JP2019067815A - インプリントモールド形成用基板、インプリントモールド形成用ブランクス、およびインプリントモールド、ならびにインプリントモールド形成用ブランクスの製造方法およびインプリントモールドの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明のインプリントモールド形成用基板は、表面および裏面を有する透明基板を備えるインプリントモールド形成用基板であって、上記透明基板の上記表面側の外縁において対向位置にノッチが設けられたことを特徴とする。
上記ノッチは、上記透明基板の上記表面側の外縁において対向位置に設けられた切り欠きである。
上記インプリントモールド形成用基板は、上記透明基板を備える基板であって、インプリントモールドを形成するために用いられるものである。
上記透明基板は、表面および裏面を有する光透過性基板である。
ここで、「表面の平坦度が裏面と同等」とは、上記表面の平坦度と上記裏面の平坦度との差が、−0.2μm〜+0.2μmの範囲内であることをいう。例えば、上記表面の平坦度が0.5μmであり、上記裏面の平坦度が0.7μmである場合には、上記表面の平坦度が上記裏面と同等のものとなる。上記平坦度の計測範囲は、例えば、152mm角の石英板では、通常142mm角である。
なお、上記平坦度は、光干渉で測定されるものである。また、本発明において、上記平坦度とは、NIST規格においてフォトマスク等に用いられる石英の平坦度について規定された平坦度を意味し、レーザー光を斜めから入射する斜入射方式の干渉計で干渉縞を観察するといった測定方法を用いて、エスオーエル株式会社製のFlatMaster、Corning Tropel社製のtropelにより測定されたものを意味する。
図1に示されるインプリントモールド形成用基板10においては、透明基板1の表面1a側の外縁において方向識別用のノッチ3がさらに設けられている。
本発明のインプリントモールド形成用ブランクスは、表面および裏面を有するインプリントモールド形成用ブランクスであって、上記表面側に台座構造が設けられ、上記表面側の外縁において対向位置にノッチが設けられたことを特徴とする。
上記ノッチは、上記インプリントモールド形成用ブランクスの表面側の外縁において対向位置に設けられた切り欠きである。
上記台座構造は、上記インプリントモールド形成用ブランクスの表面側に設けられた凸部である。
上記インプリントモールド形成用ブランクスは、表面および裏面を有するブランクスであって、インプリントモールドを形成するために用いられるものである。
本発明のインプリントモールドは、上述した「B.インプリントモールド形成用ブランクス」の項目に記載されたインプリントモールド形成用ブランクスの上記台座構造の表面に転写パターンを有することを特徴とする。具体的には、本発明のインプリントモールドは、表面および裏面を有するインプリントモールドであって、上記表面側に台座構造が設けられ、上記台座構造の表面に転写パターンが設けられ、上記表面側の外縁において対向位置にノッチが設けられたことを特徴とする。
上記ノッチは、上記インプリントモールドの表面側の外縁において対向位置に設けられた切り欠きである。
上記台座構造は、上記インプリントモールドの表面側に設けられた凸部である。
上記転写パターンは、上記台座構造の表面に設けられたものである。本発明において、「転写パターン」とは、ナノインプリントリソグラフィを用いてインプリントモールドから被転写体に転写されるパターンを意味する。
上記インプリントモールドは、表面および裏面を有するインプリント用モールドである。
本発明のインプリントモールド形成用ブランクスの製造方法は、上述した「A.インプリントモールド形成用基板」の項目に記載されたインプリントモールド形成用基板のうち上記転写パターンが設けられていないインプリントモールド形成用基板を準備する基板準備工程と、上記透明基板の上記表面側の台座構造形成領域にエッチングマスクを形成するエッチングマスク形成工程と、上記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において上記ノッチの外周端および上記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、上記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、上記透明基板の上記表面側に台座構造を形成するエッチング工程と、を有することを特徴とする。
上記基板準備工程においては、上述した「A.インプリントモールド形成用基板」の項目に記載されたインプリントモールド形成用基板のうち上記転写パターンが設けられていないインプリントモールド形成用基板を準備する。
上記エッチングマスク形成工程においては、上記透明基板の上記表面側の台座構造形成領域にエッチングマスクを形成する。
上記エッチング工程においては、上記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において上記ノッチの外周端および上記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、上記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、上記透明基板の上記表面側に台座構造を形成する。
本発明のインプリントモールド形成用ブランクスの製造方法は、図11(f)および図12(h)に示されるように、上記透明基板の上記裏面側に凹部を形成する凹部形成工程を有していることが好ましい。インプリントモールドの転写パターンを被転写体の硬化性樹脂層に密着させる時に、上記凹部内の空気圧を高くしてインプリントモールドを湾曲させることにより、転写パターンと硬化性樹脂層との間に空気が封入されることを抑制することができるからである。
本発明のインプリントモールド形成用ブランクスの製造方法においては、上記基板準備工程において、上記表面および上記裏面の平坦度が異なるインプリントモールド形成用基板を準備する場合には、上記エッチングマスクを形成する上記表面を上記表面および上記裏面の平坦度に基づいて判別することができる。
