JP2020184045A - Direct drawing type exposure device - Google Patents
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Abstract
Description
この出願の発明は、基板に対してマスクを介さずに所定のパターンの光を照射して露光する直描式露光装置に関するものである。以下、露光における光の所定のパターンを露光パターンという。 The invention of this application relates to a direct drawing type exposure apparatus that irradiates a substrate with a predetermined pattern of light to expose it without using a mask. Hereinafter, a predetermined pattern of light in exposure is referred to as an exposure pattern.
表面に感光層が形成されている対象物を露光して感光層を感光させる露光技術は、フォトリソグラフィの主要技術として各種微細回路や微細構造の形成等に盛んに利用されている。代表的な露光技術は、露光パターンと同様のパターンが形成されたマスクに光を照射し、マスクの像を対象物の表面に投影することで露光パターンの光が対象物に照射されるようにする技術である。 An exposure technique for exposing an object having a photosensitive layer formed on its surface to expose the photosensitive layer is actively used as a main technique of photolithography for forming various fine circuits and fine structures. A typical exposure technique is to irradiate a mask on which a pattern similar to the exposure pattern is formed with light, and project the image of the mask onto the surface of the object so that the light of the exposure pattern is applied to the object. It is a technology to do.
このようなマスクを使用した露光技術とは別に、空間光変調器を使用して対象物の表面に直接的に像を形成して露光する技術が知られている。以下、この技術を、本明細書において、直描式露光と呼ぶ。
直描式露光において、典型的な空間光変調器はDMD(Digital Mirror Device)である。DMDは、微小な方形のミラーが直角格子状に配設された構造を有する。各ミラーは、光軸に対する角度が独立に制御されるようになっており、光源からの光を反射して対象物に到達させる姿勢と、光源からの光を対象物に到達させない姿勢とを取り得るようになっている。DMDは、各ミラーを制御するコントローラを備えており、コントローラは、露光パターンに従って各ミラーを制御し、対象物の表面に露光パターの光が照射されるようにする。
Apart from the exposure technique using such a mask, a technique is known in which an image is directly formed on the surface of an object and exposed by using a spatial light modulator. Hereinafter, this technique will be referred to as direct drawing exposure in the present specification.
In direct exposure, a typical spatial light modulator is a DMD (Digital Mirror Device). The DMD has a structure in which minute square mirrors are arranged in a right-angled grid pattern. Each mirror is designed so that the angle with respect to the optical axis is controlled independently, and it takes a posture in which the light from the light source is reflected to reach the object and a posture in which the light from the light source does not reach the object. It is supposed to get. The DMD includes a controller that controls each mirror, and the controller controls each mirror according to an exposure pattern so that the surface of the object is irradiated with the light of the exposure putter.
直描式露光の場合、マスクを使用しないので、多品種少量生産において優位性が発揮される。マスクを使用した露光の場合、品種ごとにマスクを用意する必要があり、マスクの保管等のコストも含めて大きなコストがかかる。また、異品種の生産のためにマスクを交換する際には、装置の稼働を停止する必要があり、再開までに手間と時間を要する。このため、生産性が低下する要因となる。一方、直描式露光の場合、品種毎に各ミラーの制御プログラムを用意しておくだけで良く、異品種の製造の際には制御プログラムの変更のみで対応できるので、コスト上、生産性上の優位性は著しい。また、必要に応じて基板ごとに露光パターンを微調整することも可能であり、プロセスの柔軟性においても優れている。 In the case of direct drawing type exposure, since a mask is not used, an advantage is exhibited in high-mix low-volume production. In the case of exposure using a mask, it is necessary to prepare a mask for each product type, which requires a large cost including the cost of storing the mask. In addition, when replacing the mask for the production of different types, it is necessary to stop the operation of the device, and it takes time and effort to restart the operation. Therefore, it causes a decrease in productivity. On the other hand, in the case of direct drawing type exposure, it is only necessary to prepare a control program for each mirror for each type, and when manufacturing different types, it is possible to respond only by changing the control program, which is cost effective and productive. The superiority of is remarkable. Further, it is possible to finely adjust the exposure pattern for each substrate as needed, which is excellent in process flexibility.
このような直描式露光装置では、空間光変調器を内蔵した露光ユニットの光軸に対して基板を垂直な姿勢とするため、基板が載置されるステージが使用される。露光ユニットは、設定されたエリア(以下、露光エリアという。)に露光パターンの光を照射するようになっており、基板が載置されたステージは、搬送系により露光エリアを通して移動し、露光エリアを通過する際に基板が露光される。 In such a direct drawing type exposure apparatus, a stage on which the substrate is placed is used in order to make the substrate vertical to the optical axis of the exposure unit having a built-in spatial light modulator. The exposure unit irradiates the set area (hereinafter referred to as the exposure area) with the light of the exposure pattern, and the stage on which the substrate is placed moves through the exposure area by the transport system to move the exposure area. The substrate is exposed as it passes through.
上述した直描式露光装置では、露光精度を高めるため、基板がステージに真空吸着される構成が採用されている。ステージには多数の真空吸着孔が形成されており、各真空吸着孔は真空ポンプに接続される。真空ポンプを動作させることで基板がステージに真空吸着される。 In the above-mentioned direct drawing type exposure apparatus, in order to improve the exposure accuracy, a configuration in which the substrate is vacuum-adsorbed to the stage is adopted. A large number of vacuum suction holes are formed on the stage, and each vacuum suction hole is connected to a vacuum pump. By operating the vacuum pump, the substrate is evacuated to the stage.
基板の真空吸着には、二つの目的がある。一つは、基板の位置ずれを防止するためである。多くの場合、基板はアライメント(位置合わせ)された状態でステージに載置される。アライメントの後に基板がステージ上でずれると、正しい位置に露光パターンが形成されなくなり、露光精度が低下する。このため、基板をステージに真空吸着する。真空吸着のもう一つの目的は、基板の変形の矯正のためである。基板には反りのような変形が生じている場合がある。そのまま露光すると、形成される露光パターンも歪んでしまい、製品不良の原因となる場合がある。このため、ステージに真空吸着することで変形を矯正し、その状態で露光を行う。 Vacuum adsorption of the substrate has two purposes. One is to prevent the displacement of the substrate. In many cases, the substrate is placed on the stage in an aligned state. If the substrate shifts on the stage after alignment, the exposure pattern will not be formed at the correct position and the exposure accuracy will decrease. Therefore, the substrate is vacuum-adsorbed to the stage. Another purpose of vacuum suction is to correct the deformation of the substrate. The substrate may be deformed such as warped. If exposed as it is, the formed exposure pattern will also be distorted, which may cause product defects. Therefore, the deformation is corrected by vacuum adsorption on the stage, and the exposure is performed in that state.
このような真空吸着を行う直描式露光装置では、多品種少量生産に適しているという優位性との関連で特有の課題が生じている。以下、この点を説明する。
多品種少量生産ということは、露光の対象物としての基板に種々のサイズがあることを意味する。このような様々なサイズの基板について良好に真空吸着を行うことは、技術的に難しい。
The direct drawing type exposure apparatus that performs such vacuum adsorption has a unique problem in relation to its superiority of being suitable for high-mix low-volume production. This point will be described below.
High-mix low-volume production means that there are various sizes of substrates as objects to be exposed. It is technically difficult to perform good vacuum adsorption on such substrates of various sizes.
種々のサイズの基板に対して真空吸着しながら露光処理を行う場合、通常は、最も小さいサイズの基板に合わせて真空吸着孔をステージに設ける構成が採用される。大きなサイズの基板に合わせて真空吸着孔を設けると、小さいサイズの基板を処理する場合、基板によって塞がれない真空吸着孔ができてしまう。真空吸着孔が塞がれないと、排気系において十分な負圧が得られず、基板によって塞がれている真空吸着孔においても十分な吸着力が得られなくなってしまう。このため、最も小さいサイズの基板に合わせて真空吸着孔が設けられる。 When the exposure process is performed while vacuum-sucking on substrates of various sizes, a configuration in which vacuum suction holes are provided on the stage according to the smallest size substrate is usually adopted. If a vacuum suction hole is provided according to a large size substrate, a vacuum suction hole that is not blocked by the substrate is created when processing a small size substrate. If the vacuum suction holes are not closed, a sufficient negative pressure cannot be obtained in the exhaust system, and a sufficient suction force cannot be obtained even in the vacuum suction holes closed by the substrate. Therefore, a vacuum suction hole is provided according to the smallest size substrate.
しかしながら、最も小さいサイズの基板に合わせて真空吸着孔を設けると、それより大きなサイズの基板を処理する場合、基板の周辺部においては真空吸着がされないことになる。この場合に問題になるのは、基板の周辺部において反りがある場合である。反りのために基板が周辺部においてステージから離間し、この結果、その部分から真空が漏れてしまうことがあり得る。こうなると、同様に真空吸着が不十分となる。また、実装密度を高める等の理由から、基板の周辺部まで製品として利用する場合、周辺部においても露光パターンが形成されるが、反りが解消していないと製品欠陥を招き易い。さらに、最も小さいサイズの基板に合わせて真空吸着孔を設けるということは、大きなサイズの基板を処理する場合、基板のサイズに対して相対的に真空吸着される面積が小さくなることになり、全体としての吸着力も相対的に低下することになる。 However, if the vacuum suction holes are provided according to the smallest size substrate, vacuum suction will not be performed in the peripheral portion of the substrate when processing a larger size substrate. The problem in this case is when there is warpage in the peripheral portion of the substrate. Warping can cause the substrate to separate from the stage at the periphery, resulting in vacuum leaking from that portion. If this happens, the vacuum suction will be insufficient as well. Further, when the peripheral portion of the substrate is used as a product for the reason of increasing the mounting density, an exposure pattern is formed also in the peripheral portion, but if the warp is not eliminated, a product defect is likely to occur. Further, providing the vacuum suction holes according to the smallest size substrate means that when processing a large size substrate, the area of vacuum suction is relatively small with respect to the size of the substrate, and the whole is The adsorptive power as a result is also relatively reduced.
