JP2018527277A - ガラス基板支持装置及び可撓性ガラス基板支持を提供する方法 - Google Patents

ガラス基板支持装置及び可撓性ガラス基板支持を提供する方法 Download PDF

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Abstract

ガラス基板支持システムは、可撓性ガラス基板の対向するエッジに沿ってガラス基板搬送方向で縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材を備える。各真空部材は、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し圧力チャンバと連絡する真空開口を有する支持表面を有する。ガラス基板搬送方向で第1の真空部材と第2の真空部材との間に位置する複数の支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリが提供される。支持ロッドアセンブリは、下向きの円弧状配向で可撓性ガラス基板を支持する面外構成を有する。

Description

関連出願の相互参照
本出願は、その内容が依拠され、その全体がここに参照することによって本願に援用される、2015年7月8日出願の米国仮特許出願第62/190027号の米国法典第35編特許法第119条に基づく優先権の利益を主張する。
本開示は、ガラス基板の処理に関し、より詳細には、ガラス基板支持装置及び可撓性ガラス基板を支持する方法に関する。
従来のガラスエッジ加工装置は、より薄いガラス基板と比較して比較的高い剛性を有する比較的厚いガラス基板について主に開発されてきた。一例として、ガラスシートは、機械的罫書き及び割断法(scoring and breaking process)を用いて形成された後、金属研削ホイールを用いて研磨されるエッジを通常有する。特定の用途において、例えば自動車産業において、ガラスシートのエッジに、ガラスシートの外周上の丸い側面を提供することが所望でありうる。
フラットパネルディスプレイ及び他の用途はしばしば、自動車産業において使用されるものよりかなり薄いガラスシートを使用する。より薄いガラスシートは、より厚いガラスシートと比較して、剛性が低下し、可撓性が増加する。剛性が低下し可撓性が増加したそのような薄いガラスシートのエッジ加工により、少なくとも一部はエッジ加工工程に関連する力による課題が生じうる。
したがって、ガラス基板処理及びエッジ加工中に比較的薄いガラス基板を支持するための方法及び装置が必要とされる。
可撓性ガラス基板の機械的信頼性を改良するための1つの技術は、例えば所定のエッジ強度を達成するために、可撓性ガラス基板のエッジを研磨して磨き、可撓性ガラス層中の所望でないクラック及び割れを除去することである。べべリング(beveling)工程中、可撓性ガラス基板の下に位置する支持表面上に可撓性ガラス基板がオーバーハング(overhang)している間に、研磨ホイールを使用して、ガラスエッジを所望の形状に成形してもよい。べべリング工程に曝されるガラス材料の量は、製造設備に基づいて特定されてもよく、5mm〜30mmの範囲でもよい。
0.3mm未満の厚さの超薄ガラスを処理又は搬送する場合、ガラス剛性は比較的低く、これによって、支持表面間でその自重によりガラスの座屈が生じうる。さらに、エッジべべリング工程中、特に垂直未満のものにおいて、研磨ホイールとガラスエッジの境界面に冷却液が当てられ、それらの及び他の処理冷却液源からの流体が、研磨ステージ領域における搬送中に可撓性ガラス基板上に蓄積しうる。流体の蓄積によって、可撓性ガラス基板の局所的垂下(sagging)が生じ得、これによって、曲げモーメントにより可撓性ガラス基板がさらに変形しうる。ガラス支持装置及び方法が本明細書に記載され、これは、可撓性ガラス基板中の曲げモーメントを低減しながら可撓性ガラス基板の加工又はそうでなければ支持を可能とし、これによって、例えばべべリング工程中に曲げによるガラス引張応力が低減されガラスエッジの破損しやすさが低減されうる。
