JP2023034131A - フィルム、及び、積層体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マトリクス材料、及び、上記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子を含み、上記マトリクス材料と上記粒子との間の少なくとも一部に、領域Aを有し、上記領域Aが、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含むフィルム、並びに、上記フィルムを用いた積層体。
【選択図】なし
Description
特許文献1には、単一重合体としたときのガラス転移温度が異なる2種以上のモノマーユニットを含むランダム共重合体を含み、成形板としたときに、Atomic Force Microscope(AFM)を用いて弾性率をマッピングした際に、弾性率の異なる成分がナノスケールで相分離した構造を有する、ことを特徴とする、熱可塑性樹脂組成物が記載されている。
また、本発明の他の実施形態が解決しようとする課題は、上記フィルムを用いた積層体を提供することである。
<1> マトリクス材料、及び、上記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子を含み、上記マトリクス材料と上記粒子との間の少なくとも一部に、領域Aを有し、上記領域Aが、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含むフィルム。
<2> 上記損失正接が0.1以上である化合物の25℃における弾性率が、1GPa以下である<1>に記載のフィルム。
<3> 上記粒子が、表面に上記領域Aの層を有する粒子である<1>又は<2>に記載のフィルム。
<4> 上記領域Aの層の平均厚みが、0.01μm~10μmである<3>に記載のフィルム。
<5> 上記粒子の25℃における弾性率Epと、上記マトリクス材料の25℃における弾性率Emとの比Ep/Emの値が、1.2以上である<1>~<4>のいずれか1つに記載のフィルム。
<6> 上記粒子が、無機粒子である<1>~<5>のいずれか1つに記載のフィルム。
<7> 上記粒子の含有量が、フィルムの全体積に対し、10体積%以上である<1>~<6>のいずれか1つに記載のフィルム。
<8> 上記マトリクス材料の誘電正接が、0.01以下である<1>~<7>のいずれか1つに記載のフィルム。
<9> 上記マトリクス材料が、ポリマー、及び、モノマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含む<1>~<8>のいずれか1つに記載のフィルム。
<10> 上記マトリクス材料が、液晶ポリマー、シクロオレフィンポリマー、及び、フッ素系ポリマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種のポリマーを含む<1>~<9>のいずれか1つに記載のフィルム。
<11> 上記領域Aが、ポリオレフィン、及び、スチレンブタジエンゴムよりなる群から選ばれた少なくとも1種を含む<1>~<10>のいずれか1つに記載のフィルム。
<12> <1>~<11>のいずれか1つに記載のフィルムと、上記フィルムの少なくとも一方の面に配置された銅層又は銅配線とを有する積層体。
また、本発明の他の実施形態によれば、上記フィルムを用いた積層体を提供することができる。
なお、本明細書において、数値範囲を示す「~」とはその前後に記載される数値を下限値及び上限値として含む意味で使用される。
本開示中に段階的に記載されている数値範囲において、一つの数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本開示中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
また、本明細書における基(原子団)の表記において、置換及び無置換を記していない表記は、置換基を有さないものと共に置換基を有するものをも包含するものである。例えば「アルキル基」とは、置換基を有さないアルキル基(無置換アルキル基)のみならず、置換基を有するアルキル基(置換アルキル基)をも包含するものである。
本明細書において、「(メタ)アクリル」は、アクリル及びメタクリルの両方を包含する概念で用いられる語であり、「(メタ)アクリロイル」は、アクリロイル及びメタクリロイルの両方を包含する概念として用いられる語である。
また、本明細書中の「工程」の用語は、独立した工程だけではなく、他の工程と明確に区別できない場合であっても、その工程の所期の目的が達成されれば本用語に含まれる。 また、本開示において、「質量%」と「重量%」とは同義であり、「質量部」と「重量部」とは同義である。
更に、本開示において、2以上の好ましい態様の組み合わせは、より好ましい態様である。
また、本開示における重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、特に断りのない限り、TSKgel SuperHM-H(東ソー(株)製の商品名)のカラムを使用したゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)分析装置により、溶剤PFP(ペンタフルオロフェノール)/クロロホルム=1/2(質量比)、示差屈折計により検出し、標準物質としてポリスチレンを用いて換算した分子量である。
本開示に係るフィルムは、マトリクス材料、及び、上記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子を含み、上記マトリクス材料と上記粒子との間の少なくとも一部に、領域Aを有し、上記領域Aが、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含む。
