JP2019100898A - 測量装置及びトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法 - Google Patents

測量装置及びトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法 Download PDF

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Abstract

【課題】2次元レーザスキャナをトータルステーションに容易に取付け可能な組立て方法を提供する。【解決手段】トータルステーション3と、トータルステーションの上面に固定される取付け台5と、取付け台の上面に固定される2次元レーザスキャナ4とを具備し、トータルステーションは、トータルステーションを水平回転させる水平回転駆動部11と、水平角を検出する水平回転検出器12と、第1測距部を内蔵する望遠鏡部17と、望遠鏡部を鉛直回転させる第1鉛直回転駆動部15と、鉛直角を検出する第1鉛直角検出器16と、制御部18とを具備し、2次元レーザスキャナは、第2測距光を発し測距を行う第2測距部29と、第2測距光を鉛直面内に偏向する走査鏡28と、走査鏡を水平軸心24aを中心に鉛直回転させる第2鉛直回転駆動部26と、鉛直角を検出する第2鉛直角検出器27とを具備し、走査鏡により第2測距光が走査され、点群データを取得する。【選択図】図1

Description

本発明は、測定対象物の点群データを取得可能な測量装置及びトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法に関するものである。
測量装置として、トータルステーションや3次元レーザスキャナがある。トータルステーションは、測定対象点の測定を行う場合に用いられる。3次元レーザスキャナは、測定対象物の形状を3次元座標を有する無数の点の集まり、即ち3次元点群データとして取得する。
3次元レーザスキャナは、測定対象物の3次元形状を短時間で測定できるという特徴があるが、3次元レーザスキャナはトータルステーションに比べて高価である。3次元レーザスキャナを安価に製造する為、トータルステーションに1軸で測距光を回転照射する2次元レーザスキャナを取付け、トータルステーションと2次元レーザスキャナの協働により、3次元点群データを取得するものもある。
然し乍ら、トータルステーションと2次元レーザスキャナとは別の装置である為、トータルステーションに2次元レーザスキャナを取付ける際には、トータルステーションの鉛直軸心上に2次元レーザスキャナの回転照射平面が位置する必要がある。従って、トータルステーションと2次元レーザスキャナとの位置合せを行う必要があり、取付け作業に時間を要していた。
特開2015−40830号公報 特開2016−161411号公報
本発明は、2次元レーザスキャナをトータルステーションに容易に取付け可能な測量装置及びトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法を提供するものである。
本発明は、トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションは、該トータルステーションを鉛直軸心を中心に水平回転させる水平回転駆動部と、前記トータルステーションの水平角を検出する水平回転検出器と、所定の測定点を視準し第1測距光を発して測距する第1測距部を内蔵する望遠鏡部と、該望遠鏡部を水平軸心を中心に鉛直回転させる第1鉛直回転駆動部と、前記望遠鏡部の鉛直角を検出する第1鉛直角検出器と、制御部とを具備し、該制御部は、測距結果、前記水平回転検出器の検出結果、前記第1鉛直角検出器の検出結果に基づき測定点の3次元測定を行う様構成され、前記2次元レーザスキャナは、ベースと、該ベース上に設けられ第2測距光を発し測距を行う第2測距部と、前記第2測距光を鉛直面内に偏向する走査鏡と、該走査鏡を水平軸心を中心に鉛直回転させる第2鉛直回転駆動部と、前記走査鏡の鉛直角を検出する第2鉛直角検出器とを具備し、前記走査鏡により前記第2測距光が走査され、走査線に沿って点群データを取得する様構成された測量装置に係るものである。
又本発明は、前記取付け台は、下部に前記トータルステーションの上面に固着されるフランジと、上部に前記2次元レーザスキャナに固着されるベース基板とを有し、前記取付け台は前記ベースに対して低剛性に構成された測量装置に係るものである。
又本発明は、前記フランジは左右のいずれか一方が2点で固着され、いずれか他方が1点で固着され、前記ベース基板は左右のいずれか一方が1点で固着され、いずれか他方が2点で固着された測量装置に係るものである。
又本発明は、前記ベース基板の上面中央部と、前記ベースの下面中央部とに、それぞれ円錐状の受け穴が穿設され、該受け穴間に球状の軸部材を介設し、該軸部材を挾んで3点で前記ベース基板と前記ベースとを固定した測量装置に係るものである。
又本発明は、前記取付け台は、前記トータルステーションの上面に突設された取付けピンに固着され、該取付けピンの上面は球面に形成された測量装置に係るものである。
