JP2021168360A - 発光装置の製造方法 - Google Patents

発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021168360A
JP2021168360A JP2020071635A JP2020071635A JP2021168360A JP 2021168360 A JP2021168360 A JP 2021168360A JP 2020071635 A JP2020071635 A JP 2020071635A JP 2020071635 A JP2020071635 A JP 2020071635A JP 2021168360 A JP2021168360 A JP 2021168360A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
light emitting
semiconductor structure
metal film
emitting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2020071635A
Other languages
English (en)
Inventor
俊紀 和田
Toshiki Wada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Chemical Industries Ltd
Original Assignee
Nichia Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Chemical Industries Ltd filed Critical Nichia Chemical Industries Ltd
Priority to JP2020071635A priority Critical patent/JP2021168360A/ja
Publication of JP2021168360A publication Critical patent/JP2021168360A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Abstract

【課題】高い混色性を有する発光装置の製造方法を提供する。【解決手段】発光装置の製造方法は、上面11aに凸部13が設けられた第1ウェーハ11、及び、凸部13上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造12を含む第1構造体10を準備する工程と、貫通部23が設けられた第2ウェーハ21、及び、第2ウェーハ21上に設けられ、第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造22を含む第2構造体20を準備する工程と、凸部13が貫通部23内に配置されるように、第2ウェーハ21を第1ウェーハ11に接合し、第1半導体構造12と第2半導体構造22とが隣り合う積層体30を形成する工程と、積層体30を、第1半導体構造12の一部及び第2半導体構造22の一部を含む複数の発光装置201に分割する工程と、を備える。【選択図】図7B

Description

実施形態は、発光装置の製造方法に関する。
特許文献1には、異なる色の光を出射する複数の発光素子を搭載した発光装置の製造方法が開示されている。このような発光装置において、混色性の向上が要求されている。
特表2007−519221号公報
本発明の実施形態は、高い混色性を有する発光装置の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態に係る発光装置の製造方法は、上面に凸部が設けられた第1ウェーハ、及び、前記凸部上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造を含む第1構造体を準備する工程と、貫通部が設けられた第2ウェーハ、及び、前記第2ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造を含む第2構造体を準備する工程と、前記凸部が前記貫通部内に配置されるように、前記第2ウェーハを前記第1ウェーハに接合し、前記第1半導体構造と前記第2半導体構造とが隣り合う積層体を形成する工程と、前記積層体を、前記第1半導体構造の一部及び前記第2半導体構造の一部を含む複数の発光装置に分割する工程と、を備える。
本発明の一実施形態に係る発光装置の製造方法は、上面に凸部が設けられた第1ウェーハ、及び、前記凸部上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造を含む第1構造体を準備する工程と、第1部分及び前記第1部分から延出した複数の第2部分が設けられた第2ウェーハ、並びに、前記第2ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造を含む第2構造体を準備する工程と、第3部分及び前記第3部分から延出した複数の第4部分が設けられた第3ウェーハ、並びに、前記第3ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長及び前記第2ピーク波長とは異なる第3ピーク波長の光を出射する第3半導体構造を含む第3構造体を準備する工程と、前記第2部分及び前記第4部分が前記凸部間に配置されるように、前記第2ウェーハ及び前記第3ウェーハを前記第1ウェーハに接合し、前記第1半導体構造、前記第2半導体構造及び前記第3半導体構造が並んだ積層体を形成する工程と、前記積層体を、前記第1半導体構造の一部、前記第2半導体構造の一部及び前記第3半導体構造の一部を含む複数の発光装置に分割する工程と、を備える。
本発明の一実施形態によれば、高い混色性を有する発光装置の製造方法を実現できる。
第1の実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図1Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第1の実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図2Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第1の実施形態における第1構造体を示す模式上面図である。 図3Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第1の実施形態における第2構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図4Aに示すB−B’線による模式端面図である。 第1の実施形態における第2構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図5Aに示すB−B’線による模式端面図である。 第1の実施形態における第2構造体を示す模式上面図である。 図6Aに示すB−B’線による模式端面図である。 第1の実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図である。 図7Aに示すC−C’線による模式端面図である。 第1の実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。 第1の実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図である。 図8Aに示すC−C’線による模式端面図である。 第1の実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。 第1の実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。 第1の実施形態の変形例に係る発光装置の製造方法を示す模式端面図である。 第1の実施形態の変形例に係る発光装置の製造方法を示す模式端面図である。 第2の実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図12Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第2の実施形態における第1構造体を示す模式上面図である。 図13Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第2の実施形態における第2構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図14Aに示すB−B’線による模式端面図である。 第2の実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図である。 