本開示に係るフィルムは、マトリクス材料と上記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子との間に、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含む領域Aを有することにより、上記領域Aが、上記マトリクス材料と上記粒子との界面における応力による剥がれを抑制し、上記剥がれ部分に生じる空隙における応力集中が抑制され、脆性が改良されたフィルムを提供することができる。
脆性は、例えば、破断伸度にて評価することができる。破断伸度が大きい程、脆性が改良されたと判断することができる。
本開示に係るフィルムは、上記マトリクス材料と上記粒子との間の少なくとも一部に、領域Aを有し、上記領域Aが、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含む。
領域Aは、上記マトリクス材料と上記粒子との間の少なくとも一部に存在していればよい。
領域Aは、上記粒子の表面のうち、より多くの面積を覆うように存在することが好ましく、脆性改良の観点から、上記粒子の全表面積に対し、50面積%以上存在していることがより好ましく、65面積%以上存在していることが更に好ましく、80面積%以上存在していることが特に好ましい。
中でも、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を上記粒子表面にコーティングする方法、すなわち、上記粒子が、表面に上記領域Aの層を有する粒子であることが、脆性改良の観点から、好ましい。
上記領域Aの層の平均厚みは、脆性改良の観点から、0.01μm~10μmであることが好ましく、0.1μm~5μmであることがより好ましく、0.2μm~3μmであることが特に好ましい。
上記海島構造を形成する場合において、上記マトリクス材料と上記粒子との間における上記領域Aの平均厚みは、脆性改良の観点から、0.01μm~10μmであることが好ましく、0.1μm~5μmであることがより好ましく、0.2μm~3μmであることが特に好ましい。
フィルムをミクロトームで切削し、断面を光学顕微鏡で観察して、領域Aの厚みを評価する。断面サンプルは3ヶ所以上切り出し、各断面において、3点以上厚みを測定し、それらの平均値を平均厚みとする。
粘着剤としては、エチレン-酢酸ビニル共重合体(EVA)系粘着剤、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤(例えば、酸変性ポリオレフィン粘着剤、ポリエチレンオリゴマー粘着剤等)、セルロース系粘着剤(例えば糊等)、シリコーン系粘着剤、ウレタン系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、ポリビニルアルコール系粘着剤、ポリビニルピロリドン系粘着剤、ポリアクリルアミド系粘着剤等が挙げられる。
中でも、粘着剤としては、脆性改良の観点から、ポリオレフィン系粘着剤が好ましく、酸変性ポリオレフィン系粘着剤がより好ましく、酸変性ポリオレフィン及びエポキシ樹脂を含む酸変性ポリオレフィン系粘着剤が特に好ましい。
熱可塑性エラストマーとしては、例えば、ウレタン系熱可塑性エラストマー、エステル系熱可塑性エラストマー、アミド系熱可塑性エラストマー、シリコーン系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。
中でも、ゴム及び熱可塑性エラストマーとしては、脆性改良の観点から、スチレンブタジエンゴムが好ましい。
フィルムを紫外線硬化型樹脂(UVレジン)で包埋し、ミクロトームで切削して断面評価用サンプルを作製した。続けて、走査型プローブ顕微鏡(SPA400、エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)製)を用いて、VE-AFMモードで観察し、測定温度における各成分の貯蔵弾性率、及び、損失正接(損失弾性率/貯蔵弾性率)を算出する。
上記25℃における損失正接が0.1以上である化合物の含有量は、脆性改良の観点から、上記フィルムの全質量に対し、0.1質量%~30質量%であることが好ましく、0.3質量%~20質量%であることがより好ましく、0.5質量%~10質量%であることが特に好ましい。
本開示に係るフィルムは、上記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子を含む。
上記粒子の弾性率は、上記マトリクス材料よりも高ければよいが、脆性改良の観点から、上記粒子の25℃における弾性率は、5GPa以上であることが好ましく、8GPa以上であることがより好ましく、10GPa以上であることが特に好ましい。
上記粒子の25℃における弾性率Epと、上記マトリクス材料の25℃における弾性率Emとの比Ep/Emの値は、本開示における効果をより発揮する観点から、1.2以上であることが好ましく、1.5以上であることがより好ましく、2.0以上であることが更に好ましく、3.0以上であることが特に好ましい。
上記粒子が無機粒子である場合、上記粒子の材質としては、BN、Al2O3、AlN、TiO2、SiO2、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、水酸化アルミニウム、炭酸カルシウム、及び、これらを2種以上含む材質が挙げられる。
中でも、無機粒子としては、脆性改良の観点から、金属酸化物粒子、又は、窒化ホウ素(BN)粒子であることが好ましく、シリカ粒子であることがより好ましい。
