JP5938926B2 - 光断層像撮影装置及びノイズ除去方法 - Google Patents
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Description
(2) 本開示の第2態様に係る光断層像撮影装置は、波長可変光源と、前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、被検物からの前記測定光の反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより得られるAスキャン信号を処理して、断層画像を取得する制御手段と、を備え、前記制御手段は、取得された断層画像を処理して、FPNの深さ位置を求めて前記深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された前記位相情報に基づいて各Aスキャン毎の位相ずれを補正し、前記位相ずれが補正された各Aスキャン信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする。
(3) 本開示の第3態様に係るノイズ除去方法は、波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたOCT画像のノイズ除去方法であって、検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さプロファイルを得て、得られた前記深さプロファイルを処理して、FPNの深さ位置を求めて前記深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された前記位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正した状態でのスペクトル信号を処理することにより、ノイズ成分を深さプロファイルから除去することを特徴とする。
本発明の実施形態に係る光断層像撮影装置の概要について説明する。本実施形態において、光断層像撮影装置1は、波長可変光源102と、光分割器(カップラー)104と、走査光学系(光スキャナ)108と、検出器120と、演算制御部70を備える。演算制御部は、例えば、演算処理部として用いられる。
本発明の実施例に係る光コヒーレンストモグラフィー装置について説明する。図1は本実施例における光コヒーレンストモグラフィー装置の構成について説明する概略構成図である。
70 演算制御部
72 メモリ
75 モニタ
100 干渉光学系(OCT光学系)
102 波長可変光源
104 カップラー
106 測定光学系
108 光スキャナ
110 参照光学系
120 検出器
Claims (4)
- 波長可変光源と、
前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、
前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、
被検物からの前記測定光の反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、
検出器から出力されるスペクトル信号を処理して、断層画像を取得する演算処理部と、
を備え、
前記演算処理部は、取得された断層画像を処理して、FPNの深さ位置を求めて前記深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された前記位相情報に基づいて前記スペクトル信号における位相ずれを補正した状態でのスペクトル信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 請求項1の光断層像撮影装置において、
前記演算処理部は、取得された断層画像上にFPNが複数存在する場合、そのスペクトル信号における周波数の低い方から順次位相ずれを補正することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 波長可変光源と、
前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、
前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、
被検物からの前記測定光の反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、
検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより得られるAスキャン信号を処理して、断層画像を取得する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、取得された断層画像を処理して、FPNの深さ位置を求めて前記深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、取得された前記位相情報に基づいて各Aスキャン毎の位相ずれを補正し、前記位相ずれが補正された各Aスキャン信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたOCT画像のノイズ除去方法であって、
検出器から出力されるスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さプロファイルを得て、得られた前記深さプロファイルを処理して、FPNの深さ位置を求めて前記深さ位置に対応するスペクトル信号の位相情報を取得し、
取得された前記位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正した状態でのスペクトル信号を処理することにより、ノイズ成分を深さプロファイルから除去することを特徴とする波長掃引型光コヒーレンストモグラフィーによって取得されたOCT画像のノイズ除去方法。
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