又本発明は、前記ベースと前記ベース基板との間に座が介在されてボルト付けされ、前記座の一面は球面に形成された測量装置に係るものである。
又本発明は、前記制御部は、前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとに、少なくとも2点の基準測定点をそれぞれ測定させ、該基準測定点の測定結果に基づき、前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとのキャリブレーションを実行する様構成された測量装置に係るものである。
更に又本発明は、トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションにより少なくとも2点の基準測定点を測定し、前記2次元レーザスキャナにより前記2点の基準測定点を測定し、前記トータルステーションによる前記2点の基準測定点の測定結果と、前記2次元レーザスキャナによる前記2点の基準測定点の測定結果との偏差を求め、該偏差に基づき前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとの間のキャリブレーションを行うトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法に係るものである。
本発明によれば、トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションは、該トータルステーションを鉛直軸心を中心に水平回転させる水平回転駆動部と、前記トータルステーションの水平角を検出する水平回転検出器と、所定の測定点を視準し第1測距光を発して測距する第1測距部を内蔵する望遠鏡部と、該望遠鏡部を水平軸心を中心に鉛直回転させる第1鉛直回転駆動部と、前記望遠鏡部の鉛直角を検出する第1鉛直角検出器と、制御部とを具備し、該制御部は、測距結果、前記水平回転検出器の検出結果、前記第1鉛直角検出器の検出結果に基づき測定点の3次元測定を行う様構成され、前記2次元レーザスキャナは、ベースと、該ベース上に設けられ第2測距光を発し測距を行う第2測距部と、前記第2測距光を鉛直面内に偏向する走査鏡と、該走査鏡を水平軸心を中心に鉛直回転させる第2鉛直回転駆動部と、前記走査鏡の鉛直角を検出する第2鉛直角検出器とを具備し、前記走査鏡により前記第2測距光が走査され、走査線に沿って点群データを取得する様構成されたので、前記取付け台と前記2次元レーザスキャナとがそれぞれ3点で支持されることで、前記ベースに対する前記取付けピンの高さ、前記取付け台の変形に基づく影響を抑制することができ、取付け時の調整、精度出しが大幅に軽減される。
又本発明によれば、トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションにより少なくとも2点の基準測定点を測定し、前記2次元レーザスキャナにより前記2点の基準測定点を測定し、前記トータルステーションによる前記2点の基準測定点の測定結果と、前記2次元レーザスキャナによる前記2点の基準測定点の測定結果との偏差を求め、該偏差に基づき前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとの間のキャリブレーションを行うので、前記取付け台を高精度に製作する必要がなく、又前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとの間の組立て精度を高精度とする必要がなく、作業性を向上させることができるという優れた効果を発揮する。
本発明の第1の実施例に係る測量装置を示す正面図である。 本発明の第1の実施例に係る取付け台を示す平面図である。 本発明の第1の実施例に係る取付け台を示す側面図である。 本発明の第1の実施例に係る取付け台の変形例を示す平面図である。 本発明の第2の実施例に係る測量装置を示す正面図である。 本発明の第2の実施例に係る取付け台を示す平面図である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。
先ず、図1に於いて、本発明の実施例に係る測量装置について説明する。
測量装置1は、図示しない三脚に取付けられた整準ユニット2、該整準ユニット2に設けられた第1測定ユニットとしてのトータルステーション3、該トータルステーション3上に設けられた第2測定ユニットとしての2次元レーザスキャナ4、前記トータルステーション3に前記2次元レーザスキャナ4を取付ける為の取付け台5とを有している。
前記トータルステーション3は、固定部6、第1托架部7、水平回転軸8、水平回転軸受9、第1水平回転駆動部としての水平回転モータ11、水平回転検出器としての水平角エンコーダ12、第1鉛直回転軸13、第1鉛直回転軸受14、第1鉛直回転駆動部としての第1鉛直回転モータ15、第1鉛直角検出器としての第1鉛直角エンコーダ16、望遠鏡部17、第1制御部18、記憶部19、第1通信部20、操作部21等を具備している。
前記トータルステーション3は、第1測定基準点を有している。例えば、前記望遠鏡部17の光軸(第1測距光軸)と、前記第1鉛直回転軸13の軸心13aとが交差する点を第1測定基準点とする。
