JP2016043692A - インプリント・リソグラフィ用角形基板及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、特許文献3(特表2009−536591号公報)に示されるような角形基板を使用した形態においては、角形基板を囲む複数のアクチュエータを備えたアクチュエーション・システムにより角形基板の端面を複数の力で加圧することによって、基板の押圧部を湾曲させたり、変形させたりして、高精度に押圧及びパターン形状の制御を行っている。
本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、インプリント・リソグラフィにおいて高精度に押圧及びパターン形状を制御するのに適した角形基板を提供することを目的とする。
〔1〕
基板側面が研削により加工されたインプリント・リソグラフィ用角形基板の側面に対して、垂直方向に一定圧力で回転研磨パッドを押し当てながら回転研磨パッドと前記角型基板とを相対的に前記側面に対して平行移動させて、前記角型基板の側面を研磨することを特徴とするインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔2〕
前記平行移動時において、回転研磨パッドと角型基板との相対的移動における移動速度を、前記角型基板の側面の研磨位置に応じて変化させて研磨を行う〔1〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔3〕
回転研磨パッドの中心が角型基板の側面の長手方向中央部領域に位置する際の移動速度よりも、側面の長手方向端部領域に位置する際の移動速度を速くして研磨する〔2〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔4〕
前記平行移動時において、回転研磨パッドと角型基板との相対的移動における移動速度を、角型基板の側面の凹凸状態に応じて変化させて研磨を行う〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔5〕
側面の凸部における移動速度を速く、側面の凹部における移動速度を遅くして研磨する〔4〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔6〕
更に、角型基板側面の短手方向(幅方向)に沿って角型基板と回転研磨パッドとを相対的に移動させて研磨を行う〔1〕〜〔5〕のいずれかに記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔7〕
前記角型基板の一側面を研磨した後、該基板を順次90°ずつ回転させ、残りの側面を研磨することにより、角型基板の4個の側面全ての研磨を行う〔1〕〜〔6〕のいずれかに記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔8〕
研削により側面を形成する工程の前後又は研削により加工された側面を研磨する工程の後に、更に角形基板の裏面に非貫通の穴又は溝を研削により形成する工程を含む〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔9〕
更に、研削された非貫通の穴又は溝の側面及び底面を研磨する工程を含む〔8〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔10〕
前記非貫通の穴又は溝の側面及び底面を研磨する工程が、研削により加工された非貫通の穴又は溝の側面及び底面に回転研磨ツールの研磨加工部をそれぞれ独立した一定圧力で接触させて側面及び底面の研削面を研磨する工程である〔9〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
〔11〕
表裏面と4個の側面を有し、表面に凹凸によるパターンが刻印されているインプリント・リソグラフィ用角形基板であって、前記各側面の平坦度が20μm以下であることを特徴とするインプリント・リソグラフィ用角形基板。
〔12〕
角形基板の隣り合う側面同士のなる角度が、90±0.1°の範囲内である〔11〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
〔13〕
角形基板の各側面が、鏡面である〔11〕又は〔12〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
〔14〕
