JP2020528107A - 透過障壁 - Google Patents
透過障壁 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020528107A JP2020528107A JP2020504017A JP2020504017A JP2020528107A JP 2020528107 A JP2020528107 A JP 2020528107A JP 2020504017 A JP2020504017 A JP 2020504017A JP 2020504017 A JP2020504017 A JP 2020504017A JP 2020528107 A JP2020528107 A JP 2020528107A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer deposition
- deposition
- layer
- inorganic material
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 title claims description 34
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 414
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 251
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims abstract description 213
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 claims abstract description 213
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 37
- 230000009471 action Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 448
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 130
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 127
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims description 107
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 57
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 44
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 33
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 21
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 20
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 15
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims description 15
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 11
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 10
- CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N tetramethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)C CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 claims description 9
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 claims description 9
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000011343 solid material Substances 0.000 claims description 9
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 9
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 9
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 8
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 5
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 470
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 106
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 97
- 238000000034 method Methods 0.000 description 83
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 29
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 12
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 11
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 9
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 6
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 5
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 238000012864 cross contamination Methods 0.000 description 5
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 description 3
- 102100020970 ATP-binding cassette sub-family D member 2 Human genes 0.000 description 2
- -1 C 2 H 2 Chemical class 0.000 description 2
- 101100321983 Homo sapiens ABCD2 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150063578 ald1 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150023727 ald2 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 2
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 2
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 2
