JP2019500614A - 干渉計測定装置およびその制御方法 - Google Patents
干渉計測定装置およびその制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019500614A JP2019500614A JP2018534058A JP2018534058A JP2019500614A JP 2019500614 A JP2019500614 A JP 2019500614A JP 2018534058 A JP2018534058 A JP 2018534058A JP 2018534058 A JP2018534058 A JP 2018534058A JP 2019500614 A JP2019500614 A JP 2019500614A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interferometer
- work stage
- plane mirrors
- reflector
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0002—Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
- G01B5/0004—Supports
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02016—Interferometers characterised by the beam path configuration contacting two or more objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02027—Two or more interferometric channels or interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02075—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70775—Position control, e.g. interferometers or encoders for determining the stage position
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【選択図】図2
Description
好ましくは、前記測定用リフレクタは、水平方向に互いに連結された複数の矩形の平面鏡で構成されており、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計は、互いに横並びに配置されており、前記移行部は、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計の間の距離の少なくとも2倍の幅を有する。
好ましくは、前記測定用リフレクタは、水平方向に互いに連結された複数の逆T字型の平面鏡で構成されており、前記複数の逆T字型の平面鏡の隣り合う2つのそれぞれは、互いに逆向きとなるように方向付けされており、前記複数の逆T字型の平面鏡のそれぞれは、ベースと凸部を有し、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計は、互いに上下に積み重なっており、前記移行部は、前記複数の平面鏡の隣り合うもののベースによって規定されている。
好ましくは、前記レーザ干渉計は、一軸干渉計又は二軸干渉計として実施される。
好ましくは、前記測定用リフレクタは、前記ワークステージの側面に搭載され、且つ、水平面に対して直角であり、前記レーザ干渉計から出射された前記光線は、前記測定用リフレクタの法線に対して平行となる方向で前記測定用リフレクタの表面に垂直に入射し、元の経路に戻る。
好ましくは、前記測定用リフレクタは、前記ワークステージの側面に搭載されており、且つ、前記ワークステージの前記側面に対して135°の角度で傾斜しており、前記レーザ干渉計は、更に、前記ワークステージの上に配置された第2の平面鏡を備え、前記第2の平面鏡は、前記ワークステージのワーク支持面に対して平行となるように方向付けされており、前記レーザ干渉計から出射された前記光線は、前記測定用リフレクタの表面に、その法線に対して45°の角度で入射し、これにより前記第2の平面鏡へ反射され、そして元の経路に戻る。
好ましくは、前記干渉計測定装置の制御方法であって、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計からの前記光線が対応する移行部に入射している間、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計は前記ワークステージに現在の位置情報を交互に提供し、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することで、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つ間の表面の非直線性における誤差を補正する、制御方法が提供される。
好ましくは、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することは、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計からの前記光線が対応する前記移行部に入射したとき、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計のうち、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の連結部を最初に横切る前記光線を射出する一方を無効干渉計とし、他方を有効干渉計とすること、前記有効干渉計が、それによって得られた前記現在の位置情報を前記ワークステージ及び前記無効干渉計に提供することと、前記無効干渉計が、前記有効干渉計からの前記位置情報と、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の表面の非直線性の誤差と、に基づいて、前記無効干渉計の更新されたゼロ基準を計算すること、を含む。
