JP2019513290A - 基板を真空処理するための装置、基板を真空処理するためのシステム、及び、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法 - Google Patents

基板を真空処理するための装置、基板を真空処理するためのシステム、及び、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法 Download PDF

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Abstract

基板を真空処理するための装置について説明する。この装置は、真空チャンバと、基板搬送アセンブリと、マスク搬送アセンブリと、位置合わせシステムであって、アクチュエータ、及び、アクチュエータと真空チャンバとの間の機械的分離素子を有する、位置合わせシステムとを、含む。【選択図】図3A

Description

本開示の実施形態は、基板を真空処理するための装置、基板を真空処理するためのシステム、及び、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法に関する。本開示の実施形態は特に、有機発光ダイオード(OLED)デバイスの製造で使用される基板及びマスクを保持するためのキャリアに関する。
基板上に層を堆積させる技法には、例えば、熱蒸発、物理的気相堆積(PVD)、及び化学気相堆積(CVD)が含まれる。コーティングされた基板は、いくつかの応用、及びいくつかの技術分野において使用されうる。例えば、コーティングされた基板は、有機発光ダイオード(OLED)デバイスの分野で使用されうる。OLEDは、情報を表示するためのテレビ画面、コンピュータモニタ、携帯電話、その他の携帯型デバイスなどの製造において、使用されうる。OLEDディスプレイなどのOLEDデバイスは、2つの電極の間に置かれた有機材料の一又は複数の層を含んでよく、かかる層は全て、基板上に堆積される。
OLEDデバイスの機能性は、有機材料のコーティング厚さに依拠しうる。この厚さは、所定の範囲内でなければならない。OLEDデバイスの生産において、高解像度のOLEDデバイスを実現するためには、蒸発材料の堆積に関する技術的な問題が存在する。詳細には、処理システムを通して、正確かつ滑らかに基板キャリア及びマスクキャリアを搬送することは、依然として困難である。更に、マスクに対する基板の精密な位置合わせは、例えば高解像度のOLEDデバイスの生産に関して、高品質の処理結果を実現するために重要である。
上記を鑑みるに、当該技術分野における問題のうちの少なくとも一部を克服する、基板を真空処理するための新たなキャリア、基板を真空処理するための新たなシステム、及び、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための新たな方法は、有益である。本開示は特に、真空チャンバ内で効率的に搬送されうるキャリアを提供することを目指すものである。
上記を踏まえて、基板を真空処理するための装置、基板を真空処理するためのシステム、及び、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法が、提供される。本開示の更なる態様、利点、及び特徴は、特許請求の範囲、明細書、及び添付図面から明らかになる。
本開示の一態様により、基板を真空処理するための装置が提供される。この装置は、真空チャンバと、基板搬送アセンブリと、マスク搬送アセンブリと、位置合わせシステムであって、アクチュエータ、及びアクチュエータと真空チャンバとの間の機械的分離素子を有する、位置合わせシステムとを、含む。
本開示の一態様により、基板を真空処理するための装置が提供される。この装置は、真空チャンバと、基板軌道アセンブリと、マスク軌道アセンブリと、位置合わせシステムであって、アクチュエータ、及びアクチュエータと真空チャンバとの間の機械的分離素子を有する、位置合わせシステムとを、含む。
本開示の一態様により、基板を真空処理するためのシステムが提供される。このシステムは、上述の実施形態による基板を真空処理するための装置と、基板キャリアと、マスクキャリアとを含む。
本開示の更なる態様により、処理チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法が提供される。この方法は、真空チャンバ内で、位置合わせシステムのアクチュエータを用いて、基板キャリアとマスクキャリアとを互いに対して位置合わせすることと、真空チャンバからアクチュエータに伝わる機械的ノイズ、動的変形、及び静的変形のうちの少なくとも1つを補償するか、又は低減させることとを、含む。
実施形態は、開示されている方法を実行するための装置も対象としており、説明されている各方法態様を実施するための装置部分を含む。これらの方法態様は、ハードウェア構成要素を用いて、適切なソフトウェアによってプログラミングされたコンピュータを用いて、これらの2つの任意の組合せによって、又は、それ以外の任意の様態で、実施されうる。更に、本開示による実施形態は、説明されている装置を動作させる方法も対象とする。説明されている装置を動作させる方法は、装置のあらゆる機能を実行するための方法態様を含む。
本発明の上述の特徴を詳しく理解しうるように、上記で簡潔に要約した本発明の、より詳細な説明が、実施形態を参照することによって得られる。添付図面は本開示の実施形態に関するものであり、かかる図面について下記で説明する。
本書に記載の実施形態による、第1軌道アセンブリ又は第1搬送アセンブリ、及び基板キャリアの概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、第2軌道アセンブリ又は第2搬送アセンブリ、及びマスクキャリアの概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の更なる実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の更なる実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の更なる実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、基板を真空処理するためのシステムの概略図を示す。 本書に記載の実施形態による、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを搬送するための方法のフロー図を示す。 本書に記載の更なる実施形態による、位置合わせシステム又は保持機構を有する、基板を真空処理するための装置の一部分の概略図を示す。 本書に記載の一部の実施形態による、例えば図9Aの装置において利用される位置合わせフレームを示す。
これより、本開示の様々な実施形態を詳しく参照し、かかる実施形態の一又は複数の例を図に示す。図面ついての下記の説明においては、同じ参照番号は同じ構成要素を表わす。概括的には、個々の実施形態に関する相違についてのみ説明する。各例は、本開示を解説するために提示されており、本開示を限定することを意図するものではない。更に、1つの実施形態の一部として図示又は説明されている特徴は、また更なる実施形態をもたらすために、他の実施形態で使用されることも、他の実施形態と併用されることも可能である。本明細書はかかる修正例及び変形例を含むことが、意図されている。
本開示は、少なくとも1つの寸法が同等にサイズ決定されうる、基板キャリア向けの第1軌道アセンブリ又は第1搬送アセンブリと、マスクキャリア向けの第2軌道アセンブリ又は第2搬送アセンブリとを、提供する。換言すると、マスクキャリアは第1軌道機構に適合してよく、基板キャリアは第2軌道機構に適合しうる。第1軌道機構及び第2軌道機構は、真空システムを通る、正確かつ滑らかなキャリアの搬送を提供すると共に、柔軟に使用されうる。軌道アセンブリとは、キャリアを搬送するための軌道のことであり、ゆえに、搬送アセンブリと称されうる。位置合わせシステム又は保持機構により、マスクに対する基板の(又はその逆の)精密な位置合わせが可能になる。例えば高解像度のOLEDデバイスの生産に関して、高品質の処理結果が実現されうる。
図1Aは、第1搬送アセンブリ110、及び基板キャリア120の概略図を示している。図1Bは、第2搬送アセンブリ110、及びマスクキャリア140の概略図を示している。図2は、本書に記載の実施形態による、基板10を真空処理するための装置200の概略図を示している。