本発明のインプリントモールドの製造方法は、上述した「D.インプリントモールド形成用ブランクスの製造方法」の項目に記載された製造方法により製造されたインプリントモールド形成用ブランクスを用いて、インプリントモールドを製造する第1態様と、上述した「A.インプリントモールド形成用基板」の項目に記載されたインプリントモールド形成用基板のうち上記転写パターンが設けられたインプリントモールド形成用基板を用いて、インプリントモールドを製造する第2態様と、に大別することができる。以下、第1態様および第2態様をそれぞれ説明する。
第1態様のインプリントモールドの製造方法は、上述した「D.インプリントモールド形成用ブランクスの製造方法」の項目に記載された製造方法により製造されたインプリントモールド形成用ブランクスを準備するブランクス準備工程と、上記インプリントモールド形成用ブランクスの上記台座構造の表面に転写パターンを形成する転写パターン形成工程と、を有することを特徴とする。
上記ブランクス準備工程においては、上述した「D.インプリントモールド形成用ブランクスの製造方法」の項目に記載された製造方法により製造されたインプリントモールド形成用ブランクスを準備する。
上記転写パターン形成工程においては、上記インプリントモールド形成用ブランクスの上記台座構造の表面に転写パターンを形成する。
第2態様のインプリントモールドの製造方法は、上述した「A.インプリントモールド形成用基板」の項目に記載されたインプリントモールド形成用基板のうち上記転写パターンが設けられたインプリントモールド形成用基板を準備する基板準備工程と、上記透明基板の上記表面に上記転写パターンを覆うようにエッチングマスクを形成するエッチングマスク形成工程と、上記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において上記ノッチの外周端および上記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、上記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、上記透明基板の上記表面側に台座構造を形成するエッチング工程と、を有することを特徴とする。
上記基板準備工程においては、上述した「A.インプリントモールド形成用基板」の項目に記載されたインプリントモールド形成用基板のうち上記転写パターンが設けられたインプリントモールド形成用基板を準備する。
上記エッチングマスク形成工程においては、上記透明基板の上記表面に上記転写パターンを覆うようにエッチングマスクを形成する。
上記エッチング工程においては、上記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において上記ノッチの外周端および上記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、上記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、上記透明基板の上記表面側に台座構造を形成する。
第2態様のインプリントモールドの製造方法は、図15(i)に示されるように、上記透明基板の上記裏面側に凹部を形成する凹部形成工程を有していることが好ましい。上記凹部形成工程については、上述した「D.インプリントモールド形成用ブランクスの製造方法 4.他の工程」の項目に記載された凹部形成工程と同様である。また、第2態様のインプリントモールドの製造方法は、図15(h)に示されるように、上記エッチング工程後に上記エッチングマスクを除去するエッチングマスク除去工程を有していてもよい。上記エッチングマスク除去工程については、上述した「D.インプリントモールド形成用ブランクスの製造方法 4.他の工程」の項目に記載されたエッチングマスク除去工程と同様である。
第2態様のインプリントモールドの製造方法においては、上記基板準備工程において、上記表面および上記裏面の平坦度が異なるインプリントモールド形成用基板を準備する場合には、上記転写パターンを形成する上記表面側を上記表面および上記裏面の平坦度に基づいて判別することができる。
1…透明基板
2…ノッチ
20…インプリントモールド形成用ブランクス
22…ノッチ
30…インプリントモールド
Claims (15)
- 表面および裏面を有する透明基板を備えるインプリントモールド形成用基板であって、
前記透明基板の前記表面側の外縁において対向位置にノッチが設けられたことを特徴とするインプリントモールド形成用基板。 - 前記透明基板は、前記表面の平坦度が前記裏面以下であることを特徴とする請求項1に記載のインプリントモールド形成用基板。
- 前記透明基板は矩形状であり、
前記ノッチが対角に設けられたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のインプリントモールド形成用基板。 - 前記透明基板の外縁に方向識別用のノッチが設けられたことを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用基板。
- 前記透明基板の前記表面に設けられたハードマスク層をさらに備えることを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用基板。
- 前記透明基板の前記表面側に転写パターンが設けられたことを特徴とする請求項5に記載のインプリントモールド形成用基板。
- 表面および裏面を有するインプリントモールド形成用ブランクスであって、
前記表面側に台座構造が設けられ、
前記表面側の外縁において対向位置にノッチが設けられたことを特徴とするインプリントモールド形成用ブランクス。 - 矩形状であり、前記ノッチが対角に設けられたことを特徴とする請求項7に記載のインプリントモールド形成用ブランクス。
- 前記ノッチの外周部に突出部が設けられたことを特徴とする請求項7または請求項8に記載のインプリントモールド形成用ブランクス。
- 外縁に方向識別用のノッチが設けられたことを特徴とする請求項7から請求項9までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用ブランクス。
- 前記裏面側に凹部が設けられたことを特徴とする請求項7から請求項10までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用ブランクス。
- 請求項7から請求項11までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用ブランクスの前記台座構造の表面に転写パターンを有することを特徴とするインプリントモールド。