上記課題を解決する構成として、ステージ内の真空排気路の系統を複数の系統に分け、基板のサイズに応じて各系統を個別に真空のオンオフを制御する構成が考えられる。しかしながら、この構成ではステージ内の構造が複雑化し、また真空排気の構造も煩雑化する。また、2〜3種類程度の基板サイズの違いであれば何とか対応できたとしても、それ以上の違いについてはあまりにも複雑化、煩雑化していまい、装置コストも上昇することから、実用的な装置とはいえなくなる。
この出願の発明は、基板の真空吸着に関連した直描式露光装置の上記課題を解決するために為されたものであり、種々のサイズの基板をステージに十分に真空吸着しながら露光できる実用的な直描式露光装置を提供することを目的とする。
As a configuration for solving the above problems, a configuration is conceivable in which the vacuum exhaust path system in the stage is divided into a plurality of systems, and each system is individually controlled to turn on / off the vacuum according to the size of the substrate. However, in this configuration, the structure inside the stage becomes complicated, and the structure of the vacuum exhaust also becomes complicated. In addition, even if it is possible to deal with the difference in substrate size of about 2 to 3 types, the difference beyond that will not be too complicated and complicated, and the equipment cost will increase. Therefore, it is a practical device. It cannot be said.
The invention of this application has been made to solve the above-mentioned problems of the direct drawing type exposure apparatus related to the vacuum adsorption of the substrate, and is practically capable of exposing substrates of various sizes to the stage while sufficiently vacuum-adsorbing them. An object of the present invention is to provide a direct drawing type exposure apparatus.
上記課題を解決するため、この出願の発明は、基板に対してマスクなしに所定のパターンの光を照射して露光する直描式露光装置であって、所定のパターンの光を露光エリアに照射する露光ヘッドと、載置される基板を真空吸着する真空吸着孔が多数形成されたステージと、基板が載置されたステージを露光エリアを通して移動させる搬送系と、吸着孔を真空吸引して基板をステージに真空吸着する排気系と、多数の吸着孔のうち基板によって塞がれない吸着孔を塞ぐ吸着孔封鎖手段を備えている。吸着孔封鎖手段は、ロール状に巻かれた長尺なシートと、シートの送り出し及び巻き取りを行うシート機構とを含んでおり、シート機構はシートを基板の真空吸着を阻害しない状態とする機構であり、シート及びシート機構は、搬送系によってステージと一体に移動するようステージに対して取り付けられている。
また、上記課題を解決するため、シートには、基板の真空吸着を阻害することがないよう基板が塞ぐ真空吸着孔に重なる吸着孔又は基板のサイズに対応した開口が形成され得る。
また、上記課題を解決するため、直描式露光装置は、シートには複数の吸着孔からなり且つ全体の配置領域のサイズが異なる複数の孔グループ又は基板の異なるサイズに対応した異なるサイズの複数の開口が形成されており、複数の孔グループ又は複数の開口はシートの長さ方向に沿って形成されており、複数の孔グループのうちの一つ又は複数の開口の一つが基板のサイズに合わせて選択された際に当該選択された孔グループ又は選択された開口がステージに対して所定位置に位置するようシート機構を制御する制御部が設けられているという構成を持ち得る。
また、上記課題を解決するため、直描式露光装置は、シートには複数の吸着孔からなり且つ全体の配置領域のサイズが異なる複数の孔グループが形成されており、複数の孔グループはシートの長さ方向に沿って形成されており、複数の孔グループのうちの一つが基板のサイズに合わせて選択された際に当該選択された孔グループの各吸着孔が前記ステージの各真空吸着孔に重なる位置に位置するようシート機構を制御する制御部が設けられているという構成を持ち得る。
また、上記課題を解決するため、直描式露光装置は、シートには基板の異なるサイズに対応した異なるサイズの複数の開口が形成されており、複数の開口はシートの長さ方向に沿って形成されており、各開口は対応する基板のサイズよりも大きな開口であり、ステージには基板を載置する位置として設定載置位置が設定されており、基板のサイズに対応して一つの開口が選択された際に設定載置位置に載置された基板が当該選択された開口内に位置するようシート機構を制御する制御部が設けられているという構成を持ち得る。
また、上記課題を解決するため、直描式露光装置は、シートには基板の異なるサイズに対応した異なるサイズの複数の開口が形成されており、複数の開口はシートの長さ方向に沿って形成されており、各開口は対応する基板のサイズよりも小さな開口であり、ステージには基板を載置する位置として設定載置位置が設定されており、基板のサイズに対応して一つの開口が選択された際に当該選択された開口の周縁が設定載置位置に載置された基板の周辺部に乗るようシート機構を制御する制御部が設けられているという構成を持ち得る。
また、上記課題を解決するため、直描式露光装置は、対応する基板のサイズよりも小さな開口に加え着脱用開口が前記シートに設けられており、着脱用開口は最も大きなサイズの基板よりも大きな開口であり、制御部はステージへの基板の載置及びステージからの基板の取り去りの際にはステージの設定載置位置を臨む位置に着脱用開口を位置させる制御部であるという構成を持ち得る。
In order to solve the above problems, the invention of the present application is a direct drawing type exposure apparatus that irradiates a substrate with a predetermined pattern of light without a mask to expose the substrate, and irradiates the exposure area with a predetermined pattern of light. A stage in which a large number of vacuum suction holes for vacuum-sucking the substrate to be mounted are formed, a transport system for moving the stage on which the substrate is mounted through the exposure area, and a substrate in which the suction holes are vacuum-sucked. It is provided with an exhaust system that evacuates the light to the stage and a suction hole closing means that closes the suction holes that are not blocked by the substrate among a large number of suction holes. The suction hole closing means includes a long sheet wound in a roll shape and a sheet mechanism for feeding and winding the sheet, and the sheet mechanism is a mechanism for keeping the sheet in a state that does not hinder the vacuum suction of the substrate. The seat and the seat mechanism are attached to the stage so as to move integrally with the stage by the transport system.
Further, in order to solve the above problems, the sheet may be formed with a suction hole overlapping the vacuum suction hole closed by the substrate or an opening corresponding to the size of the substrate so as not to hinder the vacuum suction of the substrate.
Further, in order to solve the above problems, the direct drawing type exposure apparatus has a plurality of hole groups having a plurality of suction holes in the sheet and different sizes of the entire arrangement area, or a plurality of different sizes corresponding to different sizes of the substrate. Apertures are formed, and a plurality of hole groups or a plurality of openings are formed along the length direction of the sheet, and one of the plurality of hole groups or one of the plurality of openings is the size of the substrate. It may have a configuration in which a control unit for controlling the seat mechanism is provided so that the selected hole group or the selected opening is positioned at a predetermined position with respect to the stage when the selected holes are selected together.
Further, in order to solve the above problems, in the direct drawing type exposure apparatus, the sheet is composed of a plurality of suction holes and a plurality of hole groups having different sizes of the entire arrangement area are formed, and the plurality of hole groups are the sheets. When one of a plurality of hole groups is selected according to the size of the substrate, each suction hole of the selected hole group is formed of each vacuum suction hole of the stage. It may have a configuration in which a control unit for controlling the seat mechanism is provided so as to be located at a position overlapping the seat mechanism.
Further, in order to solve the above problems, in the direct drawing type exposure apparatus, a plurality of openings of different sizes corresponding to different sizes of the substrate are formed on the sheet, and the plurality of openings are formed along the length direction of the sheet. Each opening is formed and is larger than the size of the corresponding substrate, and the stage has a set mounting position as a position for mounting the substrate, and one opening corresponding to the size of the substrate. It is possible to have a configuration in which a control unit for controlling the seat mechanism is provided so that the substrate mounted at the set mounting position when is selected is located within the selected opening.
Further, in order to solve the above problems, in the direct drawing type exposure apparatus, a plurality of openings of different sizes corresponding to different sizes of the substrate are formed on the sheet, and the plurality of openings are formed along the length direction of the sheet. Each opening is formed and is smaller than the size of the corresponding substrate, and the stage has a set mounting position as a position for mounting the substrate, and one opening corresponding to the size of the substrate. It may have a configuration in which a control unit for controlling the seat mechanism is provided so that the peripheral edge of the selected opening is placed on the peripheral portion of the substrate mounted at the set mounting position when is selected.
Further, in order to solve the above problems, the direct drawing type exposure apparatus is provided with a removable opening in the sheet in addition to an opening smaller than the size of the corresponding substrate, and the removable opening is larger than that of the largest size substrate. It has a large opening, and the control unit has a configuration in which the attachment / detachment opening is positioned at a position facing the set mounting position of the stage when the substrate is mounted on the stage and the board is removed from the stage. obtain.
