JP6402879B2 - 眼科撮影装置 - Google Patents

Description

本発明は、被検眼のＯＣＴ画像を取得する眼科撮影装置に関する。

光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Optical Coherence Tomography）を用いて眼の断層画像を撮像する眼科撮影装置が知られている。本装置は、例えば、光スキャナを用いて眼底上で測定光を走査し、断層画像（例えば、眼底の断層画像）を取得する。そして、得られた断層画像は、眼の状態の評価に利用される（特許文献１参照）。

このような装置は、例えば、断層画像に含まれるノイズ成分を平均化するために、複数の断層画像を合成処理することによって加算平均画像を取得する。加算平均画像は、例えば、複数の断層画像における各画素での輝度値を加算し、その平均値を求めることによって取得される。

特開２０１０−１１０３９２号公報

ところで、予め設定された横断位置に関して断層画像を取得する際、被検眼が動いてしまう場合がある。そして、予め設定された位置とは異なる断層画像が取得されてしまう場合がある。

サークル走査にて断層像を得る場合、取得された画像は、例えば、第１の方向を深さ方向、第２の方向を走査方向とする二次元画像に展開される（図５Ａ参照）。走査方向に関するＡスキャンデータの形成位置は、光スキャナの回転角度に対応する。サークル走査において、眼が単純に回転したとしても、眼底に対する走査領域は、同一である。よって、予め設定された領域における断層画像が得られる。

しかしながら、Ａスキャン信号の形成位置が、走査方向に関してずれてしまう。例えば、本来、二次元画像の左端付近に形成されるはずのＡスキャン信号が、二次元画像の右端付近に形成される場合などが考えられる（図５Ｂ参照）。このような画像形成位置のシフトは、検者による診断への影響、複合画像（例えば、加算平均画像）の画質低下等に関わってくる可能性があり得る。

本発明は、上記問題点を鑑み、サークル走査において適正なＯＣＴ画像を取得できる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１） 被検眼に照射された測定光と、参照光との干渉を用いて前記被検眼のＡスキャンデータを取得するためのＯＣＴ光学系と、
前記被検眼に照射される前記測定光を被検眼上で走査させるための走査手段と、
被検眼の正面画像を生成可能な観察光学系と、
前記観察光学系によって連続的に生成される前記正面画像を用いて前記被検眼の回転状態を検出するための回転検出手段と、
前記走査手段の駆動を制御することによって被検眼上の同一の走査領域においてサークル状に測定光を繰り返し回転させ、前記測定光の各回転位置での前記Ａスキャンデータを取得し、取得された各Ａスキャンデータを配列することによって前記被検眼の同一の走査領域での複数のサークルＯＣＴ画像を連続的に生成可能な撮影制御手段と、
前記複数のサークルＯＣＴ画像を複合処理して複合画像を得る複合画像取得手段と、
を備える眼科撮影装置であって、
前記撮影制御手段は、前記走査手段による走査開始後であって前記Ａスキャンデータの取得時、あるいは前記Ａスキャンデータの取得後において、前記回転検出手段からの検出結果に基づいて、連続的に生成される前記サークルＯＣＴ画像における回転ずれを補正すると共に、
前記複合画像取得手段は、前記回転ずれが補正された前記複数のサークルＯＣＴ画像を複合処理して複合画像を得ることを特徴とする。

本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１〜図８は本実施形態の実施例に係る図である。

＜概要＞
本装置は、ＯＣＴ光学系１００と、制御部７０と、を主に備える（図１参照）。ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅに照射された測定光と参照光との干渉を用いて眼組織のＡスキャンデータを取得するために用いられる。ＯＣＴ光学系１００は、光スキャナ１０８を有する。

制御部７０は、例えば、撮影制御部として用いられる。制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、ＯＣＴ光学系１００から出力されるＡスキャンデータを処理する。制御部７０は、各Ａスキャンデータに基づいて断層画像（ＯＣＴ画像）を生成する。撮影制御部は、例えば、光スキャナ１０８を制御するための走査制御部と、断層画像を生成するための画像生成部とを含んでもよい。なお、走査制御部と画像生成部とは、撮影制御ユニットとして、同じ制御ユニットであってもよいし、互いに異なる制御ユニットであってもよい。

なお、上記装置には、観察光学系２００が設けられても良い。観察光学系２００は、ＯＣＴ光学系１００によって計測される眼組織を正面方向から観察するために用いられる。観察光学系２００としては、例えば、ＳＬＯ（走査型レーザ検眼装置）、又は、赤外眼底カメラ（ＩＲカメラ）が用いられる。なお、ＯＣＴ光学系１００が、観察光学系２００を兼用してもよい。

なお、ＯＣＴ光学系１００によって計測される眼組織としては、眼底Ｅｆ、又は前眼部が代表的である。眼底Ｅｆを計測する場合を例示すると、ＯＣＴ光学系１００は、眼底のＡスキャンデータを取得するために用いられる。光スキャナ１０８は、例えば、測定光を眼底Ｅｆ上で走査させるために用いられる。制御部７０は、眼底Ｅｆの断層画像を生成するために用いられる。また、観察光学系２００は、眼底Ｅｆの正面画像を観察するために用いられる。

＜サークルＯＣＴ画像の回転ずれ補正＞
＜サークルスキャン＞
制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御することによって、眼Ｅ上でサークル状に測定光を回転させてもよい（サークルスキャン）。制御部７０は、測定光の各回転位置でのＡスキャンデータを取得してもよい。制御部７０は、取得された各Ａスキャンデータを配列することによって眼Ｅのサークル断層画像を生成してもよい。サークル断層画像は、サークルスキャンによって得られた断層画像である。生成された画像は、メモリ７２に記憶されてもよい、又は、表示部７５に表示されてもよい。

＜回転検出部＞
本装置は、さらに、眼Ｅの回転状態を検出するための回転検出部（センサー）を備える。回転検出部は、ＯＣＴ光学系１００によって計測される眼組織の回転状態を検出する（図４参照）。

回転検出部は、ＯＣＴ光学系１００によって計測される眼組織の回転状態を直接的に検出してもよいし、間接的に検出してもよい。眼底Ｅｆを計測する場合、例えば、センサ光を眼底に照射することによって眼底Ｅｆの回転状態を直接的に検出してもよい。もしくは、センサ光を前眼部に照射することによって眼底Ｅｆの回転状態を間接的に検出してもよい。