上記ポリマーとしては、液晶ポリマー、フッ素樹脂、環状脂肪族炭化水素基とエチレン性不飽和結合を有する基とを有する化合物の重合物、ポリエーテルエーテルケトン、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルケトン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンエーテル及びその変性物、ポリエーテルイミド等の熱可塑性樹脂;グリシジルメタクリレートとポリエチレンとの共重合体等のエラストマー;フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、シアネート樹脂等の熱硬化性樹脂が挙げられる。
本開示に係るフィルムにおける上記粒子の含有量は、脆性改良の観点から、フィルムの全体積に対し、10体積%以上であることが好ましく、15体積%~70体積%であることがより好ましく、20体積%~65体積%であることが特に好ましい。
また、本開示に係るフィルムにおける上記粒子及び上記25℃における損失正接が0.1以上である化合物の総含有量は、脆性改良の観点から、フィルムの全体積に対し、20体積%以上であることが好ましく、20体積%~80体積%であることがより好ましく、25体積%~70体積%であることが特に好ましい。
本開示に係るフィルムは、マトリクス材料を含む。
マトリクス材料としては、上記粒子よりも25℃における弾性率が低いものであれば、特に制限はないが、脆性改良の観点から、ポリマー、及び、モノマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含むことが好ましく、ポリマーを含むことがより好ましく、液晶ポリマー、シクロオレフィンポリマー、及び、フッ素系ポリマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種のポリマーを含むことが更に好ましく、液晶ポリマーを含むことが特に好ましい。
誘電正接は周波数10GHzで共振摂動法により測定する。ネットワークアナライザ(Agilent Technology社製「E8363B」)に10GHzの空洞共振器((株)関東電子応用開発CP531)を接続し、空洞共振器にフィルム又はポリマーのサンプル(幅:2.0mm×長さ:80mmを挿入し、温度25℃、湿度60%RH環境下、96時間の挿入前後の共振周波数の変化から誘電正接を測定する。なお、金属箔を有する積層体である場合、金属箔は、測定前に、塩化第二鉄で除去する。
なお、粒子の誘電正接は、圧縮成形により圧粉体サンプル(幅:2.0mm×長さ:80mm)を作製し、上記方法により測定する。
また、上記モノマーを用いる場合、膜形成性の観点から、粘度が高いモノマーを用いるか、又は、上記ポリマーと上記モノマーとを併用することが好ましい。
モノマーとしては、エチレン性不飽和化合物であることが好ましく、多官能エチレン性化合物であることがより好ましい。
また、エチレン性不飽和化合物としては、(メタ)アクリレート化合物、(メタ)アクリルアミド化合物、(メタ)アクリル酸、スチレン化合物、ビニルアセテート化合物、ビニルエーテル化合物、オレフィン化合物等が挙げられる。
中でも、(メタ)アクリレート化合物が好ましい。
また、モノマーの分子量としては、金属箔又は金属配線との密着性の観点から、分子量50以上1,000未満であることが好ましく、分子量100以上1,000未満であることがより好ましく、分子量200以上800以下であることが特に好ましい。
熱重合開始剤又は光重合開始剤としては、公知のものを用いることができる。
熱重合開始剤としては、熱ラジカル発生剤が挙げられる。具体的には、ベンゾイルパーオキサイド、及びアゾビスイソブチロニトリル等のような過酸化物開始剤、並びにアゾ系開始剤等が挙げられる。
光重合開始剤としては、光ラジカル発生剤が挙げられる。具体的には、(a)芳香族ケトン類、(b)オニウム塩化合物、(c)有機過酸化物、(d)チオ化合物、(e)ヘキサアリールビイミダゾール化合物、(f)ケトオキシムエステル化合物、(g)ボレート化合物、(h)アジニウム化合物、(i)活性エステル化合物、(j)炭素ハロゲン結合を有する化合物、及び(k)ピリジウム類化合物等が挙げられる。
重合開始剤は、1種のみを添加しても、2種以上を併用してもよい。
重合開始剤の含有量は、モノマーの全質量に対し、0.01質量%~30質量%が好ましく、0.05質量%~25質量%がより好ましく、0.1質量%~20質量%が更に好ましい。
上記ポリマーとしては、液晶ポリマー、フッ素ポリマー、環状脂肪族炭化水素基とエチレン性不飽和結合を有する基とを有する化合物の重合物、ポリエーテルエーテルケトン、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルケトン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンエーテル及びその変性物、ポリエーテルイミド等の熱可塑性樹脂;グリシジルメタクリレートとポリエチレンとの共重合体等のエラストマー;フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、シアネート樹脂等の熱硬化性樹脂が挙げられる。
上記ポリマーは、フィルムの誘電正接の観点から、液晶ポリマーであることが好ましい。
また、液晶ポリマーは、溶融状態で液晶性を示すサーモトロピック液晶ポリマーでもよく、溶液状態で液晶性を示すリオトロピック液晶ポリマーでもよい。また、サーモトロピック液晶の場合は、450℃以下の温度で溶融するものであることが好ましい。