前記水平回転軸受9は前記固定部6に固定され、前記水平回転軸8は鉛直な軸心8aを有し、前記水平回転軸受9に回転自在に支持される。
前記水平回転軸受9と前記第1托架部7との間には前記水平回転モータ11が設けられ、該水平回転モータ11は前記第1制御部18によって制御される。該第1制御部18は、前記水平回転モータ11により前記第1托架部7を前記水平回転軸8を中心に回転させる様になっている。
前記第1托架部7の前記固定部6に対する相対回転角は、前記水平角エンコーダ12によって検出される。該水平角エンコーダ12からの検出信号は前記第1制御部18に入力され、該第1制御部18により水平角データが演算される。該第1制御部18は、前記水平角データに基づき前記水平回転モータ11に対するフィードバック制御を行う。
前記第1托架部7には第1凹部22が形成されている。又、該第1凹部22を挾んで対向する部位の上面には、円筒状の取付けピン45が所定数(第1の実施例では3本、図1中では取付けピン45a,45cのみ図示)予め設けられている。該取付けピン45にはネジ孔(図示せず)が形成されている。該取付けピン45には、前記2次元レーザスキャナ4が取外された状態では、ハンドル(図示せず)がボルトにより取付け可能となっている。該ハンドルは、前記トータルステーション3の持運びに使用される。更に、前記第1托架部7に前記第1鉛直回転軸受14を介して前記第1鉛直回転軸13が回転自在に設けられる。
該第1鉛直回転軸13は、水平な前記軸心13aを有し、一端部は前記第1凹部22内に延出し、前記一端部に前記望遠鏡部17が固着されている。又、前記第1鉛直回転軸13の他端部には、前記第1鉛直角エンコーダ16が設けられている。
前記第1鉛直回転軸13に前記第1鉛直回転モータ15が設けられ、該第1鉛直回転モータ15は前記第1制御部18に制御される。該第1制御部18は、前記第1鉛直回転モータ15により前記第1鉛直回転軸13を回転し、前記望遠鏡部17は前記第1鉛直回転軸13を中心に回転される様になっている。
前記望遠鏡部17の高低角(鉛直角)は、前記第1鉛直角エンコーダ16によって検出され、検出結果は前記第1制御部18に入力される。該第1制御部18は、前記第1鉛直角エンコーダ16の検出結果に基づき前記望遠鏡部17の第1鉛直角データを演算し、該第1鉛直角データに基づき前記第1鉛直回転モータ15に対するフィードバック制御を行う。
前記記憶部19には、前記第1制御部18で演算された水平角データ、第1鉛直角データ、後述する第2鉛直角データ、測距結果等、各種測定データが格納される。又、前記記憶部19には、後述する第1測距部による測距を制御する第1測距プログラム、後述する第2測距部29による測距を制御する第2測距プログラム、前記水平角エンコーダ12及び前記第1鉛直角エンコーダ16の検出結果に基づき前記トータルステーション3の方向角を演算する第1角度測定プログラム、前記水平角エンコーダ12及び後述する第2鉛直角エンコーダ27の検出結果に基づき前記2次元レーザスキャナ4の方向角を演算する第2角度測定プログラム、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4との通信を行う為の通信プログラム、前記トータルステーション3の第1測定基準点と前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点のキャリブレーションを行うキャリブレーションプログラム等のプログラムが格納される。
又、前記記憶部19としては、HDD、メモリカード等種々の記憶手段が用いられる。該記憶部19は、前記第1托架部7に対して着脱可能であってもよく、或は所要の通信手段を介して外部記憶装置或は外部データ処理装置にデータを送出可能としてもよい。
前記第1通信部20は、前記2次元レーザスキャナ4の第2通信部31(後述)との間で、無線或は有線等所要の通信手段で通信可能となっている。
前記操作部21は、例えばタッチパネルであり、該操作部21を介して測定条件の設定、測定の開始及び停止の指令、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とのキャリブレーションの実行の指令等が入力可能となっている。
次に、前記望遠鏡部17について説明する。
該望遠鏡部17は、視準望遠鏡10を具備し、又第1測距部(図示せず)を内蔵している。該第1測距部は、前記軸心13aと直交する方向に測距光を射出する射出部(図示せず)と、測定対象物で反射された反射測距光を受光する受光部(図示せず)とを有している。
前記第1測距部は、前記射出部から射出された第1測距光の発光のタイミングと、測定対象物で反射された反射測距光の前記受光部による受光のタイミングの時間差(即ち、第1測距光の往復時間)に基づき、測定対象物の測距が実行され、測距結果は前記水平角データと前記第1鉛直角データに関連付けられて、又は座標値として前記記憶部19に保存される。
