JP2019000294A5 - - Google Patents

Description

本発明の一実施態様による画像処理装置は、測定光を用いて被検査物を複数回光干渉断層撮像することで得られた、複数の断層データを取得するデータ取得部と、前記断層データのノイズ特性を取得するノイズ取得部と、前記複数の断層データから生成される複数の断層画像における互いに対応する画素の画素値と前記ノイズ特性との対比に基づいて、前記断層データから生成される断層画像の各画素位置における重み係数を決定する係数決定部と、前記断層データの値及び前記重み係数を用いた演算を行うことによって、画素位置における前記断層データの値を変更する変更部と、前記値が変更された前記断層データに基づいて、前記断層画像を生成する画像生成部とを備える。

本発明の他の実施態様による画像処理方法は、測定光を用いて被検査物を複数回光干渉断層撮像することで得られた、複数の断層データを取得することと、前記断層データのノイズ特性を取得することと、前記複数の断層データから生成される複数の断層画像における互いに対応する画素の画素値と前記ノイズ特性との対比に基づいて、前記断層データから生成される断層画像の各画素位置における重み係数を決定することと、前記断層データの値及び前記重み係数を用いた演算を行うことによって、画素位置における前記断層データの値を変更することと、前記値が変更された前記断層データに基づいて、前記断層画像を生成することとを含む。

Claims (17)

1. 測定光を用いて被検査物を複数回光干渉断層撮像することで得られた、複数の断層データを取得するデータ取得部と、
   前記断層データのノイズ特性を取得するノイズ取得部と、
   前記複数の断層データから生成される複数の断層画像における互いに対応する画素の画素値と前記ノイズ特性との対比に基づいて、前記断層データから生成される断層画像の各画素位置における重み係数を決定する係数決定部と、
   前記断層データの値及び前記重み係数を用いた演算を行うことによって、画素位置における前記断層データの値を変更する変更部と、
   前記値が変更された前記断層データに基づいて、前記断層画像を生成する画像生成部と、
   を備える、画像処理装置。
2. 前記ノイズ取得部は、前記被検査物からの前記測定光の戻り光が無い状態で得られたノイズデータに基づいて前記ノイズ特性を取得する、請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記ノイズ取得部は、前記ノイズデータから少なくとも一つの方向に沿った各画素位置における平均ノイズ強度を前記ノイズ特性として取得し、
   前記係数決定部は、前記複数の断層画像における互いに対応する画素の各々の画素値が、同一の画素位置における前記平均ノイズ強度を超える割合に基づいて前記重み係数を決定する、請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記係数決定部は、前記複数の断層画像における互いに対応する画素のうち、画素値が前記ノイズ特性よりも大きい画素の数に基づいて前記重み係数を決定する、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
5. 前記ノイズ取得部は、前記ノイズデータから少なくとも一つの方向に沿った画素位置におけるノイズの累積ヒストグラムを前記ノイズ特性として取得する、請求項２に記載の画像処理装置。
6. 前記係数決定部は、同一の画素位置における前記複数の断層データの累積ヒストグラム及び前記ノイズの累積ヒストグラムの対比に基づいて前記重み係数を決定する、請求項５に記載の画像処理装置。
7. 前記変更部は、前記重み係数を前記断層データの値に乗算することで前記断層データの値を変更する、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
8. 前記変更部は、前記重み係数の分布に基づいて前記各画素位置における強調パラメータを生成し、前記重み係数及び前記強調パラメータに基づいて、前記断層データの値を変更する、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の画像処理装置。
9. 前記変更部は、前記重み係数の分布における極値に基づいて前記強調パラメータを生成する、請求項８に記載の画像処理装置。
10. 前記変更部は、前記重み係数の分布におけるノイズ成分に対応する前記極値に基づいて前記強調パラメータを生成する、請求項９に記載の画像処理装置。
11. 前記変更部は、前記断層データの値に前記重み係数を乗算し、乗算結果に前記強調パラメータを加算することで、前記断層データの値を変更する、請求項８乃至１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
12. 前記変更部は、前記断層データの値に前記重み係数及び前記強調パラメータを乗算することで、前記断層データの値を変更する、請求項８乃至１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
13. 前記値が変更された前記複数の断層データに基づいて、平均断層データを生成する合成部を更に備え、
    前記画像生成部は、前記平均断層データに基づいて前記断層画像を生成する、請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の画像処理装置。
14. 前記被検査物は少なくとも硝子体領域及び網膜領域を含む、請求項１乃至１３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
15. 請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の画像処理装置と、
    前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段を含む、前記光干渉断層撮像を実行するための光干渉断層撮像装置と、
    を備える、システム。
16. 測定光を用いて被検査物を複数回光干渉断層撮像することで得られた、複数の断層データを取得することと、
    前記断層データのノイズ特性を取得することと、
    前記複数の断層データから生成される複数の断層画像における互いに対応する画素の画素値と前記ノイズ特性との対比に基づいて、前記断層データから生成される断層画像の各画素位置における重み係数を決定することと、
    前記断層データの値及び前記重み係数を用いた演算を行うことによって、画素位置における前記断層データの値を変更することと、
    前記値が変更された前記断層データに基づいて、前記断層画像を生成することと、
    を含む、画像処理方法。
17. プロセッサーによって実行されると、該プロセッサーに請求項１６に記載の画像処理方法の各工程を実行させる、プログラム。