装置200は、真空チャンバと、基板キャリア120を搬送するよう構成された第1搬送アセンブリ110と、マスクキャリア140を搬送するよう構成された第2搬送アセンブリ130と、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置付けるよう構成された、位置合わせシステムとを、含む。第1搬送アセンブリ110は、基板10の第1端部12の側で基板キャリア120を支持するよう構成された、第1軌道112などの第1部分と、基板10の第1端部12の反対側の、基板10の第2端部14の側で、基板キャリア120を駆動又は支持するよう構成された、第2軌道114などの第2部分とを、含む。第2搬送アセンブリ130は、マスク20の第1端部22の側でマスクキャリア140を支持するよう構成された、更なる第1軌道132などの更なる第1部分と、マスク20の第1端部22の反対側の、マスク20の第2端部24の側で、マスクキャリア140を支持するよう構成された、更なる第2軌道134などの更なる第2部分とを、含む。第1搬送アセンブリ110の第1部分と第2部分との間の第1距離Dと、第2搬送アセンブリ130の更なる第1部分と更なる第2部分との間の第2距離D’とは、一部の実施形態に関しては、実質的に同等であるか、又は実質的に同じでありうる。距離(複数可)は第2方向(y方向)に画定されてよく、第2方向とは、実質的に垂直な方向でありうる。
本書に記載の実施形態は、位置合わせシステムを用いる、基板キャリアとマスクキャリアとの位置合わせに言及している。位置合わせシステムは、振動ダンパ又は揺動ダンパなどの機械的分離素子により、真空チャンバに装着される。更に、基板キャリア及びマスクキャリアに接続されている位置合わせシステムのアクチュエータが、機械的分離素子を介して(特に、機械的分離素子を介してのみ)、真空チャンバに接続される。つまり、基板キャリアとマスクキャリアとの間の機械的接続経路は、直接経路である(すなわち、真空チャンバ又は真空チャンバの壁を介さない)。
かかる位置合わせシステムは、2つの距離(すなわち第1距離Dと第2距離D’)が実質的に同じである軌道アセンブリに関して、特に有益でありうる。第1の搬送アセンブリ110又は軌道アセンブリは、マスクキャリア140を搬送できるようにもサイズ決定されてよく、第2の搬送アセンブリ130又は軌道アセンブリは、基板キャリア120を搬送できるようにもサイズ決定されうる。第1搬送アセンブリ110及び第2搬送アセンブリ130は、真空システムを通る、正確かつ滑らかなキャリアの搬送を提供すると共に、柔軟に使用されうる。
本開示全体を通じて使用される「実質的に同等(essentially equal)」又は「実質的に同じ(essentially the same)」という文言は、特に、第1部分と第2部分との間の距離D及びD’などの距離に言及する際には、厳密な一様性/同一性からの若干のずれを許容すると理解される。一例としては、第2距離D’は、D±(5%×D)の範囲内でありうるか、又は、D±(1%×D)の範囲内でありうる。このずれは、製造許容差及び/又は熱膨張によるものでありうる。それでもなお、これらの距離は、実質的に同等又は実質的に同じであると見なされる。
真空チャンバはチャンバ壁201を含みうる。図2に例示的に示しているように、第1搬送アセンブリ110及び第2搬送アセンブリ130は、真空チャンバのチャンバ壁201と一又は複数の堆積源225との間に配置されうる。詳細には、第1搬送アセンブリ110は、チャンバ壁201と第2搬送アセンブリ130との間に配置されうる。同様に、第2搬送アセンブリ130は、第1搬送アセンブリ110と一又は複数の堆積源225との間に配置されうる。
図1Aを参照するに、基板キャリア120は、支持面122を提供する支持構造物又は支持本体を含みうる。支持面122は、例えば基板の裏面に接触するよう構成された、実質的に平坦な表面でありうる。詳細には、基板10は、裏面の反対側の前面(「処理面」とも称される)であって、真空堆積プロセスなどの真空処理中にその面に層が堆積される、前面を有しうる。基板10の第1端部12は基板10の第1エッジであってよく、基板10の第2端部14は基板10の第2エッジでありうる。処理面は、第1端部又は第1エッジと第2端部又は第2エッジとの間に延在しうる。第1端部(又は第1エッジ)と第2端部(又は第2エッジ)とは、例えば第1方向に、互いに実質的に平行に延在しうる。同様に、マスク20の第1端部22はマスク20の第1エッジであってよく、マスク20の第2端部24はマスクの第2エッジでありうる。第1端部(又は第1エッジ)と第2端部(又は第2エッジ)とは、例えば第1方向(x方向でありうる)に、互いに実質的に平行に延在しうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、基板キャリア120は、基板キャリア120に(特に支持面122に)基板10(とオプションでマスク)を保持するための静電力を供給する、静電チャック(E−チャック)でありうる。一例としては、基板キャリア120は、基板10とマスク20の少なくとも一方に作用する取り付け力を供給するよう構成された、電極配列(図示せず)を含む。
一部の実施形態により、基板キャリア120は、支持面122に基板10とマスク20の少なくとも一方を保持するための誘引力を供給するよう構成された複数の電極を有する電極配列と、コントローラとを含む。コントローラは、電極配列に一又は複数の電圧を印加して、誘引力(チャック力とも称される)を供給するよう、構成されうる。
電極配列の複数の電極は、本体に埋め込まれうるか、又は、本体に設けられ(例えば載置され)うる。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、本体は、誘電体プレートなどの誘電本体である。誘電本体は、誘電体材料(好ましくは、熱分解性窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、アルミナ、又は相当材などの高熱伝導性誘電材料)から製造されうるが、ポリイミドなどの材料から作られてもよい。一部の実施形態では、微細金属帯の格子などの複数の電極が、誘電体プレートに載置され、薄型誘電体層で覆われうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、基板キャリア120は、複数の電極に一又は複数の電圧を印加するよう構成された、一又は複数の電圧源を含む。一部の実行形態では、一又は複数の電圧源は、複数の電極のうちの少なくともいくつかの電極を接地させるよう構成される。一例としては、一又は複数の電圧源は、第1極性を有する第1電圧と、第2極性を有する第2電圧とを複数の電極に印加し、かつ/又は、複数の電極を接地させるよう、構成されうる。
本開示において、「マスクキャリア(mask carrier)」とは、マスクを保持するよう構成されているキャリアであると理解されたい。例えば、マスクはエッジ除外マスク又はシャドウマスクでありうる。エッジ除外マスクとは、基板のコーティング中に基板の一又は複数のエッジ領域に材料が堆積しないように、この一又は複数のエッジ領域をマスキングするよう構成されているマスクである。シャドウマスクとは、基板上に堆積されるべき複数のフィーチャをマスキングするよう構成されたマスクである。例えば、シャドウマスクは、複数の小型開口(例えば小型開口の格子)を含みうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、第1の搬送アセンブリ110又は軌道アセンブリ、及び、第2の搬送アセンブリ130又は軌道アセンブリは、実質的に水平な方向でありうる第1方向(x方向)に延在する。詳細には、第1部分、第2部分、更なる第1部分、及び更なる第2部分は、全て第1方向に延在しうる。換言すると、第1部分、第2部分、更なる第1部分、及び更なる第2部分は、互いに実質的に平行に延在しうる。第1部分、第2部分、更なる第1部分、及び更なる第2部分の延在部は、「長手方向の延在部(longitudinal extension)」とも称されうる。
一部の実行形態では、第1搬送アセンブリ110は、少なくとも第1方向に基板キャリア120を搬送するよう構成される。同様に、第2搬送アセンブリ130は、少なくとも第1方向にマスクキャリア140を搬送するよう構成されうる。第1の方向は「搬送方向(transport direction)」とも称されうる。