図15Aに示すC−C’線による模式端面図である。 第2の実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。 第2の実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図である。 図16Aに示すC−C’線による模式端面図である。 第2の実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。 第2の実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。 第3の実施形態における第1構造体を示す模式上面図である。 図19Aに示すA−A’線による模式端面図である。 第3の実施形態における第2構造体を示す模式上面図である。 図20Aに示すB−B’線による模式端面図である。 第3の実施形態における第3構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図21Aに示すD−D’線による模式端面図である。 第3の実施形態における第3構造体の作製方法を示す模式上面図である。 図22Aに示すD−D’線による模式端面図である。 第3の実施形態における第3構造体を示す模式上面図である。 図23Aに示すD−D’線による模式端面図である。 第3の実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図である。 図24Aに示すE−E’線による模式端面図である。 第3の実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。 第3の実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図である。 図25Aに示すE−E’線による模式端面図である。 第3の実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。 第3の実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。
<第1の実施形態>
先ず、第1の実施形態について説明する。本実施形態は、2種類の発光素子を搭載した発光装置の製造方法である。
(第1構造体を準備する工程)
先ず、第1構造体を準備する。第1構造体は、作製することにより準備してもよく、他者から購入することにより準備してもよい。本実施形態においては、第1構造体を作製する例を示す。
図1Aは本実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図1Bは図1Aに示すA−A’線による模式端面図である。図2Aは本実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図2Bは図2Aに示すA−A’線による端面図である。図3Aは本実施形態における第1構造体を示す模式上面図であり、図3Bは図3Aに示すA−A’線による模式端面図である。
先ず、図1A及び図1Bに示すように、第1ウェーハ11を準備する。第1ウェーハ11は、例えば、シリコンウェーハとすることができる。第1ウェーハ11の厚さは、例えば、500μm以上1000μm以下とすることができる。次に、第1ウェーハ11の上面11aに、第1半導体構造12を形成する。第1半導体構造12は、例えば、第1ウェーハ11の上面11aに窒化物半導体等を含む半導体層をエピタキシャル成長させることにより、形成できる。窒化物半導体は、InAlGa1−x−yN(0≦x≦1,0≦y≦1,x+y≦1)なる化学式において組成比x及びyをそれぞれの範囲内で変化させた全ての組成の半導体を含むものとする。第1半導体構造12は、例えば、p型層、発光層及びn型層が積層された積層体であり、p型層とn型層との間に電圧が印加されると、発光層から第1ピーク波長の光を出射する。第1ピーク波長の光は、例えば、青色の光である。第1ピーク波長は、例えば、430nm以上480nm以下である。
次に、第1半導体構造12上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第1半導体構造12及び第1ウェーハ11の上部をエッチングする。これにより、図2A及び図2Bに示すように、第1ウェーハ11の上面11aに凸部13が形成される。凸部13は、第1方向V1に沿って延びる複数の延出部14を有していてもよい。この場合、複数の延出部14は、第1方向V1に直交する第2方向V2に沿って配列される。凸部13の高さは、例えば、250μm以上750μm以下とすることができる。凸部13の高さは、第1ウェーハ11をエッチングする量を制御することで適宜調整することできる。第1方向V1及び第2方向V2は、第1ウェーハ11の上面11aに平行である。第1方向V1及び第2方向V2に直交する方向を、上下方向V0とする。
第1半導体構造12は、各凸部13上に設けられ、上面11aのうち凸部13が設けられた領域を除く領域15からは除去される。領域15は第1ウェーハ11の一部がエッチングされることで形成された領域であり、複数の延出部14の周囲及び延出部14間に形成される。
次に、マスクパターンをマスクとして金属材料を堆積させることにより、図3A及び図3Bに示すように、領域15に第1金属膜16を形成する。第1金属膜16は、例えば、チタン(Ti)又は金(Au)を含んでもよい。第1金属膜16の厚さは、例えば、5nm以上50nm以下とすることができる。次に、マスクパターンを除去する。このマスクパターンは、上述した半導体構造12及び第1ウェーハ11をエッチングする工程で用いたマスクパターンをそのまま用いてもよい。工程の簡略化や第1金属膜16を形成する際の位置精度の向上の観点から、上述した工程と同じマスクパターンを用いることが好ましい。
このようにして、第1構造体10が作製される。第1構造体10は、上面11aに凸部13が設けられた第1ウェーハ11、凸部13上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造12、及び、第1ウェーハ11の上面11aのうち凸部13を除く領域15に設けられた第1金属膜16を含む。
(第2構造体を準備する工程)
次に、第2構造体を準備する工程について説明する。第2構造体を準備する工程と、上述の第1構造体を準備する工程との順序は任意である。第2構造体は、作製することにより準備してもよく、他者から購入することにより準備してもよい。本実施形態においては、第2構造体を作製する例を示す。
図4Aは本実施形態における第2構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図4Bは図4Aに示すB−B’線による模式端面図である。図5Aは本実施形態における第2構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図5Bは図5Aに示すB−B’線による模式端面図である。図6Aは本実施形態における第2構造体を示す模式上面図であり、図6Bは図6Aに示すB−B’線による模式端面図である。
図4A及び図4Bに示すように、第2ウェーハ21を準備する。本実施形態においては、例えば、第2ウェーハ21は第1ウェーハ11と同じ規格のシリコンウェーハとする。第2ウェーハ21は、第1ウェーハ11とは異なる種類のウェーハとしてもよい。
次に、第2ウェーハ21の上面21aに、第2半導体構造22を形成する。第2半導体構造22は、例えば、第2ウェーハ21の上面21aに窒化物半導体等を含む半導体層をエピタキシャル成長させることにより、形成できる。第2半導体構造22は、例えば、p型層、発光層及びn型層が積層された積層体であり、p型層とn型層との間に電圧が印加されると、発光層から第2ピーク波長の光を出射する。第2ピーク波長は第1ピーク波長とは異なる。第2ピーク波長の光は、例えば、緑色の光である。第2ピーク波長は、例えば、500nm以上540nm以下である。
次に、第2ウェーハ21を研削して第2ウェーハ21を薄くすることで下面21bを形成する。次に、図5A及び図5Bに示すように、第2ウェーハ21の下面21bに金属材料を堆積させることにより、第2金属膜26を形成する。第2金属膜26は、例えば、チタン又は金を含むことができる。第2金属膜26の厚さは、例えば、5nm以上50nm以下とすることができる。
次に、第2半導体構造22上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第2半導体構造22及び第2ウェーハ21をエッチングする。次に、マスクパターンを除去する。