以下に説明する通り、この出願の直描式露光装置によれば、小さい基板を処理する際に基板によって塞がれない真空吸着孔を吸着孔封鎖手段が塞ぐので、十分な真空吸着が行われる。したがって、多品種少量生産に対応しつつ、精度の高い露光処理が行われる実用的な直描式露光装置が提供される。また、シート機構が設けられているので、シートの配置が簡便、迅速に行え、生産性が低下することはない。さらに、シート及びシート機構は、ステージに対して取り付けられているので、ステージの移動に関連した機構が複雑で大がかりになることはない。
また、対応する基板のサイズよりも小さな開口がシートに設けられており、設定載置位置に載置された基板に対して当該選択された開口の周縁が当該基板の周辺部に乗るようシート機構が制御される構成では、上記効果に加え、基板の周辺部をシートが抑え込むので、基板に反りがあったとしても確実に真空吸着がされ、また露光精度の低下が防止される。
As described below, according to the direct drawing exposure apparatus of the present application, the suction hole sealing means closes the vacuum suction holes that are not blocked by the substrate when processing a small substrate, so that sufficient vacuum suction is performed. .. Therefore, a practical direct drawing type exposure apparatus capable of performing highly accurate exposure processing while supporting high-mix low-volume production is provided. Further, since the sheet mechanism is provided, the sheet can be arranged easily and quickly, and the productivity does not decrease. Further, since the seat and the seat mechanism are attached to the stage, the mechanism related to the movement of the stage is not complicated and large-scale.
Further, the sheet is provided with an opening smaller than the size of the corresponding substrate, and the sheet mechanism is provided so that the peripheral edge of the selected opening is placed on the peripheral portion of the substrate with respect to the substrate mounted at the set mounting position. In the configuration in which is controlled, in addition to the above effects, the sheet suppresses the peripheral portion of the substrate, so that even if the substrate is warped, vacuum suction is reliably performed and deterioration of exposure accuracy is prevented.
次に、この出願の発明を実施するための形態(実施形態)について説明する。
図1は、第一の実施形態の直描式露光装置の正面概略図である。この装置は、基板に対してマスクなしに露光パターンの光を照射して露光する装置である。図1に示すように、直描式露光装置は、露光パターンの光を露光エリアに照射する露光ヘッド1と、基板Sが載置されるステージ2と、基板Sが載置されたステージ2を露光エリアを通して移動させる搬送系3とを備えている。
Next, an embodiment (embodiment) for carrying out the invention of this application will be described.
FIG. 1 is a front schematic view of the direct drawing type exposure apparatus of the first embodiment. This device is a device that irradiates a substrate with light of an exposure pattern without a mask to expose the substrate. As shown in FIG. 1, the direct drawing type exposure apparatus includes an
図2は、図1の装置に搭載された露光ヘッド1の概略図である。露光ヘッド1は、全体としては円筒形であり、垂直に立てた状態で配置されており、下方に向けて光を出射するものとなっている。図2は、露光ヘッド1の内部構造を示した概略図である。図2に示すように、露光ヘッド1は、光源11と、光源11からの光を空間的に変調する空間光変調器12と、空間光変調器12により変調された光による像を投影する光学系(以下、投影光学系)13等を備えている。
FIG. 2 is a schematic view of the
光源11は、基板Sにおける感光層の感光波長に応じて最適な波長の光を出力するものが使用される。レジストフィルムの感光波長は可視短波長域から紫外域である場合が多く、光源11としては、405nmや365nmのような可視短波長域から紫外域の光を出力するものが使用される。また、空間光変調器12の性能を活かすには、コヒーレントな光を出力するものであることが好ましく、このためレーザー光源11が好適に使用される。例えば、窒化ガリウム(GaN)系の半導体レーザーが使用される。
As the light source 11, a light source that outputs light having an optimum wavelength according to the photosensitive wavelength of the photosensitive layer on the substrate S is used. The photosensitive wavelength of the resist film is often in the visible short wavelength region to the ultraviolet region, and as the light source 11, a light source that outputs light in the visible short wavelength region to the ultraviolet region such as 405 nm or 365 nm is used. Further, in order to utilize the performance of the spatial
空間光変調器12としては、この実施形態ではDMDが使用されている。前述したように、DMDでは、各画素は微小なミラーである。ミラー(以下、画素ミラーという。)は、例えば13.68μm角程度の正方形のミラーであり、多数の画素ミラーが直角格子状に配列された構造とされる。配列数は、例えば1024×768個である。
As the spatial
空間光変調器12は、各画素ミラーを制御する変調器コントローラ121を備えている。実施形態の露光装置は、全体を制御する主制御部9を備えている。変調器コントローラ121は、主制御部9からの信号に従って各画素ミラーを制御する。尚、各画素ミラーは、各画素ミラーが配列された平面を基準面とし、この基準面に沿った第一の姿勢と、この基準面に対して例えば11〜13°程度に傾いた第二の姿勢とを取り得るようになっている。この実施形態では、第一の姿勢がオフ状態であり、第二の姿勢がオン状態である。
空間光変調器12は、各画素ミラーを駆動する駆動機構を含んでおり、変調器コントローラ121は、各画素ミラーについて、第一の姿勢を取るのか第二の姿勢を取るのかを独立して制御できるようになっている。このような空間光変調器12は、テキサス・インスツルメンツ社から入手できる。
The spatial
The spatial
図2に示すように、露光ヘッド1は、このような空間光変調器12に光源11からの光を照射する照射光学系14を備えている。この実施形態では、照射光学系14は光ファイバ141を含んでいる。より高い照度で像形成を行うため、一つの露光ヘッド1は複数の光源11を備えており、各光源11について光ファイバ141が設けられている。光ファイバ141としては、例えば石英系のマルチモードファイバが使用される。
As shown in FIG. 2, the
DMDである空間光変調器12を使用して精度の良い像形成を行うためには、平行光を入射させて各画素ミラーに反射させるのが望ましく、また各画素ミラーに対して斜めに光を入射させることが望ましい。このため、照射光学系14は、図2に示すように、各光ファイバ141から出射して広がる光を平行光にするコリメータレンズ142を含んでいる。
In order to form an image with high accuracy using the spatial
投影光学系13は、二つの投影レンズ群131,132と、投影レンズ群131,132の間に配置されたマイクロレンズアレイ(以下、MLAと略す。)133等から構成されている。MLA133は、より形状精度の高い露光を行うため、補助的に配置されている。MLA133は、微小なレンズを直角格子状に多数配列した光学部品である。各レンズ素子は、空間光変調器12の各画素ミラーに1対1で対応している。
The projection
上述した露光ヘッド1において、光源11からの光は、光ファイバ141で導かれた後、照射光学系14により空間光変調器12に入射する。この際、空間光変調器12の各画素ミラーは、変調器コントローラ121により制御され、露光パターンに応じて選択的に傾斜した姿勢とされる。即ち、露光パターンに従い、光を露光エリアに到達させるべき位置に位置している画素ミラーはオン状態とされ、それ以外の画素ミラーはオフ状態とされる。オフ状態の画素ミラーに反射した光は露光エリアには到達せず、オン状態の画素ミラーに反射した光のみが到達する。このため、露光パターンの光が露光エリアに照射される。
In the
このような露光ヘッド1は、複数設けられている。図2に示すように、この実施形態では8個の露光ヘッド1が設けられている。8個の露光ヘッド1により、全体として一つの露光パターンが形成される。尚、各露光ヘッド1は、同じ構成である。
露光エリアについて、図3を参照して補足する。図3は、露光エリアについて示した斜視概略図である。図3において、1個の露光ヘッド1で光が照射され得る領域(以下、個別エリアという。)Eが四角い枠で示されている。個別エリアEの集まりが、露光エリアである。
基板Sは図3中矢印で示す方向に移動しながら、各個別エリアEで光照射を受ける。この際、二列の露光ヘッド1は互いにずれて配置されているので、移動方向に垂直な水平方向においても、隙間無く露光が行われる。
A plurality of such exposure heads 1 are provided. As shown in FIG. 2, eight exposure heads 1 are provided in this embodiment. The eight exposure heads 1 form one exposure pattern as a whole. Each
The exposed area will be supplemented with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic perspective view showing an exposure area. In FIG. 3, a region (hereinafter referred to as an individual area) E that can be irradiated with light by one
The substrate S receives light irradiation in each individual area E while moving in the direction indicated by the arrow in FIG. At this time, since the two rows of exposure heads 1 are arranged so as to be offset from each other, exposure is performed without a gap even in the horizontal direction perpendicular to the moving direction.