本開示の態様に従った、ガラス加工装置の略図 本開示の態様に従った、図3の加工装置において使用するための真空部材及び可撓性ガラス基板の詳細図 本開示の態様に従った、真空部材の断面図 本開示の態様に従った、別の真空部材の断面図 本開示の態様に従った、支持ロッドの透視図 本開示の態様に従った、図5の線6−6に沿った支持ロッドの断面図 本開示の態様に従った、平面構成における図1のガラス加工装置のガラス基板支持システムの動作を示す図 本開示の態様に従った、面外構成における図7のガラス基板支持システムの動作を示す図 本開示の態様に従った、アクチュエータシステムを有する別のガラス基板支持システムの概略図 本開示の態様に従った、別のアクチュエータシステムを有するガラス基板支持システムの概略図 本開示の態様に従った、別のアクチュエータシステムを有するガラス基板支持システムの概略図 本開示の態様に従った、別のアクチュエータシステムを有するガラス基板支持システムの概略図 本開示の態様に従った、面内又は水平運動を有するガラス基板支持システムの概略図 本開示の態様に従った、平面構成におけるガラス基板支持システムの別の実施の形態を示す図 本開示の態様に従った、面外構成における図16のガラス基板支持システムを示す図 本開示の態様に従った、可撓性ガラス基板の曲げ剛性対可撓性ガラス基板の厚さを示すプロット
ある実施形態によれば、ガラス基板支持システムは、ガラス基板の搬送方向で縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材を備える。各真空部材は、内部に配置された圧力チャンバを備える真空本体、及び、そこを通って伸長し各圧力チャンバと連絡する真空開口を有する支持表面を備える。支持ロッドアセンブリは、第1及び第2の真空部材の間に位置しガラス基板搬送方向に伸長する複数の支持ロッドを備える。支持ロッドアセンブリは、下向きの円弧状配向で可撓性ガラス基板を支持する面外(out-of-plane)構成を備える。
別の実施形態によれば、ガラスエッジ加工装置は、ガラス基板搬送システム、及び、ガラス基板搬送方向においてガラス基板搬送システムにより可動のガラス基板支持システムを備える。ガラス基板支持システムは、概して平らな平面、及び、概して平らな平面に垂直な面外方向を有する可撓性ガラス基板を支持するよう構成される。ガラス基板支持システムは、ガラス基板の搬送方向で可撓性ガラス基板のエッジに沿って縦方向に伸長する真空部材を備える。真空部材は、内部に配置された圧力チャンバを備える真空本体、及び、そこを通って伸長し圧力チャンバと連絡する真空開口を備える支持表面を備える。支持ロッドアセンブリは、真空部材に隣接し、ガラス基板の搬送方向に伸長する複数の細長い支持ロッドを備える。支持ロッドアセンブリは、下向きの円弧状配向で可撓性ガラス基板を支持する面外構成を備える。
さらに別の実施形態によれば、可撓性ガラス基板を支持する方法は、ガラス基板の搬送方向で縦方向にかつ可撓性ガラス基板の対向するエッジに沿って伸長する第1及び第2の真空部材を備えるガラス支持システム上に可撓性ガラス基板を配置する工程を含む。各真空部材は、内部に配置された圧力チャンバを備える真空本体、及び、そこを通って伸長し各圧力チャンバと連絡する真空開口を有する支持表面を備える。支持ロッドアセンブリは、ガラス基板搬送方向に伸長し第1及び第2の真空部材の間に配置される複数の細長い支持ロッドを備える。支持ロッドアセンブリは、平面構成から、下向きの円弧状配向で可撓性ガラス基板を支持する面外構成へ、移動される。
本明細書に記載される追加の特徴及び利点が、以下の詳細な説明に記載され、一部には、その説明から当業者に容易に明らかとなり、あるいは、以下の詳細な説明、特許請求の範囲、並びに添付の図面を含む、本明細書に記載される実施形態を実施することによって認識されよう。
前述の概要及び以下の詳細な説明はいずれも、さまざまな実施形態について記載しており、特許請求される主題の本質及び特徴を理解するための概観又は枠組みを提供することが意図されていることが理解されるべきである。添付の図面は、さまざまな実施形態のさらなる理解をもたらすために含まれ、本明細書に取り込まれてその一部を構成する。図面は、本明細書に記載されるさまざまな実施形態を例証しており、その説明と共に、特許請求される主題の原理及び動作を説明する役目を果たす。
本開示のこれらの及び他の特徴、態様及び利点は、添付の図面を参照して本開示の以下の詳細な説明が読まれると、さらによく理解される。