回転検出部としては、例えば、観察光学系２００が用いられてもよい。また、回転検出部としては、画像を生成する光学系に限定されず、眼の特徴点に対する反射強度の変化によって眼Ｅの回転を検出するユニットが用いられても良い。また、回転検出部としては、ＯＣＴ光学系１００が用いられても良い。

＜回転ずれ補正＞
制御部７０は、回転検出部からの検出結果に基づいて、サークル断層画像における回転ずれを補正する（図６〜図８参照）。これによって、サークル断層画像を得る際、回転ずれが補正された断層画像が取得される。

回転ずれを補正する場合、例えば、制御部７０は、回転検出部からの検出結果に基づいて、各Ａスキャンデータの配列位置を補正してもよい（図６〜図８参照）。眼底の回転状態に応じてＡスキャンデータの配列位置のずれを補正することによって、例えば、光スキャナの回転位置を補正する必要がなくなるので、スムーズに回転ずれが補正される。

配列位置のずれを補正する場合、制御部７０は、各Ａスキャンデータの配列位置全体を補正してもよい。各Ａスキャンデータは、１フレームの断層画像を形成する。また、制御部７０は、光スキャナ１０８の回転位置と、Ａスキャンデータの配列位置との対応関係を走査方向に関して変更してもよい。例えば、回転位置及び配列位置との対応関係は、１フレームの断層画像を生成するために予め設定されているので、この対応関係が変更される。例えば、１フレームの断層画像を得る際に検出された同じ回転量に応じて、断層画像を形成するＡスキャンデータ群が全体的にシフトされる。

より詳細には、配列位置のずれを補正する場合、制御部７０は、例えば、サークル断層画像を形成するＡスキャンデータ群を、回転検出部からの検出結果に基づいて画像処理によって分割する（図６、図７参照）。分割後、制御部７０は、分割されたＡスキャンデータ群を、分割側とは反対側にて結合処理する。分割・結合処理によれば、例えば、回転ずれの検出結果が即座に補正処理に利用される。よって、効率よく回転ずれが補正される。

なお、これに限定されず、配列位置のずれを補正する場合、制御部７０は、１フレームの断層画像を取得する際のＡスキャン信号の取込開始位置を、回転検出部からの検出結果に基づいて補正するようにしてもよい（図８参照）。

なお、上記のように回転ずれを補正する場合、制御部７０は、例えば、断層画像を生成する際の基準位置を回転検出部からの検出結果に応じて取得し、取得された基準位置を基準としてサークル断層画像を生成してもよい。基準位置としては、例えば、基準眼底部位（例えば、取込開始信号が入力された時点での走査開始位置に位置した眼底部位）のＡスキャンデータが実際に取得された光スキャナの回転位置（信号取込位置）、又は、基準眼底部位のＡスキャンデータが実際に配列された画像形成位置（断層画像における座標位置）、などが挙げられる。

なお、配列位置のずれを補正する場合、制御部７０は、サークルスキャンにおいて、３６０度より多く測定光を走査するようにしてもよい。この場合、制御部７０は、例えば、前述の基準位置を基準として、得られたＡスキャンデータから３６０度分のＡスキャンデータを取り出してもよい。この方式によれば、取得される断層画像において、互いに隣接するＡスキャン信号は全て時間的に連続するので、画像中におけるＺ方向の大きなずれが生じにくい。また、制御部７０は、複数のサークルスキャンを連続的に実行し、前述の基準位置を基準として、得られたＡスキャンデータから３６０度分のＡスキャンデータを取り出してもよい。

＜複数のサークルＯＣＴ画像の複合処理＞
制御部７０は、複数のサークル断層画像を複合処理するようにしてもよい。例えば、回転ずれが補正された断層画像によって合成画像が生成され、良質な合成画像が得られる。複合画像処理としては、例えば、加算平均処理、超解像度処理等が考えられる。

なお、複数のサークル断層画像を得る場合、制御部７０は、測定光をサークル状に複数回回転させることによって、複数のサークル断層画像を生成してもよい。制御部７０は、回転検出部からの検出結果に基づいて、複数のサークル断層画像のそれぞれの回転ずれをそれぞれ補正してもよい。

なお、加算平均処理を行う場合、例えば、制御部７０は、各断層画像の回転ずれが補正された後、複数の断層画像に対する加算平均処理を行うことによって良好な合成画像を取得できる。回転ずれの補正後に加算平均処理を行う場合、制御部７０は、断層画像を走査方向に関して分割し、各分割領域の画像単位で位置ずれを補正するようにしてもよい（特開２０１０−１１０３９２号公報）。また、制御部７０は、複数の断層画像間でのＡスキャン毎の位置ずれ分布を取得し、取得された位置ずれ分布に基づいて断層画像間の位置ずれを補正するようにしてもよい（特願２０１２−０４４０７０号公報）。

さらに、画像合成処理に限定されず、複数の断層画像に基づく画像複合処理において、本実施形態の適用は可能である。複合処理としては、例えば、画像合成処理の他、制御部７０は、複数のＡスキャンデータにおける信号間の変化（例えば、位相変化、強度変化）を、複数のＡスキャンデータに基づいて計測することによって、血流計測画像（ドップラーＯＣＴ画像）を取得してもよい。また、制御部７０は、複数のＡスキャンデータにおける偏光成分（Ｓ偏光、Ｐ偏光）を、複数のＡスキャンデータに基づいて計測することによって、被検眼の偏光特性を示す画像を取得してもよい。つまり、本実施形態は、ＯＣＴ画像を得るＯＣＴ装置として、例えば、形態情報を得るためのＯＣＴ、ドップラーＯＣＴ、偏光感受ＯＣＴ等においても適用可能である。

ドップラーＯＣＴ画像を得る場合において、例えば、制御部７０は、複数のサークルスキャンによって、複数のサークルＯＣＴ画像を取得すればよい。より詳細には、制御部７０は、ドップラー画像を得るために設定された走査回数（例えば、２回〜４回）にてサークルスキャンを行う。制御部７０は、時間的に異なるタイミングで取得された少なくとも２つのＡスキャン信号に基づいて、ドップラーＯＣＴ画像を取得する。制御部７０は、例えば、サークル状のドップラーＯＣＴ画像に基づいて、眼底の血流に関する分布情報を取得できる。なお、ドップラーＯＣＴ画像の取得手法の詳細については、例えば、BIOMEDICAL OPTICS EXPRESS P803〜P821,Izatt.et.「Automated non-rigid registration and mosaicing for robust imaging of distinct retinal capillary beds using speckle variance optical coherence tomography」2013 OSA 1 June 2013 | Vol. 4, No. 6等を参考にされたい。