実際には、各個別エリアE内は、微小な照射パターン(以下、微小パターンという。)の集まりとなっている。1個の微小パターンは、1個の画素ミラーによるパターンである。ステージ2に載置された基板Sがステージ2の移動に伴って露光エリアを移動するが、その移動のタイミングに合わせて所定のシーケンスで微小パターンのオンオフがされる。これにより、所望の露光パターンが基板Sに形成される。
In reality, each individual area E is a collection of minute irradiation patterns (hereinafter referred to as minute patterns). One minute pattern is a pattern by one pixel mirror. The substrate S mounted on the
図1に示すように、この実施形態の直描式露光装置は二つのステージ2を備えている。図4は、ステージ2の構造を示した概略図である。ステージ2は、平坦な上面に基板Sが載置される台状の部材である。図4に示すように、ステージ2の上面には、真空吸着孔21が形成されている。各真空吸着孔21は、ステージ2内に形成された排気路22を介して排気系4に接続されている。排気系4は真空ポンプを含んでおり、排気系4が動作すると、排気路22を通して各真空吸着孔21が吸引され、載置された基板Sがステージ2に真空吸着される。
As shown in FIG. 1, the direct drawing exposure apparatus of this embodiment includes two
搬送系3は、露光エリアを通して配設されたリニアガイド31と、リニアガイド31に沿って各ステージ2を直線移動させる不図示の直線駆動源とを備えている。図1に示すように、各ステージ2は、台座32に搭載されている。台座32は、リニアガイド31に沿って移動可能となっている。各台座32には、不図示の直線駆動源が設けられている。直線駆動源としては例えばリニアモータが使用され、リニアモータステージの構成が採用され得る。直線駆動源が動作すると、台座32と一体にステージ2が移動し、これによりステージ2上の基板Sが搬送される。この例では、リニアガイド31は、一対のステージ2で共用であり、同一の軌道上を各台座32が移動する。
The
尚、露光エリアから離れた両側には、それぞれ待機位置(左待機位置、右待機位置)が設定されている。各待機位置には、移載ユニット5が配置されている。この例では、露光すべき基板Sはコンベア50で運ばれてくるようになっており、露光後の基板Sは、不図示のラックに収容されるようになっている。移載ユニット5は、コンベア50から基板Sをステージ2に載置するロードと、露光済みの基板Sをステージ2から取り去ってラックに収容するアンロードとを行うよう構成されている。
The standby positions (left standby position and right standby position) are set on both sides away from the exposure area. A
両側の移載ユニット5は同様の構成であり、吸着パッド51を有する移載ハンド52と、移載ハンド52を上下及び前後左右に移動させるハンド駆動機構53とを備えている。吸着パッド51は、下方に向いた姿勢で複数設けられており、真空吸引により基板Sを吸着して保持することが可能となっている。
The
また、直描式露光装置は、基板S上の所定の位置に露光パターンが形成されるようにするためのアライメント手段を含んでいる。アライメント手段は、各ステージ2に対して所定位置に基板Sを載置するプリアライメント機構と、プリアライメントされた状態で基板Sの載置位置を検出するアライメント用センサとを含んでいる。
アライメント用センサは、基板S上のアライメントマークを撮影する撮像素子6である。プリアライメント機構は、撮像素子6が撮像可能エリア内にアライメントマークが位置するようにするための機構である。プリアライメント機構としては、移載ユニット5が兼用される。例えば、所定の位置に設定された当て板に基板Sを押し当てて移載ハンド52が基板Sを保持し直すことでプリアライメントが行われる。プリアライメントにより、基板Sをステージ2に対して位置決めされた状態で載置される。
Further, the direct drawing type exposure apparatus includes an alignment means for forming an exposure pattern at a predetermined position on the substrate S. The alignment means includes a pre-alignment mechanism for mounting the substrate S at a predetermined position with respect to each
The alignment sensor is an
図1に示すように、直描式露光装置は、各部を制御する主制御部9を備えている。主制御部9には、各部を所定のシーケンスで動作させるメインシーケンスプログラム91が実装されている。
また、主制御部9には、所定の露光パターンが達成されるよう各変調器コントローラ121に制御信号を送る露光パターンプログラム92が実装されている。露光パターンプログラム92は、どのような回路を基板Sに形成するかという設計情報を元に予め作成され、主制御部9の記憶部90に記憶されている。
As shown in FIG. 1, the direct drawing type exposure apparatus includes a
Further, the
さらに、主制御部9には、アライメント手段を構成する不図示のアライメントプログラムが実装されている。アライメント用センサとしての撮像素子6が撮影したアライメントマークの撮影データは、主制御部9に送られるようになっている。アライメントプログラムは、撮像データを処理して露光パターンの形成位置を算出し、それに応じて露光パターンプログラム92を書き換える。
尚、主制御部9は、入力部901を備えている。入力部901では、露光処理する基板Sの品種に関する情報等の各種の情報が入力される。
Further, an alignment program (not shown) constituting the alignment means is mounted on the
The
このような実施形態の直描式露光装置は、多品種少量生産に対応した実用的な真空吸着の構成とするため、吸着孔封鎖手段を備えている。吸着孔封鎖手段は、ロール状に巻かれた長尺なシート71と、シート71の送り出し及び巻き取りを行うシート機構72とを含んでいる。以下、吸着孔封鎖手段について説明する。
The direct drawing type exposure apparatus of such an embodiment is provided with a suction hole closing means in order to have a practical vacuum suction configuration corresponding to high-mix low-volume production. The suction hole closing means includes a
まず、実施形態の装置における多数の真空吸着孔21のレイアウトについて説明する。図5は、実施形態の装置における多数の真空吸着孔のレイアウトについて示した平面概略図である。
前述したように、多品種少量生産に対応する場合、通常、最も小さいサイズの基板に合わせて真空吸着孔21が形成される。即ち、サイズの異なる三つの基板S1,S2,S3があった場合、図5(1)に示すように、最もサイズの小さい基板S3に合わせて多数の真空吸着孔21をレイアウトする。即ち、基板S3のサイズよりも少し小さい方形領域において均等間隔をおいて多数の真空吸着孔21を設ける。
First, the layout of a large number of vacuum suction holes 21 in the apparatus of the embodiment will be described. FIG. 5 is a schematic plan view showing the layout of a large number of vacuum suction holes in the apparatus of the embodiment.
As described above, in the case of high-mix low-volume production, the vacuum suction holes 21 are usually formed in accordance with the smallest size substrate. That is, when there are three substrates S1, S2, and S3 having different sizes, as shown in FIG. 5 (1), a large number of vacuum suction holes 21 are laid out according to the smallest substrate S3. That is, a large number of vacuum suction holes 21 are provided at equal intervals in a square region slightly smaller than the size of the substrate S3.
これに対し、実施形態の直描式露光装置では、図5(2)に示すように、最も大きな基板S1に合わせて多数の真空吸着孔21をレイアウトする。即ち、基板S1のサイズよりも少し小さい方形領域において均等間隔をおいて多数の真空吸着孔21を設ける。
このように、実施形態の直描式露光装置では、最もサイズの大きな基板に合わせて真空吸着孔21を設けるが、この構成では、前述したように、小さいサイズの基板を処理する場合には真空漏れとなり得る。この問題を解決するため、実施形態の直描式露光装置は、吸着孔封鎖手段を備えている。吸着孔封鎖手段は、図1に示すように、ロール状に巻かれた長尺なシート71と、シート71の送り出し及び巻き取りを行うシート機構72とを含んでいる。
On the other hand, in the direct drawing type exposure apparatus of the embodiment, as shown in FIG. 5 (2), a large number of vacuum suction holes 21 are laid out according to the largest substrate S1. That is, a large number of vacuum suction holes 21 are provided at equal intervals in a square region slightly smaller than the size of the substrate S1.
As described above, in the direct drawing type exposure apparatus of the embodiment, the
シート71は、基板Sが塞がない真空吸着孔21を塞ぐものとして採用されている。即ち、小さいサイズの基板Sを処理する際には基板Sによって塞がれない真空吸着孔21が出てくるので、シート71はそれを塞ぐためのものである。以下、シート71を閉鎖シートと言い換える。柔軟で気密な材料のシートであれば、特に制限なく閉鎖シート71として使用可能であるが、例えばPET(Polyethyleneterephthalate)製のシートを使用することができる。厚さは、例えば0.15mm〜0.3mm程度で良い。
The
図6は、第一の実施形態における閉鎖シートの構成について示した平面概略図である。閉鎖シート71はロールに巻かれた長尺なものであるが、図6では、構造の説明のため、長く引き出した状態が描かれている。
この実施形態では、閉鎖シート71は、基板Sの真空吸着を阻害しないものである必要がある。阻害しないようにする構成としては幾つか考えられるが、この実施形態では、ステージ2の真空吸着孔21と同様の位置関係で同様の孔73を形成する構成としている。以下、この閉鎖シート71の孔73も吸着用の孔であるので、シート吸着孔73と呼ぶ。
FIG. 6 is a schematic plan view showing the configuration of the closing sheet according to the first embodiment. The
In this embodiment, the
図6に示すように、閉鎖シート71には、多数のシート吸着孔73が形成されている。多数のシート吸着孔73は、複数のグループ73Gに分かれている。以下、シート吸着孔73のグループ73Gを孔グループという。図6では、各孔グループ73Gを破線で取り囲んでいるが、これは理解のためであり、閉鎖シート71にこのような線が描かれているわけではない。
As shown in FIG. 6, a large number of sheet suction holes 73 are formed in the
図6に示すように、各孔グループ73Gは、シート吸着孔73の個数が異なっている。各孔グループ73Gは、方形の配置領域内に均等間隔をおいて形成されたシート吸着孔73より成っている。各孔グループ73Gにおいて、シート吸着孔73の離間間隔は同じであるが、方形の配置領域のサイズが異なっているので、シート吸着孔73の個数が異なっている。また、方形の配置領域の縦横比が異なる孔グループ73Gも存在している。尚、「配置領域」とは、各孔グループ73Gにおける多数のシート吸着孔73の全体の配置領域の意味である。全てのシート吸着孔73が内部に入る最も小さな一つの方形の領域、と捉えることもできる。
As shown in FIG. 6, each
このような各孔グループ73Gは、処理する基板Sのサイズが異なることを考慮して設けられたものである。即ち、各孔グループ73Gにおいて、シート吸着孔73が形成された配置領域のサイズは、処理する基板Sのサイズに対応している。即ち、図6において、各孔グループ73Gを示す破線は、基板Sのサイズ(縦横の長さ)に相当するものとなっている。
Each of