角形基板の各側面の表面粗さ(Ra)が、0.01〜2nmである〔13〕記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
〔15〕
角型基板が裏面に非貫通の穴又は溝を有していることを特徴とする〔11〕〜〔14〕のいずれかに記載の角形基板。
側面の平坦度が20μmを超えたインプリント・リソグラフィ用角形基板を用いて、インプリント・リソグラフィ法により例えば樹脂上に前記基板の凹凸によるパターンを転写する場合、以下のような様々な問題が起きる。
回転研磨パッドの研磨加工部の材質としては、発泡ポリウレタン、酸化セリウム含浸ポリウレタン、酸化ジルコニウム含浸ポリウレタン、不織布、スウェード、ゴム、羊毛フェルトなど、被加工物を加工除去できるものであれば種類は限定されない。
回転研磨パッドを角型基板側面に一定圧力で押し当てる方法としては、空気圧ピストン、ロードセル等の加圧機構を用いる方法が挙げられる。
この場合、研磨砥粒としては、シリカ、セリア、アランダム、ホワイトアランダム(WA)、FO(アルミナ)、ジルコニア、SiC、ダイヤモンド、チタニア、ゲルマニア等が挙げられ、その粒度は10nm〜10μmが好ましく、これらの水スラリーを好適に用いることができる。
上下に対向する表裏面及び4個の側面を有する角形基板の一方の面(表面)全面に金属薄膜を形成する。成膜方法は、例えばスパッタリング成膜法や蒸着成膜法を用いればよい。金属薄膜は、単層であっても複数層から成っても構わない。一例としてクロム薄膜が挙げられる。次に金属薄膜上に例えば電子線描画用レジスト材料を塗布し、所定の温度、時間でベーク処理を施して、レジスト膜を形成する。
そして、電子描画装置等を用いて、前記レジスト膜に所定のパターンを描画した後、レジスト膜を現像する。エッチング加工により所定のパターンの金属薄膜を除去する。エッチング加工後、残存するレジスト膜は除去してもよい。次に、前記基板に対してエッチング加工を行い基板上に凹凸パターンを刻印する。ここでのエッチング加工は、例えばナノレベルの凹凸パターンを形成する場合、加工精度の面からドライエッチングであることが好ましい。
上下に対向する表裏面及び4個の側面を有する角形基板の一方の面(表面)全面に金属薄膜を形成する。成膜方法は上記の方法と同様でよい。また、基板表面には、例えば上記方法によるナノレベルの凹凸パターン等の凹凸形状が刻印されていてもよい。
次に、金属薄膜上に、例えばフォトレジスト材料を塗布し、所定の温度、時間でベーク処理を施して、レジスト膜を形成する。
前記レジスト膜上に、例えば露光装置を用いたフォトリソグラフィ法によりメサ形成用のレジストパターンを形成する。具体的には、例えばメサパターンを有したフォトマスクをセットした露光装置に基板を導入し、紫外線による露光を行い、その後に現像する。次に、ウェットエッチング等の方法で、前記メサ形成用レジストパターンで保護されている部分以外のクロム薄膜を除去する。更に、前記基板に対して、エッチング加工を行い、メサ構造を形成する。ここでのエッチング加工は、基板をエッチングできる方法であればウェットエッチング及びドライエッチングのどちらでも良い。
同様の方法でアライメントマーク等、ミリからマイクロレベルの構造体を基板上に形成することができる。
非貫通の穴又は溝を形成する工程は、研削により側面を形成する工程の前後、又は研削された側面を研磨する工程の後のいずれであっても構わないが、加工のし易さ、能率の面から、非貫通の穴又は溝の研削を行う工程は、側面の研削を行う工程の直前又は直後に、研削された非貫通の穴又は溝の研磨を行う工程は、研削された側面の研磨を行う工程の直前又は直後に行うことが好ましい。
角柱ブロック状に成形した合成石英インゴット原料に対してスライス加工を行い、外形160.0mm角、板厚6.50mmの板状の角形基板を得た。
前記角形基板をホイール研削装置に導入し、ダイヤモンド砥粒付研削ホイールによる各側面及び面取部の研削加工を行い、外形が152.0mm角であり、曲率半径(R)が2.5mmの曲面状角部及び面取り部を有する四角形状の角形基板を得た。
次に、ラッピング加工を行い、互いに対向する表面と裏面の2つの面がすりガラス面(面粗さ:RMS=0.32μm)の合成石英ガラス基板を得て角型基板とした。
前記合成石英ガラス基板を図8(A)に概要を示す側面鏡面化装置に導入し、装置内の基板保持台15の真空吸着把持部に、位置決め治具11の位置決めピン12に側面を当てながら、側面と回転研磨パッド52の移動軸51が平行となるようセットし、真空吸着把持部を作動させ合成石英ガラス基板を基板保持台に固定した。その後、位置決め治具は、研磨の妨げにならない場所まで移動させ、装置内に収納した。