これにより、図6A及び図6Bに示すように、第2ウェーハ21に貫通部23が形成される。貫通部23は、第3方向V3に沿って設けられた複数の貫通孔24を有していてもよい。例えば、上面視で、各貫通孔24の形状は第3方向V3に延びる溝状である。この場合、複数の貫通孔24は、第3方向V3に直交する第4方向V4に沿って配列される。第3方向V3及び第4方向V4は、第2ウェーハ21の上面21aに平行である。第3方向V3及び第4方向V4に直交する方向を、上下方向V0とする。
このようにして、第2構造体20が作製される。第2構造体20は、貫通部23が設けられた第2ウェーハ21、第2ウェーハ21上に設けられ、第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造22、及び、第2ウェーハ21の下面21bに設けられた第2金属膜26を含む。
(積層体を形成する工程)
図7Aは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図であり、図7Bは図7Aに示すC−C’線による模式端面図である。図7Cは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。
図7A及び図7Bに示すように、第2構造体20において貫通孔24が延びる第3方向V3を、第1構造体10において延出部14が延びる第1方向V1に一致させる。さらに、複数の貫通孔24が配列された第4方向V4を、複数の延出部14が配列された第2方向V2と一致させる。そして、貫通孔24内に延出部14が配置されるように、第1構造体10上に第2構造体20を重ねる。すなわち、第1構造体10の凸部13が第2構造体20の貫通部23内に配置されるように、第2ウェーハ21を第1ウェーハ11に重ねる。このとき、第2ウェーハ21の外周部は、第1ウェーハ11の外周部上に配置される。また、上面視で、第1半導体構造12及び第2半導体構造22は、概ね、同一の平面に隙間なく配置される。
これにより、第2構造体20の第2金属膜26が、第1構造体10の第1金属膜16に接する。そして、例えば、第1金属膜16と第2金属膜26とを直接接合させることにより、図7Cに示すように、第1金属膜16と第2金属膜26とで構成された金属膜36とする。これにより、第2ウェーハ21が第1ウェーハ11に接合されて、積層体30が形成される。第1金属膜16と第2金属膜26とを直接接合する方法としては、表面活性化接合法や原子拡散接合法などを用いることができる。なお、第1金属膜16と第2金属膜26は、直接接合以外の方法により接合してもよい。また、第1ウェーハ11と第2ウェーハ21は、第1金属膜16及び第2金属膜26を介さずに、例えば接着剤によって接合してもよい。
積層体30においては、第1構造体10の第1ウェーハ11上における領域15上に第2構造体20が配置される。これにより、第2方向V2(第4方向V4)において、第1半導体構造12と第2半導体構造22とが隣り合う。第1半導体構造12と第2半導体構造22とが隣り合う位置に配置されるとは、例えば、第1半導体構造12と第2半導体構造22のとの最短距離が、0.5μm以上5.0μm以下で配置されることである。図5A及び図5Bに示す工程において、第2ウェーハ21は下面21b側から研削されているため、第1ウェーハ11よりも薄くなっている。このため、第1半導体構造12と第2半導体構造22は、上下方向V0において、概ね同じ位置に配置される。例えば、第2半導体構造22の上面22aは第1半導体構造12の下面12bよりも上方に位置する。例えば、第1半導体構造12の上面12aは第2半導体構造22の下面22bよりも上方に位置する。
(複数の発光装置に分割する工程)
図8Aは本実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図であり、図8Bは図8Aに示すC−C’線による模式端面図である。
図8A及び図8Bに示すように、第1半導体構造12の一部を除去して、第1半導体構造12のn型層の一部を上方に露出させる。同様に、第2半導体構造22の一部を除去して、第2半導体構造22のn型層の一部を上方に露出させる。次に、第1半導体構造12のp型層及びn型層、並びに、第2半導体構造22のp型層及びn型層に、電極31を接続する。
次に、積層体30を、複数のダイシングライン33に沿ってダイシングする。各ダイシングライン33は、例えば、第1方向V1(第3方向V3)又は第2方向V2(第4方向V4)に延びる。これにより、積層体30を、第1半導体構造12の一部、及び、第2半導体構造22の一部を含む複数の発光装置201に分割する。
(発光装置)
次に,発光装置201の詳細について説明する。
図9は、本実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。
図9に示すように、本実施形態に係る発光装置201は、上面に凸部213が設けられた第1基板211と、凸部213上に設けられた第1発光素子212と、第1基板211の上面における凸部213を除く領域215上に設けられた第2基板221と、第2基板221上に設けられた第2発光素子222と、第1基板211と第2基板221との間に配置され、第1基板211及び第2基板221に接合された金属膜236と、を有する。第1発光素子212のp型層及びn型層、並びに、第2発光素子222のp型層及びn型層には、電極31がそれぞれ接続されている。電極31にはワイヤ32が接続されている。
第1発光素子212は上述の第1半導体構造12の一部であり、例えば青色の光を出射する発光ダイオード(Light Emitting Diode:LED)である。第2発光素子222は第2半導体構造22の一部であり、例えば緑色の光を出射する発光ダイオードである。第1発光素子212及び第2発光素子222から出射される光の色は青及び緑には限定されず、任意の色とすることができる。但し、第1発光素子212から出射される光のピーク波長は、第2発光素子222から出射される光のピーク波長と異なっている。第1基板211は上述の第1ウェーハ11の一部であり、第2基板221は第2ウェーハ21の一部である。凸部213は上述の延出部14の一部である。金属膜236は、上述の第1金属膜16と第2金属膜26とで構成された金属膜36の一部である。
第1発光素子212上、又は、第2発光素子222上には、波長変換部材が設けられていてもよい。波長変換部材においては、例えば、透光性の母材中に蛍光体粒子が配置されていてもよい。波長変換部材は、第1ピーク波長の光又は第2ピーク波長の光を吸収し、第3ピーク波長の光を放射する。第3ピーク波長は、第1ピーク波長又は第2ピーク波長よりも長い。例えば、第1発光素子212が青色の光を出射し、波長変換部材が黄色の光を放射する蛍光体粒子を含む場合、波長変換部材は、第1発光素子212から出射された青色の光の一部を吸収し黄色の光を放射する。
図10は、本実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。
図10に示すように、発光装置201においては、電極31として、第1発光素子212のアノード電極31a、第1発光素子212のカソード電極31b、第2発光素子222のアノード電極31c、及び、第2発光素子222のカソード電極31dが設けられている。また、それぞれの電極31にはワイヤ32として、ワイヤ32a、32b及び32cが設けられている。上面視で、各アノード電極の形状は二叉に分岐した形状であり、各カソード電極の形状は直線状である。カソード電極はアノード電極の分岐部分に挟まれるように配置されている。
図10に示す例では、第1発光素子212のアノード電極31aのパッド部分には、ワイヤ32aが接続されている。カソード電極31bの一端部にはワイヤ32bが接続されている。ワイヤ32bは、第2発光素子222のアノード電極31cのパッド部分に接続されている。第2発光素子222のカソード電極31dの一端部にはワイヤ32cが接続されている。これにより、ワイヤ32a、アノード電極31a、第1発光素子212、カソード電極31b、ワイヤ32b、アノード電極31c、第2発光素子222、カソード電極31d、ワイヤ32cがこの順に直列に接続されている。
次に、本実施形態の効果について説明する。
本実施形態においては、貫通部23内に凸部13が配置されるように、第1ウェーハ11に第2ウェーハ21を重ねて、第1構造体10と第2構造体20を接合している。これにより、第2方向V2(第4方向V4)において、第1半導体構造12と第2半導体構造22とを隣り合う位置に配置することができる。その後、積層体30を、それぞれが第1半導体構造12の一部及び第2半導体構造22の一部を含む発光装置201となるようにダイシングしている。これにより、発光装置201において、第1発光素子212と第2発光素子222を近接して配置できる。この結果、第1発光素子212から出射された第1ピーク波長の光と、第2発光素子222から出射された第2ピーク波長の光が混じり合いやすい。すなわち、発光装置201は高い混色性を有する。ここで、発光装置が高い混色性を有するとは、例えば、人が発光装置を見たときに、第1ピーク波長の光の色と第2ピーク波長の光の色とは異なる色が認識され、第1ピーク波長の光の色と第2ピーク波長の光の色が認識されにくくなることである。また、発光装置が高い混色性を有するとは、例えば、第1発光素子212の配向分布と第2発光素子222の配向分布が類似していることである。また、第1発光素子212と第2発光素子222を近くに配置できるため、発光装置201を小型化できる。本実施形態によれば、高い混色性を有する小型の発光装置201を効率よく一括して製造することできる。