一部の実施形態により、第1軌道112などの第1部分、及び、更なる第1軌道132などの更なる第1部分は、第1方向及び第1方向に対して直角な別の方向によって画定される第1平面内に配置される。同様に、第2軌道114などの第2部分、及び、更なる第2軌道134などの更なる第2部分は、第1方向及びもう1つの方向によって画定される第2平面内に配置されうる。第1平面と第2平面とは、互いに実質的に平行でありうる。一部の実行形態では、第1平面及び第2平面は、実質的に垂直な平面、又は実質的に水平な平面でありうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、第1方向は水平方向(x方向)でありうる。もう1つの方向とは、もう1つの水平方向、又は垂直方向でありうる。一例としては、もう1つの方向とは、実質的に垂直な方向でありうる第2方向(y方向)でありうるか、又は、実質的に水平な方向でありうる第3方向(z方向)でありうる。
一部の実施形態では、第1距離D及び第2距離D’は、第1方向に対して直角な方向、及び、第2方向(y方向)などのもう1つの方向において、画定される。第1距離Dは、第1部分と第2部分との間の間隔(例えば、互いに面している、第1部分と第2部分の最外面又はエッジ面の間の間隔)でありうる。同様に、第2距離D’は、更なる第1部分と更なる第2部分との間の間隔(例えば、互いに面している、更なる第1部分と更なる第2部分の最外面又はエッジ面の間の間隔)でありうる。
一部の実施形態により、第1軌道112などの第1部分と、もう1つの第1軌道132などのもう1つの第1部分との間の第3距離又は第3間隔は、100mm以下、具体的には70mm以下、具体的には50mm以下、より具体的には40mm以下でありうる。同様に、第2軌道114などの第2部分と、もう1つの第2軌道134などのもう1つの第2部分との間の第4距離又は第4間隔は、200mm以下、100mm以下、具体的には70mm以下、より具体的には50mm以下でありうる。第3距離と第4距離とは、実質的に同じでありうる。一部の実行形態では、第3距離及び第4距離は、垂直方向でありうる第2方向(y方向)に画定されうるか、又は、水平方向でありうる第3方向(z方向)に画定されうる。後者の場合を図2に示している。距離又は間隔は、互いに面している、対応する2つの部分のエッジ又は表面の間に画定されうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、装置200は、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を非接触浮上させ、かつ/又は非接触搬送するよう、構成されうる。一例としては、装置200は、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を非接触浮上させるよう構成された、ガイド構造を含みうる。同様に、装置200は、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を非接触搬送するよう構成された、駆動構造を含みうる。第2軌道114及び更なる第2軌道は、キャリアを浮上させるための支持機構として設けられてよく、第1軌道及び更なる第1軌道は、例えばx方向に沿って搬送を行う駆動力のための駆動構造として、設けられうる。詳細には、キャリアは、機械的な力の代わりに磁力を使用して、浮上状態又は浮遊状態で保持されうる。例えば、一部の実行形態では、特に基板キャリア及び/又はマスクキャリアを浮上させ、動かし、かつ位置付けている時に、キャリアと搬送軌道との間に機械的接触がないこともある。
キャリア(複数可)の非接触型の浮上及び/又は搬送は、搬送中に、例えばガイドレールとの機械的接触によって、粒子が発生することがないという点で、有益である。非接触型の浮上及び/又は搬送を使用すれば粒子発生が最少化されることから、基板10に堆積される層の純度及び均一性の向上がもたらされうる。
一部の実行形態では、基板キャリア120は第1寸法H(又は第1延在部)を有し、マスクキャリア140は更なる第1寸法H’(又は更なる第1延在部)を有する。第1寸法H及び更なる第1寸法H’は、第1方向に対して直角な方向に画定されうる。第1寸法Hと更なる第1寸法H’とは、実質的に同じでありうる。
一部の実施形態により、第1寸法H及び更なる第1寸法H’は、第1距離D及び第2距離D’と同等であるか、又はそれらを下回る。換言すると、基板キャリア120及びマスクキャリア140は、第1部分と第2部分との間の間隙よりも小さい。
第1間隙G1と、第2間隙G2と、更なる第1間隙G1’と、更なる第2間隙G2’とは、実質的に同じ又は同等でありうる。間隙(複数可)の寸法又は幅は、第2方向などの、第1方向に対して直角な方向に画定されうる。一例としては、第1間隙G1、第2間隙G2、更なる第1間隙G1’、及び更なる第2間隙G2’は、30mm未満、具体的には10mm未満、より具体的には5mm未満でありうる。一例としては、第1間隙G1、第2間隙G2、更なる第1間隙G1’、及び更なる第2間隙G2’のうちの少なくとも1つは、1から5mmの範囲内、好ましくは1から3mmの範囲内でありうる。
一又は複数の堆積源225が、真空チャンバ内に設けられうる。基板キャリア120は、真空堆積プロセス中に基板10を保持するよう構成されうる。真空システムは、例えば、OLEDデバイスの製造のための有機材料を蒸発させるよう構成されうる。一例としては、一又は複数の堆積源225は、蒸発源(特に、基板に一又は複数の有機材料を堆積させてOLEDデバイスの層を形成するための蒸発源)でありうる。基板10を支持する基板キャリア120は、第1搬送アセンブリ110によって提供される線形搬送経路などの搬送経路に沿って、真空チャンバを通って真空チャンバ内へと(特に、堆積エリアを通ってかつ/又は堆積エリア内へと)搬送されうる。
材料は、一又は複数の堆積源225から、コーティングされるべき基板10が置かれている堆積エリアに向けて放出方向に、放出されうる。例えば、一又は複数の堆積源225は、一又は複数の堆積源225の長さに沿った少なくとも1本の線状に配置されている複数の開口及び/又はノズルを有する、線源(line source)を提供しうる。材料は、複数の開口及び/又はノズルを通じて噴射されうる。
本開示の装置は、キャリア(特に基板キャリア及び/又はマスクキャリア)を位置付けるよう構成されうる。詳細には、装置は、搬送アセンブリに沿って基板キャリア及び/又はマスクキャリアを動かすよう構成されうる。より具体的には、装置は、第1搬送アセンブリに沿って基板キャリアを動かすことによって、基板キャリアを第1位置に位置付けるよう、構成されうる。加えて、装置は、第2搬送アセンブリに沿ってマスクキャリアを動かすことによって、マスクキャリアを第2位置に位置付けるよう、構成されうる。例えば、第1の搬送アセンブリ又は軌道アセンブリ、及び、第2の搬送アセンブリ又は軌道アセンブリは、非接触搬送を行うよう構成されうる。したがって、装置は、基板キャリアとマスクキャリアとが互いに対して相対的に位置付けられうるように、基板キャリアとマスクキャリアとを互いとは別々に動かすよう(例えば、基板キャリアとマスクキャリアとを位置合わせするよう)、構成されうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、キャリアは、実質的に垂直な配向で、基板及びマスクを保持又は支持するよう、構成される。本開示全体を通じて使用される「実質的に垂直(substantially vertical)」という文言は、特に基板配向を表わす場合、垂直の方向又は配向から±20°以下(例えば、±10°以下)のずれを許容すると、理解される。例えば、垂直配向からいくぶんずれている基板支持体により、より安定した基板位置がもたらされるという理由で、このずれが提供されうる。更に、基板が前方に傾いて(tilted)いれば、基板表面に到達する粒子が少なくなる。ただし、例えば真空堆積プロセス中の基板配向は、実質的に垂直であるとみなされ、これは、水平の基板配向とは異なるとみなされる。水平の基板配向は、水平±20°以下であると考えられうる。