このような閉鎖シート71は、いずれかの孔グループ73Gが選択され且つ位置決めされて使用される。この点について、図7を参照して説明する。図7は、第一の実施形態における閉鎖シート71における孔グループ73Gの選択と位置決めについて示した斜視概略図である。図1に示すように、実際には下からステージ2、閉鎖シート71、基板Sの順に接触した状態となるが、図7では、理解を容易にするため、離した状態を描いている。また、図6や図7では、理解のため、真空吸着孔21やシート吸着孔73を大きく描いており、実際には図示された状態よりも小さい。真空吸着孔21やシート吸着孔73の大きさ一例を示すと、直径0.5mm〜3.0mm程度である。
For such a
図7において、あるサイズの基板Sが処理のためにステージ2に載置される。前述したように、基板Sは、ステージ2に対してプリアライメントされた状態で載置される。即ち、ステージ2の基準位置に対して所定の位置関係で載置される。プリアライメントされた状態での基板Sの載置位置を、図7に破線S’で示す。
そして、閉鎖シート71は、基板Sのサイズに合わせて一つの孔グループ73Gが選択され、選択された孔グループ73Gがステージ2に対して位置決めされた状態とされる。位置決めとは、図7に示すように、選択された孔グループ73Gの各シート吸着孔73とステージ2の真空吸着孔21とが重なる位置とすることである。
In FIG. 7, a substrate S of a certain size is placed on
Then, in the
この実施形態では、位置決めは、シート機構72によって行われる。即ち、シート機構72は、シート71の送り出し及び巻き取りに加え、シート71の位置決めも行う機構となっている。
図1に示すように、シート機構72は、ロールツーロールで閉鎖シート71の送り出しと巻き取りを行う機構である。閉鎖シート71を水平な姿勢で弛みがない状態とするため、シート機構72は一対のガイドローラ723を含んでいる。
In this embodiment, positioning is performed by the
As shown in FIG. 1, the
図8は、シート機構72の構成と閉鎖シート71及びシート機構72の取り付け構造とを示した側面概略図である。シート機構72は、両側のロールにおいてほぼ同様の構成となっており、図8には一方の側の構成が例示されている。図1及び図8から解るように、シート機構72は、閉鎖シート71が巻かれた丸棒状の一対のロール棒721と、各ロール棒721を駆動するロール駆動源722とを備えている。ロール駆動源722は、例えば一方がトルクモータであり、他方がそのトルクに逆らってロール棒721を回転させるサーボモータ又はステッピングモータ等であり得る。
FIG. 8 is a schematic side view showing the configuration of the
各ロール駆動源722は、主制御部9によって制御されて閉鎖シート71の位置決めを行う。具体的に説明すると、各ロール駆動源722は、主制御部9に接続されており、主制御部9にはシート位置決めプログラム93が実装されている。
上述した各孔グループ73Gについては、それを識別するID(以下、孔グループID)が付与されている。閉鎖シート71には、長尺方向において特定の基準位置(以下、シート基準位置)が設定されている。各孔グループ73Gが、閉鎖シート71のどの位置に形成されているかは、シート基準位置からの距離で特定されるようになっている。主制御部9の記憶部90には、各孔グループ73Gの位置を記録した孔グループ情報ファイル94が記憶されている。孔グループ情報ファイル94は、各孔グループ73Gの形成位置(シート基準位置からの距離)を孔グループIDに対応させて記録したファイルである。
Each
An ID for identifying each of the above-mentioned
シート位置決めプログラム93には、ステージ2に対してシート基準位置が現在どの位置にあるかの情報が引数として渡されるようになっている。ステージ2には、シート位置決めプログラム93にとっての原点位置(以下、ステージ原点)が設定されており、シート基準位置はステージ原点との関係で位置が特定される。例えば、前回のシート位置決めプログラム93の実行時に選択された孔グループ73Gが記憶部90に保持されており、これを読み出すことで、ステージ原点に対するシート基準位置の現在位置が求められる。装置の最初の稼働時には、シート基準位置=ステージ原点とされる。
Information on which position the seat reference position is currently located with respect to the
シート位置決めプログラム93に対しては、さらに、孔グループIDが引数として渡される。シート71位置決めプルグラムは、シート基準位置の現在位置と孔グループIDとから、閉鎖シート71をどちらの向きにどれだけの距離移動させるかの値を算出する。即ち、孔グループ情報ファイル94を参照し、どの向きにどれだけの距離移動させれば、当該孔グループIDの孔グループ73Gがステージ2に対して位置決めされるかを算出する。そして、算出された値をシート機構72に送ると、プログラムは終了する。この結果、シート機構72が制御され、図7に示すように、選択された孔グループ73Gがステージ2に対して位置決めされた状態となる。
Further, the hole group ID is passed as an argument to the
上述した閉鎖シート71及びシート機構72は、ステージ2に対して取り付けられている。閉鎖シート71及びシート機構72は、昇降機構74とともに台座32に取り付けられている。図8に示すように、昇降機構74は、シート機構72を保持した伸縮可能な一対の支柱741と、各支柱を伸縮させる上下駆動源742等から成っている。
The closing
ロール棒721は、ベアリングを介して支柱741に固定されている。また、ロール駆動源722も支柱741によって保持されており、閉鎖シート71及びシート機構72全体が昇降機構74を介して台座32に取り付けられた状態となっている。ガイドローラ723も支柱741にベアリングを介して保持されている。このため、搬送系3が動作して台座32が移動すると、閉鎖シート71及びシート機構72も一体に移動するようになっている。
The
このような第一の実施形態の直描式露光装置の動作について、以下に説明する。
装置の動作に先立って、作業者が入力部901において必要な情報の入力を行う。ここでの情報には、処理する基板Sの品種情報が含まれ、品種の情報には、基板Sのサイズの情報が含まれる。
The operation of the direct drawing type exposure apparatus of the first embodiment will be described below.
Prior to the operation of the device, the operator inputs necessary information in the
主制御部9は、露光処理に先立って、シート機構72に制御信号を送る。即ち、メインシーケンスプログラム91は、シート位置決めプログラム93を呼び出して実行する。メインシーケンスプログラム91は、入力された品種情報に従って孔グループIDを特定し、シート基準位置の現在位置の情報とともにシート位置決めプログラム93に渡す。シート位置決めプログラム93は、これらの品種情報に従い、閉鎖シート71の必要な移動量(向きと距離)を算出し、シート機構72に出力する。この結果、選択された孔グループ73Gがステージ2に対して位置決めされる。
The
尚、閉鎖シート71の送り出し及び巻き取りの際には、昇降機構74が動作して閉鎖シート71及びシート機構72を少し上方に持ち上げる。そして、上記のように位置決めがされた後、昇降機構74は閉鎖シート71及びシート機構72を下降させ、位置決めされた状態で閉鎖シート71をステージ2に接触又は密着させる。
When the
次に、一方の移載ユニット5が動作し、基板Sを一方のステージ2に載置する。この際、プリアライメントが行われ、基板Sはステージ2に対して所定位置に載置される。そして、排気系4が動作し、基板Sはステージ2に真空吸着される。この際、上記のように閉鎖シート71は孔グループ73Gが位置決めされており、ステージ2の真空吸着孔21とシート吸着孔73とが重なった状態となっている。したがって、基板Sの真空吸着が阻害されることがない。
Next, one
さらに、閉鎖シート71において、基板Sのサイズに応じて選択された孔グループ73Gがステージ2に対して位置決めされているので、載置された基板Sの真空吸着を阻害しないのに加え、基板Sの周囲の不使用の真空吸着孔21が閉鎖シート71によって塞がされた状態となる。
この状態を保持しながら、搬送系3がステージ2を移動させる。そして、ステージ2上の基板Sが撮像素子6の下方に達した際、撮像素子6によりアライメントマークが撮影され、撮影データが主制御部9に送られ、露光パターンプログラム92の書き換えが行われる。
Further, in the
While maintaining this state, the
さらに搬送系3はステージ2を移動させ、露光ユニット1の下方の露光エリアを通過させる際、露光ユニット1が動作して露光パターンでの基板Sの露光が行われる。露光エリアを通過後、搬送系3はステージ2を反転させ、当初の待機位置までステージ2を戻す。そして、待機位置において移載ユニット5が動作し、露光済みの基板Sをコンベア50に搬出する。
Further, when the
この間、他方の移載ユニット5は、他方のステージ2に対してプリアライメントをした上での基板Sの載置動作を行っている。そして、一方のステージ2が待機位置に戻ると、搬送系3は、他方のステージ2を反対側から移動させ、露光エリアを通過する際に露光ユニット1が同様に露光を行う。この際、同様にシート機構72に制御信号が送られ、入力された品種に対応した孔グループ73Gが位置決めされた状態で閉鎖シート71が他方のステージ2を覆っており、その上に基板Sが載置されて真空吸着され、その状態で露光が行われる。
During this time, the
このような動作を交互に繰り返し、各基板Sに対して露光が行われる。1ロットの基板Sの露光処理が終了し、次のロットの基板Sを処理する際、品種が異なる場合、入力部901において品種情報が入力される。メインシーケンスプログラム91は、次のロットの処理を始める前に、シート位置決めプログラム93を実行し、入力された品種情報に従って対応する孔グループ73Gの位置決めを行う。この際、昇降機構74が動作し、閉鎖シート71を少し上昇させてステージ2から離し、位置決めの後に下降させてステージ2に接触又は密着させる。このようにして孔グループ73Gの位置決めをした後、同様に各基板Sに対して露光処理を施す。
By alternately repeating such an operation, each substrate S is exposed. When the exposure processing of the substrate S of one lot is completed and the substrate S of the next lot is processed, if the product types are different, the product type information is input in the
上述した構成及び動作に係る実施形態の直描式露光装置によれば、最も大きなサイズの基板Sに対応したレイアウトで多数の真空吸着孔21がステージ2に設けられ、それにより小さい基板Sを処理する際に基板Sによって塞がれない真空吸着孔21を吸着孔封鎖手段が塞ぐので、十分な真空吸着が行われる装置となる。即ち、多品種少量生産に対応しつつ、精度の高い露光処理が行われる実用的な直描式露光装置が提供される。
According to the direct drawing type exposure apparatus of the embodiment related to the above-described configuration and operation, a large number of vacuum suction holes 21 are provided on the
上記構成において、シート機構72は閉鎖シート71を基板Sの真空吸着を阻害しない状態とする機構であるが、この動作は、作業者がマニュアル作業で行うことも可能である。しかし、煩雑であり、品種を変更するたびに必要になる作業であるので、生産性を著しく低下させる。シート機構72は、品種の変更に伴う孔グループ73Gの変更を迅速に省略化して行えるようにしたものであり、生産性を低下させない意義がある。
尚、閉鎖シート71及びシート機構72がステージ2に対して取り付けられていてステージ2と一体に移動する点は、ステージ2の移動に関連した機構が複雑にならないようにした意義がある。閉鎖シート71及びシート機構72をステージ2とは分離された部材に対して取り付けて一体に移動しない構成であっても良いが、閉鎖シート71は不使用の真空吸着孔31を閉鎖する状態を維持する必要があり、ステージ2と同期して(同じ速度で同じ方向に)移動する必要がある。機構的には可能であるが、複雑で大がかりなものとなってしまう。
In the above configuration, the
The fact that the closing
尚、上述した動作では、露光の際に露光エリアを通過する際のステージ2の移動の向きは、二つのステージ2において互いに逆である。ステージ2の移動の向きが異なると、各画素ミラーのオンオフのパターンも異なってくるので、それぞれについて露光パターンプログラム92が実装されている。但し、一方のステージ2においては往路で露光が行われ、他方のステージ2については復路で露光が行われるようにすれば、露光の際の移動の向きが同じになるので、同じ露光パターンプログラム92を実行して露光が行われる。
In the above-described operation, the directions of movement of the
次に、第二の実施形態の直描式露光装置について説明する。
第二の実施形態の直描式露光装置においても、各ステージ2の真空吸着孔21は、最も大きなサイズの基板Sに対応したレイアウトで多数設けられている。そして、基板Sによって塞がれない真空吸着孔21を塞ぐ吸着孔封鎖手段が設けられており、吸着孔封鎖手段は、閉鎖シート71と、シート機構72とを備えている。第二の実施形態が第一の実施形態と異なるのは、基板Sの真空吸着を阻害しないようにする閉鎖シート71の構成として、シート吸着孔73ではなく開口75を有している点である。
Next, the direct drawing type exposure apparatus of the second embodiment will be described.