ドップラーＯＣＴ画像の取得において、本実施形態の制御を適用することによって、例えば、断層画像間の回転ずれが補正されるので、ドップラーＯＣＴ画像を得る際の信号間の変化が良好に検出される。

なお、ドップラーＯＣＴ画像は、一定の時間間隔にてＯＣＴ画像を取得することが要求されるので、前述の配列位置のずれを補正する手法は、特に有利である。

なお、本実施形態では、Ａスキャンデータは、一つの回転位置にてＯＣＴ光学系１００によって取得されるデータを含む。例えば、Ａスキャンデータとしては、深さ方向のプロファイル、又はフーリエ変換後のＯＣＴ信号データ、又はフーリエ変換後の位相情報データ、又はフーリエ変換後のＺ空間における信号強度データ等が考えられる。また、Ａスキャンデータは、ＯＣＴ光学系１００からの出力信号（スペクトル信号）におけるフーリエ変換前の信号であってもよい。

＜プログラム＞
なお、本実施形態は、眼科撮影装置１０によって取得された被検眼のＯＣＴ画像を処理するための眼科画像処理装置において実行される眼科画像処理プログラムに適用可能である。例えば、本実施形態に係る眼科画像処理プログラムが眼科画像処理装置のプロセッサによって実行されることで、回転検出部からの検出結果に基づいてサークルＯＣＴ画像における回転ずれを補正する補正ステップを、眼科画像処理装置に実行させる。

＜実施例＞
図１は本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。以下の説明においては、眼科撮影装置として、被検眼の眼底撮影を行う眼底撮影装置を例に挙げて説明を行う。もちろん、眼科撮影装置としては、眼底撮影装置に限定されず、例えば、被検眼の前眼部撮影を行う前眼部撮影装置等が挙げられる。

図１を参照して、本実施例に係る眼科撮影装置１０の概略構成について説明する。本実施形態の眼科撮影装置１０は、ＯＣＴ光学系１００と、観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、制御部７０とを主に備える。

＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅの組織（例えば、眼底Ｅｆ）の断層画像を取得するための光干渉光学系であり、光断層干渉計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）に関連する構成を備える。具体的には、ＯＣＴ光学系１００は、測定光源１０２、カップラー（光分割器）１０４、測定光学系１０６、参照光学系１１０、および検出器（受光素子）１２０を主に備える。

より詳細には、カップラー（光分割器）１０４は、測定光源１０２から出射された光を測定光学系１０６の光路と参照光学系１１０の光路に分割する。測定光学系１０６は、測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導く。参照光学系１１０は、参照光を生成する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光を合成する。検出器１２０（受光素子）は、合成された光を受光する。

ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上における測定光の照射位置を変更する照射位置変更ユニット（例えば、光スキャナ１０８、固視標投影ユニット３００）を備えてもよい。制御部７０は、設定された撮像位置情報に基づいて照射位置変更ユニットの動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層像を取得する。

検出器１２０（受光素子）は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。眼科撮影装置１０には、種々のＯＣＴを採用できる。例えば、Ｓｐｅｃｔｒａｌ−ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、Ｓｗｅｐｔ−ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）、Ｔｉｍｅ−ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）等のいずれを眼科撮影装置１０に採用してもよい。

光スキャナ１０８は、測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で走査させる。例えば、光スキャナ１０８は、眼底上で二次元的（ＸＹ方向（横断方向））に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構５０によって任意に調整される。

これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。

参照光学系１１０は、参照光を生成する。前述したように、参照光は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成される。カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することによって、光を再度カップラー１０４に戻した後、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることによって検出器１２０へと導く。

参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更してもよい。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。

＜正面観察光学系＞
観察光学系（正面像観察デバイス）２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光スキャナと、第２の受光素子を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の光学系を備える。光スキャナは、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる。第２の受光素子は、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する。

なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）。

＜固視標投影ユニット＞
固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。

例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。

固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。

＜制御部＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備えてもよい。例えば、制御部７０のＣＰＵは、眼科撮影装置１０の制御を司る。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、眼科撮影装置１０の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。

制御部７０には、不揮発性メモリ（以下、メモリに省略する）７２、操作部７４、および表示部７５等が電気的に接続されててもよい。メモリ７２には、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体が用いられてもよい。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、眼科撮影装置１０に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等をメモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、眼科撮影装置１０による正面画像および断層画像の撮影を制御するための撮影制御プログラムが記憶されてもよい。また、メモリ７２には、撮影された二次元の断層画像、三次元画像、正面画像、断層画像の撮影位置の情報等、撮影に関する各種情報が記憶されてもよい。操作部７４には、検者による各種操作指示が入力されてもよい。

操作部７４は、入力された操作指示に応じた信号を制御部７０に出力してもよい。操作部７４には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかを用いればよい。表示部７５は、眼科撮影装置１０の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。パーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）のディスプレイを用いてもよい。複数のディスプレイが併用されてもよい。表示部７５には、眼科撮影装置１０によって撮影された断層画像および正面画像を含む各種画像が表示されてもよい。

なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。例えば、ＰＣに設けられた設定制御部と、ＯＣＴ光学系１００等の動作を制御する動作制御部とによって、眼科撮影装置１０の制御部７０が構成されてもよい。この場合、例えば、ＰＣの設定制御部は、ＰＣに接続された操作部の操作に基づいて断層画像の撮像位置等を設定し、設定した内容を動作制御部に指示すればよい。動作制御部は、設定制御部からの指示に従って、眼科撮影装置１０の各構成による撮影動作を制御してもよい。また、受光信号に基づいて画像を生成（取得）する処理は、動作制御部および設定制御部のいずれで行ってもよい。

例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００の検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層像を取得すると共に、観察光学系２００の受光素子から出力される受光信号に基づいて正面像を取得してもよい。また、制御部７０は、固視標投影ユニット３００を制御して固視位置を変更してもよい。

例えば、制御部７０は、表示部７５の表示画面を制御してもよい。取得された眼底像は、表示部７５に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶されてもよい。制御部７０は、操作部７４から出力される操作信号に基づいて、ＯＣＴ光学系１００、観察光学系２００、固視標投影ユニット３００の各部材を制御してもよい。

＜制御動作＞
以上のような構成を備える装置において、その制御動作の一例について説明する。検者は、固視標投影ユニット３００の固視標を注視するように被検者に指示する。図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像が、表示部７５に表示される。そこで、検者は、前眼部の瞳孔中心に測定光軸が位置されるように、アライメント操作を行う。