ガラスは、本質的に丈夫な材料であるが、その強度及び機械的信頼性は、その表面欠陥又は傷のサイズ密度分布、及び経時の応力への材料の累積暴露の関数である。エッジ強度は、可撓性ガラス基板の機械的信頼性についての重要な要素である。製品ライフサイクル全体に亘って、可撓性ガラス基板に、さまざまの種類の静的及び動的機械応力を印加してもよい。本明細書に記載される実施形態は概して、可撓性ガラス基板中の曲げモーメントを低減しながら、可撓性ガラス基板の加工又はそうでなければ支持を可能とするガラス支持装置及び方法に関する。
ガラスリボンからトリミングされる可撓性ガラス基板は、トリミング工程中に形成される鋭いエッジを有する傾向がある。可撓性ガラス基板の鋭いエッジは、取扱い中に損傷しやすい。エッジの傷、例えば、チップ、クラックなどは、ガラスの強度を低下しうる。可撓性ガラス基板のエッジを処理して、容易に損傷される鋭いエッジを取り除くために、研磨及び成形、例えばべべリングにより鋭いエッジを除去してもよい。可撓性ガラス基板から鋭いエッジを除去することにより、可撓性ガラス基板中の傷を最小限にすることができ、それによって、取扱い中のガラスプレートへの損傷の可能性を低減できる。
水平方向のガラスエッジ加工工程において、可撓性ガラス基板は、概して水平面に、又は水平成分を有し垂直未満のある角度で、位置付けられる。その結果、可撓性ガラス基板は、横送り(cross-feed)方向において、その幅に亘って複数の位置で支持されうる。概して、可撓性ガラス基板は、対向する平らな表面、及び概して平らな表面に垂直な面外方向を有する。ガラス基板の搬送方向は、面外方向に垂直かつ加工されるガラスエッジに平行であり、横送り方向は、搬送方向及び機械加工されるガラスエッジを横断する。エッジ間の可撓性ガラス基板の高品質領域(quality area)の本来の性質のため、支持構造との接触面積が低減されることが所望である。したがって、可撓性ガラス基板の幅に亘って間隔をあけた複数の支持構造を使用しうる。支持構造のサイズ及び間隔に依存して、可撓性ガラス基板は、支持構造間で可撓性ガラス基板の支持されていない領域で垂下しうる。図16に示されるように、例えば、曲げ剛性(D)(可撓性ガラス基板の15mmの自由オーバーハングエッジ)は、約0.6mm未満の可撓性ガラス基板厚さについて比較的低いままである傾向があり、約0.25mm以下において比較的均一かつ低くなる。ガラス剛性は、曲げ剛性(D)により表すことができ、これは、ヤング率(E)、厚さ(t)及びポアソン比(ν)の関数であり下記により与えられる:
Figure 2018527277
この垂下は、水平方向に配置された可撓性ガラス基板上に冷却液が蓄積する箇所で増強され、これにより可撓性ガラス基板の全重量が増加する。
図1を参照すると、べべリング工程を行うのに適切なガラスエッジ加工装置10は、ガラス基板搬送システム14及びガラス基板支持システム16を備える支持装置12を有する。ガラス基板搬送システム14は、通常は可撓性ガラス基板20のエッジ18と合わせられる、ガラス基板搬送方向17に、ガラス基板支持システム16を移動(例えば平行移動)させることができる。ガラス基板支持システム16は、搬送方向17に、ガラス基板搬送システム14により運搬又はそうでなければ移動されうる。ガラス基板支持システム16は、可撓性ガラス基板20の対向するエッジ18及び28に沿って、及びいくつかの実施形態ではガラス基板搬送方向17において可撓性ガラス基板20の実質的に全長に沿って又はさらに全長を超えて、伸長するエッジ真空部材24及び26、例えば真空チャックを備える真空システム22を有する。いくつかの実施形態において、エッジ真空部材24及び26は、単一の、細長い真空部材から形成されてもよい。他の実施形態において、複数の真空部材を使用し、例えば、搬送方向17において隣り合って並べてもよい。エッジ真空部材24及び26のみが図示されているが、内側真空部材を用いてもよい。