その後、前記合成石英ガラス基板の曲面状角部、面取部及び側面の研磨を行った。研磨時の側面鏡面化装置の概要を図8(B)に示す。
前記曲面状角部及び面取り部の研磨は、研磨剤スラリーを供給しながら、回転研磨パッド54を0.02MPaの一定圧力で押し当てながら、曲面状角部及び面取り部の形状に沿うように移動させながら行った。研磨には空気圧ピストン加圧機構55付き回転研磨パット54をアーム先端に備えた5軸多関節ロボット56を用いた。研磨剤スラリーには酸化セリウム水溶液を、回転研磨パッド54の研磨加工部にはポリウレタン系研磨布を用いた。
前記基板側面の研磨は、研磨剤スラリーを供給しながら、回転研磨パッド52を0.04MPaの一定圧力で側面に対して垂直方向に押し当てながら、かつ側面に対して平行に長手方向に往復移動させながら、同時に短手方向(幅方向)に揺動させて行った。往復移動時に研磨パッドの中心が側面の長手方向端部領域にきた際は、研磨パッドの移動速度を長手方向中央部領域の移動速度よりも速くして研磨を行った。研磨剤スラリーには酸化セリウム水溶液を、回転研磨パッド52の研磨加工部には不織布系研磨布を用いた。
前記曲面状角部、面取部及び側面の研磨は、合成石英ガラス基板をハースカップリングによる精密位置決め機能を持つ回転機構により90°ずつ回転させ、順番に研磨した。研磨の順番は、曲面状角部の面取り部、曲面状の角部、側面の面取り部、側面の順番で行った。
曲面状角部、面取部及び側面の全ての研磨が完了した後、真空吸着把持部より合成石英ガラス基板を取り出した。基板の外形は151.980mm角となった。
次に、前記合成石英ガラス基板の表裏面を酸化セリウムを用いて粗研磨を行い、コロイダルシリカを用いて精密研磨を行って、互いに対向する表面と裏面の2つの面が平滑かつ低欠陥に鏡面化された合成石英ガラス基板を得た。基板の板厚は6.35mmとなった。
この合成石英ガラス基板の表面全面にスパッタリング成膜装置によりクロム薄膜を形成した。次に、クロム薄膜の上に電子線描画用レジスト(ZEP720A:日本ゼオン製)をスピンコーターにより塗布し、所定の温度、時間でベーク処理を施して、レジスト膜を形成した。
次に、電子描画機を用いて、前記レジスト膜にラインアンドスペースパターンを描画した後、レジスト膜の現像、塩素ガスを用いたドライエッチングによるクロム薄膜の除去、CHF3ガスを用いたドライエッチングを経て、合成石英ガラス基板上に凹凸パターンを形成し、図1に示す表面にハーフピッチ20nmのラインアンドスペース凹凸パターンが刻印された合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板を得た。
前記合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板の各測定の測定結果は下記のようになった。
4面の測定結果
3.5μm、3.5μm、2.9μm、3.5μm
(隣り合う側面同士のなす角度)
4箇所全て90°±0.04°以内
(側面の表面粗さ)
Ra=0.15nm
各測定には下記の装置を用いた。
側面の平坦度:Zygo NewView7300
隣り合う側面同士のなす角度:ダイヤルゲージ
側面の表面粗さ:原子間力顕微鏡
互いに対向する表面と裏面の2つの面が精密に研磨され、ブラシ研磨により鏡面化された側面、曲面状角部及び面取り部を有する、外形153.0mm角、板厚6.35mmの四角形状の合成石英ガラス角形基板を原料基板として用意した。
この合成石英ガラス基板の表面全面にスパッタリング成膜装置によりクロム薄膜を形成した。次に、クロム薄膜の上にポジ型フォトレジスト(AZP1350:AZエレクトロニックマテリアルズ社製)をスピンコーターにより塗布し、所定の温度、時間でプリベーク処理を施して、レジスト膜を形成した。
フォトマスクをセットした露光装置に前記合成石英ガラス基板を導入し、波長紫外線による露光を行った。フォトマスクには、中央に26mm×33mmの四角形状のメサパターンを有したガラス製フォトマスク基板を用いた。
次に、前記合成石英ガラス基板を露光装置より取出し、現像を行い、メサ形成用のレジストパターンを形成した。そして、前期合成石英ガラス基板に対して、硝酸第二セリウムアンモニウム水溶液によるクロムエッチングを行い、前記メサ形成用レジストパターンで保護されている部分以外のクロム薄膜を除去した。更に、前記合成石英ガラス基板に対して、フッ酸水溶液によるウェットエッチングを行い、前記レジストパターンで保護されている部分以外の合成石英を除去した。更に、アセトンによりレジスト膜を除去し、表面がクロム薄膜で成膜された高さが30μm程度のメサ構造を形成した。