制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を所定方向に関して走査する。制御部７０は、検出器１２０から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する受光信号を取得することにより、断層画像を形成する。また、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、断層画像を取得すると共に、観察光学系２００を制御し、眼底正面像を取得する。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００によって断層画像、観察光学系２００によって眼底正面像を随時取得する。

図２は、表示部７５に表示される表示画面の一例を示す図である。制御部７０は、表示部７５上に、観察光学系２００によって取得された正面画像２０、指標２５、断層画像３０、を表示する。走査パターン２５は、正面画像２０上における断層画像の測定位置（取得位置）を表す指標である。走査パターン２５は、表示部７５上の正面画像上に電気的に表示される。

制御部７０は、ポインタ２１（例えば、十字マーク、ドットマーク、ペンマーク等）を表示部７５上に表示する。制御部７０は、操作部７４からの操作信号に基づいて、ポインタ２１を移動させる。

本実施形態では、正面画像２０上にポインタ２１を合わせた状態で、操作部７４が操作される（例えば、ドラッグ操作、クリック操作）ことにより、撮影条件の設定が可能な構成となっている。ポインタ２１は、表示部７５上における任意の位置を指定するために用いられる。

＜スキャンラインの設定＞
以下、走査パターンとして、サークルスキャンが設定された場合を例として説明する。なお、走査パターン２５は、検者の操作に基づいて任意の形状に予め設定される。例えば、複数用意された走査パターンから選択される。サークルスキャンの場合、走査パターン２５は、例えば、設定されたサイズにて形成されるサークルパターンとして表示部７５上に表示される。

サークルスキャンは、眼底Ｅｆ上で測定光をサークル状に走査するための走査パターンである（図２、図４参照）。例えば、眼底上の１点から等距離離れた領域において、測定光が走査される。取得された断層画像に基づいて網膜層の厚み（例えば、神経線維層の厚み）が計測され、緑内障の進行の判定等に用いられる。なお、制御部７０は、眼底上の１点からの距離が異なる複数の領域においてサークルスキャンをそれぞれ行うようにしてもよい。

断層画像及び正面画像が同一画面上に表示されたら、検者は、撮影したい断層画像の位置を表示部７５上の正面画像から設定する。ここで、検者は、操作部７４を用いて移動操作（例えば、ドラッグ操作）を行うことによって、正面画像に対して走査パターン２５を移動させる。

検者によって走査パターン２５が正面画像２０に対して移動されると、制御部７０は、随時走査位置の設定を行う。制御部７０は、設定された走査位置に対応する断層画像を取得する。制御部７０は、取得された断層画像を表示部７５の表示画面上に表示する。制御部７０は、変更された走査位置に対応する表示位置に走査パターン２５を表示してもよい。このように、制御部７０は、あるフレームレートにて走査位置の設定、及び断層画像の取得を連続的に実行することによって、断層画像の動画像を更新する。

＜断層画像の取込処理＞
例えば、サークルスキャンを用いて乳頭中心からサークル状の断層画像を得る場合、走査パターン２５の中心が正面画像２０上の乳頭中心に設定される。測定位置の設定が完了した後、操作部７４からの取込開始信号（キャプチャー開始信号）が入力されたとき、制御部７０は、断層画像の取込動作を開始する。

制御部７０は、予め設定された走査速度にて、光スキャナ１０８を用いて測定光を眼底上で回転させる。１フレームの断層画像を取り込むための走査開始位置及び走査終了位置は、予め設定される。例えば、走査開始位置及び走査終了位置として３時位置が設定される。３時位置を始点として測定光が反時計回りに走査され、測定光が３時位置に戻ったとき、走査が終了される。もちろん、走査開始位置及び走査終了位置は、これに限定されず、他の位置であってもよい。走査開始位置及び走査終了位置は、検者によって設定されてもよいし、装置によって予め設定されてもよい。

制御部７０は、測定光の各走査位置でのＡスキャン信号を順次取得する。０度〜３６０度において測定光が回転され、各回転位置でのＡスキャン信号が得られる。なお、１回の回転走査によって得られるＡスキャン信号の数は、例えば、Ａスキャンの走査レート、光スキャナ１０８の走査速度等によって規定される。

＜断層画像の生成処理＞
上記のように取得されたＡスキャン信号は、Ａスキャンデータとしてメモリ７２に記憶される。制御部７０は、回転位置が異なる各Ａスキャンデータを、平面画像上に展開する。つまり、制御部７０は、第１の方向を走査方向、第２の方向を深さ方向とする平面画像として断層画像を生成する。平面画像は、例えば、矩形状に形成される。制御部７０は、生成された断層画像をメモリ７２に記憶する。断層画像は、例えば、横軸を走査位置（回転位置）、縦軸を深さ位置として生成される。制御部７０は、互いに走査位置が異なるＡスキャンデータを横方向に並べることによって断層画像を生成する。なお、断層画像を生成する際の配列方法については、これに限定されない。例えば、横軸が深さ位置、縦軸が走査位置であってもよい。

図４Ａ、図４Ｂは、眼底観察画像であって、図４Ａは、眼底の回転ずれがない場合の図であり、図４Ｂは眼底の回転ずれが生じた場合の図である。図５Ａ、図５Ｂは、サークルスキャンによって取得された断層画像の一例を示す模式図であり、図５Ａは、眼底の回転ずれがない場合の図であり、図５Ｂは眼底の回転ずれが生じた場合の図である。

制御部７０は、第１のＡスキャンデータＡ１を始点として、第２のＡスキャンデータＡ２、第３のＡスキャンデータＡ３、・・・第ｎ−１のＡスキャンデータＡｎ−１、第ｎのＡスキャンデータＡＮを横方向に順番に並べる（図５Ａ、図５Ｂ参照）。

第１のＡスキャンデータＡ１は、光スキャナ１０８の走査開始位置にて取得されたＡスキャン信号に対応する。例えば、第１のＡスキャンデータＡ１は、３時位置にて取得されたデータである。第２のＡスキャンデータＡ２、第３のＡスキャンデータＡ３、・・・第ｎ−１のＡスキャンデータＡｎ−１は、第１のＡスキャンデータＡ１が取得された後、測定光の回転角度の変化に応じて順次取得されるデータである。第ｎのＡスキャンデータＡＮは、予め設定された走査終了位置にて取得されたＡスキャンデータである。

