JP2021013297A5 - 電気素子試験装置 - Google Patents
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Claims (10)
- 第1の接続部と第2の接続部を有する電気素子部品を試験する電気素子試験装置であって、
第3の接続部と第4の接続部を有し、試験電流または試験電圧を供給する電源装置と、
第5の接続部と第6の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第1のスイッチ回路基板と、
第7の接続部と第8の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第2のスイッチ回路基板と、
電圧信号を印加するゲート回路と、
電圧検出回路を具備し、
前記第3の接続部と前記第5の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第6の接続部が電気的に接続され、
前記第3の接続部と前記第7の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第2の接続部が電気的に接続され、
前記第1の接続部と前記第8の接続部が電気的に接続され、
前記電気素子部品は、第1の素子接続部と第2の素子接続部とゲート接続部を持つ電気素子を有し、
前記電圧信号は、第1の電圧と第2の電圧と第3の電圧からなり、
前記ゲート回路は、前記電圧信号を前記ゲート接続部に印加し、
前記電圧検出回路は、前記電圧信号に同期して、前記第1の素子接続部と前記第2の素子接続部間の電圧を測定することを特徴とする電気素子試験装置。 - 第1の接続部と第2の接続部を有する電気素子部品を試験する電気素子試験装置であって、
第3の接続部と第4の接続部を有し、試験電流または試験電圧を供給する電源装置と、
第5の接続部と第6の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第1のスイッチ回路基板と、
第7の接続部と第8の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第2のスイッチ回路基板と、
電圧信号を印加するゲート回路と、
電圧検出回路と、
定電流を印加する定電流回路を具備し、
前記第3の接続部と前記第5の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第6の接続部が電気的に接続され、
前記第3の接続部と前記第7の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第2の接続部が電気的に接続され、
前記第1の接続部と前記第8の接続部が電気的に接続され、
前記電気素子部品は、第1の素子接続部と第2の素子接続部とゲート接続部を持つ電気素子を有し、
前記電圧信号は、前記電気素子をオンさせる電圧とオフさせる電圧からなり、
前記ゲート回路は、前記電圧信号を、前記ゲート接続部に印加し、
前記定電流回路は、前記定電流を前記電気素子の前記第1の素子接続部または前記第2の素子接続部に印加し、
前記電圧検出回路は、前記電圧信号に同期して、前記第1の素子接続部と前記第2の素子接続部間の電圧を測定することを特徴とする電気素子試験装置。 - 第1の接続部と第2の接続部を有する電気素子部品を試験する電気素子試験装置であって、
第3の接続部と第4の接続部を有し、試験電流または試験電圧を供給する電源装置と、
スイッチ回路が実装または形成された第2のスイッチ回路基板と、
電圧信号を印加するゲート回路と、
電圧検出回路と、
第1の接続部材と、
第2の接続部材と、
前記第2のスイッチ回路基板に取り付けられた第1の導体板または導体棒と、
前記第2のスイッチ回路基板に取り付けられた第2の導体板または導体棒を具備し、
前記第4の接続部と前記第2の接続部が電気的に接続され、
前記第3の接続部と前記第1の接続部材が電気的に接続され、
前記第1の接続部材は、前記第1の導体板または導体棒と電気的に接続され、
前記第2の接続部材は、前記第1の接続部と電気的に接続され、
前記第2の接続部材は、前記第2の導体板または導体棒と電気的に接続され、
前記電気素子部品は、第1の素子接続部と第2の素子接続部とゲート接続部を持つ電気素子を有し、
前記電圧信号は、前記電気素子をオンさせる電圧とオフさせる電圧からなり、
前記ゲート回路は、前記電圧信号を、前記ゲート接続部に印加し、
前記電圧検出回路は、前記電圧信号に同期して、前記第1の素子接続部と前記第2の素子接続部間の電圧を測定することを特徴とする電気素子試験装置。 - 第1の接続部と第2の接続部を有する電気素子部品を試験する電気素子試験装置であって、
第3の接続部と第4の接続部を有し、試験電流または試験電圧を供給する電源装置と、