前記2次元レーザスキャナ4は、前記取付け台5を介して前記トータルステーション3の上面にネジ止めされている。又、前記2次元レーザスキャナ4は、中央部に第2凹部33が形成された第2托架部23、第2鉛直回転軸24、第2鉛直回転軸受25、第2鉛直回転駆動部としての第2鉛直回転モータ26、第2鉛直角検出器としての前記第2鉛直角エンコーダ27、走査鏡28、前記第2測距部29、前記第2通信部31、ベース32、第2制御部39等を具備している。前記第2測距部29等、前記2次元レーザスキャナ4の各構成要素は、前記ベース32上に設けられている。
前記2次元レーザスキャナ4は、第2測定基準点を有している。該第2測定基準点は、例えば前記2次元レーザスキャナ4の測距光軸(第2測距光軸38a)が前記第2鉛直回転軸24の軸心24aと交差する点とする。該軸心24aと前記第2測距光軸38aとは同心であり、反射光軸30と前記軸心24aとは前記走査鏡28の反射面で交差する。尚、前記記憶部19、前記操作部21は、前記2次元レーザスキャナ4に対しても共通して使用される。一方で、記憶部、操作部を前記2次元レーザスキャナ4に別途設けてもよい。又、前記第2制御部39を省略し、前記第1制御部18に前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4の両方を制御させてもよい。
前記2次元レーザスキャナ4は、前記水平回転軸8を中心に前記トータルステーション3と一体に回転する様になっている。該トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とは微調整をしていないので、前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点は、前記水平回転軸8の軸心8aと必ずしも合致していない。又、前記軸心13aと前記軸心24aとは平行であるとは限らない。従って、第2測定基準点と前記軸心8aとの間にはズレが生じ、或は回転照射平面(後述)は前記軸心8aに対して傾斜し、ズレ量或は傾斜量は未知となっている。即ち、前記第1測定基準点に対する前記第2測定基準点の位置は未知となっている。ここで、前記反射光軸30は例えば鉛直方向に延出し、前記第2測定基準点を通過する。
前記第2鉛直回転軸24は、前記第2托架部23に前記第2鉛直回転軸受25を介して回転自在に支持されている。前記第2鉛直回転軸24の軸心24aは例えば水平であり、一端部は前記第2凹部33内に延出し、前記一端部には前記走査鏡28が固着されている。又、前記第2鉛直回転軸24の他端部には、前記第2鉛直角エンコーダ27が設けられている。前記第2鉛直回転モータ26は、前記第2鉛直回転軸24を回転し、該第2鉛直回転軸24を介して前記走査鏡28は前記軸心24aを中心に回転される。
前記走査鏡28の回転角は、前記第2鉛直角エンコーダ27によって検出され、検出結果は前記第2通信部31、前記第1通信部20を介して前記第1制御部18に入力される。該第1制御部18は、前記検出結果に基づき前記走査鏡28の第2鉛直角データを演算し、該第2鉛直角データに基づき前記第2鉛直回転モータ26をフィードバック制御する。尚、前記第2鉛直回転軸24は、図示しない高精度な傾斜センサ、例えばチルトセンサが設けられ、前記第1制御部18は前記傾斜センサの検出結果に基づき回転の際の軸ブレ等を補正可能となっている。
次に、前記第2測距部29について説明する。
発光素子34からパルス光の第2測距光が射出され、第2測距光は投光光学系35、ビームスプリッタ36を介して射出される。該ビームスプリッタ36から射出される第2測距光の第2測距光軸は、前記軸心24aと合致しており、第2測距光は前記走査鏡28によって直角に偏向される。該走査鏡28が前記軸心24aを中心に回転することで、第2測距光は前記軸心24aと直交する平面(回転照射平面)内を回転(走査)する。尚、第2測距光としては、パルス光に限らず、例えば特許文献2に示される断続光であってもよい。
測定対象物で反射された第2測距光(以下反射測距光)は、前記走査鏡28に入射し、該走査鏡28で偏向され、前記ビームスプリッタ36、受光光学系37を経て受光素子38で受光される。該受光素子38から発せられた受光信号は、前記第2制御部39に入力される。
該第2制御部39は、前記発光素子34の発光タイミングと、前記受光素子38の受光タイミングの時間差(即ち、パルス光の往復時間)に基づき、第2測距光の1パルス光毎に測距を実行する(Time Of Flight)。尚、測距方法としては、測距光として連続光、又は断続光を照射し、射出光と反射光の位相差により測距を行ってもよい。
尚、前記第2測距部29には内部参照光学系(図示せず)が設けられ、第2測距光の一部が分割され、前記内部参照光学系を経て前記受光素子38で分割された第2測距光が受光される。前記内部参照光学系で受光した測距光の受光タイミングと、反射測距光の受光タイミングとの時間差により測距を行うことで、高精度の測距が可能となる。
前記走査鏡28を鉛直方向に回転しつつ、測距を行うことで、第2鉛直角データと測距データが得られ、前記第2鉛直角データと前記測距データに基づき2次元の点群データが取得できる。更に、該2次元点群データ取得時の水平角が前記水平角エンコーダ12によって取得される。