図2は、エッジ真空部材26及び可撓性ガラス基板20の詳細図を示す。エッジ真空部材26は、べべリング工程中の可撓性ガラス基板20のエッジ18の移動(水平及び垂直)を抑制するのに十分な真空吸引力を与えうる。ここで用いたように、「真空吸引力」とは、エッジ真空部材26の真空開口25の累加面積に吸気圧力を乗じたものを称する。図示されるように、真空吸引力は、可撓性ガラス基板20のエッジ18の近傍又はそこから間隔をあけたエッジ真空部材26により印加できる。エッジ真空部材26のこの位置によって、エッジ真空部材26の外側エッジ36から測定されるオーバーハング距離DOHを有する可撓性ガラス基板20のオーバーハング領域34が形成され、ここで、エッジ18(又は搬送方向17)に垂直な方向でエッジ18に向かってオーバーハングが始まる。いくつかの実施形態において、オーバーハング距離DOHは、少なくとも約6mm、例えば少なくとも約10mm、例えば少なくとも約15mm、例えば少なくとも約20mmでもよい。いくつかの実施形態において、オーバーハング距離DOHは、約5mm〜約30mmの間でもよい。
エッジ真空部材は、一体成形又はマルチピースの構成でもよい。例えば、図3を参照すると、エッジ真空部材26は、一体成形のモノリシック構成を有する真空本体40を有する。真空本体40は、内部に配置される圧力チャンバ42、及び、エッジ真空部材26をガラス搬送システムに連結させることを可能にする、圧力チャンバ42と分離して真空本体40の一部として形成される連結配列44を備えうる。入口43及び出口45は、圧力チャンバ42に正圧及び/又は負圧を供給しうる。図4は、マルチピースの構成を示し、真空部材50は、チャンバハウジング部材54及びキャップ部材56により形成される真空本体52を備える。連結配列58を、真空部材50をガラス搬送システムに連結するために提供してもよい。
再び図1を参照すると、以下により詳細に説明されるように、ガラス基板支持システム16はさらに、エッジ真空部材24と26との間に配置される支持ロッドアセンブリ60を備える。支持ロッドアセンブリ60は、互いに(かつエッジ真空部材24及び26と)実質的に平行な供給方向17に方向付けられた細長い長さを有する複数の支持ロッド62a−62jを備える。支持ロッド62a−62jもまた、横送り方向に互いに離れてかつ可撓性ガラス基板20の幅に沿って配置され、可撓性ガラス基板20の長さに沿って伸長する局所的線状支持領域を提供する。図示される実施形態において、10の支持ロッド62a−62jがある;しかしながら、他の実施形態において、支持ロッド62a−62jは、可撓性ガラス基板20のサイズ及び厚さ、並びにエッジ真空部材24と26との間の距離に少なくとも一部依存して、10より多くても少なくてもよい。
図5及び6を参照すると、単一の支持ロッド62が分離して示され、対向する端部64及び66、並びに対向する端部64と66との間に伸長する細長い支持本体68を備える。特に図6を参照すると、細長い支持本体68は、図示されるように中空でなくてもよい、あるいは中空でも(すなわち管状)又は少なくとも部分的に中空でもよいが、最小限の変形で可撓性ガラス基板20を支持するのに適切な強度のものである。支持ロッド62は、任意の適切な形状でもよい;しかしながら、可撓性ガラス基板20との接触面積が減少するのが所望である。図示される実施形態において、支持ロッド62は、可撓性ガラス基板20と向かい合うように配置できる上方接触面70を有する長円形の形状である。図示されるように、上方接触面70は、細長い支持本体68の内径(又は最大幅)未満の幅を有する。いくつかの実施形態において、接触面70は、可撓性ガラス基板20に損傷を与えずに接触するのに適切な柔軟材料(例えば、シリコン、ゴム、発泡体、複合材料)のパッド又はコーティングのような、柔軟部材72により形成されてもよい。他の適切な断面形状には、長方形、円形、三角形などが含まれてもよい。さらに、接触面70は連続的なものとして図示されるが、接触面は断続的でもよい(例えば、単一の支持ロッド上に、複数の位置合わせした支持ロッド又は断続的な接触面があってもよい)。金属、プラスチック、又は材料、コーティングなどの組合せ(例えば、塩化ポリビニル、発泡体、シリコン、ゴムなど)のような、任意の適切な材料を使用して支持ロッド62を形成してもよい。
