JP2013156229A5 - 光断層像撮影装置及びノイズ除去方法 - Google Patents
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Description
本発明は、測定光と参照光との光干渉を利用して被検物を計測する光断層像撮影装置及び波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたＯＣＴ画像のノイズ除去方法に関する。
本発明は、上記問題点を鑑み、ノイズが好適に除去された断層画像を取得できる光断層像撮影装置及びノイズ除去方法を提供することを技術課題とする。
（１） 本開示の第１態様に係る光断層像撮影装置は、波長可変光源と、前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、被検物からの前記測定光の反射光と，前記参照光と，が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力されるスペクトル信号を処理して、断層画像を取得する演算処理部と、を備え、前記演算処理部は、前記スペクトル信号に含まれるノイズ成分に対応する信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係るノイズ除去方法は、長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたＯＣＴ画像のノイズ除去方法であって、検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さプロファイルを得て、得られた深さプロファイルに含まれるノイズ成分に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号から干渉信号を抽出し、抽出された干渉信号を処理することにより、ノイズ成分を深さプロファイルから除去することを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係るノイズ除去方法は、長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたＯＣＴ画像のノイズ除去方法であって、検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さプロファイルを得て、得られた深さプロファイルに含まれるノイズ成分に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号から干渉信号を抽出し、抽出された干渉信号を処理することにより、ノイズ成分を深さプロファイルから除去することを特徴とする。
Claims (4)
- 波長可変光源と、
前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、
前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、
被検物からの前記測定光の反射光と，前記参照光と，が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、
検出器から出力されるスペクトル信号を処理して、断層画像を取得する演算処理部と、
を備え、
前記演算処理部は、前記スペクトル信号に含まれるノイズ成分に対応する信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 前記演算処理部は、先に取得された断層画像を処理して前記ノイズ成分の深さ位置を求め、求められた深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得する請求項１の光断層像撮影装置。
- 前記演算処理部は、先に取得された断層画像上にノイズ成分が複数存在する場合、そのスペクトル信号における周波数の低い方から順次位相ずれを補正する請求項１記載の光断層像撮影装置。
- 波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたＯＣＴ画像のノイズ除去方法であって、
検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さプロファイルを得て、得られた深さプロファイルに含まれるノイズ成分に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、
取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、
位相ずれが補正されたスペクトル信号から干渉信号を抽出し、抽出された干渉信号を処理することにより、ノイズ成分を深さプロファイルから除去することを特徴とする波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたＯＣＴ画像のノイズ除去方法。
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