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 2
- 102100024643 ATP-binding cassette sub-family D member 1 Human genes 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000001464 adherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 235000019628 coolness Nutrition 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000008823 permeabilization Effects 0.000 description 1
- 239000013047 polymeric layer Substances 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/568—Transferring the substrates through a series of coating stations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D1/00—Processes for applying liquids or other fluent materials
- B05D1/62—Plasma-deposition of organic layers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/401—Oxides containing silicon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45527—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the ALD cycle, e.g. different flows or temperatures during half-reactions, unusual pulsing sequence, use of precursor mixtures or auxiliary reactants or activations
- C23C16/45536—Use of plasma, radiation or electromagnetic fields
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/54—Apparatus specially adapted for continuous coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67207—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/6776—Continuous loading and unloading into and out of a processing chamber, e.g. transporting belts within processing chambers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
本記述及び請求項の枠内で、本発明者等は、「基材」という用語の下、一般に加工品であると理解する。基材は、温度、例えば150℃よりも高く又はそれよりも低い温度に敏感な材料を含んでいてもよい。基材は、平板様形状を有していてもよい。基材は、電気デバイスであってもよく、熱に敏感な材料の例としてプリント回路基板材料を含んでいてもよい。
本発明者等は、「開始基材」という用語の下、まだ処理されていない又は透過を妨げるのに十分処理されていない上記にて定義された基材であると理解する。
・ 本発明者等は、「ポリマー材料層系」の下、1つ又は複数の「ポリマー材料含有」層を含む層系であると理解する。これらの層の少なくとも1つは、「プラズマ重合ポリマー材料を含有する」。「ポリマー材料層系」が複数の「ポリマー材料含有」層を含む場合、これらの層のいくつかは、プラズマによるものとは異なるように重合されてもよい。層は更に、それぞれが異なるポリマー材料を含有していてもよい。
SS−PP−PVD/ALD−PP
になる。
・ 最も一般的に加工品である;
・ 平板様形状を有する;
・ 電子デバイスである;
・ 熱に敏感な、例えば150℃よりも高く又はそれよりも低い温度に敏感な材料を含む;
・ プリント回路基板材料を含む
の少なくとも1つによって特徴付けられてもよい。
SS−PP−PVD/ALD−PP−PVD/ALD−....(PP)
が得られる。
SS−PP−PVD/ALD−....PP
と示され得る。
・ 基材キャリア;
・ それぞれが無機材料の供給源を含む、少なくとも1つのPVD層堆積チャンバ及び/又は少なくとも1つのALD層堆積チャンバを含む、少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション;
・ モノマー供給用の供給ラインシステム及びプラズマ源を備えた少なくとも1つのプラズマ重合チャンバを含む、少なくとも1つのポリマー堆積ステーション;
・ 前記無機材料層堆積ステーション及び前記少なくとも1つのポリマー堆積ステーションからの堆積効果に対する、前記基材キャリアの断続的な曝露を制御するように構成された制御ユニット
を含む、層堆積装置を対象とする。
・ 基材キャリアが、基材及び/開始基材のバッチを運ぶように構成される;
・ 基材キャリアが、複数の単体の基材及び/又は単体の開始基材を運ぶように構成される;
・ 基材キャリアの移動が、基材若しくは開始基材から離れた軸の周りの、且つ/又は基材及び/又は開始基材のそれぞれの中心軸の周りの、回転移動であり;
・ 基材キャリアが、真空環境で提供される。
PPS−PVD/ALDS
になる。
PPS−PVD/ALDS−CS
又は
PPS−PVD/ALDS1−CS−PVD/ALDS2−CS
になり、
式中、PVD/ALDS1及びPVD/ALDS2は、等しい又は異なる材料を堆積するための無機材料層堆積ステーションを示す。
PPS−PVD/ALDS−PPS−n*(PVD/ALDS−PPS−PVD/ALDS...)−PPS(n≧0)。
PPS−PVD/ALDS−CS−PPS−n*(PVD/ALDS−CS−PPS−PVD/ALDS...)−PPS(n≧0)
になる。
a)開始基材上に、少なくとも1つの無機材料含有層を含む少なくとも1つの無機材料層系を、PVDによって及び/又はALDによって堆積することによって、透過封止を確立する工程;
b)前記開始基材への前記無機材料層系の接着を行い、前記開始基材の直上に少なくとも1つのポリマー材料含有層を含むポリマー材料層系を堆積し、前記ポリマー材料層系の直上に前記無機材料層系を堆積することによって、前記無機材料層系を亀裂封止する工程
を含む。
PVD/ALD−PP−PVD/ALD−...PP...
による配列で設けられてもよい。
・ 少なくとも1つのプラズマ重合ポリマー材料含有層を含み、前記開始基材上に直接存在する、ポリマー材料層系;
少なくとも1つのPVD又は少なくとも1つのALD堆積無機材料含有層を含み、前記ポリマー材料層系上に直接堆積された、無機材料層系
を含む透過障壁層系
を含む基材。
・ 最も一般的に、加工品である;
・ 平板様形状を有する;
・ 電気デバイスである;
・ 熱に敏感な、例えば150℃よりも高く又はそれよりも低い温度に敏感な材料を含む;
・ プリント回路基板材料を含む
の少なくとも1つを有する、態様1から3の1つの基材。
・ それぞれが無機材料の供給源を含む、少なくとも1つのPVD層堆積チャンバ及び/又は少なくとも1つのALD層堆積チャンバを含む、少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション;