「垂直方向(vertical direction)」又は「垂直配向(vertical orientation)」という語は、「水平方向(horizontal direction)」又は「水平配向(horizontal orientation)」とは区別されると理解される。つまり、「垂直方向」又は「垂直配向」は、例えばキャリアの実質的に垂直な配向に関連するものであり、厳密な垂直方向又は垂直配向からの数度(例えば、最大10°、又は更に最大15°)のずれは、依然として「実質的に垂直な方向」又は「実質的に垂直な配向」であると見なされる。垂直方向は、重力に実質的に平行でありうる。
本書に記載の実施形態は、例えば、OLEDディスプレイを製造するための大面積基板における蒸発に利用されうる。具体的には、本書に記載の実施形態による構造体及び方法の対象となる基板が大面積基板である。例えば、大面積の基板又はキャリアは、約0.67mの表面積(0.73×0.92m)に対応するGEN4.5、約1.4mの表面積(1.1m×1.3m)に対応するGEN5、約4.29mの表面積(1.95m×2.2m)に対応するGEN7.5、約5.7mの表面積(2.2m×2.5m)に対応するGEN8.5、又は更に、約8.7mの表面積(2.85m×3.05m)に対応するGEN10でありうる。GEN11及びGEN12などの更なる次世代、及びそれに相当する表面積も、同様に実装されうる。OLEDディスプレイの製造においては、ハーフサイズのGEN世代も提供されうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、基板厚さは0.1から1.8mmでありうる。この基板厚さは、約0.9mm以下(0.5mmなど)でありうる。本書において「基板(substrate)」という語は、例えばウエハ、サファイアなどのような透明結晶体のスライス、又はガラスプレートといった実質的に非フレキシブルな基板を、特に包含しうる。しかし、本開示がこれらに限定されることはなく、「基板」という語はウェブやホイルなどのフレキシブル基板も包含しうる。「実質的に非フレキシブル(substantially inflexible)」という語は、「フレキシブル(flexible)」とは区別して理解される。具体的には、0.9mm以下(例えば0.5mm以下)の厚さを有するガラスプレートなどの実質的に非フレキシブルな基板も、ある程度の柔軟性を有しうるが、実質的に非フレキシブルな基板の可撓性は、フレキシブル基板と比較して低い。
本書に記載の実施形態により、基板は、材料堆積に適した任意の材料で作られうる。例えば、基板は、ガラス(例えばソーダ石灰ガラス、ホウケイ酸ガラスなど)、金属、ポリマー、セラミック、複合材料、炭素繊維材料、又は、堆積プロセスによってコーティングされうる他の任意の材料、若しくはかかる材料の組合せからなる群から選択された材料で、作られうる。
「マスキング(masking)」という語は、基板10の一又は複数の領域への材料の堆積を減少させ、かつ/又は妨げることを含みうる。マスキングは、例えばコーティングされるべき区域を画定するために、有用でありうる。一部の応用では、基板10は部分的にのみコーティングされ、コーティングされない部分がマスクによって覆われる。
図3Aは、本書に記載の更なる実施形態による、真空処理のための装置300の概略図を示している。
装置300は、保持機構(例えば位置合わせシステム310)を含む。位置合わせシステム310は、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置付けるよう、構成されうる。一例としては、位置合わせシステム310は、マスクキャリア140が静止したままである間に基板キャリア120を動かすことよって、又は、基板キャリア120が静止したままである間にマスクキャリア140を動かすことによって、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置合わせするよう、構成されうる。また更なる例では、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置付けるか又は位置合わせするために、基板キャリア120とマスクキャリア140の両方が動かされうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、位置合わせシステム310などの保持機構は、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を保持するよう構成されうる。位置合わせシステム310は、少なくとも部分的に、第1搬送アセンブリと第2搬送アセンブリとの間に配置されうる。一例としては、位置合わせシステム310の一又は複数の保持デバイス(第1マウント316及び第2マウント314など)は、第1軌道112などの第1部分と、更なる第1軌道132などの更なる第1部分との間に配置されうる。位置合わせシステム310の一又は複数の更なる保持デバイスが、第2軌道114などの第2部分と、更なる第2軌道134などの更なる第2部分との間に配置されうる。位置合わせシステム310を少なくとも部分的に第1搬送アセンブリと第2搬送アセンブリとの間に提供することによって、基板キャリア120とマスクキャリア140の位置合わせの改善がもたらされうる。
一部の実行形態では、位置合わせシステム310は、搬送方向(x方向)に平行な移動方向、及び/又は、基板搬送方向(すなわち第1方向)とは異なる移動方向に可動であるよう構成された、一又は複数の保持デバイス(第1マウント316及び第2マウント314など)を含む。図3Aに矢印で示したアクチュエータ318が、第1マウント316と第2マウントとを互いに対して動かしうる。例えば、一又は複数の保持デバイスは、基板表面の平面に実質的に平行な方向、及び/又は実質的に垂直な方向に、可動であるよう構成されうる。
基板キャリア及びマスクキャリアを支持する保持機構、又は、これらのキャリアをそれぞれ支持し、位置合わせするための位置合わせシステムが、提供される。位置合わせシステムは、基板キャリアとマスクキャリアの少なくとも一方に接続可能な、2つ以上のアクチュエータを含みうる。例えば、図3Aに、上側アクチュエータ318と下側アクチュエータ318とを図示している。アクチュエータは、長方形のキャリアの4つの角部全てに隣接して提供されうる。位置合わせシステムは、基板キャリアを、第1平面内に、又は第1平面に平行に支持するよう、構成される。2つ以上のアクチュエータのうちの第1アクチュエータは、基板キャリアとマスクキャリアとを、少なくとも第1方向に、互いに対して動かすよう構成されうる。2つ以上のアクチュエータのうちの第2アクチュエータは、基板キャリアとマスクキャリアとを、少なくとも、第1方向、及び第1方向とは異なる第2方向に、互いに対して動かすよう構成されてよく、第1方向及び第2方向は第1平面内にある。また更に、2つ以上の位置合わせアクチュエータのうちの少なくとも1つのアクチュエータは、基板120とマスクキャリア140とを、第3方向(図3AのZ方向)に、互いに対して動かすよう構成されてよく、詳細には、第3方向は、第1平面及び/又は基板表面11に対して実質的に直角である。一部の実施形態では、例えば4つのアクチュエータのうちの少なくとも1つのアクチュエータは、第1方向又は第2方向にキャリアを能動的に動かすようには構成されず、第3方向にのみ動かすよう構成される。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、第1アクチュエータが、第2方向(例えば図3Aのy方向)に浮遊を行うことがある。「浮遊(floating)」という語は、アクチュエータが、例えば別のアクチュエータによって駆動されるキャリアの第2方向への移動を、可能にすることであると理解されうる。一例としては、第1アクチュエータは、基板キャリア120を第1方向に能動的に動かすよう構成され、かつ、基板キャリア120の第2方向への移動を受動的に可能にするよう構成される。一部の実行形態では、「浮遊」という語は、「自由に移動可能」ということであると理解されうる。