下記説明において、眼底計測部位Ｍ１は、取込開始信号が入力された時点での走査開始位置に位置した眼底計測部位である。眼底計測部位Ｍ２は、サークルスキャンが実行された時点での走査開始位置に位置した眼底計測部位である。

取込開始信号の入力時とサークルスキャン実行時との間において眼底Ｅｆの回転が無ければ、眼底計測部位Ｍ２は、眼底計測部位Ｍ１と一致する（図４Ａ、図５Ａ参照）。よって、眼底計測部位Ｍ１に対応するＡスキャンデータＡＭ１は、断層画像中において第１のＡスキャンデータＡ１として配列される。

取込開始信号の入力時と、サークルスキャン実行時との間において眼底Ｅｆの回転があれば、眼底計測部位Ｍ２は、眼底計測部位Ｍ１と一致しない（図４Ｂ、図５Ｂ参照）。よって、眼底計測部位Ｍ１に対応するＡスキャンデータＡＭ１は、断層画像中において第１のＡスキャンデータＡ１とは異なるＡスキャンデータとして配列される。

つまり、取得される断層画像としては、ＡスキャンデータＡＭ１、及びＡスキャンデータＡＭ１よりも後の走査位置に対応する各Ａスキャンデータは、眼Ｅの回転分、横方向にシフトする。ＡスキャンデータＡＭ１よりも前の走査位置に対応する各Ａスキャンデータは、ＡスキャンデータＡＭ１よりも左側に形成された状態となる。

以上のようにして形成された断層画像（Ｂスキャン画像）は、予め設定された回転位置に対して計測部位全体がずれているので、断層画像の評価が難しい。例えば、断層画像の形態変化が病変又は眼底の回転によるのかどうか、検者が分からない可能性がある。なお、このような回転ずれの補正手法については、後述する。

また、複数の断層画像を合成する場合において、図５Ｂに示すような断層画像と図５Ａに示すような断層画像を合成する場合、断層画像間において画像処理によって位置ずれ補正を行ったとしても、そもそも画像の形成位置が異なるので、高い相関性を得ることは難しい。

＜複数フレームの断層画像の取得、及び加算平均画像の生成＞
本実施例では、制御部７０は、予め設定された走査領域において、サークルスキャンを複数回行うことによって、複数フレームの断層画像を取得してもよい。制御部７０は、例えば、サークルスキャンを連続的に行ってもよいし、サークルスキャンを断続的に行ってもよい。

制御部７０は、例えば、所定の走査領域にて測定光を複数回走査させ、複数フレームの断層画像を得る。制御部７０は、取得された複数の断層画像を加算処理して平均化させる。その結果として、例えば、ノイズ成分が抑制された断層画像が取得される。

なお、加算平均画像を得る場合、制御部７０は、各断層画像を測定光の走査方向に関して同じ複数の領域に分割し、各断層画像間の位置ずれを分割された領域毎に検出し位置ずれ情報を得てもよい。制御部７０は、得られた位置ずれ情報に基づいて，各撮影画像間の位置ずれを分割された領域毎に補正してもよい。制御部７０は、補正された各撮影画像を加算し、平均化してもよい（詳しくは、特開２０１１―１１０３９２号公報参照）。

加算平均画像を得る場合、制御部７０は、例えば、断層画像を形成する深さ情報の実数成分と虚数成分の絶対値（画像化後のＡスキャン信号）を利用して、複数の断層像に基づく加算平均画像を取得してもよい。また、制御部７０は、各断層像の基礎となるＺ空間での実虚成分を利用して加算平均画像を取得してもよい。制御部７０は、実数成分の信号を用いて第１の加算平均データを得ると共に、虚数成分の信号を用いて第２の加算平均データを得て、これらを合成することにより複数の断層像に基づく加算平均画像を取得してもよい。

取込開始信号の入力に応じて、制御部７０は、設定されたフレームレート（例えば、１０〜１５Ｈｚ（スーパーファインモード））にて断層画像を繰り返し得るために、ＯＣＴ光学系１００を制御する。なお、断層画像を得る際のフレームレートは、取込開始前後で変更してもよいし、変更しなくてもよい。

制御部７０は、同一の走査領域での複数の断層画像を取得する。このため、眼底上の略同一領域での走査を繰り返す。このような複数の走査によって、制御部７０は、略同一領域における複数枚の断層画像を取得できる。

詳細には、制御部７０は、設定された走査位置に関して、光スキャナ１０８を用いて測定光を複数回走査する。そして、制御部７０は、同一の走査位置における断層画像を複数フレーム（ｎ枚（ｎ≧２））生成する。制御部７０は、生成された複数の断層画像を随時メモリ７２に記憶させる。

一方、取込開始信号の入力に応じて、制御部７０は、設定されたフレームレート（例えば、１０〜１５Ｈｚ）にて正面画像を繰り返し得るために、観察光学系２００を制御する。なお、正面画像を得る際のフレームレートは、取込開始前後で変更してもよいし、変更しなくてもよい。なお、断層画像を得る際のフレームレートと、正面画像を得る際のフレームレートは、同じフレームレートであってもよいし、異なるフレームレートであってもよい。また、断層画像と正面画像の取得動作において、同期されてもよいし、非同期であってもよい。

制御部７０は、複数の断層画像が取得されている間、正面画像の取得動作を繰り返す。このような制御により、制御部７０は、断層画像が連続的に取得されている間の眼の移動を監視する。

詳細には、制御部７０は、観察光学系２００の作動により眼底正面からの反射光を受光する。制御部７０は、受光された反射光を処理することによって正面画像を複数フレーム生成する。制御部７０は、生成された複数の正面画像を随時メモリ７２に記憶させる。以上のように、制御部７０は、正面画像の生成を断層画像の生成と並行させる。

＜正面画像を用いた断層画像の適否判定＞
図３は、取得された断層画像が、予め設定された位置で取得されたか否かの適否を判定するための判定手法の一例を示すフローチャートである。判定はリアルタイムにて行われる。判定結果は、加算平均処理を行う際の断層画像のＯＣＴテンプレート画像（第１基準画像）を設定するために用いられる。

まず、制御部７０は、正面画像の位置ずれを検出するための正面画像のテンプレート画像（第２基準画像）を設定する。なお、第２基準画像としては、例えば、取込開始信号が入力されたときの正面画像が用いられる。