次に図7及び8を参照して、支持ロッドアセンブリ60を備えるガラス基板支持システム16の動作が説明される。まず図7を参照すると、支持ロッドアセンブリ60が平面構成で示され、支持ロッド62a−62jの全てが、水平面で実質的に位置合せされて、可撓性ガラス基板を、各支持ロッド62a−62jの接触面により定められる水平面上に実質的に横たわらせる。この構成において、エッジ真空部材24及び26を使用して可撓性ガラス基板20に正圧を供給してもよく、これにより、可撓性ガラス基板20の少なくとも一部を加圧ガスのクッション上に浮かせ、ガラス基板支持システム16上での可撓性ガラス基板20の位置決めが容易になる。所定の位置に位置づけられると、アクチュエータシステム76が、支持ロッド62a−62jの少なくとも一部又は全てを、平面構成から面外構成に移動させ、ここで、アクチュエータシステム76は、支持ロッド62a−62jの少なくとも一部を、平面構成中の元の位置から面外構成を定める位置へ移動させる。
図8は、アクチュエータシステム76を用いて面外構成に移動された支持ロッド62a−62jを図示する。図示される実施形態において、支持ロッド62a−62jは、別個に制御可能な複数のグループで提供されてもよい。例えば、図8は、支持ロッド62a−62eを含む第1グループ78及び支持ロッド62f−62jを含む第2グループ80を図示する。第1グループ78において、支持ロッド62a−62eは、支持ロッド62aから62eへ、支持ロッド62eで最高の高さとなる(あるいは、平面構成から垂直方向に最も遠く移動する)ように高さが増加する。同様に、第2グループ80において、支持ロッド62f−62jは、支持ロッド62jから62fへ、支持ロッド62fで最高の高さとなる(あるいは、平面構成から垂直方向に最も遠く移動する)ように高さが増加する。いくつかの実施形態において、第1グループ78の支持ロッド62a−62eは全て、横送り方向に互いに実質的に等距離で離間されてもよく、支持ロッド62f−62jは、横送り方向に互いに等距離で離間されてもよい。いくつかの実施形態において、第1位グループ78の隣接する支持ロッド62a−62e間の間隔Sは、第2グループ80の隣接する支持ロッド62f−62j間の間隔Sと実質的に同じでありうる。しかしながら、第1グループ78と第2グループ80との間(すなわち、ロッド62eと62fとの間)の間隔Sは、第1グループ78及び第2グループ80内の間隔と同じでも異なってもよい。例えば、間隔Sは、間隔S及び/又はSより大きくてもよい。他の実施形態において、間隔Sは、間隔S及び/又はSより小さくてもよい。支持ロッド62a−62jが面外構成に配置されると、エッジ真空部材24及び26を介して可撓性ガラス基板20に負圧が与えられ、可撓性ガラス基板20は、わずかに曲がった、下向きの円弧状の構成で存在し、これにより、ガラス基板上に蓄積しうる液体又は粒子の流出が容易となる。ここで用いたように、「下向きの円弧状」とは、曲線の2つの点をつなぐ線分が曲線上に位置しない曲線の一般的な形状を称する。本開示から、3つ以上のグループの支持ロッドが提供されてもよいことが明らかである。
図9−12を参照すると、さまざまの例示的なアクチュエータシステム及び方法が図示される。図9を参照すると、アクチュエータシステム90は、それぞれが独立して支持ロッド62a−62jの各々を動かす、個々のアクチュエータ92a−92jを備えうる。アクチュエータシステム90は、各アクチュエータ92a−92jが面外構成で自動的に停止する、正の停止構成でもよい。別の実施形態において、コントローラ94は、例えば、ユーザのインプット及び/又はコントローラ94の記憶域に保存されたロジックに基づいて、各アクチュエータ92a−92jの停止点又は移動した距離を個別に制御してもよい。例えば、1つ以上のセンサ(例えば近接センサ)を備えるセンサシステム96は、所定の距離に達するとコントローラ94に信号を与えうる。図10は、第1グループ78及び第2グループ80を超えてあるいは第1グループ78及び第2グループ80内でのみのいずれかにおいて、個々の支持ロッド62a−62jがリンケージ102により互いに連結される、アクチュエータシステム100の別の実施形態を図示する。この実施形態において、アクチュエータシステム100を使用して支持ロッド62a−62jの1つ又はいくつかを直接動かすことにより、複数の支持ロッド62a−62jを動かしてもよい。図11は、アクチュエータシステム100の別の代替的な実施形態を図示し、ここでは、適切な形状のロッド上昇部材112又は支持エッジ114プロファイルを使用して、複数の支持ロッド62a−62jを面外構成に移動させる。図12を参照すると、アクチュエータシステム120の別の実施形態は、入力(例えば、空気、電気、熱など)に応じて形状を変化させて面外構成に可撓性ガラス基板20を置くことができる、可膨張性又はそうでなければ動的な支持ロッド122a−122j(例えば、形状記憶材料を用いた)を備える。