また、本実施形態においては、第1構造体10に第1金属膜16を設け、第2構造体20に第2金属膜26を設け、第1金属膜16と第2金属膜26とを接合することにより、第1ウェーハ11と第2ウェーハ21を接合している。このため、第1ウェーハ11と第2ウェーハ21を精度よく接合することができ、発光装置201における第1発光素子212と第2発光素子222との距離をより短縮できる。特に、第1金属膜16と第2金属膜26とを直接接合すると、第1金属膜16と第2金属膜26との間に接合部材を介在させる必要がなく、実装精度が向上する。
これに対して、仮に、ダイシング後の発光素子をそれぞれ基板に実装して発光装置を製造する場合、実装のマージンが必要となるため、発光素子同士が離れてしまう。この結果、発光装置の混色性が低下する。また、発光装置が大型化する。
<第1の実施形態の変形例>
図11A及び図11Bは、本変形例に係る発光装置の製造方法を示す模式端面図である。
先ず、図1A〜図7Cに示す工程を実施する。
次に、図11Aに示すように、第1半導体構造12及び第2半導体構造22を、支持基板300に接合する。
次に、図11Bに示すように、第1ウェーハ11及び第2ウェーハ21を除去する。これにより、第1半導体構造12の下面12b及び第2半導体構造22の下面22bが露出する。
次に、図8A及び図8Bに示す工程と同様に、支持基板300を、それぞれが第1半導体構造12の一部及び第2半導体構造22の一部を含む発光装置となるようにダイシングする。
本変形例によれば、第1半導体構造12及び第2半導体構造22を、第1ウェーハ11及び第2ウェーハ21から支持基板300に貼り替えることができる。これにより、発光装置の高さを低減できる。第1ウェーハ11及び第2ウェーハ21による光吸収がなく、第1半導体構造12の下面12b及び第2半導体構造22の下面22bを主な光取り出し面とした発光装置とすることができる。本変形例における上記以外の構成、製造方法及び効果は、第1の実施形態と同様である。
<第2の実施形態>
次に、第2の実施形態について説明する。本実施形態も、2種類の発光素子を搭載した発光装置の製造方法であるが、第1の実施形態とは発光素子の配置が異なっている。本実施形態においては、主として第1の実施形態との相違点を説明し、第1の実施形態と同様な内容は説明を省略又は簡略化する。後述する他の実施形態についても同様である。
(第1構造体を準備する工程)
図12Aは本実施形態における第1構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図12Bは図12Aに示すA−A’線による模式端面図である。図13Aは本実施形態における第1構造体を示す模式上面図であり、図13Bは図13Aに示すA−A’線による模式端面図である。
先ず、図1A及び図1Bに示す工程と同様に、第1ウェーハ11を準備し、第1ウェーハ11の上面11aに第1半導体構造12を形成する。
次に、第1半導体構造12上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第1半導体構造12及び第1ウェーハ11の上部をエッチングする。これにより、図12A及び図12Bに示すように、第1ウェーハ11の上面11aに凸部13が形成される。凸部13は、第1方向V1と第2方向V2に沿って配列された複数の島状部17を有する。上面視で、各島状部17の形状は、例えば矩形とすることができる。第1半導体構造12は、各凸部13上に設けられ、上面11aのうち凸部13が設けられた領域を除く領域15からは除去される。
次に、マスクパターンをマスクとして金属材料を堆積させることにより、図13A及び図13Bに示すように、領域15に第1金属膜16を形成する。このマスクパターンは、上述した半導体構造12及び第1ウェーハ11をエッチングする工程で用いたマスクパターンをそのまま用いてもよい。次に、マスクパターンを除去する。このようにして、第1構造体40が作製される。第1構造体40においては、第1ウェーハ11の上面11aに複数の島状部17が形成されており、島状部17上に第1半導体構造12が設けられている。第1ウェーハ11の上面11aにおける島状部17を除く領域15には、第1金属膜16が設けられている。
(第2構造体を準備する工程)
図14Aは本実施形態の第2構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図14Bは図14Aに示すB−B’線による模式端面図である。
先ず、図4A〜図5Bに示す工程と同様に、第2ウェーハ21を準備し、第2ウェーハの上面21aに第2半導体構造22を形成する。
次に、第2半導体構造22上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第2半導体構造22及び第2ウェーハ21をエッチングする。これにより、図14A及び図14Bに示すように、第2ウェーハ21に貫通部23が形成される。貫通部23は、第3方向V3及び第4方向V4に沿って配列された複数の貫通孔27を有する。上面視で、各貫通孔27の形状は、例えば矩形とすることができる。次に、マスクパターンを除去する。このようにして、第2構造体50が作製される。第2構造体50においては、第2ウェーハ21に複数の貫通孔27が形成されており、第2ウェーハ21の上面21aに第2半導体構造22が設けられており、第2ウェーハ21の下面21bに第2金属膜26が設けられている。
(積層体を形成する工程)
図15Aは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図であり、図15Bは図15Aに示すC−C’線による模式端面図であり、図15Cは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。
図15A及び図15Bに示すように、第2構造体50における貫通孔27が配列された第3方向V3を、第1構造体40における島状部17が配列された第1方向V1に一致させる。さらに、貫通孔27が配列された第4方向V4を、島状部17が配列された第2方向V2と一致させて、貫通孔27内に島状部17が配置されるように、第1構造体10上に第2構造体20を重ねる。このとき、第2ウェーハ21の外周部は、第1ウェーハ11の外周部上に配置される。また、上面視で、第1半導体構造12及び第2半導体構造22は、概ね、同一の平面に隙間なく配置される。
これにより、第2構造体50の第2金属膜26が、第1構造体40の第1金属膜16に接する。そして、例えば、第1金属膜16と第2金属膜26とを直接接合させることにより、図15Cに示すように、第1金属膜16と第2金属膜26とで構成された金属膜66とする。これにより、第2ウェーハ21が第1ウェーハ11に接合されて、積層体60が形成される。
(複数の発光装置に分割する工程)
図16Aは本実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図であり、図16Bは図16Aに示すC−C’線による模式端面図である。
図16A及び図16Bに示すように、第1半導体構造12の一部を除去して、第1半導体構造12のn型層の一部を上方に露出させる。同様に、第2半導体構造22の一部を除去して、第2半導体構造22のn型層の一部を上方に露出させる。また、第2半導体構造22に溝22tを形成することにより、第2半導体構造22を複数の部分に分割する。次に、第1半導体構造12のp型層及びn型層、並びに、第2半導体構造22のp型層及びn型層に、電極61を接続する。
次に、積層体60を、複数のダイシングライン63に沿ってダイシングする。各ダイシングライン63は、例えば、第1方向V1(第3方向V3)又は第2方向V2(第4方向V4)に延びる。これにより、積層体60を、第1半導体構造12の一部、及び、第2半導体構造22の一部を含む複数の発光装置202に分割する。
(発光装置)
次に,発光装置202の詳細について説明する。
図17は、本実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。