・ モノマー供給用の供給ラインシステム及びプラズマ源を備えた、少なくとも1つのプラズマ重合チャンバを含む、少なくとも1つのポリマー堆積ステーション;
・ 前記無機材料層堆積ステーション及び前記少なくとも1つのポリマー堆積ステーションからの堆積作用に対する、前記基材キャリアの断続的な曝露を制御するように構成された、制御ユニット
を含む、層堆積装置。
・ 基材キャリアが、バッチ分の基材及び/又は開始基材を運ぶように構成されている;
・ 基材キャリアが、複数の単一基材及び/又は単一の開始基材を運ぶように構成されている;
・ 基材キャリアの移動が、基材若しくは開始基材から離れた軸の周りの、及び/又は基材若しくは開始基材のそれぞれの中心軸の周りの回転移動である;
・ 基材キャリアが、真空環境内に設けられている
の少なくとも1つを有する、態様31から60の1つの層堆積装置。
a)開始基材上に、少なくとも1つの無機材料含有層を含む少なくとも1つの無機材料層系を、PVDによって及び/又はALDによって堆積することにより、透過封止を確立する工程;
b)前記開始基材に対する前記無機材料層系の接着をもたらし、前記開始基材の直上に、少なくとも1つのポリマー材料含有層を含むポリマー材料層系を堆積し、前記ポリマー材料層系の直上に前記無機材料層系を堆積することによって、前記無機材料層系の亀裂を封止する工程
を含む方法。
10 無機材料堆積ステーション
12 基材
14 基材キャリア
16 処理チャンバ
20 制御ユニット
21 プラズマ源
64 基材キャリア
72 基材
74 基材キャリア
76 移送チャンバ
102 リフト配置構成
108 冷却部材
220 処理チャンバ
Claims (32)
- ・ 基材キャリア、
・ それぞれが無機材料の供給源を含む、少なくとも1つのPVD層堆積チャンバ及び/又は少なくとも1つのALD層堆積チャンバを含む、少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション、
・ モノマー供給用の供給ラインシステム及びプラズマ源を備えた、少なくとも1つのプラズマ重合チャンバを含む、少なくとも1つのポリマー堆積ステーション、
・ 前記無機材料層堆積ステーション及び前記少なくとも1つのポリマー堆積ステーションからの堆積作用に対する、前記基材キャリアの断続的な曝露を制御するように構成された、制御ユニット
を含む、層堆積装置。 - 少なくとも1つの冷却ステーションを含む、請求項1に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーションが、少なくとも前駆体を含有する前駆体リザーバ及び反応性ガスを含有する反応性ガスリザーバに作動的に流動接続されたガス供給配置構成を含む、少なくとも1つのALD層堆積チャンバを含む、請求項1又は2に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーションが、少なくとも2つのALD層堆積チャンバを含み、前記少なくとも2つのALD層堆積チャンバの1つが、前駆体を含有する前駆体リザーバに作動的に接続されたガス供給配置構成を含み、前記ALD堆積チャンバの他方が、反応性ガスを含有する反応性ガスリザーバに作動的に接続されたガス供給配置構成を含む、請求項1から3のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記前駆体リザーバからの前駆体ガスが、ケイ素及び金属のうちの少なくとも1つを含有する、請求項3又は4に記載の層堆積装置。
- 前記金属が、アルミニウム、タンタル、チタン、ハフニウムのうちの少なくとも1種である、請求項5に記載の層堆積装置。
- 前記反応性ガスが、酸素及び窒素のうちの少なくとも1種を含有する、請求項3から6のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーションが、レーザ源、前駆体を含有する少なくとも前駆体リザーバ及び反応性ガスを含有する反応性ガスリザーバに作動的に流動接続されたガス供給配置構成を含む、少なくとも1つのALD層堆積チャンバを含む、請求項1から7のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーションが、少なくとも2つのALD層堆積チャンバを含み、前記少なくとも2つのALD層堆積チャンバの1つが、前駆体を含有する前駆体リザーバに作動的に接続されたガス供給配置構成を含み、前記ALD堆積チャンバの他方が、レーザ源と、反応性ガスを含有する反応性ガスリザーバに作動的に接続されたガス供給配置構成とを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーションが、少なくとも1つのPVD層堆積チャンバを含む、請求項1から9のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記PVD層堆積チャンバが、スパッタリング層堆積チャンバである、請求項10に記載の層堆積装置。
- 前記PVD層堆積チャンバが、蒸着チャンバ又は電子ビーム蒸着チャンバである、請求項10に記載の層堆積装置。
- 前記PVD層堆積チャンバが、少なくとも1種の金属若しくは金属合金、又はそのような金属若しくは金属合金の酸化物若しくは窒化物若しくは酸窒化物の固体材料供給源を有する、請求項10から12のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション及び少なくとも1つのポリマー堆積ステーションが、互いに離れており、前記基材キャリアが、これらのステーションの1つからこれらのステーションの次の1つまで、好ましくは真空環境で、制御可能に移動可能である、請求項1から13のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つのPVD層堆積チャンバ及び/又は少なくとも1つのALD層堆積チャンバが、堆積操作用に制御可能に密閉可能であり且つ基材の取扱い用に開放可能である堆積空間と、前記制御可能に密閉可能であり且つ開放可能である堆積空間に接するポンピング口とを含む、請求項1から14のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- モノマー供給用の供給ラインシステムを備え且つプラズマ源を備えた少なくとも1つのプラズマ重合チャンバが、層堆積操作用に制御可能に密閉可能であり且つ基材の取扱い用に開放可能である堆積空間と、前記制御可能に密閉可能であり且つ開放可能である堆積空間に接するポンピング口とを含む、請求項1から15のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション及び少なくとも1つのポリマー堆積ステーションが、共通の堆積領域で堆積を行う、請求項1から16のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記基材キャリアの線形移動経路に沿って、又はほぼ湾曲した移動経路に沿って、又は円形移動経路に沿って、一連の複数対の無機材料層堆積ステーション及びポリマー堆積ステーションを含む、請求項1から17のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記基材キャリアの線形移動経路に沿って、又はほぼ湾曲した移動経路に沿って、又は円形移動経路に沿って、一連の無機材料層堆積ステーションと、前記無機材料層堆積ステーションの直ぐ後に続くポリマー堆積ステーションとを含む、請求項1から18のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 