液晶ポリマーとしては、例えば、液晶ポリエステル、液晶ポリエステルにアミド結合が導入された液晶ポリエステルアミド、液晶ポリエステルにエーテル結合が導入された液晶ポリエステルエーテル、液晶ポリエステルにカーボネート結合が導入された液晶ポリエ
ステルカーボネートなどを挙げることができる。
また、液晶ポリマーは、液晶性、及び、線膨張係数の観点から、芳香環を有するポリマーであることが好ましく、芳香族ポリエステル又は芳香族ポリエステルアミドであることがより好ましい。
更に、液晶ポリマーは、芳香族ポリエステル又は芳香族ポリエステルアミドに、更にイミド結合、カルボジイミド結合やイソシアヌレート結合などのイソシアネート由来の結合等が導入されたポリマーであってもよい。
また、液晶ポリマーは、原料モノマーとして芳香族化合物のみを用いてなる全芳香族液晶ポリマーであることが好ましい。
1)(i)芳香族ヒドロキシカルボン酸と、(ii)芳香族ジカルボン酸と、(iii)芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンよりなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物と、を重縮合させてなるもの。
2)複数種の芳香族ヒドロキシカルボン酸を重縮合させてなるもの。
3)(i)芳香族ジカルボン酸と、(ii)芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンよりなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物と、を重縮合させてなるもの。
4)(i)ポリエチレンテレフタレート等のポリエステルと、(ii)芳香族ヒドロキシカルボン酸と、を重縮合させてなるもの。
ここで、芳香族ヒドロキシカルボン酸、芳香族ジカルボン酸、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンはそれぞれ独立に、その一部又は全部に代えて、その重縮合可能な誘導体が用いられてもよい。
芳香族ヒドロキシカルボン酸、芳香族ジオール及び芳香族ヒドロキシアミンのようなヒドロキシ基を有する化合物の重合可能な誘導体の例としては、ヒドロキシ基をアシル化してアシルオキシ基に変換してなるもの(アシル化物)が挙げられる。
芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンのようなアミノ基を有する化合物の重合可能な誘導体の例としては、アミノ基をアシル化してアシルアミノ基に変換してなるもの(アシル化物)が挙げられる。
式(1) -O-Ar1-CO-
式(2) -CO-Ar2-CO-
式(3) -X-Ar3-Y-
式(1)~式(3)中、Ar1は、フェニレン基、ナフチレン基又はビフェニリレン基を表し、Ar2及びAr3はそれぞれ独立に、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニリレン基又は下記式(4)で表される基を表し、X及びYはそれぞれ独立に、酸素原子又はイミノ基を表し、Ar1~Ar3で表される上記基にある水素原子は、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基又はアリール基で置換されていてもよい。
式(4) -Ar4-Z-Ar5-
式(4)中、Ar4及びAr5はそれぞれ独立に、フェニレン基又はナフチレン基を表し、Zは、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基又はアルキレン基を表す。
上記アルキル基の例としては、メチル基、エチル基、n-プロピル基、イソプロピル基、n-ブチル基、イソブチル基、s-ブチル基、t-ブチル基、n-ヘキシル基、2-エチルヘキシル基、n-オクチル基及びn-デシル基が挙げられ、その炭素数は、好ましくは1~10である。
上記アリール基の例としては、フェニル基、o-トリル基、m-トリル基、p-トリル基、1-ナフチル基及び2-ナフチル基が挙げられ、その炭素数は、好ましくは6~20である。
上記水素原子がこれらの基で置換されている場合、その数は、Ar1、Ar2又はAr3で表される上記基毎にそれぞれ独立に、好ましくは2個以下であり、より好ましくは1個である。
繰り返し単位(1)としては、Ar1がp-フェニレン基であるもの(p-ヒドロキシ安香酸に由来する構成繰り返し単位)、及びAr1が2,6-ナフチレン基であるもの(6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸に由来する構成繰り返し単位)、又は、4,4’-ビフェニリレン基であるもの(4’-ヒドロキシ-4-ビフェニルカルボン酸に由来する構成繰り返し単位)が好ましい。
繰り返し単位(2)としては、Ar2がp-フェニレン基であるもの(テレフタル酸に由来する構成繰り返し単位)、Ar2がm-フェニレン基であるもの(イソフタル酸に由来する構成繰り返し単位)、Ar2が2,6-ナフチレン基であるもの(2,6-ナフタレンジカルボン酸に由来する構成繰り返し単位)、又は、Ar2がジフェニルエーテル-4,4’-ジイル基であるもの(ジフェニルエーテル-4,4’-ジカルボン酸に由来する構成繰り返し単位)が好ましい。
繰り返し単位(3)としては、Ar3がp-フェニレン基であるもの(ヒドロキノン、p-アミノフェノール又はp-フェニレンジアミンに由来する構成繰り返し単位)、Ar3がm-フェニレン基であるもの(イソフタル酸に由来する構成繰り返し単位)、又は、Ar3が4,4’-ビフェニリレン基であるもの(4,4’-ジヒドロキシビフェニル、4-アミノ-4’-ヒドロキシビフェニル又は4,4’-ジアミノビフェニルに由来する構成繰り返し単位)が好ましい。