図17に示すように、本実施形態に係る発光装置202においては、第1基板211を有し、第1基板211の上面には、1つの島状部217が設けられている。第1基板211の上面は、島状部217が設けられた領域を除く領域215を有する。島状部217の周囲には、第1基板211の上面の領域215上に設けられた第2基板221が配置されている。上方から見て、第2基板221の形状は、島状部217を囲む枠状である。第1基板211及び第2基板221は例えばシリコンを含み、例えば、単結晶のシリコンからなる。
第1基板211の島状部217上には、第1発光素子212が設けられている。第2基板221上には、第2発光素子222が設けられている。第2発光素子222は、複数の部分に分割されている。例えば、図18に示すように、第2発光素子222は、4つの部分に分割されている。第1基板211と第2基板221との間には、金属膜266が設けられている。金属膜266は、第1基板211及び第2基板221に接合されている。第1発光素子212のp型層及びn型層、並びに、第2発光素子222のp型層及びn型層には、電極61がそれぞれ接続されている。電極61にはワイヤ62が接続されている。
図18は、本実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。
図18に示すように、発光装置202においては、第2発光素子222が第1部分222a、第2部分222b、第3部分222c、第4部分222dに分割されており、第1部分222a〜第4部分222dのそれぞれにアノード電極及びカソード電極が設けられている。第2発光素子222の第1部分222a〜第4部分222dのアノード電極をそれぞれ電極61a〜61dとし、カソード電極をそれぞれ電極61e〜61hとする。上面視で、各アノード電極は二叉に分岐しており、各カソード電極は直線状である。各カソード電極は各アノード電極の分岐部分に挟まれている。第1発光素子212は、上面視において、第1部分222a、第2部分222b、第3部分222c、第4部分222dにより囲まれている。第1部分222a、第2部分222b、第3部分222c、第4部分222dにおいて、アノード電極からカソード電極に向かう方向はそれぞれ異なる。
第1発光素子212のアノード電極61iは、ワイヤ62cが接続されるパッド部分から延びる3本の補助電極を有する。第1発光素子212のカソード電極61jは、ワイヤ62dが接続されるパッド部分から延びる2本の補助電極を有する。アノード電極61iとカソード電極61jは、相互に対向して配置されており、補助電極が交互に配列されている。
第2発光素子222の第1部分222aのアノード電極61aには、ワイヤ62aが接続されている。第1部分222aのカソード電極61eと第2部分222bのアノード電極61bには、ワイヤ62bが接続されている。第2部分222bのカソード電極61fと第1発光素子212のアノード電極61iには、ワイヤ62cが接続されている。第1発光素子212のカソード電極61jと第2発光素子222の第3部分222cのアノード電極61cには、ワイヤ62dが接続されている。第3部分222cのカソード電極61gと第4部分222dのアノード電極61dには、ワイヤ62eが接続されている。第4部分222dのカソード電極61hには、ワイヤ62fが接続されている。これにより、第2発光素子222の第1部分222a、第2部分222b、第1発光素子212、第2発光素子222の第3部分222c、及び、第4部分222dが、この順に直列に接続されている。
次に、本実施形態の効果について説明する。
本実施形態に係る発光装置202においては、第1発光素子212を囲むように第2発光素子222が配置されている。第1発光素子212と第2発光素子222とは隣り合って配置されている。このため、発光装置202は、高い混色性を有する。本実施形態における上記以外の構成、製造方法及び効果は、第1の実施形態と同様である。
<第3の実施形態>
次に、第3の実施形態について説明する。本実施形態は、3種類の発光素子を搭載した発光装置の製造方法である。
(第1構造体を準備する工程)
先ず、第1の実施形態と同様な方法により、第1構造体70を準備する。第1構造体70は、作製することにより準備してもよく、他者から購入することにより準備してもよい。
図19Aは本実施形態における第1構造体を示す模式上面図であり、図19Bは図19Aに示すA−A’線による模式端面図である。
図19A及び図19Bにように、第1構造体70は、上面11aに凸部13が設けられた第1ウェーハ11、凸部13上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造12、及び、第1ウェーハ11の上面11aのうち凸部13を除く領域15に設けられた第1金属膜16を含む。凸部13は、第1方向V1に沿って延びる複数の第1延伸部18を有する。複数の第1延伸部18は、第2方向V2に沿って配列される。
(第2構造体を準備する工程)
図20Aは本実施形態の第2構造体を示す模式上面図であり、図20Bは図20Aに示すB−B’線による模式端面図である。
先ず、図4A〜図5Bに示す工程を実施する。
次に、第2半導体構造22上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第2半導体構造22及び第2ウェーハ21をエッチングする。次に、マスクパターンを除去する。これにより、図20A及び図20Bに示すように、第2半導体構造22及び第2ウェーハ21が選択的に除去されて、第2ウェーハ21に1つの第1部分28、及び、第1部分28から延出した複数の第2延伸部29が形成される。
このようにして、第2構造体80が作製される。第2構造体80は、第2ウェーハ21を有している。第2ウェーハ21には、1つの第1部分28と、複数の第2延伸部29が設けられている。上面視で、第1部分28の形状は、例えば、円弧状である。また、各第2延伸部29の形状は、第1部分28から第3方向V3に延びる帯状である。各第2延伸部29は、長手方向の一端が第1部分28の内側面に接している。複数の第2延伸部29は、第4方向V4に沿って配列されている。第2ウェーハ21上には、第2半導体構造22が設けられている。第2半導体構造22は第2ピーク波長の光を出射する。第2ウェーハ21の下面21bには、第2金属膜26が設けられている。
(第3構造体を準備する工程)
次に、第3構造体90を準備する工程について説明する。第3構造体90を準備する工程と、上述の第1構造体70を準備する工程と、第2構造体80を準備する工程との順序は任意である。第3構造体90は、作製することにより準備してもよく、他者から購入することにより準備してもよい。本実施形態においては、第3構造体90を作製する例を示す。
図21Aは本実施形態における第3構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図21Bは図21Aに示すD−D’線による模式端面図である。図22Aは本実施形態における第3構造体の作製方法を示す模式上面図であり、図22Bは図22Aに示すD−D’線による模式端面図である。図23Aは本実施形態における第3構造体を示す模式上面図であり、図23Bは図23Aに示すD−D’線による模式端面図である。
図21A及び図21Bに示すように、第3ウェーハ91を準備する。第3ウェーハ91は、第1ウェーハ11及び第2ウェーハ21と同じ種類のウェーハとしてもよい。本実施形態においては、例えば、第3ウェーハ91は第1ウェーハ11及び第2ウェーハ21と同じ規格のシリコンウェーハとする。
次に、第3ウェーハ91の上面91aに、第3半導体構造92を形成する。第3半導体構造92は、例えば、第3ウェーハ91の上面91aに半導体層をエピタキシャル成長させることにより、形成できる。第3半導体構造92は、例えば、p型層、発光層及びn型層が積層された積層体であり、p型層とn型層との間に電圧が印加されると、発光層から第3ピーク波長の光を出射する。第3ピーク波長は第1ピーク波長及び第2ピーク波長とは異なる。第3ピーク波長の光は、例えば、赤色の光である。第3ピーク波長は、例えば、610nm以上780nm以下である。
次に、第3ウェーハ91を下面91b側から研削して、第3ウェーハ91を薄くする。このとき、第3ウェーハ91の厚さは、第2ウェーハ21の厚さと同程度とする。次に、図22A及び図22Bに示すように、第3ウェーハ91の下面91bに金属材料を堆積させることにより、第3金属膜96を形成する。第3金属膜96は、例えば、チタン又は金を含む。
次に、第3半導体構造92上にマスクパターンを形成し、このマスクパターンをマスクとして第3半導体構造92及び第3ウェーハ91をエッチングする。次に、マスクパターンを除去する。これにより、図23A及び図23Bに示すように、第3半導体構造92及び第3ウェーハ91が選択的に除去されて、第3ウェーハ91に1つの第2部分98、及び、第2部分98から延出した複数の第3延伸部99が形成される。
