JP2020141072A - 電解液および電解コンデンサ - Google Patents
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Abstract
Description
αは1以上の整数である
(1)上記化学式1で表される化合物は揮発性が低いことがわかった。γ−ブチロラクトン等のラクトンを含む低粘性溶媒(第1溶媒)に、上記化学式1で表される化合物を含有する第2溶媒を混合することにより、電解液が揮発しにくいことがわかった。また、固体電解質と電解液とを用いたハイブリッドコンデンサにおいて、電解液が固体電解質へ影響を与えるかが重要になる。本願発明者らは、第1溶媒と第2溶媒を含む電解液をハイブリッドコンデンサに用いた結果、固体電解質に対する悪影響がみられないことがわかった。具体的には、第1溶媒と第2溶媒を含む電解液を用いたハイブリッドコンデンサを、高温環境下で長時間使用しても、ESRの上昇を抑制できることがわかった。
(2)上記化学式1で表される化合物において、R11とR12が互いに異なるため、分子構造的な立体障害が大きい。これにより、溶媒に含まれる分子間の相互作用的な力が弱まると考えられる。これに起因して、低温環境下においてESRの上昇を抑制できることがわかった。また、溶媒に含まれる分子間の相互作用的な力が弱まることにより、電解液の粘度の上昇が抑制されると考えられる。そのため、難揮発性溶媒である第2溶媒の含有量を多くしても、電解液の粘度の上昇を抑制できることがわかった。これにより、電解液が陽極酸化皮膜の欠陥部に浸透しやすくなるため、欠陥部が修復されやすい。そのため、漏れ電流の増大を抑制できる。また、低温環境下でのESRの上昇を抑制しながら、高温環境下でのESRの上昇を抑制できることがわかった。
したがって、ハイブリッドコンデンサにおいて、難揮発性溶媒として第2溶媒を含む溶媒を用いることにより、難揮発性溶媒の含有量を多くし、低粘性溶媒の含有量を少なくしても、低温環境下においてESRを低減することができるとともに、漏れ電流の増大を抑制できることがわかった。また、難揮発性溶媒である第2溶媒の含有量を多くできるため、高温環境下においてコンデンサの特性をさらに長時間維持できる。
具体的には、本発明の電解液は、酸化皮膜を有する陽極と、陰極と、前記陽極および前記陰極の間に配置されたセパレータと、前記セパレータに保持された導電性高分子および電解液とを備えた電解コンデンサに用いられる電解液である。前記電解液は溶媒と溶質を含み、前記溶媒は、ラクトンを含有した第1溶媒と、下記化学式1で表される化合物を含有した第2溶媒とを含む。前記溶媒100wt%に対し、前記第1溶媒が20wt%以上40wt%以下であり、前記第2溶媒が10wt%以上80wt%以下である電解液である。
αは1以上の整数である。
nは0または1以上の整数であり、
R2、R3、R4,R5,R6およびR7はHまたはCYH2Yで表され、Yは1以上の整数である。
従来の難揮発性溶媒を用いた場合、難揮発性溶媒分子に含まれる酸素原子により、難揮発性溶媒分子同士が水素結合する。難揮発性溶媒の含有量が多くなるにつれて、水素結合する溶媒分子数が多くなることにより、イオンの円滑な移動が妨げられると考えられる。これが原因で、難揮発性溶媒の含有量を多くした場合、低温環境下においてESRが高くなる。
〔第1実施形態〕
ハイブリッドコンデンサ1は、図1に示すように、外装ケース2と、外装ケース2に収容されたコンデンサ素子3と、外装ケース2の開口を封止した封口体4とを備えている。
R11およびR12は直鎖でもよく、直鎖でなくてもよい。
なお、R11とR12が同じである場合、および、R11またはR12が水素原子である場合、分子構造的な立体障害が小さいため、上記効果が得られないと考えられる。
先ず、所定の幅に切断された陽極11および陰極12に、外部引き出し電極用のリードタブを接続する。リードタブが接続された陽極11および陰極12を、セパレータ13を介して巻回することにより、コンデンサ素子3を作製する。陽極11として、表面に酸化皮膜が形成された弁金属箔を用いる。弁金属箔は、例えば、アルミニウム箔、タンタル箔が挙げられる。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。第2実施形態において第1実施形態と異なる点は、電解液に含まれる溶媒である。なお、上述した第1実施形態と同一の構成については同一の符号を用い、その説明を適宜省略する。
nは0または1以上の整数であり、
R2、R3、R4,R5,R6およびR7はHまたはCYH2Yで表され、Yは1以上の整数である。
R1、R2、R3、R4,R5,R6およびR7は直鎖でもよく、直鎖でなくてもよい。
先ず、所定の幅に切断された陽極および陰極に、外部引き出し電極用のリードタブを接続した。陽極として、酸化皮膜が形成されたアルミニウム箔を用いた。酸化皮膜は、アルミニウム箔をエッチング処理により粗面化した後、化成処理を施すことによって形成した。化成処理は、アジピン酸を水に溶解させた0.5重量%〜3重量%の化成液に陽極を浸し、電圧を印加することにより行った。陰極として、エッチング処理により粗面化されたアルミニウム箔を用いた。リードタブが接続された陽極および陰極を、セパレータを介して巻回することにより、コンデンサ素子を作製した。
直径6.3mm、高さ6.1mm、定格電圧35Vおよび静電容量47μFのハイブリッドコンデンサを作製した。−55℃および25℃の温度下において、ハイブリッドコンデンサの初期のESRを測定した。また、ハイブリッドコンデンサを135℃の高温下に3000時間放置し、その後、25℃の温度下で、ハイブリッドコンデンサのESRを測定した。3000時間は、通常の耐久試験における放置時間よりはるかに長い。ESR測定時の周波数は100kHzであった。表1に、ESRの測定結果を示している。以下において、初期のESRを「初期ESR」と称し、135℃の高温下に3000時間放置した後のESRを「高温長期放置後のESR」と称することがある。
(低温環境下におけるESR)
実施例1〜7および比較例1〜7の「−55℃の初期ESR」は低かった。このことから、実施例1〜7および比較例1〜7では、低温環境下でのESRの上昇が抑制されたことがわかった。
比較例8では、低粘性溶媒である第1溶媒の含有量が多い。
表1から、比較例8の第1溶媒の含有量は、実施例1〜7および比較例1〜6の第1溶媒の含有量より多い。比較例8の第1溶媒の含有量は、比較例7の第1溶媒の含有量と同じである。低粘性溶媒である第1溶媒は低温環境下においてESRを低減させることから、第1溶媒の含有量が多い比較例8では、「−55℃の初期ESR」が低減すると考えられる。また、比較例8と比較例7では、第1溶媒の含有量が同じであるため、「−55℃の初期ESR」が共に低い値になると考えられる。それにもかかわらず、実施例1〜6および比較例1〜6の「−55℃の初期ESR」が、比較例8の「−55℃の初期ESR」より低かった。
実施例1〜7および比較例1〜7と比較例8とでは、難揮発性溶媒が異なる。実施例1〜6および比較例1〜7では、難揮発性溶媒として第2溶媒と第3溶媒の少なくとも一方を用いている。これに対し、比較例8では、難揮発性溶媒としてポリエチレングリコールを用いている。このことから、第2溶媒と第3溶媒は低温環境下においてESRの上昇を抑制する効果があると考えられる。
「25℃の初期ESR」と「高温長期放置後のESR」を比較することにより、高温環境下におけるコンデンサの特性変化を調べることができる。
難揮発性溶媒として第2溶媒を用いた実施例1では、「25℃の初期ESR」に対する「高温長期放置後のESR」の上昇が抑制された。実施例1では、135℃という高温環境下に、ハイブリッドコンデンサを3000時間という長時間放置したにもかかわらず、ESRの上昇を抑制できた。このことから、実施例1は、高温環境下においてコンデンサの特性を維持できることがわかった。
難揮発性溶媒として第2溶媒および第3溶媒を用いた実施例2〜6および比較例1、3でも、「25℃の初期ESR」に対する「高温長期放置後のESR」の上昇が抑制された。
上記より、実施例2〜6および比較例1、3は、高温環境下においてコンデンサの特性を維持できることがわかった。
難揮発性溶媒として第3溶媒を用いた比較例5では、「高温長期放置後のESR」が「25℃の初期ESR」の2倍近くに上昇し、比較例6、7では、「高温長期放置後のESR」が「25℃の初期ESR」の2倍を大きく超えて上昇した。
難揮発性溶媒としてポリエチレングリコールを用いた比較例8では、「高温長期放置後のESR」が「25℃の初期ESR」より大幅に上昇した。
よって、比較例2、5〜8では、高温環境下におけるコンデンサの特性維持が難しいと考えられる。
実施例2〜6および比較例1、3、4では、難揮発性溶媒の含有量が60wt%以上90wt%以下である。実施例2〜6では、難揮発性溶媒として第2溶媒と第3溶媒を用いている。
一方、比較例2、6〜8では、難揮発性溶媒として、第2溶媒と第3溶媒の混合溶媒または第3溶媒だけを用いているが、難揮発性溶媒の含有量が40〜50wt%である。比較例2、6〜8では、難揮発性溶媒の含有量が少なかったため、高温環境下において、溶媒が殆ど蒸発したと考えられる。そのため、ESRが上昇したと考えられる。
比較例5では、難揮発性溶媒の含有量が60wt%であり、難揮発性溶媒として第3溶媒だけを用いている。しかし、ESRが上昇した。一方、難揮発性溶媒の合計量が同じ実施例5では、ESRの上昇が抑制された。実施例5では、難揮発性溶媒として第2溶媒と第3溶媒を用いている。このことから、第2溶媒は、高温環境下においてESRが上昇することを抑制できる効果を奏すると考えられる。また、第2溶媒は、第3溶媒より、電解液の揮発を抑制する効果があると考えられる。さらに、第3溶媒だけを用いるより、第2溶媒と第3溶媒の混合溶媒を用いることにより、電解液の揮発を抑制する効果が増大すると考えられる。
上記より、難揮発性溶媒の含有量が60wt%以上であり、且つ、難揮発性溶媒として第2溶媒または第2溶媒と第3溶媒の混合溶媒を用いることにより、高温環境下で長期間コンデンサの特性を維持できると考えられる。
ハイブリッドコンデンサのリフロー処理を想定した模擬リフロー試験を実施した。模擬リフロー試験は、245℃の高温下にハイブリッドコンデンサを3分間放置することを2回繰り返す試験とした。模擬リフロー試験後、ハイブリッドコンデンサに定格電圧を印加して2分後の漏れ電流値を測定した。これまでの経験から、模擬リフロー試験後、ハイブリッドコンデンサに定格電圧を印加して2分後の漏れ電流値が15μA以上の場合、漏れ電流が大きいため、不良と判断した。実施例1、2および比較例1〜6のそれぞれにおいて、30個のサンプルに模擬リフロー試験を実施した。表2に、全試験数30に対する不良数を示している。
実施例1〜7および比較例2、6〜8の不良数は0であったが、比較例1、3〜5の不良数は1以上であった。実施例1〜7および比較例2、6〜8では漏れ電流が抑制できたが、比較例1、3〜5では漏れ電流が抑制できないことがわかった。
比較例3〜5は、低粘性溶媒と難揮発性溶媒の合計100wt%に対して、難揮発性溶媒の含有量は60wt%または70wt%である。難揮発性溶媒の合計量が同じ実施例2、4〜7では漏れ電流を抑制できたが、比較例3〜5では漏れ電流を抑制できなかった。実施例2、4〜6では、難揮発性溶媒が第2溶媒と第3溶媒を含む。比較例4、5では、難揮発性溶媒は第3溶媒だけである。比較例3では、難揮発性溶媒は第2溶媒と第3溶媒を含むが、第2溶媒の含有量が少なかった。このことから、第2溶媒は、電解液の粘度の上昇を抑制する効果があると考えられる。比較例3では、第2溶媒を用いたが、第2溶媒の含有量が少なかったため、電解液の粘度の上昇をあまり抑制できなかったと考えられる。
2 外装ケース
3 コンデンサ素子
4 封口体
11 陽極
12 陰極
21、22 リード端子
Claims (7)
- 前記第1溶媒と前記第2溶媒と前記第3溶媒の合計100wt%に対し、
前記第1溶媒が20wt%以上40wt%以下であり、
前記第2溶媒が10wt%以上45wt%以下であり、
前記第3溶媒が25wt%以上60wt%以下であり、
前記第2溶媒と前記第3溶媒の合計が60wt%以上80wt%以下である請求項2に記載の電解液。 - 前記化学式2で表される化合物は、エチレングリコール、1,3−プロピレングリコール、1,4−ブタンジオール、1,5−ペンタンジオール、1,6−ヘキサンジオールおよびこれらの誘導体、並びに、1,2−プロピレングリコール、1,2−ブタンジオール、1,3−ブタンジオール、2−メチル−1,3−プロパンジオール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、2−メチルペンタン−2,4−ジオール、2,4−ジエチル−1,5−ペンタンジオールおよびこれらの誘導体よりなる群から選択される少なくとも1種を含む請求項2又は3に記載の電解液。
- 前記化学式1で表される化合物は、エチルメチルスルホン、メチルプロピルスルホン、エチルプロピルスルホン、メチルイソプロピルスルホンおよびエチルイソプロピルスルホンよりなる群から選択される少なくとも1種を含む請求項1〜4のいずれか1項に記載の電解液。
- 前記ラクトンは、γ−ブチロラクトンおよびγ−バレロラクトンの少なくとも一つを含む請求項1〜5のいずれか1項に記載の電解液。
- 酸化皮膜を有する陽極および陰極がセパレータを介して巻回されたコンデンサ素子を備え、
前記セパレータは、導電性高分子と、請求項1〜6のいずれか1項に記載の電解液とを保持する電解コンデンサ。
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