制御部７０は、正面画像のライブ画像を取り込む。制御部７０は、第２基準画像と、繰り返し生成されるライブ正面画像との位置ずれを画像処理により算出する。これにより、ＯＣＴの撮影位置のずれ量Ｄ１（平行移動方向における移動量ΔＸＹ（上下左右方向でのずれ量）及び回転移動方向における回転量Δθ）がリアルタイムで検出される。ずれ量Ｄ１は、正面画像と第２基準画像とのずれ量が新たに検出されたタイミングで更新される。

制御部７０は、撮影位置のずれ量Ｄ１が許容範囲（例えば、所定の閾値）を満たすか否かを判定する。なお、許容範囲は、移動量ΔＸＹ、回転量Δθに関してそれぞれ設定されてもよい。ここで、制御部７０は、正面画像が１フレーム取得される毎に、第２基準画像に対するずれ量Ｄ１が許容範囲を満たすか否かを判定する。つまり、制御部７０は、連続的に取得される正面画像毎の判定結果をリアルタイムにて取得していく。

制御部７０は、正面画像のライブ画像の取得に並行して、断層画像のライブ画像を取り込む。そこで、制御部７０は、ＯＣＴテンプレート画像が設定されているか否かを判定する。

＜ベース画像の取得＞
ＯＣＴテンプレート画像が設定されていない場合、制御部７０は、ＯＣＴ撮影位置のずれ量が更新されているか否かを判定する。更新されていない場合、ＯＣＴライブ画像の取込に戻される。

更新されている場合、前述のずれ量Ｄ１が許容範囲（例えば、所定の閾値）を満たすか否かを判定する。制御部７０は、ずれ量Ｄ１が許容範囲を満たさない場合、取り込まれた断層画像のライブ画像（ＯＣＴテンプレート候補画像）を破棄する。そして、ＯＣＴライブ画像の取込動作に戻される。一方、ずれ量Ｄ１が許容範囲を満たす場合、次のステップに移行される。

次のステップでは、制御部７０は、ＯＣＴテンプレート候補画像が保持されているか否かを判定する。Ｎｏの場合、制御部７０は、取り込まれた断層画像のライブ画像をＯＣＴテンプレート候補画像として保持する。Ｙｅｓの場合、制御部７０は、予め保持されたＯＣＴテンプレート候補画像をＯＣＴテンプレート画像に設定する。

上記のようにして、ＯＣＴテンプレート画像が設定された場合、制御部７０は、前述のずれ量Ｄ１が許容範囲を満たすか否かを判定する。Ｎｏの場合、取り込まれた断層画像のライブ画像が破棄又は無視され、断層画像の取込に戻る。Ｙｅｓの場合、制御部７０は、取り込まれた断層画像と、ＯＣＴテンプレート画像とを用いて、加算平均処理を実行する。上記動作は、加算枚数が設定上限枚数に達するか、又は、検者により終了操作が行われるまで繰り返し行われる。

上記フローチャートでのＯＣＴテンプレート画像を設定するまでの動作について、ずれ量Ｄ１が許容範囲を満たす判定が１回目の場合、取得された断層画像は、ＯＣＴテンプレート候補画像として保持される。その後、ずれ量Ｄ１が許容範囲を満たす判定が、連続して２回行われた場合、取得された断層画像は、ＯＣＴテンプレート候補画像として保持される。一方、ずれ量Ｄ１が許容範囲を満たす判定が連続しなかった場合、１回目の判定により保持されたＯＣＴテンプレート候補画像は破棄される。

＜トラッキング制御＞
ずれ量Ｄ１が許容範囲（例えば、所定の閾値）を満たさない場合、制御部７０は、光スキャナ１０８を制御し、ＯＣＴ撮影位置を補正する。例えば、制御部７０は、走査位置のずれが補正されるように、光スキャナ１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。これによって、走査位置が補正されるため、ここでは、制御部７０は、サークルスキャンの中心位置を、平行移動方向におけるずれに応じて補正することによって、平行移動方向における撮影位置のずれが補正される。（トラッキング制御）。

上記動作は、加算枚数が設定上限枚数に達するか、又は、検者により終了操作が行われるまで繰り返し行われてもよい。

＜回転ずれ補正＞
制御部７０は、上記のように検出される回転量Δθに応じて、各Ａスキャン信号の画像形成位置を画像処理によって補正するようにしてもよい（図６〜図８参照）。

図６、図７は、補正処理の一例を示す図であり、図６はフローチャート、図７は概念図である。例えば、制御部７０は、検出された回転量Δθ（例えば、回転方向と回転量を含むパラメータ）に基づいて、１フレームの断層画像に対して分割・結合処理を行うようにしてもよい。

より詳細には、制御部７０は、断層画像中においてＡスキャンデータＡＭ１の座標位置Ｓｃを回転量Δθに基づいて特定し、座標位置Ｓｃを基準として断層画像を走査方向に関して分割する。座標位置Ｓｃは、眼底計測部位Ｍ１に対応するＡスキャンデータＡＭ１の座標位置である。

分割処理によって、座標位置を切断位置として、断層画像データは、第１の画像データＧ１と、第２の画像データＧ２に分割される。なお、第１の画像データＧ１は、ＡスキャンデータＡＭ１より前に取り込まれたＡスキャン信号群によって形成される。第２の画像データは、ＡスキャンデータＡＭ１以後に取り込まれたＡスキャン信号群によって形成される。

次に、制御部７０は、分割された第１の画像データＧ１と第２の画像データＧ２のいずれか一方を画像処理によって移動させ、他方の画像データの反対端に結合させる。反対端は、例えば、断層画像データの切断位置とは反対側の画像端であって、第１の反対端は、断層画像データにおける左端であって、第２の反対端は、断層画像データにおける右端である。制御部７０は、結合された断層画像を、メモリ７２に記憶してもよいし、制御部７０は、結合された断層画像を、モニタ７５に表示してもよい。なお、今回の画像処理を施す前の断層画像は、破棄されてもよい。

断層画像は、例えば、測定光の走査順に配列される。よって、制御部７０は、検出された回転方向が走査方向と逆の場合、制御部７０は、断層画像の右端から―Δｄ離れた位置を座標位置Ｓｃとして特定する（図７上図参照）。検出された回転方向が走査方向と同一の場合、制御部７０は、断層画像の左端から＋Δｄ離れた位置を、座標位置Ｓｃとして特定する。Δｄは、座標位置Ｓｃにおけるシフト量である。回転量θとシフト量Δｄとの関係は、比例関係となる。そこで、回転量とシフト量Δｄとの対応関係は、例えば、予めテーブル上で設定され、メモリ７２に記憶されてもよい。もちろん、回転量とシフト量Δｄとの対応関係を求めるための作成された演算式がメモリ７２に記憶されても良い。制御部７０は、回転量θに対応するシフト量Δｄを、メモリ７２に記憶されたテーブル又は演算式等を用いて求めることができる。

