JP2015068775A5 - - Google Patents

Description

（１） 出射波長を時間的に掃引させる波長掃引光源を用いたＳＳ−ＯＣＴ光学系を備え、前記波長掃引光源による出射波長の変化に応じて測定光と参照光との干渉信号をサンプリングし、サンプリングによって得られた各波長での干渉信号に基づいて被検物の内部情報を得る光コヒーレンストモグラフィー装置であって、
前記測定光と前記参照光との干渉によって生じた干渉信号光を、第１干渉信号光と、前記第１干渉信号光に対して位相差を持つ第２干渉信号光とに分割する光分割器と、
前記第１干渉信号光を検出するための第１検出器と、前記第２干渉信号光を検出するための第２検出器とを備え、前記第１検出器と前記第２検出器からの検出信号を処理して平衡検出を行うための平衡検出器と、
前記第１検出器と前記第２検出器のいずれか一方と、前記光分割器との間に配置され、前記第１干渉信号光又は前記第２干渉信号光のいずれかによる定常パターンノイズを発生させるための光学部材と、
前記平衡検出器における各サンプリングポイントに対する波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、前記平衡検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて演算により求める演算処理手段と、
を備えることを特徴とする。
（２） 波長掃引光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検物からの測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を検出器により受光するＳＳ−ＯＣＴ光学系と、
前記検出器から出力される検出信号に含まれるスペクトル信号であって各波長での干渉信号を含むスペクトル信号を処理して被検物の内部情報を得る演算処理手段と、を備え、
前記ＳＳ−ＯＣＴ光学系は、前記干渉信号光による定常パターンノイズを発生させるための光学部材を備え、
前記演算処理手段は、前記スペクトル信号の位相ずれを、前記検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて補正し、補正された前記スペクトル信号を処理して被検物の内部情報を得ることを特徴とする。

Claims (5)

1. 出射波長を時間的に掃引させる波長掃引光源を用いたＳＳ−ＯＣＴ光学系を備え、前記波長掃引光源による出射波長の変化に応じて測定光と参照光との干渉信号をサンプリングし、サンプリングによって得られた各波長での干渉信号に基づいて被検物の内部情報を得る光コヒーレンストモグラフィー装置であって、
   前記測定光と前記参照光との干渉によって生じた干渉信号光を、第１干渉信号光と、前記第１干渉信号光に対して位相差を持つ第２干渉信号光とに分割する光分割器と、
   前記第１干渉信号光を検出するための第１検出器と、前記第２干渉信号光を検出するための第２検出器とを備え、前記第１検出器と前記第２検出器からの検出信号を処理して平衡検出を行うための平衡検出器と、
   前記第１検出器と前記第２検出器のいずれか一方と、前記光分割器との間に配置され、前記第１干渉信号光又は前記第２干渉信号光のいずれかによる定常パターンノイズを発生させるための光学部材と、
   前記平衡検出器における各サンプリングポイントに対する波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を、前記平衡検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて演算により求める演算処理手段と、
   を備えることを特徴とする光コヒーレンストモグラフィー装置。
2. 前記平衡検出器は、第１平衡検出器であって、
   さらに、前記第１干渉信号光を検出するための第３検出器と、前記第２干渉信号光を検出するための第４検出器とを備え、前記第３検出器と前記第４検出器からの検出信号を処理して平衡検出を行うための第２平衡検出器と、
   前記第３検出器と前記第４検出器のいずれか一方と、前記光分割器との間に配置され、第１干渉信号光又は第２干渉信号光のいずれかによる定常パターンノイズを発生させるための第２の光学部材と、
   を備え、
   前記演算処理手段は、さらに、前記第２平衡検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて、前記第２平衡検出器における各サンプリングポイントに対する波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を演算により求めることを特徴とする請求項１又は２の光コヒーレンストモグラフィー装置。
3. 前記第１検出器及び前記第３検出器は、垂直偏光成分を持つ各波長での干渉信号を検出するための垂直偏光検出器として、
   前記第２検出器及び前記第４検出器は、水平偏光成分を持つ各波長での干渉信号を検出するための水平偏光検出器として用いられ、
   前記垂直偏光成分及び前記水平変更成分を持つ各波長での干渉信号に基づいて被検物の偏光特性を求めることを特徴とする請求項３の光コヒーレンストモグラフィー装置。
4. 前記演算処理手段は、前記各波長での干渉信号を含むスペクトル信号の位相ずれを、前記平衡検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて補正することを特徴とする請求項１〜５のいずれかの光コヒーレンストモグラフィー装置。
5. 波長掃引光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検物からの測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を検出器により受光するＳＳ−ＯＣＴ光学系と、
   前記検出器から出力される検出信号に含まれるスペクトル信号であって各波長での干渉信号を含むスペクトル信号を処理して被検物の内部情報を得る演算処理手段と、を備え、
   前記ＳＳ−ＯＣＴ光学系は、前記干渉信号光による定常パターンノイズを発生させるための光学部材を備え、
   前記演算処理手段は、前記スペクトル信号の位相ずれを、前記検出器から出力される検出信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて補正し、補正された前記スペクトル信号を処理して被検物の内部情報を得ることを特徴とする光コヒーレンストモグラフィー装置。