Also in the direct drawing type exposure apparatus of the second embodiment, a large number of vacuum suction holes 21 of each
図9は、第二の実施形態における閉鎖シート71の構成を示した平面概略図である。第二の実施形態においても、閉鎖シート71は長尺な帯状であり、一対のロールに巻かれた状態でシート機構72により送り出し及び巻き取りがされるものとなっている。
図9に示すように、第二の実施形態において開口75は方形であり、サイズの異なるものが閉鎖シート71の長さ方向に沿って多数形成されている。各開口75は、サイズの異なる各基板Sの当該異なるサイズに対応して形成されたものである。この実施形態では、各開口75は、対応する基板Sよりも少し大きいサイズで形成されたものである。
FIG. 9 is a schematic plan view showing the configuration of the
As shown in FIG. 9, in the second embodiment, the
各開口75は、第一の実施形態における孔グループ73Gと同様、ID(以下、開口ID)が付与されている。そして、各開口75の形成位置(シート基準位置に対する位置)を開口IDに対応させて記憶した開口情報ファイル95が主制御部9の記憶部90に記憶されている。
尚、この実施形態においても、シート機構72は、一対のロール棒721と、各ロール棒721を駆動して閉鎖シート71の送り出し及び巻き取りを行う一対のロール駆動源722とを備えている。そして、閉鎖シート71及びシート機構72は、ステージ2を搭載した台座32に対して昇降機構74とともに取り付けられており、ステージ2と一体に移動するものとなっている。
Each
Also in this embodiment, the
図10及び図11は、第二の実施形態における吸着孔閉鎖手段の動作について示した概略図であり、図10は斜視概略図、図11は正面断面概略図である。図10では、図7と同様、理解のため、ステージ2,閉鎖シート71、基板Sはそれぞれ離間して描かれているが、実際には重ね合わされて接触している。
第二の実施形態においても、主制御部9にはシート位置決めプログラム93が実装されている。シート位置決めプログラム93は、入力部901で入力された品種情報に従い、対応する開口75を位置決めするためのシート71の移動量(向きと距離)を算出し、シート機構72に送って位置決めを行わせる。この際、同様に昇降機構74が動作し、閉鎖シート71をいったん少し上昇させ、位置決めの後に下降させてステージ2に接触させる。
10 and 11 are schematic views showing the operation of the suction hole closing means in the second embodiment, FIG. 10 is a schematic perspective view, and FIG. 11 is a schematic front sectional view. In FIG. 10, as in FIG. 7, the
Also in the second embodiment, the
図11には、上記のように閉鎖シート71が位置決めされてステージ2に接触した後、基板Sがプリアライメントされて載置された状態が描かれている。図11に示すように、プリアライメントされて載置された基板Sは、位置決めされた閉鎖シート71の開口75内に位置する。そして、開口75は、処理対象の基板Sのサイズに対応して選択されており、図11に示すように開口75は基板Sよりも少し大きいサイズである。開口75と基板Sとの大きさの違いを開口マージンと呼び、図11にmで示す。
FIG. 11 shows a state in which the substrate S is prealigned and placed after the
開口マージンmにおいて重要なことは、ステージ2の真空吸着孔21のピッチ(隣接する真空吸着孔21の距離)pよりも十分に小さいことである。開口マージンpが真空吸着孔21のピッチpよりも大きいと、基板Sによって塞がれない真空吸着孔21が閉鎖シート71でも塞がれない状態となってしまい、真空がリークしてしまうからである。他方、開口マージンmが小さすぎると、プリアライメントの精度によっては開口75内に基板Sが位置しない状態となってしまい易い。開口75内に基板Sが位置しないと、基板Sが開口75の縁に乗り上げてしまうことになり、やはり真空吸着エラーの原因となる。したがって、開口マージンmは、真空吸着孔21のピッチの例えば1/2以下で且つ2.0mm以上とすることが好ましい。
What is important in the opening margin m is that it is sufficiently smaller than the pitch (distance between adjacent vacuum suction holes 21) p of the vacuum suction holes 21 of the
第二の実施形態の直描式露光装置は、上記のように吸着孔閉鎖手段の構成が異なるのみであり、それ以外は第一の実施形態の装置と同様である。
第二の実施形態においても、最も大きなサイズの基板Sに対応したレイアウトで多数の真空吸着孔21がステージ2に設けられ、それにより小さい基板Sを処理する際に基板Sによって塞がれない真空吸着孔21を吸着孔封鎖手段が塞ぐので、十分な真空吸着が行われる装置となる。このため、多品種少量生産に対応しつつ、精度の高い露光処理が行われる実用的な直描式露光装置が提供される。
The direct drawing type exposure apparatus of the second embodiment is the same as the apparatus of the first embodiment except that the configuration of the suction hole closing means is different as described above.
Also in the second embodiment, a large number of vacuum suction holes 21 are provided in the
次に、第三の実施形態の直描式露光装置について説明する。
第三の実施形態においても、最も大きなサイズの基板Sに対応したレイアウトで多数の真空吸着孔21がステージ2に設けられ、それにより小さい基板Sを処理する際に基板Sによって塞がれない真空吸着孔21を塞ぐ吸着孔封鎖手段が設けられている。第三の実施形態では、吸着孔封鎖手段は、基板Sによって塞がされない真空吸着孔21を塞ぐ機能に加え、基板Sの周辺部を抑え込む機能も有している。
Next, the direct drawing type exposure apparatus of the third embodiment will be described.