繰り返し単位(2)の含有量は、全構成繰り返し単位の合計量に対して、好ましくは35モル%以下、より好ましくは10モル%~35モル%、更に好ましくは20モル%~35モル%、特に好ましくは30モル%~35モル%である。
繰り返し単位(3)の含有量は、全構成繰り返し単位の合計量に対して、好ましくは35モル%以下、より好ましくは10モル%~35モル%、更に好ましくは20モル%~35モル%、特に好ましくは30モル%~35モル%である。
繰り返し単位(1)の含有量が多いほど、耐熱性、強度及び剛性が向上し易いが、あまり多いと、溶媒に対する溶解性が低くなり易い。
シクロオレフィンポリマーとしては、ノルボルネン系重合体、単環の環状オレフィンの重合体、環状共役ジエンの重合体、ビニル脂環式炭化水素重合体、及び、これら重合体の水素化物などが挙げられる。
また、シクロオレフィンポリマーにおける環構造としては、シクロペンタン環、シクロヘキサン環、シクロオクタン環、イソボロン環、ノルボルナン環、ジシクロペンタン環等が挙げられる。
上記ポリマーは、耐熱性、及び、力学的強度の観点から、フッ素系ポリマーであることが好ましい。
本開示において、上記ポリマーとして用いるフッ素系ポリマーは、誘電正接が0.01以下であれば、フッ素系ポリマーの種類は特に限定されず、公知のフッ素系ポリマーを用いることができる。
フッ素系ポリマーとしては、例えば、ポリテトラフルオロエチレン、ポリクロロトリフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、ポリフッ化ビニル、ペルフルオロアルコキシフッ素樹脂、四フッ化エチレン/六フッ化プロピレン共重合体、エチレン/四フッ化エチレン共重合体、エチレン/クロロトリフルオロエチレン共重合体等が挙げられる。
中でも、ポリテトラフルオロエチレンが好ましく挙げられる。
本開示における融点Tmは、示差走査熱量分析(DSC)装置を用いて測定するものとする。
本開示におけるガラス転移温度Tgは、示差走査熱量分析(DSC)装置を用いて測定するものとする。
本開示に係るフィルムにおける上記マトリクス材料の含有量は、脆性改良の観点から、フィルムの全体積に対し、20体積%~90体積%であることが好ましく、25体積%~80体積%であることがより好ましく、30体積%~70体積%であることが特に好ましい。
本開示に係るフィルムは、その他の添加剤を含んでいてもよい。
その他の添加剤としては、公知の添加剤を用いることができる。具体的には、例えば、レベリング剤、消泡剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、難燃剤、着色剤等が挙げられる。
本開示に係るフィルムの誘電正接は、剥離時の破断故障抑制、及び、作製された基板の伝送損失低減の観点から、0.01以下であることが好ましく、0.005以下であることがより好ましく、0.004以下であることが更に好ましく、0を超え0.003以下であることが特に好ましい。
本開示に係るフィルムの熱膨張係数は、熱安定性の観点から、-20ppm/K~50ppm/Kであることが好ましく、-10ppm/K~40ppm/Kであることがより好ましく、0ppm/K~35ppm/Kであることが更に好ましく、10ppm/K~30ppm/Kであることが特に好ましい。
熱機械分析装置(TMA)を用いて、幅5mm、長さ20mmのフィルムの両端に1gの引張荷重をかけ、5℃/分の速度で25℃~200℃まで昇温した後、2℃/分の速度で30℃まで冷却し、再び5℃/分の速度で昇温したときの、30℃~150℃の間のTMA曲線の傾きから熱膨張係数を算出する。なお、銅箔は、測定前に、塩化第二鉄で除去する。
例えば、本開示に係るフィルムは、上記マトリクス材料、上記粒子及び25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含み、かつ上記領域Aを有する層Aと、上記層Aの少なくとも一方の面に層Bとを有する構造であってもよいし、層Bと、上記マトリクス材料、上記粒子及び25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含み、かつ上記領域Aを有する層Aと、層Cとをこの順で有する構造であってもよい。
また、層B及び層Cはそれぞれ独立に、液晶ポリマーを含むことが好ましい。
フィルムをミクロトームで切削し、断面を光学顕微鏡で観察して、各層の厚みを評価する。断面サンプルは3ヶ所以上切り出し、各断面において、3点以上厚みを測定し、それらの平均値を平均厚みとする。
層Aの平均厚みTAと層Bの平均厚みTBとの比であるTA/TBの値は、フィルムの誘電正接、及び、金属箔又は金属配線との密着性の観点から、1より大きいことが好ましく、2~100であることがより好ましく、2.5~20であることが更に好ましく、3~10であることが特に好ましい。
層Aの平均厚みTAと層Cの平均厚みTCとの比であるTA/TCの値は、フィルムの誘電正接、及び、金属箔又は金属配線との密着性の観点から、1より大きいことが好ましく、2~100であることがより好ましく、2.5~20であることが更に好ましく、3~10であることが特に好ましい。
また、層Cの平均厚みTCと層Bの平均厚みTBとの比であるTC/TBの値は、線膨張係数、及び、金属箔又は金属配線との密着性の観点から、0.2~5であることが好ましく、0.5~2であることがより好ましく、0.8~1.2であることが特に好ましい。
更に、層B及び層Cの平均厚みはそれぞれ独立に、フィルムの誘電正接、及び、金属箔又は金属配線との密着性の観点から、0.1μm~20μmであることが好ましく、0.5μm~15μmであることがより好ましく、1μm~10μmであることが更に好ましく、3μm~8μmであることが特に好ましい。