上記眼の回転量に基づく分割・結合処理によれば、例えば、眼底の回転が適正に補正される。より詳細には、例えば、回転ずれが補正されたＯＣＴテンプレート画像が取得されるので、複数の断層画像の合成が効率よく行われる。

なお、上記眼の回転量に基づく分割・結合処理によれば、例えば、回転ずれの検出結果が即座に補正処理に利用されることができる。よって、効率よく回転ずれが補正される。これに対し、信号取得の前段階において補正を行う場合、回転ずれの検出結果を反映させるタイミングが遅れる可能性がある。

サークルスキャンが複数回行われる場合、複数フレームの断層画像が順次取得される。制御部７０は、複数フレームの断層画像に対してそれぞれ、上記分割・結合処理を行うようにしてもよい。

制御部７０は、１フレームの断層画像が生成される毎に、分割・結合処理を行うようにしてもよいし、又は、複数のフレームの断層画像が生成された後、各フレームの断層画像に対して分割・結合処理を行うようにしてもよい。

＜回転量θのリアルタイム更新＞
制御部７０は、リアルタイムにて取得される正面画像に基づいて、回転量θを随時検出してもよい。制御部７０は、更新された回転量θに応じて、座標位置Ｓｃを更新する。制御部７０は、更新された座標位置Ｓｃを切断位置として、断層画像データＧを分割・結合する。回転量θの変化に応じた切断位置の更新処理によって、例えば、複数の断層画像間に関して、走査方向に関するＡスキャンデータの形成位置が揃えられる。したがって、断層画像の加算平均処理を適正に行うことができる。結果的に、良好な合成画像が得られる。

＜Ｚ補正＞ なお、上記分割・結合処理を行う場合、測定光の走査中に眼が深さ方向に動くことによって、第１の画像データＧ１と第２の画像データＧ２との境界において網膜層の位置がずれてしまう可能性がある。そこで、制御部７０は、第１の画像データＧ１と第２の画像データＧ２に対して層検出処理を行い、特定の網膜層（例えば、網膜色素上皮層）が一致するように画像処理を行うようにしてもよい。例えば、制御部７０は、第１の画像データと第２の画像データのいずれか一方を他方の画像データに対して画像処理によって上下移動させることによって、境界での網膜層を一致させるようにしてもよい。

なお、上記例においては、断層画像を生成した後に、分割・結合処理が実行されたが、これに限定されない。例えば、制御部７０は、１フレームの画像を形成するためのＡスキャン群にて分割・結合処理を行うようにしてもよい。制御部７０は、ＡスキャンデータＡＭ１を回転量Δθに基づいて特定する。制御部７０は、ＡスキャンデータＡＭ１を基準として、Ａスキャン群を、ＡスキャンデータＡＭ１より前に取り込まれた第１のＡスキャン信号群と、ＡスキャンデータＡＭ１以後に取り込まれた第２のＡスキャン信号群とに分割する。次に、制御部７０は、分割された第１のＡスキャン群と第２のＡスキャン群とのいずれか一方を信号処理によって移動させ、他方のＡスキャン群の反対端（第１の反対端、第２の反対端のいずれか）に結合させる。

＜第２実施形態＞
なお、以上の説明においては、Ａスキャン信号取込後において、回転ずれを補正したが、これに限定されない。例えば、制御部７０は、１フレームの断層画像を得る際のＡスキャン信号の取込開始位置を、正面画像の回転ずれ量に基づいて補正してもよい。Ａスキャン信号の取込開始位置は、例えば、光スキャナ１０８の回転位置（走査位置）に対応づけされる。

図８は、眼底の回転量に基づいて取込開始位置を補正する場合の一例を示す図である。初期段階においては、予め設定された回転位置（初期位置）にて取得されるＡスキャン信号から順に信号が取り込まれる。制御部７０は、例えば、上記のように検出される回転量Δθに応じて、光スキャナ１０８の回転位置に係るＡスキャン信号の取込開始位置を設定してもよい。制御部７０は、取込開始位置を、初期位置からΔΘ変位させる。

つまり、制御部７０は、回転量Δθに応じて、Ａスキャン信号の取込開始位置を、第１の取込開始位置Ｃ１から第２の取込開始位置Ｃ２にシフトさせてもよい。制御部７０は、第２の取込開始位置Ｃ２を基準として、サークルスキャンに対応する１周分のＡスキャン信号を取得する。各Ａスキャン信号を取り込むタイミングは、取込開始位置のシフトによって全体的にΔΘシフトされる。例えば、取込終了位置も、取込開始位置と同様にΔΘシフトされる。取得された各Ａスキャン信号は、１フレームの断層画像を形成するために用いられる。

検出された回転方向が走査方向と同一の場合、制御部７０は、取込開始位置を走査方向にシフトさせる。また、検出される回転方向が走査方向と逆の場合、制御部７０は、取込開始位置を走査方向とは逆の方向にシフトさせる。回転量θと取込開始位置の変位量ΔΘとの対応関係は、例えば、予めテーブル上で設定され、メモリ７２に記憶されてもよい。もちろん、回転量θと変位量ΔΘとの対応関係を求めるための作成された演算式がメモリ７２に記憶されても良い。制御部７０は、回転量θに対応する変位量ΔΘを、メモリ７２に記憶されたテーブル又は演算式等を用いて求めることができる。

制御部７０は、例えば、第２の取込開始位置Ｃ２を基準として、サークルスキャンに対応する１周分のＡスキャン信号を取得する。取得された各Ａスキャン信号は、１フレームの断層画像を形成するために用いられる。制御部７０は、取込開始位置Ｃ２において第１のＡスキャン信号を取得した後、以降のＡスキャン信号を順次取得する。Ａスキャン信号の取込が取込終了位置まで達した後、制御部７０は、各Ａスキャン信号に基づいて断層画像を生成する。ここで、制御部７０は、取込開始位置Ｃ２から取込終了位置までに取得された各Ａスキャン信号を並べることによって断層画像を生成する。

上記のように各Ａスキャン信号の取込位置を補正することによって、眼底の回転が適正に補正される。この方式によれば、取得される断層画像において、互いに隣接するＡスキャン信号は全て時間的に連続するので、画像中におけるＺ方向の大きなずれが生じにくい。