一部の実行形態では、マスクキャリア140は、位置合わせシステム310が提供される所定の位置まで、第2搬送アセンブリで搬送されうる。アクチュエータが、マスクキャリア140を所定の位置に動かしうる。その後、基板キャリア120が、マスクキャリア140に対応する所定の位置まで、第1搬送アセンブリで搬送されうる。第1マウントと第2マウントのそれぞれによってキャリアに接続されているアクチュエータが、マスクキャリアと基板キャリアとを互いに対して位置合わせする。位置合わせの後に、例えば磁力又は電磁力を用いてチャックすることなどによって、基板に対してマスクが固定されうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、保持機構は、マスクキャリア140に対して基板キャリア120を位置合わせするよう構成された、位置合わせシステムでありうるか、又はかかる位置合わせシステムを含みうる。詳細には、位置合わせシステムは、マスクキャリア140に対する基板キャリア120の位置を調整するよう構成されうる。例えば、位置合わせシステムは、2つ以上のアクチュエータ(例えば4つのアクチュエータ)を含みうる。例えば、位置合わせシステムは、有機材料などの材料堆積中に基板10とマスク20との間で適切な位置合わせを行うために、マスク20を保持しているマスクキャリア140に対して、基板10を保持している基板キャリア120を位置合わせするよう、構成されうる。
一部の実行形態では、マスクキャリア140は、第2搬送アセンブリで、所定のマスク位置へと動かされうる。その後、保持機構又は位置合わせシステム310により、マスクキャリア140の保持が行われうる。マスクキャリア140が位置付けられた後に、基板キャリア120が、所定の基板位置へと動かされうる。その後、保持機構又は位置合わせシステム310により、基板キャリア120の保持が行われうる。基板キャリア120は次いで、例えば本書に記載の位置合わせシステムによって、マスクキャリア140に対して位置合わせされうる。
一部の実行形態では、位置合わせシステムは、基板キャリア120とマスクキャリア40とを互いに対して位置付けるための一又は複数のアクチュエータを含む。一例としては、この2つ以上のアクチュエータは、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置付けるための、圧電アクチュエータでありうる。しかし、本開示は圧電アクチュエータに限定されるわけではない。一例としては、2つ以上の位置合わせアクチュエータは、電動アクチュエータ又は空気圧アクチュエータでありうる。2つ以上の位置合わせアクチュエータは、例えば、線形位置合わせアクチュエータでありうる。一部の実行形態では、2つ以上の位置合わせアクチュエータは、ステッパアクチュエータ、ブラシレスアクチュエータ、DC(直流電流)アクチュエータ、ボイスコイルアクチュエータ、圧電アクチュエータ、空気圧アクチュエータ、及びそれらの任意の組み合わせからなる群から選択された、少なくとも1つのアクチュエータを含みうる。
一部の実施形態により、一又は複数のアクチュエータは、第1搬送機構と第2搬送機構との間に提供されうる。詳細には、一又は複数の位置合わせアクチュエータは、基板キャリア120とマスクキャリア140との間に提供されうる。一又は複数の位置合わせアクチュエータは、省スペースな様態で実装され、装置の設置面積を減少させうる。更に、第1マウントからアクチュエータを介して第2マウントまでの機械的接続経路が、短く(例えば、最大で、それぞれの所定の位置にあるマスクキャリアと基板キャリアとの間の距離の300%、具体的には、最大でかかる距離の150%に)なりうる。
本開示の一部の実施形態により、位置合わせシステム310は、マスクキャリア及び/又は基板キャリアを保持するよう構成されうる。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、位置合わせシステムは、少なくとも2つのユニットであって、各々が第1マウント、第2マウント、及び、第1マウントと第2マウントとの間のアクチュエータを有するユニットを含みうる。マウントは、マスクキャリア又は基板キャリアに設けられた少なくとも1つの対応する接続素子に接続されるよう構成されうる、受容部を有しうる。例えば、少なくとも1つの対応する接続素子は、ロックボルトとして構成されうる。マスクキャリア及び/又は基板キャリアが所定の位置にある時に、有利には、位置合わせシステムとロックボルトとが、正しい位置を保持するために用いられうる。一部の実施形態により、位置合わせシステムはマウントも含んでよく、このマウントは、磁力を用いて(例えば磁気固定デバイスを用いて)マスクキャリア及び/又は基板キャリアに接続される。磁気固定デバイスは電磁石であってよく、この電磁石は、例えば、オンとオフに切り替えられうる。電磁石は、コイルと、例えば磁性コアとによって提供されうる。更に、磁気固定デバイスは永久電磁石(electropermanent magnet)であってよく、この永久電磁石は、例えば、活性化又は不活性化されうる(すなわち、オンに切り替えられうるか、オフに切り替えられうる)。永久電磁石は、二重磁石の原理に基づいて作用しうる。一又は複数の第1永久磁石は「軟質(soft)」又は「半硬質(semi−hard)」の磁性材料(すなわち、保磁力が低い材料)で構成されうる。一又は複数の第2永久磁石は、「硬質(hard)」の磁性材料(すなわち、保磁性がより高い材料)で構成されうる。代替的又は追加的には、一又は複数の第1永久磁石は、電磁石で活性化されうる、「軟質」又は「半硬質」の磁性材料(すなわち、保磁力が低い材料)で構成されうる。一又は複数のマウントは1つの電磁石を含んでよく、この電磁石は、マスクキャリア又は基板キャリアの総量を引き付けるために、オンに切り替えられうる。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、保持機構は、2つのマウント(すなわち、マスクキャリアを保持するための1つのマウントと、基板キャリアを保持するための1つのマウント)を含みうる。保持機構には、例えば2つの磁性マウントが設けられうる。
図3Aに示しているように、位置合わせシステム310は機械的分離素子312を含みうる。この機械的分離素子は、アクチュエータと、位置合わせシステムが真空チャンバ(例えば真空チャンバの壁)に装着される位置との間に、設けられる。したがって、マスクキャリアと基板キャリアとの位置合わせに対する、真空チャンバの振動、揺動、又は変形による影響が、低減するか、又はなくなる。機械的分離素子は、静的及び/又は動的な変形を補償するよう、構成されうる。一部の実施形態により、アクチュエータ318が、第1マウント316と第2マウント314との間に設けられる。機械的分離素子312は、アクチュエータ318と、位置合わせシステムと真空チャンバ(例えば、真空チャンバの上部壁などの真空チャンバの壁)との接続部との間に、設けられる。機械的分離素子が設けられるのは、マウントと、位置合わせシステムと真空チャンバとの接続部との間でもある。第1マウントと第2マウントとの間の直接的な機械的接続経路に、アクチュエータが含まれる。第1マウントと第2マウントとの間の直接的な機械的接続通路に、機械的分離素子、又は、真空チャンバの壁の一部分などの真空チャンバの一部分は含まれない。この配置により、アクチュエータ、及びアクチュエータに接続されたマウントの、真空チャンバからの機械的分断が可能になる。
図3Bは、本書に記載の更なる実施形態による、真空処理のための装置300の概略図を示している。装置300は位置合わせシステム310を含む。位置合わせシステム310は、例えば図3Aに関連して上述したように、基板キャリア120とマスクキャリア140とを互いに対して位置付けるよう、構成されうる。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、位置合わせシステム310は、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を保持するよう構成されうる。位置合わせシステム310は、少なくとも部分的に、第1搬送アセンブリと第2搬送アセンブリとの間に配置されうる。一例としては、保持機構の一又は複数のマウントは、第1軌道112などの第1部分と、更なる第1軌道132などの更なる第1部分との間に配置されうる。保持機構の一又は複数の更なるマウントは、第2軌道114などの第2部分と、更なる第2軌道134などの更なる第2部分との間に配置されうる。マウントは、例えば、磁気素子又はロックボルトでありうる。