又、前記第2制御部39により演算された前記走査鏡28の第2鉛直角データ、前記第2測距部29で測定された測距データは関連付けられた状態で、前記第2通信部31、前記第1通信部20を介して前記トータルステーション3に送信され、前記記憶部19に記憶される。或は、測距データと第2鉛直角データ、前記水平角エンコーダ12により検出した水平角データで表される3次元の座標値として前記記憶部19に記憶される。
前記第1制御部18と前記第2制御部39は、少なくとも2点の基準測定点を前記トータルステーション3と、前記2次元レーザスキャナ4とでそれぞれ測定し、各測定結果に基づき、前記軸心8aと前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点及び回転照射平面とのズレ量を演算する。又、前記第1制御部18は、前記ズレ量に基づき、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とのキャリブレーションを行う。キャリブレーション結果は、前記記憶部19に記憶される。
又、前記第1制御部18は、前記トータルステーション3による第1測距データ、前記第1鉛直角エンコーダ16による第1鉛直角データ、及び前記水平角エンコーダ12による水平角データに基づき、所定の測定点の3次元座標を測定する。又、前記第2制御部39は、前記2次元レーザスキャナ4の点群データ取得の為の制御を行うと共に、前記水平回転モータ11の制御も実行し、前記2次元レーザスキャナ4による鉛直方向の走査と、前記水平回転モータ11の水平方向の回転との協働により、2次元(水平、鉛直の2軸)のスキャンが実行される。2次元のスキャンとパルス光毎の測距により、前記走査鏡28の第2鉛直角データ、前記第2測距部29の第2測距データ、前記水平角エンコーダ12の水平角データが取得でき、第2鉛直角データ、水平角データ、第2測距データをキャリブレーション結果に基づき補正することで、測定対象物に対応する3次元の点群データが取得できる。又、前記第1制御部18は、3次元点群データと前記トータルステーション3が測定した前記基準測定点の3次元座標との関連付けを行う。
次に、図1〜図3を参照して、前記取付け台5について説明する。
該取付け台5は金属製であり、アーチ状の外形を有する。鉛直下方向に延出する板状の基部41と、該基部41の中心部に下方から逆凹字形状に形成された切欠き部42と、前記基部41の下端に形成され、水平方向に延出するフランジ43と、前記基部41の上端に形成され、水平方向に延出する板状のベース基板44とを有している。前記取付け台5は、例えば前記トータルステーション3及び前記2次元レーザスキャナ4と同等の幅を有している。
前記切欠き部42は、前記望遠鏡部17を鉛直回転させた際に、該望遠鏡部17と前記基部41とが干渉しない形状、大きさとなっている。
前記フランジ43は、前記取付けピン45に対応して形成される。即ち、3本の取付けピン45a〜45cに対応する位置に、3つのフランジ43a〜43cが形成される。該フランジ43a〜43cには、図示しないボルト孔が穿設されている。該ボルト孔を介して、固着部材46、例えばボルト46a〜46cが前記取付けピン45a〜45cのネジ孔に螺合され、前記取付け台5が前記トータルステーション3に取付けられる。即ち、前記取付け台5は、前記トータルステーション3に3点でネジ止めされる。
尚、前記取付けピン45a〜45cの高さは、製作誤差等により必ずしも一致していない。この状態で前記取付け台5を前記トータルステーション3に取付けた場合、前記取付けピン45a〜45cの高さの違いから、前記取付け台5に変形が生じる可能性がある。
第1の実施例では、前記取付け台5を3点支持にて前記トータルステーション3に取付けられるので、前記取付けピン45a〜45cの高さの違いに基づく前記取付け台5への影響を軽減できる。従って、前記トータルステーション3に前記取付けピン45が4本以上設けられている場合であっても、3本の該取付けピン45を使用して3点支持とするのが望ましい。
前記ベース基板44は、T字状の外形(平面形状)を有する板状の部材であり、一端部には該ベース基板44の長手方向と直交する方向に延出する取付け片47が形成されている。前記ベース基板44の他端部と、前記取付け片47の両端部には、それぞれ孔48a〜48cが形成されている。
該孔48a〜48cを介して、六角穴付きボルト等の固着部材49、例えばボルト49a〜49c(図1中ではボルト49a,49cのみ図示)が前記ベース32に形成されたネジ孔(図示せず)に螺合され、前記取付け台5に前記2次元レーザスキャナ4が取付けられる。即ち、該2次元レーザスキャナ4は、前記取付け台5に3点でネジ止めされる。
前記2次元レーザスキャナ4が3点支持にて前記取付け台5に取付けられるので、該取付け台5が完全な平面ではなく、該取付け台5に変形が生じていた場合であっても、該取付け台5の変形に基づく前記ベース32への影響を低減することができる。