次に、表面を上にした状態で前記合成石英ガラス基板をSUS製の台座板の上にシフトワックスにより接着した。
前記台座板と接着した合成石英ガラス基板をマシニングセンタに導入し、マシニングセンタの加工テーブル上に設置したマグネットチャック装置上に固定した。その後、ダイヤモンド砥粒付砥石による側面及び面取り部の研削加工を行い、外形が152.0mm角であり、R:2.5mmの曲面状角部及び面取り部を有する四角形状の角形基板を形成した。その後、合成石英ガラス基板を接着させた台座板ごと取り出した。
前記台座板と接着した合成石英ガラス基板を図8(A)に示す側面鏡面化装置に導入し、装置内の基板保持台15のマグネットチャック装置に、位置決め治具11の位置決めピン12に基板の側面を当てながら基板の側面と回転研磨パッド52の移動軸51が平行となるようセットし、マグネットチャック装置を作動させ合成石英ガラス基板を固定した。
その後、実施例1と同様の方法で、前記合成石英ガラス基板の曲面状角部、面取部及び側面の研磨を行った。
曲面状角部、面取部及び側面の全ての研磨が完了した後、マグネットチャック装置より台座板と接着した合成石英ガラス基板を取り出した。次に、加熱によりシフトワックスを溶解させ、合成石英ガラス基板を台座板から取り外した。その後、基板の洗浄を行い、図2に示す表面に26mm×33mm、高さ30μmの四角形状のメサ構造が刻印された合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板を得た。
前記合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板の各測定の測定結果は、下記のようになった。各測定には実施例1と同様の装置を用いた。
4面の測定結果
1.9μm、2.5μm、1.9μm、2.1μm
(隣り合う側面同士のなす角度)
4箇所全て90°±0.04°以内
(側面の表面粗さ)
Ra=0.17nm
互いに対向する表面と裏面の2つの面が精密に研磨され、ブラシ研磨により鏡面化された側面、曲面状角部及び面取り部を有する、外形152.0mm角、板厚6.35mmの四角形状の合成石英ガラス角形基板を原料基板として用意した。
この合成石英ガラス基板の表面全面にスパッタリング成膜装置によりクロム薄膜を形成した。次に、クロム薄膜の上に電子線描画用レジスト(ZEP720A:日本ゼオン製)をスピンコーターにより塗布し、所定の温度、時間でベーク処理を施して、レジスト膜を形成した。
次に、電子描画機を用いて前記レジスト膜にラインアンドスペースパターンを描画した後、レジスト膜の現像、塩素ガスを用いたドライエッチングによるクロム薄膜の除去、CHF3ガスを用いたドライエッチングを経て、合成石英ガラス基板上に凹凸パターンを形成した。
前記角形基板をダイシング装置に導入し、ダイヤモンド砥粒付ダイシングブレードによる切断加工を行い、外形が75.0mm角の板状の角形基板を得た。
次に、表面を下にした状態で、前記合成石英ガラス基板をSUS製の台座板の上にシフトワックスにより接着した。
前記台座板と接着した合成石英ガラス基板をマシニングセンタに導入し、マシニングセンタの加工テーブル上に設置したマグネットチャック装置上に固定した。その後、ダイヤモンド砥粒付砥石による側面、面取り部及び非貫通の穴の研削加工を行い、外形が70.0mm角であり、R:1.0mmの曲面状角部及び面取り部を有し、直径50mm、深さ4mmの円形の非貫通の穴を有する四角形状の角形基板を形成した。その後、合成石英ガラス基板を接着させた台座板ごと取り出した。
その後、実施例1と同様の方法で、前記合成石英ガラス基板の曲面状角部、面取部及び側面の研磨を行った。
曲面状角部、面取部及び側面の全ての研磨が完了した後、マグネットチャック装置より台座板と接着した合成石英ガラス基板を取り出した。次に、合成石英ガラス基板を基板保持台に固定して、酸化セリウム系研磨剤スラリーを供給しながら、500rpmで回転する直径50mmφ、高さ30mmの羊毛フェルトバフを非貫通の穴の底面に3,500Pa、側面に2,000Paで押し当てて、基板保持台を10rpmで回転させ、60分間研磨し、非貫通の穴の底面及び側面の研削面を鏡面加工した。