無機材料層堆積ステーションの直ぐ後に続いて冷却ステーションを含む、請求項1から19のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの入力ロードロック、及び少なくとも1つの出力ロードロック、又は少なくとも1つの二方向入力/出力ロードロックを含む、真空装置である、請求項1から20のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション及び少なくとも1つのポリマー堆積ステーションが、共通の堆積領域上に堆積しており、前記制御ユニットが、述べられた前記ステーションを断続的に使用可能/使用不可にするように構成されている、請求項1から21のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 少なくとも1つの無機材料層堆積ステーション及び少なくとも1つのポリマー堆積ステーションが、相互に離れた領域に堆積しており、前記制御ユニットが、前記領域間での前記基材キャリアの移動を制御するように構成されている、請求項1から22のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 制御された移行期間中、無機材料層堆積ステーション及びポリマー堆積ステーションの両方によって同時に、共通の堆積領域での堆積を可能にするように構成されている、請求項1から23のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記供給ラインシステムが、液体又は気体モノマー材料を含有するリザーバに、制御された状態で流動連通している、請求項1から24のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記供給ラインシステムが、炭素を含む材料を含有するリザーバに、制御された状態で流動連通している、請求項1から25のいずれか一項に記載の真空層堆積装置。
- 前記供給ラインシステムが、ケイ素を含む材料を含有するリザーバに、制御された状態で流動連通している、請求項1から26のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記供給ラインシステムが、テトラメチルシラン(TMS)、ヘキサメチルジシロキサン(HMDS(O))、ヘキサメチルジシラザン(HMDS(N))、テトラエチルオルトシラン(TEOS)、アセチレン、エチレンのうちの少なくとも1種を含有するリザーバに、制御された状態で流動連通している、請求項1から27のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 前記基材キャリアが、複数の基材及び/又は複数の開始基材を同時に運ぶように構成されている、請求項1から28のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 全ての重合チャンバがプラズマ重合チャンバである、請求項1から29のいずれか一項に記載の層堆積装置。
- 下記の特長:
・ 前記基材キャリアが、バッチ分の基材及び/又は開始基材を運ぶように構成されている;
・ 前記基材キャリアが、複数の単一基材及び/又は単一の開始基材を運ぶように構成されている;
・ 前記基材キャリアの移動が、前記基材若しくは開始基材から離れた軸の周りの、及び/又は前記基材若しくは開始基材のそれぞれの中心軸の周りの回転移動である;
・ 前記基材キャリアが、真空環境内に設けられている
の少なくとも1つを有する、請求項1から30のいずれか一項に記載の層堆積装置。 - 請求項1から31の少なくとも一項に記載の装置を用いて、開始基材上に透過障壁層系を設ける、又は表面透過障壁層系が設けられた基材を製造する方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH00977/17 | 2017-07-27 | ||
CH9772017 | 2017-07-27 | ||
PCT/EP2018/068915 WO2019020391A1 (en) | 2017-07-27 | 2018-07-12 | PERMEATION BARRIER |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020528107A true JP2020528107A (ja) | 2020-09-17 |
Family
ID=62916666
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020504017A Pending JP2020528107A (ja) | 2017-07-27 | 2018-07-12 | 透過障壁 |
JP2020501482A Pending JP2020528494A (ja) | 2017-07-27 | 2018-07-12 | 浸透バリア |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020501482A Pending JP2020528494A (ja) | 2017-07-27 | 2018-07-12 | 浸透バリア |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20200216955A1 (ja) |
EP (2) | EP3658700A1 (ja) |
JP (2) | JP2020528107A (ja) |
KR (2) | KR20200037824A (ja) |
CN (2) | CN110914469A (ja) |
TW (2) | TWI770226B (ja) |
WO (2) | WO2019020391A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10998209B2 (en) | 2019-05-31 | 2021-05-04 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing platforms including multiple processing chambers |
CN110943182A (zh) * | 2019-11-22 | 2020-03-31 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 有机电致发光器件 |
US11898248B2 (en) * | 2019-12-18 | 2024-02-13 | Jiangsu Favored Nanotechnology Co., Ltd. | Coating apparatus and coating method |
US20210193441A1 (en) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Jiangsu Favored Nanotechnology Co., Ltd. | Coating Apparatus and Coating Method |
US11749542B2 (en) | 2020-07-27 | 2023-09-05 | Applied Materials, Inc. | Apparatus, system, and method for non-contact temperature monitoring of substrate supports |
US11817331B2 (en) | 2020-07-27 | 2023-11-14 | Applied Materials, Inc. | Substrate holder replacement with protective disk during pasting process |
US11600507B2 (en) | 2020-09-09 | 2023-03-07 | Applied Materials, Inc. | Pedestal assembly for a substrate processing chamber |