好ましくは、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することは、更に、前記有効干渉計からの前記光線も前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の前記連結部を横切った後、前記更新されたゼロ基準で前記有効干渉計のゼロ基準を更新すること、を含む。
好ましくは、表面の非直線性の前記誤差は、前記対応する移行部における前記第1の干渉計と前記第2の干渉計の光路長の差である。
本発明に係る干渉計測定装置は、図2及び図3に示すように、ワークステージ10と、レーザ干渉計20と、ワークステージ10の側面に搭載された第1の長尺リフレクタ30と、を含む。第1の長尺リフレクタ30は、水平方向で互いに連結された複数の平面鏡31で構成されており、隣り合う2つの平面鏡31がそれらの間の連結部に移行部32を規定している。レーザ干渉計20は、第1の干渉計21と第2の干渉計22を含む。ワークステージ10の移動中、レーザ干渉計20が移行部32の1つに直面すると、第1および第2の干渉計21,22からの光線が、移行部32を規定する2つの平面鏡31のそれぞれに入射する。従って、各移行部32において、第1および第2の干渉計21,22からの光線は、それぞれ対応する2つの平面鏡31に入射する。このようにして、本発明によれば、互いに連結された複数の平面鏡31を使用することによって、また、2つの干渉計のゼロ基準を交互に更新することによって、ワークステージ10の水平方向における測定範囲を拡張することができる。
好ましくは、図6および図7に示すように、第1の長尺リフレクタ30は、代わりに、水平方向に沿って一緒に配置された複数の矩形の平面鏡31により構成され、第1および第2の干渉計21,22は互いに横並びに配置されてもよい。さらに、移行部32は、第1の干渉計21と第2の干渉計22との間の距離の少なくとも2倍の幅を有するように規定されてもよい。この実施形態では、ワークステージ10の前進に伴って、第2の干渉計22からの光線が次の平面鏡31に最初に入射する。この時点で、第1の干渉計21は位置情報を提供しており、第2の干渉計22のゼロ基準はそれに基づいて更新される。第1の干渉計21および第2の干渉計22がさらに前進して次の平面鏡31に共に対面すると、第2の干渉計22が位置情報を提供し始め、これに基づいて第1の干渉計21のゼロ基準が更新される。これらのステップは、第1の長尺リフレクタ30の測定が完了するまで反復される。
好ましくは、図9を参照して、この実施形態は、干渉計測定装置が45度平面鏡40と第2の平面鏡50とをさらに含む点で実施形態1と異なる。45度平面鏡40は、第1の長尺リフレクタ30の下に配置され、第1の長尺リフレクタ30に対して135°の角度及び第2の平面鏡50に対して45°の角度を形成するように方向付けされている。レーザ干渉計20から出射された光の一部は、45度平面鏡40によって第2の平面鏡50に導かれ、元の経路に戻る。45度平面鏡40は、測定範囲を拡大するために、実施例1の平面鏡31と同様に組み立てられている。この実施形態によれば、水平自由度に加えて、ワークステージ10を垂直自由度でさらに測定することができる。
本実施形態が実施形態1と異なる点は、測定範囲を拡大するために実施形態2の平面鏡と同様に45度平面鏡40が組み立てられている点である。
Claims (10)
- ワークステージと、
レーザ干渉計と、
前記ワークステージに搭載された測定用リフレクタと、
を備えた、干渉計測定装置であって、
前記測定用リフレクタは、水平方向に沿って互いに連結された複数の平面鏡で構成されており、
前記レーザ干渉計は、第1の干渉計及び第2の干渉計を備え、
前記の第1の干渉計及び第2の干渉計は、水平方向に沿って前記レーザ干渉計に対して前記ワークステージが移動している間に、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計から出射された光線が前記複数の平面鏡の対応する2つによって定義された移行部に入射すると、前記第1の干渉計から出射された前記光線が前記隣り合う2つの平面鏡の1つに入射すると共に前記第2の干渉計から出射された前記光線が前記隣り合う2つの平面鏡の他方に入射し、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計が交互に位置情報を前記ワークステージに提供するように構成されている、
干渉計測定装置。 - 請求項1に記載の干渉計測定装置であって、
前記測定用リフレクタは、水平方向に互いに連結された複数の矩形の平面鏡で構成されており、
前記第1の干渉計と前記第2の干渉計は、互いに横並びに配置されており、
前記移行部は、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計の間の距離の少なくとも2倍の幅を有する、
干渉計測定装置。 - 請求項1に記載の干渉計測定装置であって、
前記測定用リフレクタは、水平方向に互いに連結された複数の逆T字型の平面鏡で構成されており、
前記複数の逆T字型の平面鏡の隣り合う2つのそれぞれは、互いに逆向きとなるように方向付けされており、
前記複数の逆T字型の平面鏡のそれぞれは、ベースと凸部を有し、
前記第1の干渉計と前記第2の干渉計は、互いに上下に積み重なっており、
前記移行部は、前記複数の平面鏡の隣り合うもののベースによって規定されている、
干渉計測定装置。 - 請求項1に記載の干渉計測定装置であって、
前記レーザ干渉計は、一軸干渉計又は二軸干渉計として実施される、
干渉計測定装置。 - 請求項1から3の何れか1項に記載の干渉計測定装置であって、
前記測定用リフレクタは、前記ワークステージの側面に搭載され、且つ、水平面に対して直角であり、
前記レーザ干渉計から出射された前記光線は、前記測定用リフレクタの法線に対して平行となる方向で前記測定用リフレクタの表面に垂直に入射し、元の経路に戻る、
干渉計測定装置。 - 請求項1から3の何れか1項に記載の干渉計測定装置であって、
前記測定用リフレクタは、前記ワークステージの側面に搭載されており、且つ、前記ワークステージの前記側面に対して135°の角度で傾斜しており、
前記レーザ干渉計は、更に、前記ワークステージの上に配置された第2の平面鏡を備え、
前記第2の平面鏡は、前記ワークステージのワーク支持面に対して平行となるように方向付けされており、
前記レーザ干渉計から出射された前記光線は、前記測定用リフレクタの表面に、その法線に対して45°の角度で入射し、これにより前記第2の平面鏡へ反射され、そして元の経路に戻る、