このようにして、第3構造体90が作製される。第3構造体90は、第3ウェーハ91を有している。第3ウェーハ91には、1つの第2部分98と、複数の第3延伸部99が設けられている。上面視で、第3部分98の形状は、例えば、円弧状である。また、各第3延伸部99の形状は、第3部分98から第5方向V5の反対方向に延びる帯状である。各第3延伸部99は、長手方向の一端が第2部分98の内側面に接している。複数の第3延伸部99は、第6方向V6に沿って配列されている。第5方向V5及び第6方向V6は、第3ウェーハ91の上面91aに平行である。第3ウェーハ91上には、第3半導体構造92が設けられている。第3半導体構造92は第3ピーク波長の光を出射する。第3ウェーハ91の下面91bには、第3金属膜96が設けられている。
(積層体を形成する工程)
図24Aは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式上面図であり、図24Bは図24Aに示すE−E’線による模式端面図であり、図24Cは本実施形態における積層体の形成方法を示す模式端面図である。
図24A及び図24Bに示すように、第2構造体80における第3方向V3、及び、第3構造体90における第5方向V5を、第1構造体70における第1方向V1に一致させる。さらに、第2構造体80における第4方向V4、及び、第3構造体90における第6方向V6を、第1構造体70における第2方向V2に一致させる。この状態で、第2構造体80の第2延伸部29と、第3構造体90の第3延伸部99とが第1構造体70の凸部13間に配置されるように、第2ウェーハ81及び第3ウェーハ91を第1ウェーハ71に重ねる。具体的には、第2構造体80の第1部分28を第1ウェーハ11の外縁部の一部に重ね、第3構造体90の第2部分98を第1ウェーハ11の外縁部の他の一部に重ね、第1構造体70の凸部13の第1延伸部18間毎に、1つの第2延伸部29と1つの第3延伸部99を配置する。
このとき、第2構造体80の第1部分28と3構造体90の第2部分98は1つの円環を構成し、第1ウェーハ11の外周部上に配置される。第2構造体80の第1部分28と3構造体90の第2部分98とで構成される円環には境界部110が形成される。また、第1構造体70の第1延伸部18、第2構造体80の第2延伸部29、及び、第3構造体90の第3延伸部99が、第2方向V2(第4方向V4、第6方向V6)に沿って、繰り返し配列される。上面視で、第1半導体構造12、第2半導体構造22及び第3半導体構造92は、概ね、同一の平面に隙間なく配置される。
また、第2構造体80の第2金属膜26及び第3構造体90の第3金属膜96が、第1構造体70の第1金属膜16に接する。そして、例えば、第1金属膜16と第2金属膜26とを直接接合させると共に、第1金属膜16と第3金属膜96とを直接接合させることにより、図24Cに示すように、第1金属膜16、第2金属膜26、及び第3金属膜96で構成された金属膜106とする。これにより、第2ウェーハ21が第1ウェーハ11に接合されると共に、第3ウェーハ91が第1ウェーハ11に接合されて、積層体100が形成される。なお、第1金属膜16、第2金属膜26及び第3金属膜96は、直接接合以外の方法により接合してもよく、接着剤によって接合してもよい。
積層体100においては、第1構造体70の第1ウェーハ11上であって、領域15上に第2構造体80及び第3構造体90が配置される。これにより、第1半導体構造12、第2半導体構造22及び第3半導体構造92が隣り合う。第2ウェーハ21及び第3ウェーハ91は下面側から研磨されているため、第1ウェーハ11よりも薄くなっている。このため、第1半導体構造12、第2半導体構造22及び第3半導体構造92は、上下方向V0において概ね同じ位置に配置される。
例えば、第1半導体構造12の上面12aは第2半導体構造22の下面22b及び第3半導体構造92の下面92bよりも上方に位置する。例えば、第2半導体構造22の上面22aは第1半導体構造12の下面12b及び第3半導体構造92の下面92bよりも上方に位置する。例えば、第3半導体構造92の上面92aは第1半導体構造12の下面12b及び第2半導体構造22の下面22bよりも上方に位置する。
(複数の発光装置に分割する工程)
図25Aは本実施形態における積層体の分割方法を示す模式上面図であり、図25Bは図25Aに示すE−E’線による模式端面図である。
図25A及び図25Bに示すように、第1半導体構造12の一部を除去して、第1半導体構造12のn型層の一部を上方に露出させる。同様に、第2半導体構造22の一部を除去して、第2半導体構造22のn型層の一部を上方に露出させる。また、第3半導体構造92の一部を除去して、第3半導体構造92のn型層の一部を上方に露出させる。
次に、第1半導体構造12のp型層及びn型層、第2半導体構造22のp型層及びn型層、並びに、第3半導体構造92のp型層及びn型層に、電極101を接続する。
次に、積層体100を、複数のダイシングライン103に沿ってダイシングする。各ダイシングライン103は、例えば、第1方向V1(第3方向V3、第5方向V5)又は第2方向V2(第4方向V4、第6方向V6)に延びる。これにより、積層体100を、第1半導体構造12の一部、第2半導体構造22の一部、及び、第3半導体構造92の一部を含む複数の発光装置203に分割する。
(発光装置)
次に、発光装置203の詳細について説明する。
図26は、本実施形態に係る発光装置を示す模式端面図である。
図26に示すように、本実施形態に係る発光装置203は、上面に凸部213が設けられた第1基板211と、凸部213上に設けられた第1発光素子212と、第1基板211の上面における凸部213を除く領域215上の一部に設けられた第2基板221と、第2基板221上に設けられた第2発光素子222と、領域215上の他の一部に設けられた第3基板231と、第3基板231上に設けられた第3発光素子232と、第1基板211と第2基板221との間、及び、第1基板211と第3基板231との間に配置され、第1基板211、第2基板221及び第3基板231に接合された金属膜206と、を有する。第1発光素子212のp型層及びn型層、第2発光素子222のp型層及びn型層、並びに、第3発光素子232のp型層及びn型層には、電極101がそれぞれ接続されている。電極101にはワイヤ102が接続されている。
第1発光素子212は上述の第1半導体構造12の一部であり、例えば青色の光を出射する発光ダイオードである。第2発光素子222は第2半導体構造22の一部であり、例えば緑色の光を出射する発光ダイオードである。第3発光素子232は第3半導体構造92の一部であり、例えば赤色の光を出射する発光ダイオードである。但し、これには限定されない。第1発光素子212から出射される光のピーク波長と、第2発光素子222から出射される光のピーク波長と、第3発光素子232から出射される光のピーク波長は、相互に異なっていることが好ましい。
第1基板211は上述の第1ウェーハ11の一部であり、凸部213は上述の第1延伸部18の一部である。第2基板221は第2ウェーハ21の第2延伸部29の一部であり、第3基板231は第3ウェーハ91の第3延伸部99の一部である。金属膜206は、上述の金属膜106の一部である。
図27は、本実施形態に係る発光装置における電極のパターンの具体例を示す模式上面図である。
図27に示すように、発光装置203においては、電極101として、第1発光素子212のアノード電極101a、第1発光素子212のカソード電極101b、第2発光素子222のアノード電極101c、第2発光素子222のカソード電極101d、第3発光素子232のアノード電極101e、第3発光素子232のカソード電極101fが設けられている。上面視で、各アノード電極の形状は二叉に分岐した形状であり、各カソード電極の形状は直線状である。各カソード電極は各アノード電極の分岐部分に挟まれている。
図27に示す例では、第1発光素子212のアノード電極101aのパッド部分には、ワイヤ102aが接続されている。第1発光素子212のカソード電極101bの一端部にはワイヤ102bが接続されている。ワイヤ102bは、第2発光素子222のアノード電極101cのパッド部分に接続されている。第2発光素子222のカソード電極101dの一端部には、ワイヤ102cが接続されている。ワイヤ102cは、第3発光素子232のアノード電極101eのパッド部分に接続されている。第3発光素子232のカソード電極101fの一端部には、ワイヤ102dが接続されている。これにより、ワイヤ102a、第1発光素子212、ワイヤ102b、第2発光素子222、ワイヤ102c、第3発光素子232、ワイヤ102dが、この順に直列に接続されている。