次に、加熱によりシフトワックスを溶解させ、合成石英ガラス基板を台座板から取り外した。その後、基板の洗浄を行い、図4(A)及び(C)に示す表面にハーフピッチ20nmのラインアンドスペース凹凸パターンが刻印され、裏面に円形の非貫通の穴を有した合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板を得た。
前記合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板の各測定の測定結果は下記のようになった。各測定には実施例1と同様の装置を用いた。
4面の測定結果
1.7μm、2.1μm、2.3μm、1.9μm
(隣り合う側面同士のなす角度)
4箇所全て90°±0.04°以内
(側面の表面粗さ)
Ra=0.21nm
互いに対向する表面と裏面の2つの面が精密に研磨され、ブラシ研磨により鏡面化された側面、曲面状角部及び面取り部を有する、外形153.0mm角、板厚6.35mmの四角形状の合成石英ガラス角形基板を原料基板として用意した。
この合成石英ガラス基板の表面全面にスパッタリング成膜装置によりクロム薄膜を形成した。次に、クロム薄膜の上にポジ型フォトレジスト(AZP1350:AZエレクトロニックマテリアルズ社製)をスピンコーターにより塗布し、所定の温度、時間でプリベーク処理を施して、レジスト膜を形成した。
フォトマスクをセットした露光装置に前記合成石英ガラス基板を導入し、波長紫外線による露光を行った。フォトマスクには、中央に26mm×33mmの四角形状のメサパターンを有したガラス製フォトマスク基板を用いた。
次に、前記合成石英ガラス基板を露光装置より取出し、現像を行い、メサ形成用のレジストパターンを形成した。そして、前記合成石英ガラス基板に対して、硝酸第二セリウムアンモニウム水溶液によるクロムエッチングを行い、前記メサ形成用レジストパターンで保護されている部分以外のクロム薄膜を除去した。更に、前期合成石英ガラス基板に対して、フッ酸水溶液によるウェットエッチングを行い、前記レジストパターンで保護されている部分以外の合成石英を除去した。更に、アセトンによりレジスト膜を除去し、表面がクロム薄膜で成膜された高さが30μm程度のメサ構造を形成した。
次に、表面を下にした状態で前記合成石英ガラス基板を、SUS製の台座板の上にシフトワックスにより接着した。
前記台座板と接着した合成石英ガラス基板をマシニングセンタに導入し、マシニングセンタの加工テーブル上に設置したマグネットチャック装置上に固定した。その後、ダイヤモンド砥粒付砥石による側面、面取り部及び溝の研削加工を行い、外形が152.0mm角であり、R:2.5mmの曲面状角部及び面取り部を有し、深さ3mm、幅30mm、長さ152mmの端面と平行な溝を有する四角形状の角形基板を形成した。その後、合成石英ガラス基板を接着させた台座板ごと取り出した。
その後、実施例1と同様の方法で、前記合成石英ガラス基板の曲面状角部、面取部及び側面の研磨を行った。
曲面状角部、面取部及び側面の全ての研磨が完了した後、マグネットチャック装置より台座板と接着した合成石英ガラス基板を取り出した。次に、合成石英ガラス基板を基板保持台に固定して、酸化セリウム系研磨剤スラリーを供給しながら、1,000rpmで回転する直径30mmφ、高さ30mmの羊毛フェルトバフを溝底面に2,000Pa、片方の側面に2,000Paで押し当てて、基板保持台を50mm/minで5往復移動させ、溝底面及びもう一方の側面に上記と同じ圧力で押し当てて基板保持台を50mm/minで5往復移動させて鏡面加工した。
次に、加熱によりシフトワックスを溶解させ、合成石英ガラス基板を台座板から取り外した。その後、基板の洗浄を行い、図5(B)及び(D)に示す表面に26mm×33mm、高さ30μmの四角形状のメサ構造が刻印され、裏面に溝を有した合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板を得た。
前記合成石英インプリント・リソグラフィ用角形基板の各測定の測定結果は下記のようになった。各測定には実施例1と同様の装置を用いた。
4面の測定結果
3.1μm、3.1μm、2.6μm、2.5μm
(隣り合う側面同士のなす角度)
4箇所全て90°±0.04°以内
(側面の表面粗さ)
Ra=0.19nm
2 表面
3 裏面
4 側面
4a 側面
4b 側面面取り部
4c 側面面取り部
4d 曲面状角部
5 凹凸によるパターン
6 メサ構造
7 非貫通の穴
8 溝
11 位置決め治具
12 位置決めピン
13 位置決めピンの突き出し量
14 位置決めピンの先端同士を結んだ直線
15 基板保持台
16 角型基板
21 回転研磨パッド