US11610799B2 (en) | 2020-09-18 | 2023-03-21 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck having a heating and chucking capabilities |
US11674227B2 (en) | 2021-02-03 | 2023-06-13 | Applied Materials, Inc. | Symmetric pump down mini-volume with laminar flow cavity gas injection for high and low pressure |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05102189A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-04-23 | Fujitsu Ltd | 薄膜形成方法、シリコン薄膜及びシリコン薄膜トランジスタの形成方法 |
JPH10195651A (ja) * | 1997-01-09 | 1998-07-28 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 成膜装置及び成膜方法 |
WO2004104262A1 (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-02 | Shinmaywa Industries, Ltd. | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2005522891A (ja) * | 2002-04-15 | 2005-07-28 | ヴィテックス・システムズ・インコーポレーテッド | 多層コーティングを個別のシートにデポジットする装置 |
JP2017092454A (ja) * | 2015-09-28 | 2017-05-25 | ウルトラテック インク | 高スループットの複数チャンバ原子層堆積システムおよび方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5411592A (en) * | 1994-06-06 | 1995-05-02 | Ovonic Battery Company, Inc. | Apparatus for deposition of thin-film, solid state batteries |
JP3783099B2 (ja) * | 2000-05-16 | 2006-06-07 | 株式会社豊田中央研究所 | 有機電界発光素子 |
US6852167B2 (en) * | 2001-03-01 | 2005-02-08 | Micron Technology, Inc. | Methods, systems, and apparatus for uniform chemical-vapor depositions |
JP2003282240A (ja) * | 2002-03-25 | 2003-10-03 | Pioneer Electronic Corp | 有機エレクトロルミネッセンス表示パネル及び製造方法 |
US8900366B2 (en) * | 2002-04-15 | 2014-12-02 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus for depositing a multilayer coating on discrete sheets |
US6913652B2 (en) * | 2002-06-17 | 2005-07-05 | Applied Materials, Inc. | Gas flow division in a wafer processing system having multiple chambers |
US6827789B2 (en) * | 2002-07-01 | 2004-12-07 | Semigear, Inc. | Isolation chamber arrangement for serial processing of semiconductor wafers for the electronic industry |
US6919101B2 (en) * | 2003-02-04 | 2005-07-19 | Tegal Corporation | Method to deposit an impermeable film on porous low-k dielectric film |
US7682454B2 (en) * | 2003-08-07 | 2010-03-23 | Sundew Technologies, Llc | Perimeter partition-valve with protected seals and associated small size process chambers and multiple chamber systems |
SG10201400525UA (en) | 2009-03-18 | 2014-05-29 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Method of inline manufacturing a solar cell panel |
WO2010105967A2 (en) | 2009-03-18 | 2010-09-23 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Vacuum treatment apparatus |
WO2011017479A2 (en) * | 2009-08-05 | 2011-02-10 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Barrier-coated thin-film photovoltaic cells |
KR102141205B1 (ko) * | 2013-08-16 | 2020-08-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 봉지 제조 장치 및 이를 이용한 표시 장치의 제조 방법 |
EP3115197A4 (en) * | 2014-03-04 | 2017-10-25 | Toyo Seikan Group Holdings, Ltd. | Gas barrier laminate |
WO2016091927A1 (en) | 2014-12-11 | 2016-06-16 | Evatec Ag | Apparatus and method especially for degassing of substrates |
-
2018
- 2018-07-12 KR KR1020207005860A patent/KR20200037824A/ko not_active Application Discontinuation
- 2018-07-12 US US16/631,392 patent/US20200216955A1/en not_active Abandoned
- 2018-07-12 US US16/633,814 patent/US20200230643A1/en not_active Abandoned
- 2018-07-12 CN CN201880049359.4A patent/CN110914469A/zh active Pending
- 2018-07-12 EP EP18740803.4A patent/EP3658700A1/en not_active Withdrawn
- 2018-07-12 TW TW107124119A patent/TWI770226B/zh active