制御部７０は、第２の取込開始位置Ｃ２を基準としてサークルスキャンを複数回行うことによって、複数のフレームの断層画像を取得してもよい。例えば、制御部７０は、第１のサークルスキャンにおいて信号の取込が取込終了位置に達した後、続けて、取込開始位置Ｃ２から取込終了位置に対応するＡスキャン信号を取得する。複数の断層画像は、例えば、加算画像の生成のために用いられる。

制御部７０は、リアルタイムにて取得される正面画像に基づいて、回転量θを随時検出してもよい。制御部７０は、更新された回転量θに応じて、取込開始位置Ｃ２を更新する。制御部７０は、更新された取込開始位置Ｃ２を基準として、サークルスキャンに対応する１周分のＡスキャン信号を取得する。回転量θの変化に応じた取込開始位置Ｃ２の更新処理によって、例えば、複数の断層画像間に関して、走査方向に関するＡスキャンデータの形成位置が揃えられる。したがって、断層画像の加算平均処理を適正に行うことができる。結果的に、良好な合成画像が得られる。

＜回転検出系＞
なお、上記説明においては、眼底の回転を検出するために、眼底Ｅｆの正面画像を生成可能な眼底観察光学系を用いたが、これに限定さない。例えば、前眼部の正面画像を生成可能な前眼部観察光学系を用いることによって、眼底の回転を検出するようにしてもよい。

さらに、眼の画像を生成する光学系に限定されない。眼の特徴点に対する反射強度の変化によって眼底の回転を検出するようにしてもよい。例えば、乳頭中心を基準としてサークル状に光を照射し、その反射光を受光するセンサを備える光学系であってもよい。センサからの出力信号に含まれる血管の位置変化によって、回転量が検出される。なお、血管位置での光強度は、他の領域に対して異なる。

また、断層画像を用いることによって、眼底の回転を検出してもよい。例えば、制御部７０は、断層画像に含まれる特徴点の位置（例えば、血管、網膜層）を利用して眼底の回転を検出してもよい。

また、眼底の平行移動と、眼底の回転移動を検出するセンサは、同一のセンサでなく、異なるセンサであってもよい。

なお、上記説明においては、複数の断層画像に基づく合成画像を得る場合、制御部７０は、ＯＣＴテンプレート画像及び対象画像の回転ずれを、撮影開始のトリガが入力された時の正面画像を基準として補正したが、これに限定されない。画質の良好な断層画像を得るという観点においては、例えば、制御部７０は、ベース画像を取得した時の正面画像を基準として回転ずれを補正してもよい。

なお、以上の説明においては、Ａスキャン信号取得時、あるいはＡスキャン信号を取得した後において、回転ずれを補正したが、これに限定されない。例えば、回転ずれ量に応じて光スキャナ１０８の走査開始位置を補正するようにしてもよい。また、制御部７０は、回転ずれ量に応じた光スキャナ１０８の走査開始位置の補正と、回転ずれ量に応じた配列位置のずれの補正と、を併用してもよい。例えば、光スキャナ１０８の走査位置を急に変更すると、信号がぶれやすい。そこで、制御部７０は、回転ずれ量に応じて、光スキャナ１０８での補正量を一定量に制限し、かつ配列位置のずれを補正してもよい。

本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。 表示部７５に表示される表示画面の一例を示す図である。 取得された断層画像が、予め設定された位置で取得されたか否かの適否を判定するための判定手法の一例を示すフローチャートである。 図４Ａ、図４Ｂは、眼底観察画像であって、図４Ａは、眼底の回転ずれがない場合の図であり、図４Ｂは眼底の回転ずれが生じた場合の図である。 図５Ａ、図５Ｂは、サークルスキャンによって取得された断層画像の一例を示す模式図であり、図５Ａは、眼底の回転ずれがない場合の図であり、図５Ｂは眼底の回転ずれが生じた場合の図である。 本実施形態に係る補正処理の一例を示すフローチャートである。 本実施形態に係る補正処理の一例を示す概念図である。 眼底の回転量に基づいて取込開始位置を補正する場合の一例を示す図である。

２０ 正面画像
２５ 走査パターン
３０ 断層画像
７０ 制御部
７２ メモリ
７４ 操作部
７５ 表示部
１００ ＯＣＴ光学系
１０８ 光スキャナ
２００ 観察光学系

Claims (3)

1. 被検眼に照射された測定光と、参照光との干渉を用いて前記被検眼のＡスキャンデータを取得するためのＯＣＴ光学系と、
   前記被検眼に照射される前記測定光を被検眼上で走査させるための走査手段と、
   被検眼の正面画像を生成可能な観察光学系と、
   前記観察光学系によって連続的に生成される前記正面画像を用いて前記被検眼の回転状態を検出するための回転検出手段と、
   前記走査手段の駆動を制御することによって被検眼上の同一の走査領域においてサークル状に測定光を繰り返し回転させ、前記測定光の各回転位置での前記Ａスキャンデータを取得し、取得された各Ａスキャンデータを配列することによって前記被検眼の同一の走査領域での複数のサークルＯＣＴ画像を連続的に生成可能な撮影制御手段と、
   前記複数のサークルＯＣＴ画像を複合処理して複合画像を得る複合画像取得手段と、
   を備える眼科撮影装置であって、
   前記撮影制御手段は、前記走査手段による走査開始後であって前記Ａスキャンデータの取得時、あるいは前記Ａスキャンデータの取得後において、前記回転検出手段からの検出結果に基づいて、連続的に生成される前記サークルＯＣＴ画像における回転ずれを補正すると共に、
   前記複合画像取得手段は、前記回転ずれが補正された前記複数のサークルＯＣＴ画像を複合処理して複合画像を得ることを特徴とする眼科撮影装置。
2. 前記撮影制御手段は、前記回転検出手段からの検出結果に基づいて、各Ａスキャンデータの配列位置を補正し、前記サークルＯＣＴ画像を形成するＡスキャンデータ群を画像処理によって分割し、前記分割側とは反対側にて結合処理することを特徴とする請求項１の眼科撮影装置。
3. 前記撮影制御手段は、１フレームの前記サークルＯＣＴ画像を取得する際のＡスキャン信号の取込開始位置を前記回転検出手段からの検出結果に基づいて補正することによって、各Ａスキャンデータの配列位置を補正することを特徴とする請求項１の眼科撮影装置。

Images