本実施形態によれば、第1ウェーハ11の第1延伸部18間に、第2ウェーハ21の第2延伸部29及び第3ウェーハ91の第3延伸部99が配置されるように、第2構造体80及び第3構造体90を第1構造体70に重ねている。これにより、第1半導体構造12、第2半導体構造22及び第3半導体構造92を相互に隣り合うように配置することができる。その後、積層体100を、それぞれが第1半導体構造12の一部、第2半導体構造22の一部及び第3半導体構造92の一部を含む発光装置203となるようにダイシングしている。図25Bに示すように、第1半導体構造12p及び第2半導体構造22と、第1半導体構造12q及び第3半導体構造92と、をそれぞれ隣り合うように配置することが好ましい。積層体100をダイシングすることで、第1半導体構造12、第2半導体構造22及び第3半導体構造92が隣り合う複数発光装置203を効率よく一括して製造することができる。発光装置203において、第1発光素子212、第2発光素子222及び第3発光素子232が相互に近接して配置される。この結果、第1発光素子212から出射された第1ピーク波長の光と、第2発光素子222から出射された第2ピーク波長の光と、第3発光素子232から出射された第3ピーク波長の光が混じり合いやすい。すなわち、発光装置203は高い混色性を有する。
また、本実施形態においては、発光装置203に3つの発光素子を搭載することができる。例えば、青色、緑色、赤色の光を出射する3つの発光素子を搭載することで、発光装置203から白色の光を取り出すことができる。このため、発光装置203においては、白色の光を取り出すための波長変換部材を省略することができる。本実施形態における上記以外の構成、製造方法及び効果は、第1の実施形態と同様である。
前述の各実施形態及びその変形例は、本発明を具現化した例であり、本発明はこれらの実施形態及び変形例には限定されない。例えば、前述の各実施形態及び変形例において、いくつかの構成要素又は工程を追加、削除又は変更したものも本発明に含まれる。また、前述の各実施形態及び変形例は、相互に組み合わせて実施することができる。
本発明は、例えば、照明装置及び表示装置の光源等に利用することができる。
10:第1構造体
11:第1ウェーハ
11a:上面
12、12p、12q:第1半導体構造
12a:上面
12b:下面
13:凸部
14:延出部
15:領域
16:第1金属膜
17:島状部
18:第1延伸部
20:第2構造体
21:第2ウェーハ
21a:上面
21b:下面
22:第2半導体構造
22a:上面
22b:下面
22t:溝
23:貫通部
24:貫通孔
26:第2金属膜
27:貫通孔
28:第1部分
29:第2延伸部
30:積層体
31:電極
31a、31c:アノード電極
31b、31d:カソード電極
32、32a、32b、32c:ワイヤ
33:ダイシングライン
36:金属膜
40:第1構造体
50:第2構造体
60:積層体
61:電極
61a、61b、61c、61d、61i:アノード電極
61e、61f、61g、61h、61j:カソード電極
62、62a、62b、62c、62d、62e、62f:ワイヤ
63:ダイシングライン
66:金属膜
70:第1構造体
71:第1ウェーハ
80:第2構造体
81:第2ウェーハ
90:第3構造体
91:第3ウェーハ
91a:上面
91b:下面
92:第3半導体構造
92a:上面
92b:下面
96:第3金属膜
98:第2部分
99:第3延伸部
100:積層体
101:電極
101a、101c、101e:アノード電極
101b、101d、101f:カソード電極
102、102a、102b、102c、102d:ワイヤ
103:ダイシングライン
106:金属膜
110:境界部
201、202、203:発光装置
206:金属膜
211:第1基板
212:第1発光素子
213:凸部
215:領域
217:島状部
221:第2基板
222:第2発光素子
222a:第1部分
222b:第2部分
222c:第3部分
222d:第4部分
231:第3基板
232:第3発光素子
236:金属膜
266:金属膜
300:支持基板
V0:上下方向
V1:第1方向
V2:第2方向
V3:第3方向
V4:第4方向
V5:第5方向
V6:第6方向

Claims (8)

  1. 上面に凸部が設けられた第1ウェーハ、及び、前記凸部上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造を含む第1構造体を準備する工程と、
    貫通部が設けられた第2ウェーハ、及び、前記第2ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造を含む第2構造体を準備する工程と、
    前記凸部が前記貫通部内に配置されるように、前記第2ウェーハを前記第1ウェーハに接合し、前記第1半導体構造と前記第2半導体構造とが隣り合う積層体を形成する工程と、
    前記積層体を、前記第1半導体構造の一部及び前記第2半導体構造の一部を含む複数の発光装置に分割する工程と、
    を備えた発光装置の製造方法。
  2. 前記凸部は、第1方向に沿って延びる複数の延出部を有し、
    前記複数の延出部は、前記第1方向に直交する第2方向に沿って配列されており、
    前記貫通部は、第3方向に沿って設けられた複数の貫通孔を有し、
    前記複数の貫通孔は、前記第3方向に直交する第4方向に沿って配列されている請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  3. 前記凸部は、第1方向と、前記第1方向に直交する第2方向に沿って配列された複数の島状部を有し、
    前記貫通部は、第3方向及び前記第3方向に直交する第4方向に沿って配列された複数の貫通孔を有する請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  4. 上面に凸部が設けられた第1ウェーハ、及び、前記凸部上に設けられ、第1ピーク波長の光を出射する第1半導体構造を含む第1構造体を準備する工程と、
    第1部分及び前記第1部分から延出した複数の第2部分が設けられた第2ウェーハ、並びに、前記第2ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長とは異なる第2ピーク波長の光を出射する第2半導体構造を含む第2構造体を準備する工程と、
    第3部分及び前記第3部分から延出した複数の第4部分が設けられた第3ウェーハ、並びに、前記第3ウェーハ上に設けられ、前記第1ピーク波長及び前記第2ピーク波長とは異なる第3ピーク波長の光を出射する第3半導体構造を含む第3構造体を準備する工程と、
    前記第2部分及び前記第4部分が前記凸部間に配置されるように、前記第2ウェーハ及び前記第3ウェーハを前記第1ウェーハに接合し、前記第1半導体構造、前記第2半導体構造及び前記第3半導体構造が並んだ積層体を形成する工程と、
    前記積層体を、前記第1半導体構造の一部、前記第2半導体構造の一部及び前記第3半導体構造の一部を含む複数の発光装置に分割する工程と、
    を備えた発光装置の製造方法。
  5. 前記凸部は、一方向に延びる複数の帯状部分を有し、
    前記第1部分及び前記第3部分の形状は円弧状であり、
    前記第2部分及び前記第4部分の形状は一方向に延びる帯状であり、
    前記積層体を形成する工程において、前記第1部分を前記第1ウェーハの外縁部の一部に重ね、前記第3部分を前記第1ウェーハの外縁部の他の一部に重ね、前記凸部の前記帯状部分間毎に1つの前記第2部分と1つの前記第4部分を配置する請求項4に記載の発光装置の製造方法。
  6. 前記第1構造体は、前記第1ウェーハの上面のうち前記凸部を除く領域に設けられた第1金属膜をさらに含み、
    前記第2構造体は、前記第2ウェーハの下面に設けられた第2金属膜をさらに含み、
    前記積層体を形成する工程において、前記第1金属膜と前記第2金属膜を接合することで前記第2ウェーハを前記第1ウェーハに接合する請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光装置の製造方法。
  7. 前記積層体を形成する工程において、前記第1金属膜と、前記第2金属膜とを直接接合する請求項6に記載の発光装置の製造方法。
  8. 前記第1半導体構造及び前記第2半導体構造を支持基板に接合する工程と、
    前記支持基板に接合する工程の後、前記第1ウェーハ及び前記第2ウェーハを除去し、前記第1半導体構造及び前記第2半導体構造を露出させる工程と、
    をさらに備えた請求項1〜7のいずれか1つに記載の発光装置の製造方法。