干渉計測定装置。 - 請求項1から6の何れか1項に記載の前記干渉計測定装置の制御方法であって、
前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計からの前記光線が対応する移行部に入射している間、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計は前記ワークステージに現在の位置情報を交互に提供し、前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することで、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つ間の表面の非直線性における誤差を補正する、
制御方法。 - 請求項7に記載の制御方法であって、
前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することは、
前記第1の干渉計と前記第2の干渉計からの前記光線が対応する前記移行部に入射したとき、前記第1の干渉計と前記第2の干渉計のうち、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の連結部を最初に横切る前記光線を射出する一方を無効干渉計とし、他方を有効干渉計とすること、
前記有効干渉計が、それによって得られた前記現在の位置情報を前記ワークステージ及び前記無効干渉計に提供することと、
前記無効干渉計が、前記有効干渉計からの前記位置情報と、前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の表面の非直線性の誤差と、に基づいて、前記無効干渉計の更新されたゼロ基準を計算すること、
を含む、
制御方法。 - 請求項8に記載の制御方法であって、
前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち一方のゼロ基準を前記第1の干渉計及び前記第2の干渉計のうち他方からの前記位置情報で交互に更新することは、更に、前記有効干渉計からの前記光線も前記複数の平面鏡の対応する隣り合う2つの間の前記連結部を横切った後、前記更新されたゼロ基準で前記有効干渉計のゼロ基準を更新すること、を含む、
制御方法。 - 請求項7又は8に記載の制御方法であって、
表面の非直線性の前記誤差は、前記対応する移行部における前記第1の干渉計と前記第2の干渉計の光路長の差である、
制御方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201511031860.2A CN106931878A (zh) | 2015-12-31 | 2015-12-31 | 一种干涉仪测量装置及其控制方法 |
CN201511031860.2 | 2015-12-31 | ||
PCT/CN2016/112643 WO2017114415A1 (zh) | 2015-12-31 | 2016-12-28 | 一种干涉仪测量装置及其控制方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019500614A true JP2019500614A (ja) | 2019-01-10 |
JP6617202B2 JP6617202B2 (ja) | 2019-12-11 |
Family
ID=59224592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018534058A Active JP6617202B2 (ja) | 2015-12-31 | 2016-12-28 | 干渉計測定装置およびその制御方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10393507B2 (ja) |
JP (1) | JP6617202B2 (ja) |
KR (1) | KR102044112B1 (ja) |
CN (1) | CN106931878A (ja) |
TW (1) | TWI627382B (ja) |
WO (1) | WO2017114415A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107462166B (zh) * | 2017-08-24 | 2019-10-15 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法 |
CN114216396B (zh) * | 2021-12-16 | 2022-10-04 | 哈尔滨工业大学 | 一种基于激光干涉仪的复眼单元运动误差测量装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0669099A (ja) * | 1992-08-18 | 1994-03-11 | Nikon Corp | 距離測定装置 |
JPH08233524A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Nikon Corp | 多軸位置決めユニット |
JP2000039305A (ja) * | 1998-05-21 | 2000-02-08 | Canon Inc | 位置決め装置およびこれを用いた露光装置、デバイス製造方法ならびに位置計測方法 |
JP2000075928A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Nippon Seiko Kk | レーザ干渉計を用いたステージ位置決め装置 |
JP2004006610A (ja) * | 2002-03-19 | 2004-01-08 | Chi Mei Electronics Corp | 多重バーミラーを有する位置決めシステム |
US20050134862A1 (en) * | 2003-11-04 | 2005-06-23 | Zygo Corporatin | Characterization and compensation of errors in multi-axis interferometry systems |
