JP2020041188A - コネクタ等の電子部品用導電材料及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
・摩擦係数が低い(コネクタ挿入力の低減)
・良好なはんだ濡れ性を有する
・接触抵抗が安定している(接続信頼性が高い。例えば、160℃‐120h 加熱後も安定)
・微摺動摩耗性に優れる
・ウイスカが発生し難い
(2)Cuめっき(またはCu材)とSnめっきの加熱によりCu‐Sn金属間化合物を形成してCu−Sn合金被覆層とするため、合金層及び表層のSn被覆層の制御が非常に難しい。Sn被覆層が厚くなった場合、摩擦係数が上昇し、Sn被覆層が薄くなった場合、はんだが濡れず接触抵抗が上昇するためである。
(1)アルカリ電解脱脂
↓(水洗い)
(2)酸活性
↓(水洗い)
(3)Niめっき
↓(水洗い)
(4)Sn‐Cuめっき
↓(水洗い)
(5)Snめっき
↓(水洗い)
(6)乾燥
↓
(7)リフロー(溶融凝固)
※(1)(2)は前処理
「Sn溶融凝固層5」(最表層)について
(1)Snの単独めっきからなる。金属間化合物は存在しない。最表層がSn単独層であれば酸化物はSn酸化物のみとなる。Sn酸化物は、接触抵抗およびはんだ濡れ性に影響を与えにくく、接触抵抗およびはんだ濡れ性の良好な状態が保たれる。
ちなみに、最表層にCuまたはNi(の酸化物)が存在した場合、はんだ濡れ性が低下し、接触抵抗が上昇する。
(2)Sn溶融凝固層5は、Snをめっき溶融させることで形成される。
(3)溶融凝固により最終表面が平滑化する結果、摩擦係数の低減が図られる。
(4)しかし、Snめっきの厚さが0.2μm未満の場合、経時変化および加熱によって最表層にCu‐Sn金属間化合物が一定の割合で露出する。その結果Cu‐Sn金属間化合物の酸化によってはんだ濡れ性が悪くなる。
(5)Snめっきの厚さが0.8μmを超える場合、Sn層が厚く摩擦係数が高くなる。
(1)混在層は、Cu含有量がCu6Sn5金属間化合物の割合である54.5at%より少ない場合、SnとCu6Sn5金属間化合物のみが共存する状態となる。Cu含有量がCu6Sn5金属間化合物の割合である54.5at%を超える場合、Cu3Sn金属間化合物または単独Cuが存在することとなる。経時変化および加熱環境を考えた場合、Sn単独層である最表層のSn溶融凝固層5と混在層中のCu3Sn金属間化合物または単独Cuが反応し、最表層にCu‐Sn金属間化合物が生成され、はんだ濡れ性が低下し、接触抵抗が上昇する。つまり、CuがCu6Sn5金属間化合物の割合よりも多い環境では、Sn単独層は存在しえない。最表層にSn単独層を残存させることを前提に考えた場合、Cu6Sn5金属間化合物の割合に対し、Sn過多な環境が必要である。
Sn‐Cuめっきの厚さが5.0μmを超える場合、生産効率が悪い。加えて、その金属間化合物は硬度が高いため材料としての加工性が低下する。
Niめっきの厚さが0.2μm未満の場合、拡散防止層としての役割を果たせない。Niめっきの厚さが3.0μmを超える場合、生産効率が悪い。加えて硬度が高いため、材料としての加工性が低下する。
比較例2では、ブランクは最表層に残存するSnめっきの厚さを制御しているため、摩擦係数、はんだ濡れ性、接触抵抗について良好な結果が得られているものの、熱処理後に接触抵抗が高くなった。
比較例3では、めっき後に溶融凝固処理を実施していないため、経時変化および加熱によって、はんだ濡れ性が悪くなり熱処理480h後の接触抵抗が高くなった。
比較例5では、最表層のSnめっきが厚く、摩擦係数が高くなった。
比較例6では、Sn‐Cuめっきが薄く、熱処理後の接触抵抗が高くなった。
比較例7では、Niめっきが薄く、熱処理480h後の接触抵抗が高くなった。
比較例8では、Sn‐Cuめっき中のCu含有率が低く、熱処理後の接触抵抗が高くなった。