尚、第1の実施例では、前記ベース32の下面は、所定の形状、所定の深さで肉抜きが施されており、該ベース32の軽量化を図ると共に、該ベース32の剛性の低下を防止している。第1の実施例では、該ベース32の剛性は、材質、板厚、肉抜き形状が考慮され、前記取付け台5の剛性よりも高くなっている。従って、該取付け台5に変形が生じていたとしても、該取付け台5への3点支持、該取付け台5の低剛性により、前記ベース32に変形を生じさせることなく前記取付け台5に前記ベース32を取付けることができる。
又、第1の実施例では、前記取付けピン45a〜45cは、ハンドル取付けの座と共用になっているので、上端面は平面となっている。従って、該取付けピン45a〜45cの高さに誤差があったとしても、3点での取付けであり、前記取付け台5に作用する力を分散させることができる。この為、前記取付け台5を取付けた際に該取付け台5が傾斜した場合であっても、取付けによって発生する前記ベース32への変形力は僅かであり、該ベース32の変形を防止することができる。
以下、前記測量装置1を用いた測定について説明する。
先ず、前記トータルステーション3に前記取付け台5を取付けた後、該取付け台5に前記2次元レーザスキャナ4を取付け、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とを一体化させる。
この時、前記水平回転軸8の前記軸心8aと、前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点とは、必ずしも合致していない。従って、前記測量装置1による測定の前段階として、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とのキャリブレーションを行い、第1測定基準点に対する第2測定基準点の位置を既知とする必要がある。
前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4により、少なくとも2点の基準測定点をそれぞれ測定する。即ち、前記トータルステーション3で各基準測定点の水平角データ、第1鉛直角データ、第1測距データをそれぞれ取得し、前記2次元レーザスキャナ4で水平角データ、第2鉛直角データ、第2測距データをそれぞれ取得する。
前記第1制御部18は、各基準測定点を測定した際の測定結果の偏差に基づき、第2測定基準位置と前記軸心8aとのズレ、前記軸心13aと前記軸心24aとの平行のズレを演算する。前記第1制御部18は、演算したズレ量、傾斜量に基づき、前記トータルステーション3の第1測定基準点に対する、前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点の位置、前記軸心13aと前記軸心24aとの平行のズレを演算し、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とのキャリブレーションが完了する。
キャリブレーション完了後、測定に必要な情報、データが前記操作部21から入力されると、前記第1制御部18は入力情報やデータに対応し、前記水平回転モータ11、前記第1鉛直回転モータ15、前記第1測距部に制御信号を送出する。
前記第1托架部7の水平回転、前記望遠鏡部17の鉛直回転の協働により、前記視準望遠鏡10が所定の測定点に向けられ、該視準望遠鏡10により所定の測定点が視準される。第1測距光が前記視準望遠鏡10を介して測定点に照射され、測定点の測距が実行される。第1測距データは前記記憶部19に入力され、該記憶部19に格納される。
又、測定点を視準した際の鉛直角が、前記第1鉛直角エンコーダ16によって検出され、水平角が前記水平角エンコーダ12によって検出され、第1鉛直角データと水平角データが前記記憶部19に格納される。又、第1測距データ、水平角データ、第1鉛直角データは相互に関連付けられる。
前記第1制御部18は、前記記憶部19に格納された測定点の第1測距データと、測距時の第1鉛直角データと水平角データとにより、測定点の3次元座標を取得することができる。又は、第1測距データと測距時の第1鉛直角データと水平角データとにより、測定点の3次元座標を算出し、前記記憶部19に格納することができる。
次に、前記2次元レーザスキャナ4により測定対象物の3次元点群データを取得する場合について説明する。
前記第2測距部29からパルス光の第2測距光が発せられた状態で、前記第2鉛直回転モータ26により前記走査鏡28が前記第2鉛直回転軸24の軸心24aを中心に回転される。更に、前記第2托架部23(前記第1托架部7)が前記水平回転モータ11により水平回転される。
前記走査鏡28の鉛直回転と、前記第1托架部7の水平回転の協働により、前記第2測距光は鉛直、水平の2方向に走査される。
第2測距光の1パルス光毎に測距が実行され、又1パルス光毎に鉛直角と水平角が検出される。1パルス光毎の第2測距データ、第2鉛直角データに基づき、鉛直平面内の2次元座標が取得される。又、該2次元座標と測距と同期して水平角データが検出される。第2測距データ、第2鉛直角データ、水平角データに基づき、各測定点での3次元座標が取得される。更に、第2測距光が鉛直、水平の2次元に走査されることで、3次元点群データが取得できる。