JP2005338075A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-08 | Agilent Technol Inc | ウェハステージの平行移動を測定するヘテロダインレーザ干渉計 |
JP2012242477A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Nikon Corp | 空間光変調器、露光装置、及びデバイス製造方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4280054A (en) * | 1979-04-30 | 1981-07-21 | Varian Associates, Inc. | X-Y Work table |
JPH021505A (ja) * | 1988-06-03 | 1990-01-05 | Nikon Corp | 干渉計付ステージ |
US5757160A (en) * | 1996-12-23 | 1998-05-26 | Svg Lithography Systems, Inc. | Moving interferometer wafer stage |
TW584713B (en) * | 2003-03-12 | 2004-04-21 | Chi Mei Optoelectronics Corp | Positioning system with multiple bar mirrors |
US7061579B2 (en) * | 2003-11-13 | 2006-06-13 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US20060139595A1 (en) * | 2004-12-27 | 2006-06-29 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method for determining Z position errors/variations and substrate table flatness |
TWI264523B (en) * | 2005-09-06 | 2006-10-21 | Instr Technology Res Ct | Method and instrument for measuring decenter and tilt of lens by interferometer |
JP5032821B2 (ja) * | 2006-10-04 | 2012-09-26 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板移動装置 |
CN101393009B (zh) * | 2008-11-05 | 2010-08-25 | 上海微电子装备有限公司 | 大行程激光干涉仪垂向测量装置和方法 |
CN102042804B (zh) * | 2009-10-13 | 2012-12-12 | 上海微电子装备有限公司 | 激光干涉仪测量装置和方法 |
CN102445149B (zh) * | 2010-10-14 | 2014-02-19 | 上海微电子装备有限公司 | 一种工件台位置测量装置与测量方法 |
CN102564303B (zh) * | 2010-12-30 | 2016-03-02 | 上海微电子装备有限公司 | 一种测量装置及方法 |
CN102735163B (zh) * | 2011-03-30 | 2017-05-10 | 迈普尔平版印刷Ip有限公司 | 干涉仪模块 |
CN102809346B (zh) * | 2011-05-31 | 2014-12-17 | 上海微电子装备有限公司 | 运动平台的位置测量装置及其测量方法 |
CN103197500B (zh) * | 2012-01-05 | 2015-09-30 | 上海微电子装备有限公司 | 一种测量镜面形补偿效果的方法 |
DE102013201506A1 (de) * | 2012-02-17 | 2013-08-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
CN103376665A (zh) * | 2012-04-20 | 2013-10-30 | 上海微电子装备有限公司 | 一种掩模台水平向测量装置及方法 |
CN103383271B (zh) * | 2012-05-04 | 2016-09-28 | 上海微电子装备有限公司 | 双硅片台交换系统的交换位置测量装置及其测量方法 |
ITMI20131791A1 (it) | 2013-10-28 | 2015-04-29 | Gruppo Cimbali Spa | Dispositivo per il riconoscimento di un portafiltro di macchine per caffe' espresso. |
CN104515470B (zh) * | 2014-12-25 | 2017-07-14 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 全息扫描曝光二维工作台位移和摆角测量光路结构 |
-
2015
- 2015-12-31 CN CN201511031860.2A patent/CN106931878A/zh active Pending
-
2016
- 2016-12-28 JP JP2018534058A patent/JP6617202B2/ja active Active
- 2016-12-28 KR KR1020187021085A patent/KR102044112B1/ko active IP Right Grant
- 2016-12-28 US US16/067,328 patent/US10393507B2/en active Active
- 2016-12-28 WO PCT/CN2016/112643 patent/WO2017114415A1/zh active Application Filing
- 2016-12-29 TW TW105143860A patent/TWI627382B/zh active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0669099A (ja) * | 1992-08-18 | 1994-03-11 | Nikon Corp | 距離測定装置 |