比較例9では、Sn‐Cuめっきの中のCu含有率が高く、はんだ濡れ性が悪くなり接触抵抗が高くなった。
集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000(日本電子(株))を用いて試験片を板厚方向に切断し、露出した断面を付属の走査イオン顕微鏡により10000倍で観察した。
<合金層中のCu含有量測定方法>
Snめっき前の試験片に対し、エネルギー分散型X線分析装置JED-2300(日本電子(株))を用いて定量分析を実施した。
<摩擦係数測定試験>
平板状試験片(雄端子としての試験片)および内径φ1mmの半球状加工を施したインデント付き試験片(雌端子としての試験片)を用いて評価を実施した。まず、平板状試験片を水平なステージ上に固定し、その試験片にインデント付き試験片のインデント部が接触するよう、上方にインデント付き試験片を設置した。続いて、インデント試験片に300gfの荷重をかけて平板状試験片に押し付けた状態で、平板状試験片を固定したステージを水平方向に80mm/minの速度で移動させ、摺動距離20mmまでの平均摩擦力を測定した。測定した摩擦力より摩擦係数を算出した。
<はんだ濡れ性試験>
平板状試験片に対し打ち抜き加工を行い、3mm×15mmの試験片を作成した。試験装置はソルダーチッカSAT5200型(レスカ(株))を用い、JISC60068‐2‐54に基づいて試験を実施した。
<接触抵抗測定試験>
平板状試験片に対し、熱処理を行っていないもの、大気中にて160℃×120hの熱処理を行ったもの、大気中にて160℃×480hの熱処理を行ったもの、を作成した。試験装置は、電気接点シミュレータCRS‐112‐MU型((株)山崎精機研究所)を用いて評価を実施した。四端子法により、荷重100gfの条件で測定した。
<微摺動摩耗試験>
精密摺動試験装置CRS−G2050型((株)山崎精機研究所)を用い、平板状試験片(雄端子としての試験片)および内径φ1mmの半球状加工を施したインデント付き試験片(雌端子としての試験片)を用いて評価を実施した。荷重3N 振幅0.05mm、速度0.1mm/secとして、10000往復まで繰り返し振動させた際の接触抵抗の変化を四端子法により測定した。
2 Ni層
3 Cu‐Ni‐Sn合金層
4 混在層
4‐1 Sn
4‐2 Cu6Sn5金属間化合物
5 Sn溶融凝固層
Claims (4)
- CuまたはCu合金基材を母材として最表面にSn表層を設けた電子部品用導電材料において、該表層がSnめっき層を一旦溶融してなる厚さ0.2〜0.8μmのSn単独の凝固層として形成され、その下地の下層は、SnとCuの総量に対するCuの含有量が10.0〜54.5at%であり、SnとCu6Sn5金属間化合物が混在した層厚0.3〜5.0μmの混在層として形成してあって、さらに、母材と該混在層との間に層厚が0.2〜3.0μmのNi層を設けたことを特徴とする電子部品用導電材料。
- 前記Ni層と混在層との間にCu‐Ni‐Sn合金層を設けたことを特徴とする請求項1記載の電子部品用導電材料。
- CuまたはCu合金基材を母材として最表面にSn表層を設けた電子部品用導電材料の製造方法において、母材の上方部に層厚が0.3〜5.0μmかつSnとCuの総量に対するCuの含有量が10.0〜54.5at%であるSn‐Cuめっきを施し、その上に層厚0.2〜0.8μmのSnめっきを施した後、溶融し冷却により凝固させることによって、前記Sn‐Cuめっき層をCu6Sn5金属間化合物とSnが混在した層とするとともに、Sn溶融凝固層を前記Sn表層として形成することを特徴とする電子部品用導電材料の製造方法。
- 母材の上に、前記混在層を形成する前に、層厚が0.2〜3.0μmのNiめっきによりNi層を形成することを特徴とする請求項3記載の電子部品用導電材料の製造方法。
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