JP2020071635A 2020-04-13 2020-04-13 発光装置の製造方法 Pending JP2021168360A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020071635A JP2021168360A (ja) 2020-04-13 2020-04-13 発光装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020071635A JP2021168360A (ja) 2020-04-13 2020-04-13 発光装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021168360A true JP2021168360A (ja) 2021-10-21

Family

ID=78079942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020071635A Pending JP2021168360A (ja) 2020-04-13 2020-04-13 発光装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021168360A (ja)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001244548A (ja) * 2000-03-01 2001-09-07 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
JP2002026393A (ja) * 2000-06-30 2002-01-25 Toshiba Corp 半導体発光素子およびそれを用いた表示装置
JP2005317919A (ja) * 2004-03-30 2005-11-10 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レーザ装置
WO2008062783A1 (fr) * 2006-11-20 2008-05-29 Nikon Corporation Dispositif del et procédé de fabrication correspondant
JP2008306021A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Ushio Inc Ledチップの製造方法
JP2011129765A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Showa Denko Kk 半導体発光素子の製造方法
JP2014038989A (ja) * 2012-08-20 2014-02-27 Toshiba Corp 半導体発光装置および照明装置
JP2014146672A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Stanley Electric Co Ltd 半導体光学装置、および半導体光学装置の製造方法
CN108269890A (zh) * 2018-01-25 2018-07-10 扬州乾照光电有限公司 一种led芯片及其制作方法
US20190198485A1 (en) * 2017-12-22 2019-06-27 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device with led stack for display and display apparatus having the same
US20200058824A1 (en) * 2018-08-17 2020-02-20 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001244548A (ja) * 2000-03-01 2001-09-07 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
JP2002026393A (ja) * 2000-06-30 2002-01-25 Toshiba Corp 半導体発光素子およびそれを用いた表示装置
JP2005317919A (ja) * 2004-03-30 2005-11-10 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レーザ装置
WO2008062783A1 (fr) * 2006-11-20 2008-05-29 Nikon Corporation Dispositif del et procédé de fabrication correspondant
JP2008306021A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Ushio Inc Ledチップの製造方法
JP2011129765A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Showa Denko Kk 半導体発光素子の製造方法
JP2014038989A (ja) * 2012-08-20 2014-02-27 Toshiba Corp 半導体発光装置および照明装置
JP2014146672A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Stanley Electric Co Ltd 半導体光学装置、および半導体光学装置の製造方法
US20190198485A1 (en) * 2017-12-22 2019-06-27 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device with led stack for display and display apparatus having the same
CN108269890A (zh) * 2018-01-25 2018-07-10 扬州乾照光电有限公司 一种led芯片及其制作方法
US20200058824A1 (en) * 2018-08-17 2020-02-20 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10333035B2 (en) Method of manufacturing light emitting device package
JP5337105B2 (ja) 半導体発光装置
JP6331389B2 (ja) 発光装置
JP5989420B2 (ja) 半導体発光装置
JP3934590B2 (ja) 白色発光素子及びその製造方法
JP5309996B2 (ja) Led装置の製造方法
JP5537446B2 (ja) 発光装置、発光モジュール、発光装置の製造方法
TWI515927B (zh) 半導體發光裝置及其製造方法
JP5657591B2 (ja) 半導体発光装置およびその製造方法
TWI543399B (zh) 半導體發光裝置
CN105742458B (zh) 发光装置
JP2013183020A (ja) 半導体発光装置およびその製造方法
JPWO2005106978A1 (ja) 発光装置およびその製造方法
JP2011253998A (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
JP2013038212A (ja) 半導体発光装置及び発光モジュール
US9153746B2 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
JP2015008329A (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
JP2015050270A (ja) 半導体発光装置
JP5837456B2 (ja) 半導体発光装置及び発光モジュール
JP6346984B1 (ja) Ledディスプレイ装置
JP5808964B2 (ja) Ledパッケージ
JP2014053506A (ja) 半導体発光装置及び発光モジュール
US9818731B2 (en) Light emitting device
JP5278175B2 (ja) 発光装置
JP2021168360A (ja) 発光装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230313

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20231108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240312

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240322