Also in the third embodiment, a large number of vacuum suction holes 21 are provided in the
図12は、第三の実施形態における閉鎖シート71の構成を示した平面概略図である。第三の実施形態においても、シート71は長尺な帯状であり、一対のロールに巻かれた状態でシート機構72により送り出し及び巻き取りがされるものである。そして、第二の実施形態の同様、複数のサイズの異なる開口76が長さ方向に沿って形成されている。
各開口76は、処理する基板Sのサイズに対応して形成されている。その点では第二の実施形態と同様である。第三の実施形態が第二の実施形態と異なるのは、対応する基板Sのサイズに対して、開口76はそれよりも小さなサイズとなっている点である。以下、この開口76を小開口と呼ぶ。
FIG. 12 is a schematic plan view showing the configuration of the
Each
図12に示すように、この実施形態の閉鎖シート71は、基板Sの各サイズに対応した小開口76とは別に、大きな一つの開口77を有している。この開口77は、ステージ2への基板Sの載置及びステージ2からの基板Sの回収(以下、基板着脱という。)の際に利用される開口である。以下、この開口77を着脱用開口という。着脱用開口77は、最も大きなサイズの基板Sよりも少し大きなサイズの方形の開口である。
この実施形態においても、各小開口76及び着脱用開口77には開口IDが付与されている。そして、各小開口76及び着脱用開口77の形成位置の情報が、シート基準位置に対する距離として取得されており、開口情報ファイル95に記録されている。
As shown in FIG. 12, the
Also in this embodiment, an opening ID is given to each
図13は、第三の実施形態における吸着孔閉鎖手段の動作について示した正面断面概略図である。第三の実施形態では、基板Sの着脱の際に移載ユニット5、シート機構72及び昇降機構74が協働するシーケンスとなっており、第一第二の実施形態とは異なるシーケンスとなっている。
FIG. 13 is a schematic front sectional view showing the operation of the suction hole closing means in the third embodiment. In the third embodiment, the
具体的に説明すると、図13(1)に示すように、まず着脱用開口77が位置決めされるようにメインシーケンスプログラム91はシート機構72に制御信号を送る。ステージ2において、プリアライメントされた基板Sが載置される位置は所定位置として設定されている(以下、設定載置位置)。着脱用開口77の位置は、設定載置位置に載置された基板Sが占める領域が平面視において着脱用開口77の内側になる位置である。この位置になるよう、シート機構72が制御される。
More specifically, as shown in FIG. 13 (1), the
着脱用開口77が位置決めされたら、メインシーケンスプログラム91は移載ユニット5に制御信号を送り、図13(2)に示すように、プリアライメントされた基板Sをステージ2に載置させる。この際、閉鎖シート71はステージ2に接触していても良いし、少し浮いていても良い。
When the attachment /
次に、基板Sの載置が完了したら、メインシーケンスプログラム91は、シート機構72に制御信号を送り、図13(3)に示すように、この基板Sのサイズに対応した小開口76の位置決めを行わせる。この際、昇降機構74は、閉鎖シート71を基板Sよりも少し上の位置に位置させる。
次に、メインシーケンスプログラム91は、昇降機構74に制御信号を送り、閉鎖シート71を下降させてステージ2に密着させる。この状態では、図14(4)に示すように、小開口76の縁が基板Sの周辺部に乗った状態となる。
Next, when the placement of the substrate S is completed, the
Next, the
この状態で、メインシーケンスプログラム91は、排気系4に制御信号を送り、真空吸着を開始させる。各真空吸着孔21の真空吸引により基板Sはステージ2に真空吸着されるとともに、閉鎖シート71もステージ2に真空吸着される。この際、図13(4)から解るように、小開口76の縁が基板Sの周辺部を押圧する状態となる。したがって、基板Sに反りがあったしても、閉鎖シート71がその反りを抑え込み、ステージ2に密着させる。このため、真空の漏れは発生せず、また基板Sはフラットな姿勢となってその状態で露光がされる。
In this state, the
露光終了後にステージ2から基板Sを取り去る際の動作は、上記とは逆になる。即ち、排気系4の動作を止めて真空吸着を解除した後、昇降機構74が閉鎖シート71を少し上昇させる。そして、シート機構72が動作して着脱用開口77の位置決めを行う。その上で、移載ユニット5の吸着パッド51が基板Sを吸着し、移載ハンド52が基板Sを持ち上げてコンベア50に搬出する。
The operation when the substrate S is removed from the
第三の実施形態の直描式露光装置によれば、基板Sによって塞がれない真空吸着孔21を吸着孔封鎖手段が塞ぐので、多品種少量生産に対応しつつ精度の高い露光処理が行われる。これに加え、基板Sの周辺部を閉鎖シート71が抑え込むので、基板Sに反りがあったとしても確実に真空吸着がされ、また露光精度の低下が防止される。
According to the direct drawing type exposure apparatus of the third embodiment, the suction hole sealing means closes the
第三の実施形態において、閉鎖シート71は適度な弾性を有するものであることが好ましい。閉鎖シート71が剛性の高いものであると、基板Sの厚みの分で閉鎖シート71がステージ2から浮いてしまい、十分に真空吸着されなくなる。逆に、閉鎖シート71があまりにも柔らか過ぎると、基板Sの周辺部を押圧して反りを解消させるだけの力が生じなくなってしまう。これらを考慮して、適度な弾性を有する閉鎖シート71を使用する。例えば、閉鎖シート71がPET製である場合、0.3mm〜0.5mm程度の厚さにしておくと、上記のような問題はない。
In the third embodiment, the
また、小開口76のサイズの基板Sのサイズに対する差(図13(4)にm’で示す。)は、3.0〜5.0mm程度とすることが好ましい。3.0mmより小さいと、反りを解消させるのが不十分になる場合がある。また、5.0mmより大きくても反り解消効果としては変わらない反面、基板Sに対する露光パターンの形成を阻害する場合があり得る。
Further, the difference between the size of the
尚、各実施形態において、ステージ2に設けられた真空吸着孔21は、均等間隔で配置されていると説明したが、部分的に均等間隔でない場合もある。例えば、基板Sの周辺部では真空吸着力を高めた方が良いので、各基板Sのサイズに合わせて周辺部に位置する真空吸着孔21については間隔を狭くして密に配置する場合もあり得る。
また、第一の実施形態において、シート機構72は各シート吸着孔73がステージ2の真空吸着孔21に重なるように位置決めすると説明したが、この場合の「重なる」は、完全に重なる場合だけではなく、少なくとも1/2以上の面積で重なっていれば良い。即ち、真空吸着孔21の1/2以上の面積が塞がれていなければ(シート吸着孔73に連通していれば)良い。また、各シート吸着孔73は、ステージ2の真空吸着孔21と同じ大きさでも良いが、少し大きくしておく方が好ましい。少し大きくしておくと、シート機構72に対して厳しい位置決め精度が要求されなくなるからである。例えば、シート吸着孔73は、面積比で真空吸着孔21の1.2倍〜1.5倍程度とすることが好ましい。
Although it has been explained that the vacuum suction holes 21 provided in the
Further, in the first embodiment, it has been described that the
また、上記各実施形態は、二つのステージ2を搭載したツインステージの構成であったが、この出願の発明に実施に際しては、1個のみのステージを使用するシングルステージの構成を採用することも可能である。
また、この出願の直描式露光装置は、基板の両面を露光するプロセスにも使用され得る。両面露光の場合、例えばシングルステージの構成の装置を二台縦設し、基板を上下にひっくり返す反転機構を間に設ける構成が採用され得る。
尚、直描式露光装置において、「基板」は板状の露光対象物という程度の意味であり、必ずしも製品のベースとなる部材を意味しない。最終的な製品には組み込まれない部材であっても、「基板」であり得る。
Further, although each of the above embodiments has a twin stage configuration in which two
The direct drawing exposure apparatus of this application can also be used in the process of exposing both sides of a substrate. In the case of double-sided exposure, for example, a configuration may be adopted in which two devices having a single stage configuration are vertically installed and a reversing mechanism for turning the substrate up and down is provided in between.
In the direct drawing type exposure apparatus, the "substrate" means a plate-shaped exposure object, and does not necessarily mean a member that is a base of a product. A member that is not incorporated into the final product can be a "board".
1 露光ユニット
2 ステージ
21 真空吸着孔
3 搬送系
4 排気系
5 移載ユニット
6 撮像素子
71 閉鎖用シート
72 シート機構
721 ロール棒
722 ロール駆動源
73 シート吸着孔
73G 孔グループ
74 昇降機構
75 開口
76 小開口
77 着脱用開口
9 主制御部
91 メインシーケンスプログラム
92 露光パターンプログラム
93 シート位置決めプログラム
94 孔グループ情報ファイル
95 開口情報ファイル
S 基板
1
Claims (7)
所定のパターンの光を露光エリアに照射する露光ヘッドと、
載置される基板を真空吸着する真空吸着孔が多数形成されたステージと、
基板が載置されたステージを露光エリアを通して移動させる搬送系と、
真空吸着孔を真空吸引して基板をステージに真空吸着する排気系と、
前記多数の真空吸着孔のうち基板によって塞がれない真空吸着孔を塞ぐ吸着孔封鎖手段とを備えており、
吸着孔封鎖手段は、ロール状に巻かれた長尺なシートと、シートの送り出し及び巻き取りを行うシート機構とを含んでおり、シート機構はシートを基板の真空吸着を阻害しない状態とする機構であり、
シート及びシート機構は、搬送系によってステージと一体に移動するようステージに対して取り付けられていることを特徴とする直描式露光装置。 It is a direct drawing type exposure apparatus that irradiates a substrate with a predetermined pattern of light without a mask to expose it.
An exposure head that irradiates the exposure area with a predetermined pattern of light,
A stage with a large number of vacuum suction holes that vacuum suck the substrate on which it is placed,
A transport system that moves the stage on which the substrate is placed through the exposure area,
An exhaust system that vacuum-sucks the vacuum suction holes and vacuum-sucks the substrate to the stage,
It is provided with a suction hole sealing means for closing the vacuum suction holes that are not closed by the substrate among the large number of vacuum suction holes.
The suction hole closing means includes a long sheet wound in a roll shape and a sheet mechanism for feeding and winding the sheet, and the sheet mechanism is a mechanism for keeping the sheet in a state that does not hinder the vacuum suction of the substrate. And
A direct drawing type exposure apparatus characterized in that a sheet and a sheet mechanism are attached to a stage so as to move integrally with the stage by a transport system.
複数の孔グループ又は複数の開口は、前記シートの長さ方向に沿って形成されており、
複数の孔グループのうちの一つ又は複数の開口の一つが基板のサイズに合わせて選択された際、当該選択された孔グループ又は選択された開口が、前記ステージに対して所定位置に位置するよう前記シート機構を制御する制御部が設けられていることを特徴とする請求項2記載の直描式露光装置。 The sheet is formed of a plurality of hole groups consisting of the plurality of suction holes and different sizes of the entire arrangement region, or a plurality of openings of different sizes corresponding to different sizes of the substrate.
The plurality of hole groups or the plurality of openings are formed along the length direction of the sheet.
When one or a plurality of openings in the plurality of hole groups are selected according to the size of the substrate, the selected hole group or the selected openings are located in predetermined positions with respect to the stage. The direct drawing type exposure apparatus according to claim 2, wherein a control unit for controlling the sheet mechanism is provided.
複数の孔グループは、前記シートの長さ方向に沿って形成されており、
複数の孔グループのうちの一つが基板のサイズに合わせて選択された際、当該選択された孔グループの各吸着孔が前記ステージの各真空吸着孔に重なる位置に位置するよう前記シート機構を制御する制御部が設けられていることを特徴とする請求項2記載の直描式露光装置。 The sheet is formed of a plurality of pore groups composed of the plurality of adsorption holes and having different sizes of the entire arrangement region.
