JP2018089055A5 - - Google Patents

Description

本発明の他の実施態様に係る画像処理方法は、コンピュータによって、前記被検体を光干渉断層撮像して得た、被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得することと、前記複数の測定信号に基づいて、基準信号を取得することと、前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の位相ずれに基づいて、該位相ずれに対応する前記測定信号の位相を調整することと、位相調整された前記複数の測定信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成することと、前記位相調整された前記複数の測定信号から前記背景信号を減算することと、前記背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成することとを含む。

Claims (26)

1. 被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得する測定信号取得手段と、
   前記複数の測定信号に基づいて、基準信号を取得する基準信号取得手段と、
   前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の位相ずれを算出する算出手段と、
   前記位相ずれの各々を平滑化する平滑化手段と、
   平滑化された前記位相ずれに基づいて、該平滑化された位相ずれに対応する前記測定信号の位相を調整する調整手段と、
   位相調整された前記複数の測定信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成する生成手段と、
   前記位相調整された前記複数の測定信号から前記背景信号を減算する減算手段と、
   前記背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成する画像形成手段と、
   を備える、画像処理装置。
2. 前記位相ずれをクリップするクリップ手段をさらに備える、請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記クリップ手段は、前記複数の測定信号の各々と前記基準信号との相関値の振幅について算出した統計値に基づいて、前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の前記位相ずれをクリップする、請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記クリップ手段は、前記複数の測定信号の各々と前記基準信号との相関値を連続した複数の集合に分割し、前記複数の集合の各々に含まれる前記相関値の振幅毎に算出した統計値に基づいて、前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の前記位相ずれをクリップする、請求項３に記載の画像処理装置。
5. 前記基準信号取得手段は、フーリエ変換後の前記複数の測定信号の中央値を算出することによって前記基準信号を取得する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
6. 前記測定信号取得手段は、前記光干渉断層撮像における参照光のみに基づく測定信号である参照信号を取得し、
   前記基準信号取得手段は、フーリエ変換後の前記参照信号の中央値を算出することによって前記基準信号を取得する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
7. 前記算出手段は、前記測定信号と前記基準信号の相関値に基づいて前記位相ずれを算出する、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
8. 前記平滑化手段は、前記位相ずれに移動平均フィルタを適用して前記位相ずれを平滑化する、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の画像処理装置。
9. 前記平滑化手段は、前記位相ずれに重み付けフィルタを適用して前記位相ずれを平滑化する、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の画像処理装置。
10. 前記算出手段は、前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の位相ずれを算出し、
    前記平滑化手段は、前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の前記位相ずれをそれぞれ平滑化し、
    前記調整手段は、前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の平滑化された前記位相ずれに基づいて、該平滑化された位相ずれに対応する前記背景信号の位相を調整する、請求項１乃至９のいずれか一項に記載の画像処理装置。
11. 前記生成手段は、フーリエ変換後の前記位相調整された複数の測定信号の中央値を算出することによって前記背景信号を生成する、請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
12. 前記測定信号取得手段は、前記光干渉断層撮像における参照光のみに基づく測定信号である参照信号を取得し、
    前記基準信号取得手段は前記複数の参照信号に基づいて前記基準信号を生成し、
    前記算出手段は、前記複数の参照信号の各々と前記基準信号の位相ずれを算出し、
    前記平滑化手段は、前記複数の参照信号の各々と前記基準信号の前記位相ずれをそれぞれ平滑化し、
    前記調整手段は、前記複数の参照信号の各々と前記基準信号の平滑化された前記位相ずれに基づいて、該平滑化された位相ずれに対応する前記参照信号の位相を調整し、
    前記生成手段は、フーリエ変換後の位相調整された前記複数の参照信号の中央値を算出することによって前記背景信号を生成する、請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
13. 前記減算手段は、ｋ空間で前記複数の測定信号から前記背景信号を減算する、請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の画像処理装置。
14. 前記減算手段は、ｚ空間で前記複数の測定信号から前記背景信号を減算する、請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の画像処理装置。