尚、測定前に事前に実行されたキャリブレーションにより、前記トータルステーション3の第1測定基準点に対する、前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点の位置は既知となっている。
従って、前記第1測定基準点と前記第2測定基準点との位置関係と、前記走査鏡28の第2鉛直角データに基づき、前記第1制御部18により前記2次元レーザスキャナ4の座標系を前記トータルステーション3の座標系へと変換することができるので、前記2次元レーザスキャナ4で取得された2次元座標を座標変換し、各測定点での3次元座標を取得する様にしてもよい。
上述の様に、第1の実施例では、アーチ状の前記取付け台5が3点支持にて前記トータルステーション3の上面に取付けられている。従って、開放されていた前記トータルステーション3の上部が前記取付け台5で閉塞され、前記第1托架部7と前記取付け台5とで閉鎖された枠状となるので、前記トータルステーション3の剛性を向上させることができる。
又、前記取付け台5は、前記トータルステーション3に予め設けられている前記取付けピン45を介して取付けられる。従って、前記取付け台5を前記トータルステーション3に取付ける為の構成を別途設ける必要がなく、製作コストの低減を図ることができる。又、前記取付け台5を容易に取付けることができ、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4とを容易に一体化することができる。
又、前記取付け台5は、鉛直方向に延出する前記基部41と水平方向に延出する前記ベース基板44とを有している。即ち、水平な該ベース基板44に対して垂直な前記基部41を固着しているので、該基部41はウェブとして機能し、前記取付け台5の曲げ剛性を向上させることができる。
又、前記取付け台5は前記トータルステーション3に3点支持され、前記2次元レーザスキャナ4は前記取付け台5に3点支持されている。従って、前記取付けピン45a〜45cの高さの違いに基づく前記取付け台5への変形が低減され、更に該取付け台5の変形に基づく前記ベース32への影響が低減され、該ベース32の変形を抑制することができる。
更に、第1の実施例では、前記測量装置1で測定を行う前段階として、前記トータルステーション3の第1測定基準点と、前記2次元レーザスキャナ4の第2測定基準点とのキャリブレーションを実行している。従って、前記軸心8aと第2測定基準点、前記軸心13aと前記軸心24aとが合致していない場合であっても、前記第1測定基準点と前記第2測定基準点のズレを演算で補正することができるので、前記取付け台5を高精度に製作する必要がなく、製作コストを低減させることができる。更に、前記トータルステーション3と前記2次元レーザスキャナ4との間の組立ての精度を高精度とする必要がないので、作業性を向上させることができる。
尚、本実施例では、前記取付け台5を金属製としているが、合成樹脂等、前記ベース32よりも剛性の低い材質であれば他の材質としてもよい。
図4は、第1の実施例に於ける前記取付け台5の変形例を示している。該変形例では、前記取付け台5を前記トータルステーション3に2点でネジ止めする方向と、前記2次元レーザスキャナ4を前記取付け台5に2点でネジ止めする方向とを異なる方向としている。この様な構成とすることで、前記取付けピン45a〜45cの高さの違いに基づく、前記取付け台5の変形を分散できると共に、前記2次元レーザスキャナ4を取付けた際の安定性を向上させることができる。
尚、前記取付けピン45a〜45cを、上面が球面のものに交換してもよい。該取付けピン45a〜45cの上面を球面とすることで、前記ボルト46a〜46cを締付けた際の、該ボルト46a〜46c近傍の変形の発生を防止できる。
又、前記ベース基板44と前記ベース32との間に、1面が球面に形成された座を介在させてもよい。該座を介在させることで、前記ボルト49a〜49cを締付けた際の、該ボルト49a〜49cの変形の発生を防止できる。
次に、図5、図6に於いて、本発明の第2の実施例について説明する。尚、図5、図6中、図1、図2中と同等のものには同符号を付し、その説明を省略する。
第2の実施例では、取付け台5の幅は、トータルステーション3、2次元レーザスキャナ4の幅よりも小さくなっている。又、取付けピン45a〜45cの上面は球面となっている。
又、第2の実施例では、孔48a〜48cは、ボルト46a〜46cよりも中心側に形成されている。前記2次元レーザスキャナ4は、前記孔48a〜48cを介して、前記ボルト49a〜49c(図5中ではボルト49a,49cのみ図示)により前記取付け台5に取付けられている。尚、第2の実施例に於いても、前記2次元レーザスキャナ4は前記取付け台5に3点支持されている。
ベース32の下面の中央部には、例えば円錐状の受け穴51が穿設されている。又、ベース基板44の上面の中央部には、例えば円錐状の受け穴52が穿設されている。更に、前記受け穴51と前記受け穴52との間には、球状の軸部材53が介設されている。前記受け穴51と前記受け穴52は、前記ボルト49a〜49cの間に形成されている。即ち、前記軸部材53を挾んで、前記ボルト49a〜49cが前記ベース32に螺合されている。