一部の実行形態では、位置合わせシステム310は、真空チャンバの上部壁及び/又は底部壁に配置されうる。位置合わせシステムは、少なくとも部分的に、マスクキャリアと基板キャリアとの間、又はそれぞれの軌道部分の間の、間隙の中に提供される。一例としては、位置合わせシステム310は、底部壁から、第1軌道112などの第1部分と、更なる第1軌道132などの更なる第1部分との間のある位置まで、延在しうる。同様に、位置合わせシステム310は、上部壁から、第2軌道114などの第2部分と、更なる第2軌道134などの更なる第2部分との間のある位置まで、延在しうる。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる本開示の一部の実施形態により、装置300には、第1軌道と第2軌道との間(例えば、マスク軌道とキャリア軌道との間)の間隙内に提供される位置合わせシステムが設けられうる。マスクキャリアは基板キャリアよりも大きいか、又はその逆である。基板キャリアよりも大きなマスクキャリアを有することで、チャンバ構成要素(例えばチャンバ壁の一部分)が材料でコーティングされるリスクが減少する。例えば、第1軌道112と更なる第1軌道との間に、オフセットが存在することがある。追加的又は代替的には、第2軌道114と更なる第2軌道との間に、オフセットが存在することもある。
位置合わせシステム310を第1搬送アセンブリと第2搬送アセンブリとの間に提供することによって、基板キャリア120とマスクキャリア140との位置合わせの改善がもたらされうる。例えば、位置合わせシステムの長さ(寸法)、すなわち、アクチュエータに接続された第1マウントと第2マウントとの間の距離が低減し、それにより、マウントを有するアームの長さの梃子作用(leverage)によって不正確性が増大することがなりうる。一実施形態により、位置合わせシステムは、少なくとも部分的に、第1軌道と第2軌道との間の間隙内に提供されうる。位置合わせシステムは、第1キャリア(例えば基板キャリア)の間隙に面する側を保持するよう構成され、かつ、第2キャリア(例えばマスクキャリア)の間隙に面する側を保持するよう構成される。
図4は、例えば一又は複数の基板への材料堆積という、真空処理のための装置300を示している。堆積源225(特に蒸発源)が、真空処理チャンバ内に設けられうる。図4は、真空処理チャンバの一部分(すなわち、側壁、上部壁、及び底部壁)を示している。基板キャリアに取り付けられた基板10が、堆積源の両側に提供される。堆積源は、蒸発の方向を変化させうる。例えば、堆積源は、図4の矢印で示しているように、左側への蒸発を行うことが可能であり、その後に、例えば堆積源225を回転させることによって、右側への蒸発を行いうる。
一部の実行形態では、位置合わせシステム310は、真空チャンバの上部壁及び/又は底部壁に配置されうる。一例としては、位置合わせシステム310は、底部壁から、第1軌道112などの第1部分と、更なる第1軌道132などの更なる第1部分との間のある位置まで、延在しうる。同様に、位置合わせシステム310は、上部壁から、第2軌道114などの第2部分と、更なる第2軌道134などの更なる第2部分との間のある位置まで、延在しうる。位置合わせシステム310と上部壁との接続部と、アクチュエータ318との間に、機械的分離素子312が設けられる。機械的分離素子312は、アクチュエータ318を真空チャンバの上部壁から機械的に分断する。もう1つの位置合わせ310と底部壁との接続部と、もう1つのアクチュエータ318との間に、機械的分離素子312が設けられる。機械的分離素子312は、もう1つのアクチュエータ318を真空チャンバの底部壁から機械的に分断する。
図5は、図4に類似した、一又は複数の基板を真空処理するための装置を示している。図4とは違い、図5に示す位置合わせシステムは、真空チャンバの側壁201に接続されている。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、一又は複数の位置合わせシステムは、真空チャンバの側壁に接続されうる。追加的又は代替的には、一又は複数の位置合わせシステムは、真空チャンバの上部壁又は底部壁に接続されうる。図5では、位置合わせシステムは、機械的分離素子312により、真空チャンバに接続されている。本書に記載の実施形態により、位置合わせシステムは、機械的分離素子により、又は機械的分離素子を介して、接続される。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、機械的分離素子は、振動ダンパ、揺動ダンパ、ブッシング、ゴム製ブッシング、及び、能動的な機械的補償素子のうちの少なくとも1つでありうる。能動的な機械的補償素子とは、真空チャンバの振動若しくは変形、又はそれら全てを能動的に補償する、圧電ユニットでありうる。例えば、システムの排気時に真空チャンバが変形しうるか、又は、真空ポンプなどのシステム構成要素、若しくは装置が内部に設置されている建物からの振動が発生しうる。機械的分離素子は、静的又は動的な変形(特に動的変形)を補償しうる。例えば、エラストマ、負剛性デバイス(negative stiffness device:NSD)、ばね/ストリング、油圧/空気圧ダンパ、チューンドマスダンパ、又はそれらの組み合わせなどを使用して限定的な機械的伝達挙動をもたらす材料/デバイスの組み合わせにより、受動的な機械的分離が提供されうる。受動的な機械的分離は、エラストマ、NSD、ばね、ストリング、油圧ダンパ、空気圧ダンパ、及びチューンドマスダンパのうちの少なくとも1つを含みうる。追加的又は代替的には、能動的な分離は、能動的な機械的補償素子によって(例えば、ピエゾ素子、電磁主体、電気活性ポリマー(EAP)、及び線形モータのうちの少なくとも1つによって)提供されうる。
図9Aは、一又は複数の基板を真空処理するための別の装置300の一部分を示している。位置合わせシステム310は、キャリア(すなわち、マスクキャリアと基板キャリア)の間に位置付けられる。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、位置合わせシステム310は、3つに方向又は軸(例えば、図9A及び図9Bに示すx方向、y方向、及びz方向)における位置合わせを行うよう、構成されうる。例えば、1つの位置合わせシステムは1つの方向に沿って位置合わせを行うよう構成されてよく、別の位置合わせシステムが、別の方向に沿って位置合わせを行うよう構成されうる。追加的又は代替的には、位置合わせシステムは、2つ以上の方向に沿って位置合わせを行うよう構成されうる。例えば、1つのアクチュエータ、又は複数のアクチュエータの組み合わせを用いて、2つ以上の方向に沿った位置合わせが行われうる。
保持デバイス又はマウント(314、316)は、位置合わせシステムとキャリアとの間の接続を提供しうる。例えば、磁気クランプが使用されうる。この磁気クランプは、電磁石、永久電磁石、及び/又は切り替え可能磁石によって提供されうる。図9Bには、フレーム910に接続されている第2マウント314が見えるように、側面図が示されている。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、位置合わせシステム310はフレーム910に装着される。フレーム910は、機械的分離素子312を含む接続部により、真空チャンバ(例えば、真空チャンバの上部壁及び底部壁)に装着されうる。
図9Bは、フレームと真空チャンバの壁(図示せず)との間に機械的分離素子312を伴う、4つの接続部を示している。マウントとアクチュエータとを有する6つの位置合わせシステムが、フレーム910に接続されている。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、真空チャンバとフレームとの間に機械的分離素子を含む接続部の数は、フレームに装着された位置合わせシステムの数と等しいか、又はかかるシステムの数を下回る。位置合わせシステムをフレームに装着するためのフレーム(特に剛性フレーム)を使用することにより、位置合わせシステム同士の間の直接的な機械的接続経路が可能になり、このことで、全体的な位置合わせが改善される。更に、上述したように、フレームは、機械的分離素子を介して、真空チャンバから機械的に分離している。したがって、本書に記載の実施形態は、分断された、マスクキャリアと基板キャリアとの相対的な位置合わせのための、振動分離型のアライナを提供しうる。本書に記載の実施形態は、アクチュエータを介する、マスクキャリアと基板キャリアとの間の直接的な機械的接続経路を提供し、かつ、この直接的な機械的接続経路から真空チャンバを除外しうる。更に、真空チャンバへの装着の直接的な機械的接続経路が、機械的分離素子を介して提供され、かつそれに加えて、フレームを介して提供されうる。
