に示すように、同一方向に配置した正極側接続端子209と負極側接続端子210a、210bに対して隣り合う位置に平滑コンデンサ102を配置することにより、平滑コンデンサ102の正極側バスバー214と、負極側バスバー215a、215bを短く構成できる。従って正極側バスバー214と負極側バスバー215a、215bに起因した配線インダクタンス107、108を低減することができる。
本実施の形態によれば、スイッチング素子を有する半導体モジュールにおいて、2本のPバスバーがNバスバーおよびACバスバーを挟み込むように配置し、あるいは2本のNバスバーがPバスバーおよびACバスバーを挟み込むように配置するので、逆相の電流が流れるバスバー同士に発生する磁束がキャンセルできる。これにより、Pバスバー、Nバスバーだけでなく、ACバスバーの発生磁束もキャンセルでき、半導体モジュール全体の配線インダクタンスを低減できる。さらには、2本のバスバーの間に逆方向に流れるバスバーを挟み込むように配置するので、隣り合うバスバー同士の間で磁束をキャンセルすることができる。従って特許文献1の電力変換器のように、一対のバスバーで構成するよりも、より磁束キャンセル効果が高く、配線インダクタンスが小さい半導体モジュールが提供できる。したがって、配線インダクタンスに起因したサージ電圧を低減でき、スイッチング素子のスイッチング損失および発熱を抑制できるため、放熱部材などの付属部品を削減できる。更には装置全体を小型化できるので、装置の小型化、及び低コスト化を実現できる。
図9は別の形態による半導体モジュールを示す平面断面図である。半導体モジュールを並列に複数使用する場合は、半導体モジュール(第1半導体モジュール)200と半導体モジュール(第2半導体モジュール)300を隣り合わせて配置すれば、よりバスバーに起因した配線インダクタンスを低減できる。図9にはこのような構成を実現するための配置例を示している。サージ電圧が発生する際の電流経路を図9において点線矢印で示す。半導体モジュール200と半導体モジュール300を隣り合わせて配置すれば、隣り合うバスバーにはそれぞれ逆向きに電流が流れるため、それぞれに発生する磁束を効果的にキャンセルすることができる。従ってPバスバー201、Nバスバー202、ACバスバー203、Pバスバー301a、301b、Nバスバー302、ACバスバー303に起因した配線インダクタンス109、110、111を低減することができる。なお、図9においては、2つの半導体モジュールを並列に配置する場合について説明したが、並列の数に合わせて半導体モジュール(第1半導体モジュール)200と半導体モジュール(第2半導体モジュール)300を交互に配置することにより同様の効果が得られる。
実施の形態2.
次に図10、図11、図12を用いて、バスバーの幅、バスバー同士の間隔と、インダクタンスの低減率について説明する。図10は、半導体モジュール200及び半導体モジュール300のバスバーの形状を示す簡略平面図であり、バスバー402a、402bがバスバー401を挟み込むように配置している。バスバー401、402a、402bの自己インダクタンスをそれぞれL401、L402a、L402bとし、L401とL402aの結合係数をK、L401とL402bの結合係数をKとした時、L401とL402aの相互インダクタンスM、及びL401とL402bの相互インダクタンスMは次式(2)で示すことができる。
Figure 2023118160000002
(2)式よりそれぞれのインダクタンスの結合係数K、Kが大きいほど、相互インダクタンスM、Mは大きくなることが判る。バスバー402a、402bとバスバー401に逆向きに電流を流すと、隣り合うバスバー同士で発生する磁束はキャンセルされ、バスバー401の合成インダクタンスL401Mは次式(3)で示すことができる。
Figure 2023118160000003
(3)式より、相互インダクタンスM、Mが大きいほど、バスバー401の合成インダクタンスL401Mを小さくすることができる。バスバー401、402a、402bの幅をa[mm]、隣り合うバスバー同士の間隔b[mm]とし、バスバー402a、402bと、バスバー401に逆向きに電流を流し、バスバーの幅a[mm]を固定値として、バスバー同士の間隔b[mm]を変数とした際の、自己インダクタンスL401と合成インダクタンスL401Mの比率の関係を、解析で計算した結果を図11に示す。具体的には図11の横軸はバスバー同士の間隔b[mm]/バスバーの幅a[mm]の比率を示し、縦軸は合成インダクタンスL401M/自己インダクタンスL401の比率を示す。(2)式、(3)式と、この結果より、バスバー同士の間隔b[mm]が小さいほど、インダクタンスの結合係数K、Kが大きくなるので、合成インダクタンスL401Mは低減する。