第2の実施例では、前記2次元レーザスキャナ4と前記取付け台5との間に、球状の前記軸部材53が介在されているので、前記取付け台5に生じている傾斜や変形の前記2次元レーザスキャナ4に及ぼす影響を低減することができる。
又、前記軸部材53は、前記受け穴51内に載置され、前記軸部材53が前記受け穴52内に位置する様前記2次元レーザスキャナ4を前記取付け台5に取付けるので、前記2次元レーザスキャナ4を容易に位置決めすることができ、作業性を向上させることができる。
尚、第2の実施例に於いても、取付け片47(図2参照)を形成し、該取付け片47の両端部に孔48a,48bを穿設してもよい。前記取付け片47を形成することで、前記2次元レーザスキャナ4の安定性を向上させることができる。
又、第1の実施例及び第2の実施例に於いて、前記取付け台5は、前記トータルステーション3に予め設けられた取付けピン45を介して取付けられている。従って、前記取付け台5に別途ハンドルを取付ける為の構成を追加し、前記取付け台5にハンドルを取付ける様にしてもよい。
1 測量装置
3 トータルステーション
4 2次元レーザスキャナ
5 取付け台
7 第1托架部
8 水平回転軸
8a 軸心
11 水平回転モータ
12 水平角エンコーダ
13 第1鉛直回転軸
13a 軸心
15 第1鉛直回転モータ
16 第1鉛直角エンコーダ
17 望遠鏡部
18 第1制御部
19 記憶部
23 第2托架部
24a 軸心
26 第2鉛直回転モータ
27 第2鉛直角エンコーダ
28 走査鏡
29 第2測距部
32 ベース
41 基部
42 切欠き部
43 フランジ
44 ベース基板
45 取付けピン
47 取付け片
51 受け穴
52 受け穴
53 軸部材

Claims (8)

  1. トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションは、該トータルステーションを鉛直軸心を中心に水平回転させる水平回転駆動部と、前記トータルステーションの水平角を検出する水平回転検出器と、所定の測定点を視準し第1測距光を発して測距する第1測距部を内蔵する望遠鏡部と、該望遠鏡部を水平軸心を中心に鉛直回転させる第1鉛直回転駆動部と、前記望遠鏡部の鉛直角を検出する第1鉛直角検出器と、制御部とを具備し、該制御部は、測距結果、前記水平回転検出器の検出結果、前記第1鉛直角検出器の検出結果に基づき測定点の3次元測定を行う様構成され、前記2次元レーザスキャナは、ベースと、該ベース上に設けられ第2測距光を発し測距を行う第2測距部と、前記第2測距光を鉛直面内に偏向する走査鏡と、該走査鏡を水平軸心を中心に鉛直回転させる第2鉛直回転駆動部と、前記走査鏡の鉛直角を検出する第2鉛直角検出器とを具備し、前記走査鏡により前記第2測距光が走査され、走査線に沿って点群データを取得する様構成された測量装置。
  2. 前記取付け台は、下部に前記トータルステーションの上面に固着されるフランジと、上部に前記2次元レーザスキャナに固着されるベース基板とを有し、前記取付け台は前記ベースに対して低剛性に構成された請求項1に記載の測量装置。
  3. 前記フランジは左右のいずれか一方が2点で固着され、いずれか他方が1点で固着され、前記ベース基板は左右のいずれか一方が1点で固着され、いずれか他方が2点で固着された請求項2に記載の測量装置。
  4. 前記ベース基板の上面中央部と、前記ベースの下面中央部とに、それぞれ円錐状の受け穴が穿設され、該受け穴間に球状の軸部材を介設し、該軸部材を挾んで3点で前記ベース基板と前記ベースとを固定した請求項3に記載の測量装置。
  5. 前記取付け台は、前記トータルステーションの上面に突設された取付けピンに固着され、該取付けピンの上面は球面に形成された請求項1〜請求項4のうちいずれか1項に記載の測量装置。
  6. 前記ベースと前記ベース基板との間に座が介在されてボルト付けされ、前記座の一面は球面に形成された請求項3に記載の測量装置。
  7. 前記制御部は、前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとに、少なくとも2点の基準測定点をそれぞれ測定させ、該基準測定点の測定結果に基づき、前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとのキャリブレーションを実行する様構成された請求項1〜請求項6のうちいずれか1項に記載の測量装置。
  8. トータルステーションと、該トータルステーションの上面に3点で固定される取付け台と、該取付け台の上面に3点で固定される2次元レーザスキャナとを具備し、前記トータルステーションにより少なくとも2点の基準測定点を測定し、前記2次元レーザスキャナにより前記2点の基準測定点を測定し、前記トータルステーションによる前記2点の基準測定点の測定結果と、前記2次元レーザスキャナによる前記2点の基準測定点の測定結果との偏差を求め、該偏差に基づき前記トータルステーションと前記2次元レーザスキャナとの間のキャリブレーションを行うトータルステーションと2次元レーザスキャナとの組立て方法。
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