JPH08233524A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Nikon Corp | 多軸位置決めユニット |
JP2000039305A (ja) * | 1998-05-21 | 2000-02-08 | Canon Inc | 位置決め装置およびこれを用いた露光装置、デバイス製造方法ならびに位置計測方法 |
JP2000075928A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Nippon Seiko Kk | レーザ干渉計を用いたステージ位置決め装置 |
JP2004006610A (ja) * | 2002-03-19 | 2004-01-08 | Chi Mei Electronics Corp | 多重バーミラーを有する位置決めシステム |
US20050134862A1 (en) * | 2003-11-04 | 2005-06-23 | Zygo Corporatin | Characterization and compensation of errors in multi-axis interferometry systems |
JP2005338075A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-08 | Agilent Technol Inc | ウェハステージの平行移動を測定するヘテロダインレーザ干渉計 |
JP2012242477A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Nikon Corp | 空間光変調器、露光装置、及びデバイス製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201730510A (zh) | 2017-09-01 |
TWI627382B (zh) | 2018-06-21 |
WO2017114415A1 (zh) | 2017-07-06 |
KR102044112B1 (ko) | 2019-11-12 |
JP6617202B2 (ja) | 2019-12-11 |
US20190033057A1 (en) | 2019-01-31 |
KR20180095079A (ko) | 2018-08-24 |
CN106931878A (zh) | 2017-07-07 |
US10393507B2 (en) | 2019-08-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108698164A (zh) | 处理3d激光扫描仪系统中的校准数据的方法 | |
JPH09275072A (ja) | 移動鏡の真直度誤差補正方法及びステージ装置 | |
CN108267133B (zh) | 一种激光式反射板坐标系冗余标定方法及激光导航系统 | |
JP6617202B2 (ja) | 干渉計測定装置およびその制御方法 | |
US20110149297A1 (en) | Maskless exposure apparatus and multi-head alignment method thereof | |
KR20020085858A (ko) | 간섭계 시스템 | |
JP2009236894A (ja) | 精密フェーズシフト発生装置と精密長さ測定システム及びその測定方法 | |
JP2000074662A (ja) | 座標軸直角度誤差の校正方法及び三次元形状測定装置 | |
WO2021036632A1 (zh) | 测量扫描振镜偏转角度的方法及使用其的激光雷达 | |
US9982993B2 (en) | Measurement apparatus and measurement method | |
US20030035116A1 (en) | Interferometer system | |
CN105371755A (zh) | 一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪及波长修正方法 | |
US10297044B2 (en) | Method for calibrating an optical scanner and devices thereof | |
JP2013183017A (ja) | 描画装置、基準素子、及び物品製造方法 | |
JP2002157017A (ja) | 位置決め装置 | |
JPS63201509A (ja) | 表面粗さ測定装置 | |
JP2006003184A (ja) | 面法線計測方法及びその装置 | |
CN205373628U (zh) | 一种波长修正式多光束级联阶梯角反射镜激光干涉仪 | |
JP2006138698A (ja) | 三次元測定方法及び装置 | |
CN112815871B (zh) | 一种大口径平面光学元件面形绝对测量系统 | |
JP2003227713A (ja) | 3次元形状測定機及びその誤差校正方法 | |
CN105300275A (zh) | 一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪及其测量方法 | |
JPWO2017038903A1 (ja) | 表面形状測定装置および表面形状測定プログラム | |
JP4978597B2 (ja) | 移動ステージ装置 | |
JP2017015572A (ja) | 形状計測装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180731 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190702 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190927 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191023 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191111 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6617202 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |