JP2020076666A - プローブピンおよび検査治具 - Google Patents
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Abstract
Description
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、
前記弾性部の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部と
を備える。
前記プローブピンと、
前記接続部が外部に露出するように前記プローブピンが収容された収容部を有するハウジングと
を備える。
本開示の第1実施形態のプローブピン10は、例えば、図1および図2に示すように、ハウジング100に収容された状態で使用され、ハウジング100と共に検査治具1を構成する。この検査治具1には、一例として、細長い薄板状の導電性のプローブピン10が複数収容されている。
本開示の第2実施形態のプローブピン10は、図7〜図10に示すように、接続部30が、半田付けにより電線の導体部200を接続可能な半田付け部35を有するように構成されている点で、第1実施形態とは異なっている。第2実施形態では、第1実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部20と、
前記弾性部20の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部200を接続可能な接続部30と
を備える。
前記接続部30が、前記第1方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して前記導体部200を挟持可能な一対の弾性挟持片32、33を有している。
前記接続部30が、半田付けにより前記導体部200を接続可能な半田付け部35を有している。
前記態様のプローブピン10と、
前記接続部30が外部に露出するように前記プローブピン10が収容された収容部110を有するハウジング100と
を備える。
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10が相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの前記電線の前記導体部200が接続されるプローブピン積層体2であり、
前記収容部110が、前記プローブピン積層体2を収容可能である。
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10であり、
前記収容部110が、各々に前記プローブピン10を少なくとも1つ収容可能な複数の前記収容部110であり、
前記収容部110の各々が、収容された前記プローブピン10の板厚方向に間隔を空けて並んで配置されていると共に、前記第1方向から見て、前記板厚方向に交差する第2方向に前記接続部30が交互にずれた千鳥状に配置されている。
2 プローブピン積層体
10 プローブピン
20 弾性部
201、202 直線部
203 湾曲部
21、22、23、24 帯状弾性片
25、26 帯状弾性片
27 直線帯部
28 湾曲帯部
30 接続部
31 本体部
32、33 弾性挟持片
34 隙間
341 端部
35 半田付け部
36 貫通孔
40 接触部
41 本体部
42、43 脚部
44 ストッパ
50 支持部
100 ハウジング
101 第1面
102 第2面
110 収容部
111 第1開口部
112 第2開口部
120 端子穴
200 導体部
300 接続端子
Claims (6)
- 第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、
前記弾性部の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部と
を備える、板状のプローブピン。 - 前記接続部が、前記第1方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して前記導体部を挟持可能な一対の弾性挟持片を有している、請求項1のプローブピン。
- 前記接続部が、半田付けにより前記導体部を接続可能な半田付け部を有している、請求項1のプローブピン。
- 請求項1から3のいずれか1つのプローブピンと、
前記接続部が外部に露出するように前記プローブピンが収容された収容部を有するハウジングと
を備える、検査治具。 - 前記プローブピンが、複数の前記プローブピンが相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの前記電線の前記導体部が接続されるプローブピン積層体であり、
前記収容部が、前記プローブピン積層体を収容可能である、請求項4の検査治具。 - 前記プローブピンが、複数の前記プローブピンであり、
前記収容部が、各々に前記プローブピンを少なくとも1つ収容可能な複数の前記収容部であり、
前記収容部の各々が、収容された前記プローブピンの板厚方向に間隔を空けて並んで配置されていると共に、前記第1方向から見て、前記板厚方向に交差する第2方向に前記接続部が交互にずれた千鳥状に配置されている、請求項4または5の検査治具。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08271547A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-10-18 | Nec Corp | プローブ装置 |
JP2004138405A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置測定用プローブ |
JP2009016291A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Sensata Technologies Massachusetts Inc | ソケット用アダプタ |
JP2009052913A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Yamaichi Electronics Co Ltd | 同軸型コンタクト及び同軸多芯コネクタ |
WO2017026304A1 (ja) * | 2015-08-07 | 2017-02-16 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを備えた検査治具 |
JP2017146119A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | オムロン株式会社 | プローブピンおよびこれを用いた検査装置 |
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Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2010025844A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Unitechno Inc | コンタクトプローブおよび検査用ソケット |
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US8970238B2 (en) * | 2011-06-17 | 2015-03-03 | Electro Scientific Industries, Inc. | Probe module with interleaved serpentine test contacts for electronic device testing |
JP5821432B2 (ja) * | 2011-09-05 | 2015-11-24 | 日本電産リード株式会社 | 接続端子及び接続治具 |
JP5879906B2 (ja) * | 2011-10-14 | 2016-03-08 | オムロン株式会社 | 接触子およびこれを用いたプローブ |
JP2017130421A (ja) * | 2016-01-22 | 2017-07-27 | 山一電機株式会社 | コンタクト端子、コンタクト支持体、および、それを備える接続装置 |
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KR101938387B1 (ko) * | 2017-02-16 | 2019-01-14 | (주)에이피텍 | 테스트 핀 및 이를 포함하는 테스트 장치 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08271547A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-10-18 | Nec Corp | プローブ装置 |
JP2004138405A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置測定用プローブ |
JP2009016291A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Sensata Technologies Massachusetts Inc | ソケット用アダプタ |
JP2009052913A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Yamaichi Electronics Co Ltd | 同軸型コンタクト及び同軸多芯コネクタ |
WO2017026304A1 (ja) * | 2015-08-07 | 2017-02-16 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを備えた検査治具 |
JP2017146119A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | オムロン株式会社 | プローブピンおよびこれを用いた検査装置 |
JP2017223628A (ja) * | 2016-06-17 | 2017-12-21 | オムロン株式会社 | プローブピン |
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