本開示に係るフィルムは、種々の用途に用いることができる、中でも、プリント配線板などの電子部品用フィルムに好適に用いることができ、フレキシブルプリント回路基板により好適に用いることができる。
また、本開示に係るフィルムは、金属接着用フィルムとして好適に用いることができる。
〔製膜〕
本開示に係るフィルムの製造方法は、特に制限はなく、公知の方法を参照することができる。
本開示に係るフィルムの製造方法としては、例えば、共流延法、重層塗布法、共押出法等が好適に挙げられる。中でも、比較的薄手の製膜には共流延法が特に好ましく、厚手の製膜には共押出法が特に好ましい。
共流延法及び重層塗布法により製造する場合、液晶ポリマー等の各層の成分をそれぞれ溶媒に溶解又は分散した層A形成用組成物、層B形成用組成物、層C形成用組成物等として、共流延法又は重層塗布法を行うことが好ましい。
上記非プロトン性化合物として、双極子モーメントが3~5である化合物を用いることが好ましい。
上記非プロトン性化合物として、1気圧における沸点が220℃以下である化合物を用いることが好ましい。
支持体としては、例えば、金属ドラム、金属バンド、ガラス板、樹脂フィルム又は金属箔が挙げられる。中でも、金属ドラム、金属バンド、樹脂フィルムが好ましい。
樹脂フィルムとしては、例えばポリイミド(PI)フィルムを挙げることができ、市販品の例としては、宇部興産(株)製U-ピレックスS及びU-ピレックスR、東レデュポン(株)製カプトン、並びに、SKCコーロンPI社製IF30、IF70及びLV300等が挙げられる。
また、支持体は、容易に剥離できるように、表面に表面処理層が形成されていてもよい。表面処理層は、ハードクロムメッキ、フッ素樹脂等を用いることができる。
樹脂フィルム支持体の平均厚みは、特に制限はないが、好ましくは25μm以上75μm以下であり、より好ましくは50μm以上75μmである。
本開示に係る液晶フィルムは、分子配向を制御し、線膨張係数や力学物性を調整する観点で、適宜、延伸を組み合わせることができる。延伸の方法は、特に制限はなく、公知の方法を参照することができ、溶媒を含んだ状態で実施してもよく、乾膜の状態で実施してもよい。溶媒を含んだ状態での延伸は、フィルムを把持して伸長してもよく、伸長せずに乾燥によるウェブの自己収縮力を利用して実施してもよく、それらの組み合わせでもよい。延伸は、無機フィラー等の添加によってフィルム脆性が低下した場合に、破断伸度や破断強度を改善する目的で特に有効である。
本開示に係る積層体は、本開示に係るフィルムが積層したものであればよいが、本開示に係るフィルムと、上記フィルムの少なくとも一方の面に配置された金属層又は金属配線とを有することが好ましく、本開示に係るフィルムと、上記フィルムの少なくとも一方の面に配置された銅層又は銅配線とを有することがより好ましい。
また、本開示に係る積層体としては、金属層又は金属配線と、本開示に係るフィルムと、金属層又は金属配線とをこの順で有することが好ましく、銅層又は銅配線と、本開示に係るフィルムと、銅層又は銅配線とをこの順で有することがより好ましい。
更に、本開示に係る積層体としては、本開示に係るフィルムと、銅層又は銅配線と、本開示に係るフィルムと、金属層又は金属配線と、本開示に係るフィルムとをこの順で有することが好ましい。上記積層体に用いる2つの本開示に係るフィルムは、同じものであっても、異なるものであってもよい。
上記金属層及び金属配線は、特に制限はなく、公知の金属層及び金属配線であればよいが、例えば、銀層、銀配線、銅層又は銅配線であることが好ましく、銅層又は銅配線であることがより好ましい。
また、上記金属層及び金属配線は、金属配線であることが好ましい。
更に、上記金属層及び金属配線における金属は、銀、又は、銅であることが好ましく、銅であることがより好ましい。
本開示に係るフィルムは、例えば、金属層又は金属配線の貼り付け後に、更に硬化させることが可能であるため、本開示に係る積層体は、耐久性の観点から、上記硬化性化合物Aが硬化してなる硬化物を含むことが好ましい。
フィルムと金属層との積層体から1.0cm幅の剥離用試験片を作製し、フィルムを両面接着テープで平板に固定し、JIS C 5016(1994)に準じて180°法により、50mm/分の速度で金属層からフィルムを剥離したときの強度(kN/m)を測定する。
中でも、密着性、及び、処理容易性の観点から、共有結合可能な基であることが好ましく、アミノ基、又は、ヒドロキシ基であることがより好ましく、アミノ基であることが特に好ましい。
上記積層工程における積層方法は、特に制限はなく、公知のラミネート方法を用いることができる。
上記積層工程における貼り合わせ圧力は、特に制限はないが、0.1MPa以上であることが好ましく、0.2MPa~10MPaであることが好ましい。
上記積層工程における貼り合わせ温度は、使用するフィルム等に応じて適宜選択することができるが、150℃以上であることが好ましく、280℃以上であることがより好ましく、280℃以上420℃以下であることが特に好ましい。
<マトリクス材料>
LC-A:下記製造方法に従って作製した液晶ポリマー
撹拌装置、トルクメータ、窒素ガス導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、6-ヒドロキシ-2-ナフトエ酸940.9g(5.0モル)、4-ヒドロキシアセトアミノフェン377.9g(2.5モル)、イソフタル酸415.3g(2.5モル)及び無水酢酸867.8g(8.4モル)を入れ、反応器内のガスを窒素ガスで置換した後、窒素ガス気流下、撹拌しながら、室温(23℃)から140℃まで60分かけて昇温し、140℃で3時間還流させた。
