JP2021158414A - パターン同期回路、それを用いた誤り率測定装置、及びパターン同期方法 - Google Patents
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Abstract
Description
11,41 データ記憶部
12,42 SKP付加回路
13,43 EIEOS付加回路
14,44 エンコード回路
20 ED
30 パターン同期回路
31 EIEOS検出部
32 SKP検出部
33 データ検出部
34 カウント部
34a EIEOSカウント部
34b SKPカウント部
35 同期完了信号出力部
40 リファレンス生成回路
50 PPG制御部
51 遅延回路
52 誤り率測定部
60 表示部
61 操作部
62 制御部
100 誤り率測定装置
200 DUT
Claims (9)
- 被試験対象に搭載されたリンク状態管理機構が任意のステートに遷移した状態で、前記被試験対象から出力されるEIEOS(Electrical Idle Exit Ordered Set)とデータパターンとを含む試験信号を被測定信号として受信し、前記被測定信号のパターンの先頭を検出するパターン同期回路(30)であって、
入力された前記被測定信号から順次EIEOSの先頭を検出するEIEOS検出部(31)と、
入力された前記被測定信号から順次データパターンの先頭を検出するデータ検出部(33)と、
前記EIEOS検出部により第1のタイミングでEIEOSの先頭が検出されてから、前記データ検出部によりデータパターンの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするカウント部(34)と、
前記カウント部によるカウント数があらかじめ定められたシンボル数に一致した場合の前記第1のタイミングにおけるEIEOSの先頭のシンボルに同期した同期完了信号を出力する同期完了信号出力部(35)と、を含むことを特徴とするパターン同期回路。 - 前記同期完了信号出力部は、前記カウント部によるカウント数がEIEOSのシンボル数に一致した場合の前記第1のタイミングにおけるEIEOSの先頭のシンボルに同期した同期完了信号を出力することを特徴とする請求項1に記載のパターン同期回路。
- 入力された前記被測定信号から順次SKP OSの先頭を検出するSKP検出部(32)を更に含み、
前記カウント部は、
前記EIEOS検出部により前記第1のタイミングでEIEOSの先頭が検出されてから、前記SKP検出部により第2のタイミングでSKP OSの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするEIEOSカウント部(34a)と、
前記SKP検出部により前記第2のタイミングでSKP OSの先頭が検出されてから、前記データ検出部によりデータパターンの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするSKPカウント部(34b)と、を含み、
前記同期完了信号出力部は、前記EIEOSカウント部によるカウント数がEIEOSのシンボル数に一致するとともに、前記SKPカウント部によるカウント数がSKP OSのシンボル数に一致した場合の前記第1のタイミングにおけるEIEOSの先頭のシンボルに同期した同期完了信号を出力することを特徴とする請求項1に記載のパターン同期回路。 - 前記請求項1から請求項3のいずれかに記載のパターン同期回路と、
前記被測定信号のビット誤り率を測定する誤り率測定部(52)と、を備える誤り率測定装置(100)であって、
前記誤り率測定部は、前記同期完了信号出力部から出力された同期完了信号に同期した前記被測定信号のパターンのビット誤り率の測定を行うことを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記同期完了信号をトリガとして、前記試験信号のパターンと同一のリファレンスパターンを生成するリファレンス生成回路(40)と、
前記同期完了信号に同期した前記被測定信号のパターンを遅延させて、前記リファレンス生成回路から出力されたリファレンスパターンと同期させる遅延回路(51)と、を更に備え、
前記誤り率測定部は、前記リファレンス生成回路から出力されたリファレンスパターンと、前記遅延回路から出力された前記被測定信号のパターンとを順次比較することにより、前記被測定信号のパターンにおける誤りビットを検出するとともに、前記被測定信号のパターンのビット誤り率を算出することを特徴とする請求項4に記載の誤り率測定装置。 - 前記試験信号を発生させるパルスパターン発生器(10)を更に備え、
前記パルスパターン発生器は、
8b/10bエンコード、128b/130bエンコード、又は128b/132bエンコードのうちのいずれかのエンコード方式でエンコードされた前記試験信号を発生可能であることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の誤り率測定装置。 - 前記リファレンス生成回路は、
前記試験信号が8b/10bエンコードされた信号である場合に、前記試験信号のランニング・ディスパリティに一致した前記リファレンスパターンを生成することを特徴とする請求項6に記載の誤り率測定装置。 - 被試験対象に搭載されたリンク状態管理機構が任意のステートに遷移した状態で、前記被試験対象から出力されるEIEOS(Electrical Idle Exit Ordered Set)とデータパターンとを含む試験信号を被測定信号として受信し、前記被測定信号のパターンの先頭を検出するパターン同期方法であって、
入力された前記被測定信号から順次EIEOSの先頭を検出するEIEOS検出ステップ(S2)と、
入力された前記被測定信号から順次データパターンの先頭を検出するデータ検出ステップ(S4)と、
前記EIEOS検出ステップにより第1のタイミングでEIEOSの先頭が検出されてから、前記データ検出ステップによりデータパターンの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするカウントステップ(S6,S8,S13)と、
前記カウントステップによるカウント数があらかじめ定められたシンボル数に一致した場合の前記第1のタイミングにおけるEIEOSの先頭のシンボルに同期した同期完了信号を出力する同期完了信号出力ステップ(S11)と、を含むことを特徴とするパターン同期方法。 - 入力された前記被測定信号から順次SKP OSの先頭を検出するSKP検出ステップ(S3)を更に含み、
前記カウントステップは、
前記EIEOS検出ステップにより前記第1のタイミングでEIEOSの先頭が検出されてから、前記SKP検出ステップにより第2のタイミングでSKP OSの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするEIEOSカウントステップ(S6)と、
前記SKP検出ステップにより前記第2のタイミングでSKP OSの先頭が検出されてから、前記データ検出ステップによりデータパターンの先頭が検出されるまでの間の前記被測定信号のシンボル数をカウントするSKPカウントステップ(S8)と、を含み、
前記同期完了信号出力ステップは、前記EIEOSカウントステップによるカウント数がEIEOSのシンボル数に一致するとともに、前記SKPカウントステップによるカウント数がSKP OSのシンボル数に一致した場合の前記第1のタイミングにおけるEIEOSの先頭のシンボルに同期した同期完了信号を出力することを特徴とする請求項8に記載のパターン同期方法。
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JP7366101B2 (ja) | 2021-10-15 | 2023-10-20 | アンリツ株式会社 | 誤り測定装置および誤り測定方法 |
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