15. 前記基準信号取得手段、前記算出手段、前記平滑化手段、前記調整手段、前記生成手段、及び前記減算手段は、前記複数の測定信号の各々をフーリエ変換した値の前半部分及び後半部分のいずれか一方のみを用いてそれぞれの処理を行う、請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
16. 前記減算手段は、前記光干渉断層撮像における１回のＢスキャンから生成した前記複数の測定信号に基づく前記背景信号を、前記光干渉断層撮像における複数回のＢスキャンから生成した前記複数の測定信号から共通して減算する、請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の画像処理装置。
17. 前記クリップ手段は、前記複数の測定信号の各々をフーリエ変換した値の前半部分及びは後半部分のいずれか一方のみを用いて前記位相ずれをクリップする、請求項２乃至４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
18. 被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得する測定信号取得手段と、
    前記複数の測定信号に基づいて、基準信号を取得する基準信号取得手段と、
    前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の位相ずれに基づいて、該位相ずれに対応する前記測定信号の位相を調整する調整手段と、
    位相調整された前記複数の測定信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成する生成手段と、
    前記位相調整された前記複数の測定信号から前記背景信号を減算する減算手段と、
    前記背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成する画像形成手段と、
    を備える、画像処理装置。
19. 被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得する測定信号取得手段と、
    前記複数の測定信号に基づいて基準信号を取得する基準信号取得手段と、
    前記複数の測定信号と前記基準信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成する生成手段と、
    前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の位相ずれを算出する算出手段と、
    前記位相ずれの各々を平滑化する平滑化手段と、
    平滑化された前記位相ずれに基づいて、該平滑化された位相ずれに対応する前記背景信号の位相を調整する調整手段と、
    前記複数の測定信号から位相調整された前記背景信号を減算する減算手段と、
    前記位相調整された背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成する画像形成手段と、
    を備える、画像処理装置。
20. 被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得する測定信号取得手段と、
    前記複数の測定信号に基づいて基準信号を取得する基準信号取得手段と、
    前記複数の測定信号と前記基準信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成する生成手段と、
    前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の位相ずれに基づいて、該位相ずれに対応する前記背景信号の位相を調整する調整手段と、
    前記複数の測定信号から位相調整された前記背景信号を減算する減算手段と、
    前記位相調整された背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成する画像形成手段と、
    を備える、画像処理装置。
21. 前記画像処理装置は、光源からの光を前記被検体に照射される測定光と参照光に分割し、前記被検体からの前記測定光の戻り光と前記参照光とを干渉させて得た干渉光に基づいて、前記測定信号を生成する測定光学系に通信可能に接続され、
    前記測定信号取得手段は、前記測定光学系から前記複数の測定信号を取得する、請求項１乃至２０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
22. 前記被検体は被検眼である、請求項１乃至２１のいずれか一項に記載の画像処理装置。
23. 光源からの光を被検体に照射される測定光と参照光に分割し、前記被検体からの前記測定光の戻り光と前記参照光とを干渉させて得た干渉光に基づいて、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む測定信号を生成する測定光学系、及び、
    前記測定光学系に通信可能に接続された、請求項１乃至２２のいずれか一項に記載の画像処理装置、
    を備える、撮像装置。
24. コンピュータによって、
    被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得することと、
    前記複数の測定信号に基づいて、基準信号を取得することと、
    前記複数の測定信号の各々と前記基準信号の位相ずれに基づいて、該位相ずれに対応する前記測定信号の位相を調整することと、
    位相調整された前記複数の測定信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成することと、
    前記位相調整された前記複数の測定信号から前記背景信号を減算することと、
    前記背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成することと、
    を含む、画像処理方法。
25. コンピュータによって、
    被検体を光干渉断層撮像して得た、前記被検体の断層の深さ方向の情報を含む複数の測定信号を取得することと、
    前記複数の測定信号に基づいて基準信号を取得することと、
    前記複数の測定信号と前記基準信号に基づいて、ノイズ成分に対応する背景信号を生成することと、
    前記複数の測定信号の各々と前記背景信号の位相ずれに基づいて、該位相ずれに対応する前記背景信号の位相を調整することと、
    前記複数の測定信号から位相調整された前記背景信号を減算することと、
    前記位相調整された背景信号が減算された前記複数の測定信号に基づいて、前記被検体の断層画像を形成することと、
    を含む、画像処理方法。
26. コンピュータによって実行されると、前記コンピュータに、請求項２４又は２５に記載された画像処理方法の各工程を実行させる、プログラム。