22 ロック機構付加圧機構
23 回転軸
24 被研磨物
31 角型基板側面の中央部領域
32 角型基板側面の端部領域
33 回転研磨パッドの移動方向
41 角型基板の側面の幅方向と平行な直線
42 回転研磨パッドの揺動幅
51 回転研磨パッドの移動軸
52 回転研磨パッド
53 空気圧ピストン加圧機構
54 回転研磨パッド
55 空気圧ピストン加圧機構
56 5軸多関節ロボット
Claims (15)
- 基板側面が研削により加工されたインプリント・リソグラフィ用角形基板の側面に対して、垂直方向に一定圧力で回転研磨パッドを押し当てながら回転研磨パッドと前記角型基板とを相対的に前記側面に対して平行移動させて、前記角型基板の側面を研磨することを特徴とするインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 前記平行移動時において、回転研磨パッドと角型基板との相対的移動における移動速度を、前記角型基板の側面の研磨位置に応じて変化させて研磨を行う請求項1記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 回転研磨パッドの中心が角型基板の側面の長手方向中央部領域に位置する際の移動速度よりも、側面の長手方向端部領域に位置する際の移動速度を速くして研磨する請求項2記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 前記平行移動時において、回転研磨パッドと角型基板との相対的移動における移動速度を、角型基板の側面の凹凸状態に応じて変化させて研磨を行う請求項1〜3のいずれか1項記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 側面の凸部における移動速度を速く、側面の凹部における移動速度を遅くして研磨する請求項4記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 更に、角型基板側面の短手方向(幅方向)に沿って角型基板と回転研磨パッドとを相対的に移動させて研磨を行う請求項1〜5のいずれか1項記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 前記角型基板の一側面を研磨した後、該基板を順次90°ずつ回転させ、残りの側面を研磨することにより、角型基板の4個の側面全ての研磨を行う請求項1〜6のいずれか1項記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 研削により側面を形成する工程の前後又は研削により加工された側面を研磨する工程の後に、更に角形基板の裏面に非貫通の穴又は溝を研削により形成する工程を含む請求項1〜7のいずれか1項記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 更に、研削された非貫通の穴又は溝の側面及び底面を研磨する工程を含む請求項8記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 前記非貫通の穴又は溝の側面及び底面を研磨する工程が、研削により加工された非貫通の穴又は溝の側面及び底面に回転研磨ツールの研磨加工部をそれぞれ独立した一定圧力で接触させて側面及び底面の研削面を研磨する工程である請求項9記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板の製造方法。
- 表裏面と4個の側面を有し、表面に凹凸によるパターンが刻印されているインプリント・リソグラフィ用角形基板であって、前記各側面の平坦度が20μm以下であることを特徴とするインプリント・リソグラフィ用角形基板。
- 角形基板の隣り合う側面同士のなる角度が、90±0.1°の範囲内である請求項11記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
- 角形基板の各側面が、鏡面である請求項11又は12記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
- 角形基板の各側面の表面粗さ(Ra)が、0.01〜2nmである請求項13記載のインプリント・リソグラフィ用角形基板。
- 角型基板が裏面に非貫通の穴又は溝を有していることを特徴とする請求項11〜14のいずれか1項記載の角形基板。
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