第7の接続部と第8の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第2のスイッチ回路基板と、
電圧信号を印加するゲート回路と、
電流検出回路を具備し、
前記第3の接続部と前記第7の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第2の接続部が電気的に接続され、
前記第1の接続部と前記第8の接続部が電気的に接続され、
前記電気素子部品は、第1の素子接続部と第2の素子接続部とゲート接続部を持つ電気素子を有し、
前記ゲート回路と前記電気素子のゲート接続部間に抵抗回路が形成または配置され、
前記電圧信号は、前記電気素子をオンさせる電圧とオフさせる電圧からなり、
前記ゲート回路は、前記電圧信号を、前記抵抗回路を介して前記ゲート接続部に印加し、
前記電流検出回路は、前記電圧信号に同期して、前記抵抗回路に流れる電流を測定することを特徴とする電気素子試験装置。 - 第1の接続部と第2の接続部を有する電気素子部品を試験する電気素子試験装置であって、
第3の接続部と第4の接続部を有し、試験電流または試験電圧を供給する電源装置と、
第7の接続部と第8の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第2のスイッチ回路基板と、
第9の接続部と第10の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第3のスイッチ回路基板と、
第11の接続部と第12の接続部を有し、スイッチ回路が実装または形成された第4のスイッチ回路基板と、
電圧信号を印加するゲート回路と、
電圧検出回路を具備し、
前記電気素子部品は、第1の素子接続部と第2の素子接続部と第1のゲート接続部を持つ第1の電気素子と、第3の素子接続部と第4の素子接続部と第2のゲート接続部を持つ第2の電気素子を有し、前記第2の素子接続部と前記第3の素子接続部とが電気的に接続され、
前記第3の接続部と前記第7の接続部が電気的に接続され、
前記第4の接続部と前記第2の接続部が電気的に接続され、
前記第9の接続部と前記第3の接続部が電気的に接続され、
前記第12の接続部と前記第4の接続部が電気的に接続され、
前記第7の接続部と前記第3の接続部が電気的に接続され、
前記第2の接続部と前記第4の接続部が電気的に接続され、
前記第10の接続部と前記第11の接続部が電気的に接続され、
前記第8の接続部と前記第1の接続部が電気的に接続され、
前記第2の素子接続部と前記第10の接続部が電気的に接続され、
前記電圧信号は、前記電気素子をオンさせる電圧とオフさせる電圧からなり、
前記ゲート回路は、前記第1のゲート信号線と前記第2のゲート信号線のうち少なくとも一方のゲート接続部に、前記電圧信号を印加し、
前記電圧検出回路は、前記電圧信号に同期して、前記第1の素子接続部と前記第2の素子接続部間の電圧と、前記第3の素子接続部と前記第4の素子接続部間の電圧のうち少なくとも一方の電圧を測定することを特徴とする電気素子試験装置。 - 前記第7の接続部は第1のフォークプラグであり、
前記第8の接続部は第2のフォークプラグであり、
前記第2のスイッチ回路基板には、第1の導体板または導体棒が取り付けられ、
前記第2のスイッチ回路基板には、第2の導体板または導体棒が取り付けられ、
前記第1のフォークプラグは、前記第1の導体板または導体棒に電気的に接続され、
前記第2のフォークプラグは、前記第2の導体板または導体棒に電気的に接続されていることを特徴とする請求項1または請求項2または請求項4または請求項5記載の電気素子試験装置。 - 前記スイッチ回路基板に選択スイッチが配置され、
前記選択スイッチにより、前記電気素子部品が選択されることを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項4または請求項5記載の電気素子試験装置。 - 前記電気素子のゲート接続部と第1の素子接続部とを短絡させる短絡回路を更に具備することを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項4または請求項5記載の電気素子試験装置。
- 前記ゲート回路と前記電気素子のゲート接続部間に抵抗回路が配置され、
前記抵抗回路の抵抗値を可変できることを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項5記載の電気素子試験装置。 - 前記電気素子は加熱冷却プレートに密着して固定され、
前記加熱冷却プレートの周囲に漏水センサが配置され、
前記漏水センサの動作により、電気素子試験装置を停止させる動作と警報を発する動作のうち、少なくとも一方の動作を行うことを特徴とする請求項1または請求項2または請求項3または請求項4または請求項5記載の電気素子試験装置。
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