- 請求項1から請求項5までのいずれかに記載のインプリントモールド形成用基板を準備する基板準備工程と、
前記透明基板の前記表面側の台座構造形成領域にエッチングマスクを形成するエッチングマスク形成工程と、
前記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において前記ノッチの外周端および前記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、前記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、前記透明基板の前記表面側に台座構造を形成するエッチング工程と、を有することを特徴とするインプリントモールド形成用ブランクスの製造方法。 - 請求項13に記載の製造方法により製造されたインプリントモールド形成用ブランクスを準備するブランクス準備工程と、
前記インプリントモールド形成用ブランクスの前記台座構造の表面に転写パターンを形成する転写パターン形成工程と、を有することを特徴とするインプリントモールドの製造方法。 - 請求項6に記載のインプリントモールド形成用基板を準備する基板準備工程と、
前記透明基板の前記表面に前記転写パターンを覆うようにエッチングマスクを形成するエッチングマスク形成工程と、
前記インプリントモールド形成用基板を、対向位置において前記ノッチの外周端および前記裏面が保持具に当接するようにして保持した状態でエッチング液に浸漬させて、前記エッチングマスクを用いてウェットエッチングを行うことによって、前記透明基板の前記表面側に台座構造を形成するエッチング工程と、を有することを特徴とするインプリントモールドの製造方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021048284A (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 大日本印刷株式会社 | エッチング装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009224424A (ja) * | 2008-03-14 | 2009-10-01 | Dainippon Printing Co Ltd | インプリント用スタンパ |
JP2010094845A (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-30 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体の製造方法およびナノインプリント用モールドの製造方法 |
JP2013088793A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-05-13 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 半導体用ガラス基板及びその製造方法 |
JP2016043692A (ja) * | 2014-08-19 | 2016-04-04 | 信越化学工業株式会社 | インプリント・リソグラフィ用角形基板及びその製造方法 |
JP2016122782A (ja) * | 2014-12-25 | 2016-07-07 | Hoya株式会社 | 基板の製造方法、マスクブランクの製造方法及びインプリントモールドの製造方法 |
US20160320716A1 (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Imprint device, substrate conveying device, imprinting method, and method for manufacturing article |
-
2017
- 2017-09-28 JP JP2017188674A patent/JP6972853B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009224424A (ja) * | 2008-03-14 | 2009-10-01 | Dainippon Printing Co Ltd | インプリント用スタンパ |
JP2010094845A (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-30 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体の製造方法およびナノインプリント用モールドの製造方法 |
JP2013088793A (ja) * | 2011-10-24 | 2013-05-13 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 半導体用ガラス基板及びその製造方法 |
JP2016043692A (ja) * | 2014-08-19 | 2016-04-04 | 信越化学工業株式会社 | インプリント・リソグラフィ用角形基板及びその製造方法 |
JP2016122782A (ja) * | 2014-12-25 | 2016-07-07 | Hoya株式会社 | 基板の製造方法、マスクブランクの製造方法及びインプリントモールドの製造方法 |
US20160320716A1 (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Imprint device, substrate conveying device, imprinting method, and method for manufacturing article |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021048284A (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 大日本印刷株式会社 | エッチング装置 |
JP7302406B2 (ja) | 2019-09-19 | 2023-07-04 | 大日本印刷株式会社 | エッチング装置 |
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