次いで、副生酢酸及び未反応の無水酢酸を留去しながら、150℃から300℃まで5時間かけて昇温し、300℃で30分保持した後、反応器から内容物を取り出し、室温まで冷却した。得られた固形物を、粉砕機で粉砕して、粉末状の液晶ポリエステル(B1)を得た。この液晶ポリエステル(B1)の流動開始温度は、193.3℃であった。
A-1:シリカ粒子(平均粒径400nm、ヘキサメチルジシラザン処理)
R-1(粒子表面に領域Aを形成する化合物):オレフィン系粘着剤組成物(酸変性ポリオレフィン及びエポキシ樹脂の混合物)、損失正接:1、弾性率:0.1GPa
R-2(粒子表面に領域Aを形成する化合物):オレフィン系粘着剤組成物(酸変性ポリオレフィン樹脂及びエポキシ樹脂の混合物)、損失正接:0.3、弾性率:0.2GPa
R-3(マトリクス材料と相分離した領域A中に含まれる化合物):スチレンブタジエンゴム(SBR)、損失正接:0.2、弾性率:0.5GPa
<製膜>
下記の流延に準じて製膜を行った。
-ポリマー溶液の調製-
表1に記載のポリマーをN-メチルピロリドンに加え、窒素雰囲気下、140℃4時間撹拌し、公称孔径10μmの焼結繊維金属フィルターを通過させ、ついで同じく公称孔径10μmの焼結繊維フィルターを通過させ、ポリマー溶液を得た。別途、表1に記載の粒子、及び、表1に記載の領域Aを形成する化合物をトルエンに加えて粒子の分散液を得た。前記ポリマー溶液と、前記粒子の分散液とを、ポリマーと粒子とが、表1に記載の体積比率になるように混合し、ポリマー溶液を得た。
得られたポリマー溶液を、単層タイプの流延ダイに送液し、銅箔(福田金属箔粉工業(株)製、CF-T4X-SV-12、平均厚み12μm)の処理面上に流延した。40℃にて4時間乾燥することにより、流延膜から溶媒を除去し、銅層と表1に記載の厚みを有するポリマーフィルムとを有する積層体(片面銅張積層板)を得た。
得られた片面銅張積層板を、窒素雰囲気下で、更に表1に記載の温度で加熱し、片面銅張積層板を作製した。
フィルムを紫外線硬化型樹脂(UVレジン)で包埋し、ミクロトームで切削して断面評価用サンプルを作製した。続けて、走査型プローブ顕微鏡(SPA400、エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)製)を用いて、VE-AFMモードで観察し、測定温度におけるマトリクス材料の貯蔵弾性率及び粒子の貯蔵弾性率、並びに、領域Aに含まれる化合物の損失正接(損失弾性率/貯蔵弾性率)を算出した。
誘電正接は周波数10GHzで共振摂動法により測定した。ネットワークアナライザ(Agilent Technology社製「E8363B」)に10GHzの空洞共振器((株)関東電子応用開発CP531)を接続し、空洞共振器にフィルムのサンプル(幅:2.0mm×長さ:80mmを挿入し、温度25℃、湿度60%RH環境下、96時間の挿入前後の共振周波数の変化からフィルムの誘電正接を測定した。なお、銅箔は、測定前に、塩化第二鉄で除去した。
得られた片面銅張積層板をエッチングしてフィルムを取出し、長さ200mm(測定方向)、幅10mmのフィルム試料を切り出した。チャック間距離を100mmに設定した。(株)東洋ボールドウィン製万能引っ張り試験機“STM T50BP”を用い、25℃、60%RH雰囲気中、引張速度10%/分で試料が破断するまで測定し、破断伸度を算出した。破断伸度の値が大きいほど、脆性がより改良されたフィルムである。
Claims (12)
- マトリクス材料、及び、
前記マトリクス材料よりも25℃における弾性率が高い粒子を含み、
前記マトリクス材料と前記粒子との間の少なくとも一部に、領域Aを有し、
前記領域Aが、25℃における損失正接が0.1以上である化合物を含む
フィルム。 - 前記損失正接が0.1以上である化合物の25℃における弾性率が、1GPa以下である請求項1に記載のフィルム。
- 前記粒子が、表面に前記領域Aの層を有する粒子である請求項1又は請求項2に記載のフィルム。
- 前記領域Aの層の平均厚みが、0.01μm~10μmである請求項3に記載のフィルム。
- 前記粒子の25℃における弾性率Epと、前記マトリクス材料の25℃における弾性率Emとの比Ep/Emの値が、1.2以上である請求項1~請求項4のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記粒子が、無機粒子である請求項1~請求項5のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記粒子の含有量が、フィルムの全体積に対し、10体積%以上である請求項1~請求項6のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記マトリクス材料の誘電正接が、0.01以下である請求項1~請求項7のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記マトリクス材料が、ポリマー、及び、モノマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物を含む請求項1~請求項8のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記マトリクス材料が、液晶ポリマー、シクロオレフィンポリマー、及び、フッ素系ポリマーよりなる群から選ばれた少なくとも1種のポリマーを含む請求項1~請求項9のいずれか1項に記載のフィルム。
- 前記領域Aが、ポリオレフィン、及び、スチレンブタジエンゴムよりなる群から選ばれた少なくとも1種を含む請求項1~請求項10のいずれか1項に記載のフィルム。