The plurality of hole groups are formed along the length direction of the sheet.
When one of the plurality of hole groups is selected according to the size of the substrate, the sheet mechanism is controlled so that each suction hole of the selected hole group is located at a position overlapping each vacuum suction hole of the stage. The direct drawing type exposure apparatus according to claim 2, wherein a control unit is provided.
複数の開口は、前記シートの長さ方向に沿って形成されており、
各開口は、対応する基板のサイズよりも大きな開口であり、
前記ステージには、基板を載置する位置として設定載置位置が設定されており、
基板のサイズに対応して一つの開口が選択された際、設定載置位置に載置された基板が当該選択された開口内に位置するよう前記シート機構を制御する制御部が設けられていることを請求項2記載の直描式露光装置。 The sheet is formed with a plurality of openings of different sizes corresponding to different sizes of the substrate.
The plurality of openings are formed along the length direction of the sheet.
Each opening is larger than the size of the corresponding substrate,
A set mounting position is set as a position for mounting the board on the stage.
When one opening is selected according to the size of the substrate, a control unit is provided to control the seat mechanism so that the substrate mounted at the set mounting position is located within the selected opening. The direct drawing type exposure apparatus according to claim 2.
複数の開口は、前記シートの長さ方向に沿って形成されており、
各開口は、対応する基板のサイズよりも小さな開口であり、
前記ステージには、基板を載置する位置として設定載置位置が設定されており、
基板のサイズに対応して一つの開口が選択された際、当該選択された開口の周縁が設定載置位置に載置された基板の周辺部に乗るよう前記シート機構を制御する制御部が設けられていることを請求項2記載の直描式露光装置。 The sheet is formed with a plurality of openings of different sizes corresponding to different sizes of the substrate.
The plurality of openings are formed along the length direction of the sheet.
Each opening is smaller than the size of the corresponding substrate,
A set mounting position is set as a position for mounting the board on the stage.
When one opening is selected according to the size of the substrate, a control unit for controlling the seat mechanism is provided so that the peripheral edge of the selected opening rides on the peripheral portion of the substrate mounted at the set mounting position. The direct drawing type exposure apparatus according to claim 2.
着脱用開口は、最も大きなサイズの基板よりも大きな開口であり、
前記制御部は、ステージへの基板の載置及び前記ステージからの基板の取り去りの際には、前記ステージの設定載置位置を臨む位置に着脱用開口を位置させる制御部であることを特徴とする請求項6記載の直描式露光装置。
In addition to openings smaller than the size of the corresponding substrate, the sheet is provided with removable openings.
The detachable opening is larger than the largest size substrate,
The control unit is characterized in that when the substrate is mounted on the stage and the substrate is removed from the stage, the attachment / detachment opening is positioned at a position facing the set mounting position of the stage. The direct drawing type exposure apparatus according to claim 6.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024016676A1 (en) * | 2022-07-20 | 2024-01-25 | 上海美维电子有限公司 | Automatic exposure and fixation method for printed circuit board |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11551970B2 (en) * | 2020-10-22 | 2023-01-10 | Innolux Corporation | Method for manufacturing an electronic device |
KR102322599B1 (en) * | 2020-12-28 | 2021-11-08 | (주) 고송이엔지 | Digital pattern exposure device |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4204736A (en) * | 1978-04-26 | 1980-05-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and device for contact-printing |
JP3013073U (en) * | 1994-12-27 | 1995-06-27 | 旭光学工業株式会社 | Photosensitive material fixing device for exposure device |
JPH07167995A (en) * | 1993-09-06 | 1995-07-04 | Canon Inc | Exposure system and manufacture of device |
JP2005003798A (en) * | 2003-06-10 | 2005-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Suction mechanism for photosensitive plate member and image recording apparatus |
JP2007052138A (en) * | 2005-08-16 | 2007-03-01 | Fujifilm Holdings Corp | Work fixing device, positioning method for same, and image forming apparatus |
JP2007103609A (en) * | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Mejiro Precision:Kk | Projection aligner |
JP2007171621A (en) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Adtec Engineeng Co Ltd | Contact exposure device |
JP2010287892A (en) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Asml Netherlands Bv | Radiation beam modification apparatus and method |
JP2011081156A (en) * | 2009-10-07 | 2011-04-21 | Orc Manufacturing Co Ltd | Exposure apparatus |
JP2011238785A (en) * | 2010-05-11 | 2011-11-24 | Granpa Co Ltd | Horticultural apparatus |
JP2012092371A (en) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Hitachi Displays Ltd | Vacuum deposition device |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3312164B2 (en) * | 1995-04-07 | 2002-08-05 | 日本電信電話株式会社 | Vacuum suction device |
TWI329789B (en) * | 2002-05-29 | 2010-09-01 | Sanei Giken Co Ltd | Exposure method and exposure apparatus |
DE10310136B4 (en) * | 2003-03-07 | 2007-05-03 | Infineon Technologies Ag | Mask set for the projection of pattern patterns arranged on the masks of the sentence and matched to one another on a semiconductor wafer |
JP2005003800A (en) * | 2003-06-10 | 2005-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Suction mechanism for photosensitive plate member and image recording apparatus |
JP2005003799A (en) * | 2003-06-10 | 2005-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Suction mechanism for photosensitive plate member and image recording apparatus |
JP2006276084A (en) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Orc Mfg Co Ltd | Exposure table and exposure device |
JP2006284842A (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | Pattern forming method |
US20070148337A1 (en) * | 2005-12-22 | 2007-06-28 | Nichols Jonathan A | Flame-perforated aperture masks |
JP4621136B2 (en) * | 2005-12-27 | 2011-01-26 | 株式会社オーク製作所 | Exposure equipment |
JP4845757B2 (en) | 2007-02-02 | 2011-12-28 | 富士フイルム株式会社 | Drawing apparatus and method |
JP5285999B2 (en) * | 2008-08-29 | 2013-09-11 | 株式会社オーク製作所 | Mounting plate and exposure drawing apparatus |
JP2010153419A (en) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Ushio Inc | Workpiece stage and exposure apparatus using the workpiece stage |
JP5305012B2 (en) * | 2009-02-22 | 2013-10-02 | ウシオ電機株式会社 | Work stage and exposure apparatus equipped with the work stage |
NL2006385A (en) * | 2010-04-12 | 2011-10-13 | Asml Netherlands Bv | Substrate handling apparatus and lithographic apparatus. |
CN201931454U (en) * | 2010-12-09 | 2011-08-17 | 北大方正集团有限公司 | Vacuum absorption table top and vacuum absorption table provided with same |
JP2012151407A (en) * | 2011-01-21 | 2012-08-09 | Ushio Inc | Work stage and exposure device using work stage |
JP6732429B2 (en) * | 2014-11-28 | 2020-07-29 | キヤノン株式会社 | Substrate holding apparatus, lithographic apparatus, and article manufacturing method |
JP6651768B2 (en) * | 2015-09-28 | 2020-02-19 | 株式会社ニコン | Pattern drawing equipment |
JP6663252B2 (en) * | 2016-03-01 | 2020-03-11 | 株式会社アドテックエンジニアリング | Exposure equipment for printed circuit boards |
JP6774714B2 (en) * | 2016-07-25 | 2020-10-28 | 株式会社アドテックエンジニアリング | Work stage and exposure equipment |
CN106325007B (en) * | 2016-11-22 | 2017-11-17 | 江苏影速光电技术有限公司 | A kind of more turntable driving axles may move polygon prism light path direct write equipment |
JP6949521B2 (en) * | 2017-03-26 | 2021-10-13 | 株式会社アドテックエンジニアリング | Exposure equipment, operation method of exposure equipment, and substrate sticking prevention film |
JP6925921B2 (en) * | 2017-09-26 | 2021-08-25 | 株式会社アドテックエンジニアリング | Exposure equipment and exposure method |
-
2019
- 2019-05-09 JP JP2019089185A patent/JP7239388B2/en active Active
-
2020
- 2020-05-08 KR KR1020200055102A patent/KR20200130181A/en active Search and Examination
- 2020-05-08 CN CN202010380624.6A patent/CN111913363A/en active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4204736A (en) * | 1978-04-26 | 1980-05-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and device for contact-printing |
JPH07167995A (en) * | 1993-09-06 | 1995-07-04 | Canon Inc | Exposure system and manufacture of device |
JP3013073U (en) * | 1994-12-27 | 1995-06-27 | 旭光学工業株式会社 | Photosensitive material fixing device for exposure device |
JP2005003798A (en) * | 2003-06-10 | 2005-01-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Suction mechanism for photosensitive plate member and image recording apparatus |
JP2007052138A (en) * | 2005-08-16 | 2007-03-01 | Fujifilm Holdings Corp | Work fixing device, positioning method for same, and image forming apparatus |
JP2007103609A (en) * | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Mejiro Precision:Kk | Projection aligner |
JP2007171621A (en) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Adtec Engineeng Co Ltd | Contact exposure device |
JP2010287892A (en) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Asml Netherlands Bv | Radiation beam modification apparatus and method |
JP2011081156A (en) * | 2009-10-07 | 2011-04-21 | Orc Manufacturing Co Ltd | Exposure apparatus |
JP2011238785A (en) * | 2010-05-11 | 2011-11-24 | Granpa Co Ltd | Horticultural apparatus |
JP2012092371A (en) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Hitachi Displays Ltd | Vacuum deposition device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024016676A1 (en) * | 2022-07-20 | 2024-01-25 | 上海美维电子有限公司 | Automatic exposure and fixation method for printed circuit board |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP7239388B2 (en) | 2023-03-14 |
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