一部の実施形態により、各軌道上のマスクキャリア及び基板キャリアが、保持デバイス(すなわち、フレームに装着された位置合わせシステムなどの位置合わせシステムのマウント又はクランプ)まで一定距離を有するようにすることによって、これらのキャリアの互いに対する位置合わせがもたらされうる。マスクキャリアは、アクチュエータによって(図9Aのz方向に沿って)クランプ位置につけられ、位置合わせシステムにクランプされることが可能である。基板キャリアは、アクチュエータによって(図9Aのz方向に沿って)クランプ位置につけられ、位置合わせシステムにクランプされることが可能である。フレームに接続されうる位置合わせシステムにより、2つのキャリアの間で、3つの方向全てにおける位置合わせが行われる。この位置合わせの後に、マスクは基板に対してチャックされうる。
図6は、一又は複数の基板を真空処理するための別の装置300を示している。図6に示す位置合わせシステム310は、基板キャリアとマスクキャリアとの間に、又は、基板キャリアとマスクキャリアと(すなわち、第1搬送アセンブリと第2搬送アセンブリのそれぞれ)の間の間隙に平行な平面内に提供される、第1マウントを含む。位置合わせシステムの更なるマウントは、基板キャリア又はそれに対応する搬送アセンブリの反対側に提供される。したがって、マスクキャリアと基板キャリアとは、それぞれのマウントによって同じ側から装着される。マウントが左側からキャリアに接触している、図6に示す実施形態の代替として、マウントは、右側からもキャリアに接触しうる。図6に示しているように、位置合わせシステム310の少なくとも一部分は、間隙の中に、又は間隙に隣接して提供される。位置合わせシステム310は、機械的分離素子により、又は機械的分離素子を介して、真空チャンバに接続される。また更なる実施形態により、位置合わせシステムの第1マウントと位置合わせシステムの第2マウントとが、間隙の両側からそれぞれのキャリアに接続する、類似の概念も受け入れ可能でありうる。かかる配置により、機械的分離素子を1つだけ伴う、マウントと真空チャンバとの間の機械的接続経路も可能になりうる。
図7は、本書に記載の実施形態による、基板を真空処理するためのシステム700の概略図を示している。
システム700は、本書に記載の実施形態による基板を真空処理するための装置と、基板キャリア120と、マスクキャリア140とを含む。一部の実行形態では、第1搬送アセンブリ110が基板キャリア120及びマスクキャリア140を搬送するよう構成され、かつ/又は、第2搬送アセンブリ130が基板キャリア120及びマスクキャリア140を搬送するよう構成される。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、システム700は、本書に記載の実施形態のいずれかによる装置を有する、真空チャンバ(例えば真空処理チャンバ701)を含む。更に、システム700は、搬送機構を有する、少なくとも1つの更なるチャンバ702を含む。少なくとも1つの更なるチャンバ702は、回転モジュール、移送モジュール、又はそれらの組み合わせでありうる。回転モジュール内で、搬送アセンブリ及びそれに配置されたキャリア(複数可)は、垂直回転軸などの回転軸の周りで回転しうる。一例としては、キャリア(複数可)は、システム700の左側からシステム700の右側へと、又はその逆に、移送されうる。移送モジュールは、移送モジュールを通って種々の方向にキャリア(複数可)が移送されうるように、複数の軌道を含みうる。真空処理チャンバ702は、有機材料を堆積させるよう構成されうる。堆積源225(特に蒸発源)が、真空処理チャンバ701内に設けられうる。堆積源225は、図7に例示的に示しているように、軌道又はリニアガイド722上に設けられうる。リニアガイド722は、堆積源225を平行移動させるよう構成されうる。更に、堆積源725を平行移動させるための駆動装置が設けられうる。詳細には、堆積源225を非接触搬送するための搬送装置が、設けられうる。
リニアガイド722に沿って堆積源225を平行移動させるよう構成された源支持体731が、提供されうる。源支持体731は、蒸発るつぼ721と、蒸発るつぼ721の上方に設けられた分配アセンブリ726とを支持しうる。したがって、蒸発るつぼ721内で発生した蒸気は、分配アセンブリの一又は複数の出口から出るように、上方へと移動しうる。したがって、分配アセンブリ726は、蒸発した有機材料(特に、蒸発した源材料のプルーム)を、分配アセンブリから基板に供給するよう構成される。
図7に例示的に示しているように、真空処理チャンバ701はゲートバルブ715を有してよく、このゲートバルブ715を介して、真空処理チャンバ701は、ルーティングモジュールや隣接するサービスモジュールなどの隣接する更なるチャンバ702に、接続されうる。詳細には、ゲートバルブ715により、隣接する更なるチャンバとの真空密封が可能になる。ゲートバルブ715は、基板及び/又はマスクを真空処理チャンバ701に出し入れするように動かすために、開閉されうる。
本開示では、「真空処理チャンバ(vacuum processing chamber)」とは、真空チャンバ又は真空堆積チャンバであると理解されたい。本書において「真空(vacuum)」という語は、例えば10mbar未満の真空圧を有する、工業的真空の意味として理解されうる。本書に記載の真空チャンバにおける圧力は、10−5mbarから約10−8mbar、具体的には10−5mbarから10−7mbar、より具体的には、約10−6mbarから約10−7mbarでありうる。一部の実施形態により、真空チャンバ内の圧力は、真空チャンバの中の蒸発材料の分圧又は全圧のいずれかと見なされうる(真空チャンバ内で堆積される成分として蒸発材料のみが存在している場合、この分圧と全圧とはおおよそ同じになりうる)。一部の実施形態では、真空チャンバ内の全圧は、とりわけ真空チャンバ内に蒸発材料以外の第2成分(例えばガスなど)が存在する場合には、約10−4mbarから約10−7mbarの範囲にわたりうる。
図7を例示的に参照するに、本書に記載の他のいずれの実施形態とも組み合わされうる実施形態により、2つの基板(例えば、第1基板10A及び第2基板10B)が、それぞれの搬送軌道(本書に記載の、対応する第1搬送アセンブリ110など)に、支持されうる。更に、マスクキャリア140を運ぶための、本書に記載の2つの軌道(例えば2つの第2搬送アセンブリ120)が、提供されうる。詳細には、図1から図6を参照して説明しているように、基板キャリア120及び/又はマスクキャリア140を搬送するための軌道が構成されうる。
一部の実施形態では、基板をコーティングすることは、対応するマスクによって(例えばエッジ除外マスク又はシャドウマスクによって)、基板をマスキングすることを含みうる。一部の実施形態により、マスク(例えば、第1基板10Aに対応する第1マスク20A、及び、第2基板10Bに対応する第2マスク20B)を、図7に例示的に示しているように所定の位置に保持するために、マスクキャリア140にマスクが供給される。
本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、基板は基板キャリア120によって支持され、基板キャリア120は、本書に記載の位置合わせシステム(図7には図示せず)に接続されうる。位置合わせシステムは、マスクに対する基板の位置を調整するよう構成されうる。有機材料の堆積中に基板とマスクとの間の適切な位置合わせを行うために、基板がマスクに対して動かされうることを、理解されたい。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる更なる実施形態により、代替的又は追加的に、マスクを保持するマスクキャリア140が、位置合わせシステムに接続されうる。したがって、マスクが基板に対して位置付けられるか、又は、マスクと基板の両方が互いに対して位置付けられるかの、いずれかでありうる。本書に記載の位置合わせシステムにより、堆積プロセス中のマスキングの適切な位置合わせが可能になりうるが、このことは、高品質のOLEDディスプレイ製造に有益である。
マスクと基板との互いに対する位置合わせの例はアクチュエータを含み、このアクチュエータにより、基板の平面及びマスクの平面に実質的に平行な1つの平面を画定する少なくとも2つの方向における、相対的な位置合わせが可能になりうる。例えば、位置合わせは、少なくともx方向及びy方向(すなわち、上述の平行な平面を画定する2つのデカルト方向)に、実行されうる。典型的には、マスクと基板とは、互いに実質的に平行でありうる。具体的には、位置合わせは、基板の平面及びマスクの平面に実質的に直角な方向にも実行されうる。ゆえに、位置合わせユニットは、マスクと基板との互いに対する、少なくともX−Y方向の位置合わせ、具体的にはX−Y−Z方向の位置合わせを行うよう、構成される。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一具体例は、真空処理チャンバ内で静止して保持されうるマスクに対して、基板をx方向、y方向、及びz方向に位置合わせすることである。