- 請求項1~請求項11のいずれか1項に記載のフィルムと、前記フィルムの少なくとも一方の面に配置された銅層又は銅配線とを有する積層体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021140221A JP2023034131A (ja) | 2021-08-30 | 2021-08-30 | フィルム、及び、積層体 |
US17/896,015 US20230125850A1 (en) | 2021-08-30 | 2022-08-25 | Film and laminate |
CN202211033933.1A CN115723392A (zh) | 2021-08-30 | 2022-08-26 | 膜及层叠体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021140221A JP2023034131A (ja) | 2021-08-30 | 2021-08-30 | フィルム、及び、積層体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023034131A true JP2023034131A (ja) | 2023-03-13 |
Family
ID=85292878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021140221A Pending JP2023034131A (ja) | 2021-08-30 | 2021-08-30 | フィルム、及び、積層体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230125850A1 (ja) |
JP (1) | JP2023034131A (ja) |
CN (1) | CN115723392A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN118124225B (zh) * | 2024-01-24 | 2024-11-08 | 河北海德塑业有限公司 | 一种低吸水率流延膜及其制备方法 |
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JP2014094520A (ja) * | 2012-11-12 | 2014-05-22 | Unitika Ltd | ポリ乳酸系二軸延伸フィルム |
JP2016128497A (ja) * | 2016-02-08 | 2016-07-14 | 三好化成株式会社 | 表面処理した化粧料用板状粉体及びこれを配合した固形粉末化粧料 |
JP2020180245A (ja) * | 2019-04-26 | 2020-11-05 | Agc株式会社 | パウダー分散液、積層体の製造方法、積層体及びプリント基板の製造方法 |
WO2021039181A1 (ja) * | 2019-08-27 | 2021-03-04 | 東レ株式会社 | 液晶ポリエステル樹脂組成物、積層体、液晶ポリエステル樹脂フィルムおよびその製造方法 |
-
2021
- 2021-08-30 JP JP2021140221A patent/JP2023034131A/ja active Pending
-
2022
- 2022-08-25 US US17/896,015 patent/US20230125850A1/en active Pending
- 2022-08-26 CN CN202211033933.1A patent/CN115723392A/zh active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007269965A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物、積層体、配線板および配線板の製造方法 |
JP2014094520A (ja) * | 2012-11-12 | 2014-05-22 | Unitika Ltd | ポリ乳酸系二軸延伸フィルム |
JP2016128497A (ja) * | 2016-02-08 | 2016-07-14 | 三好化成株式会社 | 表面処理した化粧料用板状粉体及びこれを配合した固形粉末化粧料 |
JP2020180245A (ja) * | 2019-04-26 | 2020-11-05 | Agc株式会社 | パウダー分散液、積層体の製造方法、積層体及びプリント基板の製造方法 |
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Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
中司徹: "ポリ乳酸被覆電線", フジクラ技報, JPN6025004405, 25 January 2008 (2008-01-25), JP, pages 49 - 53, ISSN: 0005519102 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230125850A1 (en) | 2023-04-27 |
CN115723392A (zh) | 2023-03-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240509 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20250122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
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