バスバー同士の間隔b[mm]/バスバーの幅a[mm]の比率を1以下になるように設定しておけば、自己インダクタンスL401に対して、30%以下に合成インダクタンスL401Mを抑制できる。つまり、バスバーの幅a[mm]≧バスバー同士の間隔b[mm]となるよう設定すれば、十分にインダクタンスの抑制効果が得られる。
図3等においては、図示を省略しているが、実際には、図12に示すように、スイッチング素子103a、103bを駆動するために、ゲート配線及びソース配線である制御端子214a、214bが必要となる。図12に示した配置例においては、制御端子214a、214bが配置されている箇所を除き、バスバーの幅a[mm]≧バスバー同士の間隔b[mm]となるように、Pバスバー201、Nバスバー202、ACバスバー203を配置することにより、インダクタンスを抑制することができる。以上より第1バスバー、第2バスバー及び第3バスバーのいずれかの幅をa[mm]、これらバスバー同士の間隔をb[mm]としたとき、第1バスバー、第2バスバー及び第3バスバーのうちの少なくとも一部の関係において、b≦aを満たすようにa、bを設定するものである。
図13は実施の形態2による他の半導体モジュールを示す平面断面図、図14は等価回路図である。図13、図14においては、図3に示した半導体モジュール200のスイッチング素子をそれぞれ並列に配置した場合の半導体モジュール500の構成を示す。スイッチング素子501a、501bは上アームを構成し、スイッチング素子502a、502bは下アームを構成する。図3に示した半導体モジュール200と同様に、Nバスバー504は、Pバスバー503およびACバスバー505を挟み込むように配置している。より詳細に説明すると、半導体モジュール500において、Pバスバー503とNバスバー504の端子512、513a、513bが突出する方向(X方向)において、2つに枝分かれするように配置されたNバスバー504の間に、Pバスバー503およびACバスバー505を配置している。
図14において、スイッチング素子501aのドレイン側の配線インダクタンスを506aとし、スイッチング素子501bのドレイン側の配線インダクタンスを506bとし、スイッチング素子501aのソース側の配線インダクタンスを507aとし、スイッチング素子501bのソース側の配線インダクタンスを507bとし、スイッチング素子502aのドレイン側の配線インダクタンスを508aとし、スイッチング素子502bのドレイン側の配線インダクタンスを508bとし、スイッチング素子502aのソース側の配線インダクタンスを509aとし、スイッチング素子502bのソース側の配線インダクタンスを509bとしている。
ここで、複数のスイッチング素子を並列で使用する際に、それぞれの配線インダクタンスに差が生じると、スイッチング素子間の分流の偏りが大きくなり、電流が多く流れる方の発熱が大きくなる。つまり、配線インダクタンス506aと506b、配線インダクタンス507aと507b、配線インダクタンス508aと508b、配線インダクタンス509aと509bがそれぞれ等しいこと好ましい。図13に示すように、Pバスバー503の分岐点510、ACバスバー505の分岐点511a、511bを、並列に配置されたスイッチング素子に対して等距離の位置に配置する。更にはNバスバー504をモジュールの中心線に対して対称に配置する。このように構成することにより、配線をモジュールの中心線に対して対称に配置し、モジュールの中心線に対してその両側において配線の長さを等しくすることができる。従って配線インダクタンス506aと506b、配線インダクタンス507aと507b、配線インダクタンス508aと508b、配線インダクタンス509aと509bを等しくすることができる。
上記実施の形態においては、スイッチング素子をMOSFETとして説明したが、高周波駆動が可能で、スイッチング速度(dv/dt、di/dt)が速く、損失を小さくできるSiC又はGaNなどのワイドバンドギャップ半導体を用いて構成しても良い。スイッチング速度(di/dt)が速いと、サージ電圧も大きくなる。すなわち、ワイドギャップ半導体を用いて、本実施の形態を構成すれば、サージ電圧及びスイッチング素子の発熱を抑制でき、電力変換器の小型化及び高効率化を更に実現できる。
本願は、様々な例示的な実施の形態及び実施例が記載されているが、1つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、及び機能は特定の実施の形態の適用に限られるのではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。