図8は、本書に記載の実施形態による、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアとを位置合わせするための方法800のフロー図を示している。方法800は、本開示による装置及びシステムを利用するものでありうる。
方法は、位置合わせシステムのアクチュエータを用いて、基板キャリアとマスクキャリアとを互いに対して位置合わせすること(ボックス810を参照)を含みうる。真空チャンバ(例えば真空チャンバの壁)からアクチュエータに伝わりうる、機械的ノイズ、システムからの振動、及び建物からの振動(すなわち、動的変形及び静的変形)のうちの少なくとも1つが、補償されるか、又は低減する(ボックス810を参照)。
更に、方法は、アクチュエータを介して、マスクキャリアと基板キャリアとの間に直接的な機械的接続経路を提供することを含みうる。例えば、直接的な機械的接続経路には、真空チャンバの一部分(例えば、真空チャンバの壁の一部分)は含まれない。本書に記載の他の実施形態と組み合わされうる一部の実施形態により、キャリアの非接触搬送のための磁気浮上システムを用いて、キャリアの搬送(例えば、基板キャリア及び/又はマスクキャリアの、それぞれの軌道アセンブリ又は搬送アセンブリでの搬送)が行われうる。非接触搬送システムを用いて、キャリアは互いに対して事前位置合わせされうる。事前位置合わせの後に、位置合わせシステムは、(例えば第1マウント及び第2マウントを用いて)キャリアに接続してよく、かつ、機械的接触(例えば位置合わせシステムの機械的接触)を伴う微細位置合わせを行いうる。機械的な微細位置合わせは、本書に記載の実施形態によるアクチュエータによって、行われうる。
非接触搬送システム(例えば磁気浮上システム)の事前位置合わせと、アクチュエータによる機械的接触を伴う微細位置合わせとの組み合わせにより、複雑性が低減し、ゆえに所有コストが低減した、位置合わせシステムが可能になる。これは、例えば浮上システムを用いた事前位置合わせによって、もたらされうる。
本書に記載の実施形態により、真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアとを位置合わせし、かつ/又は搬送するための方法は、コンピュータプログラム、ソフトウェア、コンピュータソフトウェア製品、及び、CPUと、メモリと、ユーザインターフェースと、装置の対応構成要素と通信可能な入出力デバイスとを有しうる相互関連コントローラを使用して、実行されうる。
本開示は、少なくとも1つの寸法が同等にサイズ決定されうる、基板キャリア向けの第1搬送アセンブリと、マスクキャリア向けの第2搬送アセンブリとを、提供する。換言すると、マスクキャリアは第1の搬送アセンブリ又は軌道アセンブリに適合してよく、基板キャリアは第2の搬送アセンブリ又は軌道アセンブリに適合しうる。第1搬送アセンブリ及び第2搬送アセンブリは、真空システムを通るキャリアの正確かつ滑らかな搬送を提供すると共に、柔軟に使用されうる。位置合わせシステム又は保持機構のそれぞれにより、マスクに対する基板の(又はその逆の)精密な位置合わせが可能になる。例えば高解像度のOLEDデバイスの生産に関して、高品質の処理結果が実現されうる。
以上の記述は、本開示の実施形態を対象としているが、本開示の基本的な範囲から逸脱することなく、本開示の他の実施形態及び更なる実施形態が考案されてよく、本開示の範囲は、以下の特許請求の範囲によって決まる。

Claims (18)

  1. 基板を処理するための装置であって、
    真空チャンバと、
    前記真空チャンバ内の基板搬送アセンブリと、
    前記真空チャンバ内のマスク搬送アセンブリと、
    位置合わせシステムであって、前記真空チャンバ内のアクチュエータ、及び、
    前記アクチュエータと前記真空チャンバとの間の機械的分離素子を備える、位置合わせシステムとを備える、装置。
  2. 前記位置合わせシステムがフレームに装着される、請求項1に記載の装置。
  3. 前記位置合わせシステムが、
    基板キャリアを前記位置合わせシステムに装着するための第1マウントと、マスクキャリアを前記位置合わせシステムに装着するための第2マウントとを備える、請求項1又は2に記載の装置。
  4. 前記アクチュエータが、前記機械的分離素子と前記第1マウントとの間の機械的接続経路内に提供され、かつ、前記機械的分離素子と前記第2マウントとの間の機械的接続経路内に提供される、請求項3に記載の装置。
  5. 前記アクチュエータが、前記第1マウントと前記第2マウントとを互いに対して動かすよう構成される、請求項3又は4に記載の装置。
  6. 前記アクチュエータが、前記第1マウント及び前記第2マウントに接続され、かつ、前記第1マウントと前記第2マウントとの間に提供される、請求項3から5のいずれか一項に記載の装置。
  7. 前記第1マウントと前記第2マウントの少なくとも一方が磁気固定デバイスを備える、請求項3から6のいずれか一項に記載の装置。
  8. 前記磁気固定デバイスが電磁石又は永久電磁石の少なくとも一方を備える、請求項7に記載の装置。
  9. 前記アクチュエータが、ステッパアクチュエータ、ブラシレスアクチュエータ、DC(直流電流)アクチュエータ、ボイスコイルアクチュエータ、空気圧アクチュエータ、及び圧電アクチュエータからなる群から選択される、請求項1から8のいずれか一項に記載の装置。
  10. 前記位置合わせシステムの少なくとも一部分が、前記マスク搬送アセンブリと前記基板搬送アセンブリとの間に提供される、請求項1から9のいずれか一項に記載の装置。
  11. 第1マウントと第2マウントの少なくとも一方が、前記マスク搬送アセンブリと前記基板搬送アセンブリとの間に提供される、請求項10に記載の装置。
  12. 前記第1マウントと前記第2マウントとが、前記アクチュエータを介して機械的に接続される、請求項10又は11に記載の装置。
  13. 前記機械的分離素子が、振動ダンパ、揺動ダンパ、ブッシング、ゴム製ブッシング、及び、能動的な機械的補償素子のうちの少なくとも1つである、請求項1から12のいずれか一項に記載の装置。
  14. 基板を処理するためのシステムであって、
    請求項1から13のいずれか一項に記載の前記装置と、
    前記基板搬送アセンブリに提供された基板キャリアと、
    前記マスク搬送アセンブリに提供されたマスクキャリアとを備える、システム。
  15. 前記基板搬送アセンブリが前記基板キャリアを非接触搬送するよう構成され、前記マスク搬送アセンブリが前記マスクキャリアを非接触搬送するよう構成される、請求項14に記載のシステム。
  16. チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアとを位置合わせするための方法であって、
    前記真空チャンバ内で、一又は複数のアクチュエータを備える位置合わせシステムを用いて、前記基板キャリアと前記マスクキャリアとを互いに対して位置合わせすることと、
    前記真空チャンバから前記アクチュエータに伝わる機械的ノイズ、動的変形、及び静的変形のうちの少なくとも1つを補償するか又は低減させることとを含む、方法。
  17. 前記マスクキャリアを前記アクチュエータに装着することと、
    前記基板キャリアを前記アクチュエータに装着することとを更に含み、前記マスクキャリアと前記基板キャリアとの間の直接的な機械的接続経路が前記アクチュエータを介して提供される、請求項16に記載の方法。
  18. 基板搬送アセンブリで、前記基板キャリアを非接触搬送することと、
    マスク搬送アセンブリで、前記基板キャリアを非接触搬送することと、
    前記基板搬送アセンブリと前記マスク搬送アセンブリの少なくとも一方を用いて、前記基板キャリアと前記マスクキャリアとを互いに対して位置合わせすることとを更に含む、請求項16又は17に記載の方法。
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