- 2018-07-12 KR KR1020207005883A patent/KR20200037825A/ko unknown
- 2018-07-12 JP JP2020504017A patent/JP2020528107A/ja active Pending
- 2018-07-12 JP JP2020501482A patent/JP2020528494A/ja active Pending
- 2018-07-12 EP EP18740802.6A patent/EP3658699A1/en active Pending
- 2018-07-12 WO PCT/EP2018/068915 patent/WO2019020391A1/en active Application Filing
- 2018-07-12 CN CN201880049362.6A patent/CN110892090A/zh active Pending
- 2018-07-12 TW TW107124118A patent/TW201918577A/zh unknown
- 2018-07-12 WO PCT/EP2018/068918 patent/WO2019020393A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05102189A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-04-23 | Fujitsu Ltd | 薄膜形成方法、シリコン薄膜及びシリコン薄膜トランジスタの形成方法 |
JPH10195651A (ja) * | 1997-01-09 | 1998-07-28 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2005522891A (ja) * | 2002-04-15 | 2005-07-28 | ヴィテックス・システムズ・インコーポレーテッド | 多層コーティングを個別のシートにデポジットする装置 |
WO2004104262A1 (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-02 | Shinmaywa Industries, Ltd. | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2017092454A (ja) * | 2015-09-28 | 2017-05-25 | ウルトラテック インク | 高スループットの複数チャンバ原子層堆積システムおよび方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019020391A1 (en) | 2019-01-31 |
US20200216955A1 (en) | 2020-07-09 |
WO2019020393A1 (en) | 2019-01-31 |
US20200230643A1 (en) | 2020-07-23 |
EP3658700A1 (en) | 2020-06-03 |
KR20200037825A (ko) | 2020-04-09 |
CN110914469A (zh) | 2020-03-24 |
KR20200037824A (ko) | 2020-04-09 |
CN110892090A (zh) | 2020-03-17 |
EP3658699A1 (en) | 2020-06-03 |
JP2020528494A (ja) | 2020-09-24 |
TW201918577A (zh) | 2019-05-16 |
TW201910546A (zh) | 2019-03-16 |
TWI770226B (zh) | 2022-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2020528107A (ja) | 透過障壁 | |
KR102296150B1 (ko) | 멀티-챔버 진공 시스템 확인 내에서의 다공성 유전체, 폴리머-코팅된 기판들 및 에폭시의 통합 프로세싱 | |
KR102082343B1 (ko) | 유기 발광 다이오드의 하이브리드 캡슐화를 위한 방법 | |
KR20070007736A (ko) | 가스 배리어성 필름, 기재 필름 및 유기일렉트로루미네선스 소자 | |
KR20060108220A (ko) | 가스 배리어성 필름, 기재 필름 및 유기일렉트로루미네선스 소자 | |
JP2013530536A (ja) | ロードロックバッチオゾン硬化 | |
WO2016183003A1 (en) | Encapsulating film stacks for oled applications | |
KR20070012508A (ko) | 플라스틱 기판 상에 저온 무기성 필름을 증착하는 방법 및장치 | |
TW200531204A (en) | Method of forming insulation film, system of forming insulation film and method of manufacturing semiconductor device | |
US10535513B2 (en) | Apparatus and methods for backside passivation | |
WO2021021403A1 (en) | Evaporator chamber for forming films on substrates | |
CN108456857A (zh) | 一种镀膜系统及其制备柔性薄膜的方法 | |
US20230323531A1 (en) | Coating interior surfaces of complex bodies by atomic layer deposition | |
KR101763577B1 (ko) | 페럴린과 금속화합물의 공동 성막 장치 | |
JP2006176823A (ja) | 成膜装置 | |
US20210272800A1 (en) | Systems and methods for depositing low-k dielectric films | |
JP2005068559A (ja) | 成膜方法及び成膜装置 | |
JP5669306B2 (ja) | 成膜装置 | |
KR20150065461A (ko) | 리프트후프 | |
KR20100127462A (ko) | 다양한 공정 온도 조절이 가능한 반도체 공정용 챔버 및 이를 이용하는 반도체 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210621 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220627 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220926 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20221031 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230228 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20230228 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20230307 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20230313 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20230526 |