従って、例示されていない無数の変形例が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも1つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも1つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
101 直流電源、102 平滑コンデンサ、103 U相アーム、
103a スイッチング素子、103b スイッチング素子、104 V相アーム、
104a スイッチング素子、104b スイッチング素子、105 W相アーム、
105a スイッチング素子、105b スイッチング素子、106 三相交流モータ、
200 半導体モジュール、201 Pバスバー、202 Nバスバー、
203 ACバスバー、204 負荷バスバー、205 放熱板、206 放熱板、
207 絶縁シート、208 モールド樹脂、212 金属プレート、
300 半導体モジュール、301a,301b Pバスバー、302 Nバスバー、
303 ACバスバー、304 負荷バスバー、305 放熱板、306 放熱板、
307 絶縁シート、308 モールド樹脂、312 金属プレート。

Claims (9)

  1. 直列接続された第1半導体素子と第2半導体素子から成るスイッチング回路を有し、
    前記第1半導体素子の正極側に接続される第1バスバーと、
    前記第2半導体素子の負極側に接続される第2バスバーと、
    前記第1半導体素子の負極側と前記第2半導体素子の正極側に接続される第3バスバーを設け、
    前記第1バスバーと前記第2バスバーと前記第3バスバーは同一方向に延びるとともに、
    前記第1バスバーと前記第2バスバーのうちのいずれか一方のバスバーは、前記第3バスバー、及び前記第1バスバーと前記第2バスバーのうちの他方のバスバーを挟み込むように配置されている半導体モジュール。
  2. 前記第2バスバーは2つに枝分かれになるよう配置され、
    2つに枝分かれになるよう配置された前記第2バスバーの間に前記第1バスバー及び前記第3バスバーを配置した請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記第1バスバーは2本のバスバーにより構成され、
    2本の前記第1バスバーの間に前記第2バスバー及び前記第3バスバーを配置した請求項1に記載の半導体モジュール。
  4. 前記第2バスバーは2つに枝分かれになるよう配置され、2つに枝分かれになるよう配置された前記第2バスバーの間に前記第1バスバー及び前記第3バスバーを配置した第1半導体モジュールと、
    前記第1バスバーは2本のバスバーにより構成され、2本の前記第1バスバーの間に前記第2バスバー及び前記第3バスバーを配置した第2半導体モジュールを構成し、
    前記第1半導体モジュールと前記第2半導体モジュールを交互に配置した請求項1に記載の半導体モジュール。
  5. 前記第1バスバーと前記第2バスバーと前記第3バスバーの少なくとも一部は、概ね同一平面上に配置される請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  6. 前記第1半導体素子と前記第2半導体素子は同一のモジュールにパッケージされる請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  7. 前記第1バスバー、前記第2バスバー及び前記第3バスバーのいずれかの幅をa、これらバスバー同士の間隔をbとしたとき、前記第1バスバー、前記第2バスバー及び前記第3バスバーのうちの少なくとも一部の関係において、b≦aを満たすようにa、bを設定する請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  8. 前記第1半導体素子と前記第2半導体素子はワイドバンドギャップ半導体である請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  9. 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の半導体モジュールを用いた電力変換器であって、
    前記半導体モジュールに加わる直流電圧を平滑化するための平滑コンデンサを有し、
    前記第1バスバーは前記平滑コンデンサの正極側配線と接続するための第1端子部を有し、
    前記第2バスバーは前記平滑コンデンサの負極側配線と接続するための第2端子部を有し、
    前記第1端子部と前記第2端子部は同一方向に突出している電力変換器。
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