図13を参照すると、支持ロッド62a−62jの垂直方向又は面外の移動が上記されているが、支持ロッド62a−62j及びエッジ真空部材24及び26の面内又は水平方向の移動もまた考えられる。例えば、図13の実線は、収縮された平面構成のガラス基板支持システム16を図示し、点線は、拡張された面外構成のガラス基板支持システム16を図示する。この実施例において、上記のように支持ロッド62a−62jが垂直方向に上昇されると、ガラス基板支持システム16は収縮し、アクチュエータシステム76が、エッジ真空部材24及び26を互いに向かって移動させ、間隔S、S及び/又はSを減少させる。そのような配置により、平面構成に関して面外構成の可撓性ガラス基板20の水平方向の到達幅が減少するので、エッジ真空部材24及び26に関してエッジを移動させることなく、可撓性ガラス基板20を面外構成に移動させることが容易となる。
再び図1を参照すると、可撓性ガラス基板20がガラス基板支持システム16によって支持されると、可撓性ガラス基板20及びガラス基板支持システム16を、ガラス基板搬送システム14によりガラスエッジ加工装置10のエッジ研磨システム140に平行移動できる。エッジ研磨システム140は通常、可撓性ガラス基板20の対向するエッジ18及び28に位置する研磨ホイールアセンブリ142及び144を備えうる。他の実施形態において、単一の研磨ホイールアセンブリのみを使用してもよく、又は、最大4つの研磨ホイールアセンブリ又は可撓性ガラス基板20の各エッジ18、28、146及び148に1つずつでもよい。
研磨ホイールアセンブリ142及び144はそれぞれ、可撓性ガラス基板20のエッジ18及び28を研磨し成形するために使用される研磨ホイール147及び研磨ホイール147を回転させるために使用されるモータ149を備えうる。いくつかの実施形態において、研磨ホイールアセンブリ142及び144はそれぞれ、研磨ホイール147を各エッジ18及び28に向かって及びそこから離れて移動させるために使用できる駆動機構150をさらに備えうる。研磨ホイールアセンブリ142及び144、ガラス基板支持システム16、及びガラス基板搬送システム14の動作を制御するコントローラ152を提供してもよい。図示される実施形態において、研磨ホイール147は、成形ホイールである。
図14及び15を参照すると、上記のように、ガラス基板支持システム200は、エッジ真空部材204及び206、並びにエッジ真空部材204と206との間に配置された1つ以上の内側真空部材208をいずれも含む真空システム202を備えうる。内側真空部材208は、例えば、上記のように平面構成と面外構成との間を移動しうる支持ロッド214a−214jのグループ210と212との間に配置されてもよい。内側真空部材208は、さらなる安定化を提供し、平面構成において支持ロッド214a−214jによる可撓性ガラス基板の移動を容易にしうる。
さまざまの研磨ホイールを使用して、可撓性ガラス基板のエッジを研磨及び成形してもよく、「カップ」ホイール及び「成形」ホイールの使用が含まれる。カップホイールは通常、円形の形状であり、カップホイールの周囲から離間して陥凹中心領域を備える。カップホイールは、可撓性ガラス基板と接触され、カップホイールの平面は可撓性ガラス基板と接触するが、カップホイールの円周面は可撓性ガラス基板から離間される。成形ホイールは、成形ホイールの円周面のエッジに配置される溝を含む。溝は、基板エッジの処理された形状に対応する外形を有する。成形ホイールの溝は、可撓性ガラス基板のエッジと接触され、エッジを研磨及び成形する。
可撓性ガラス基板20は、約0.3mm以下の厚さ、例えば、約0.01−0.05mm、約0.05−0.1mm、約0.1−0.15mm、約0.15−0.3mm、約0.100−約0.200mm、0.3、0.275、0.25、0.225、0.2、0.19、0.18、0.17、0.16、0.15、0.14、0.13、0.12、0.11、0.10、0.09、0.08、0.07、0.06、0.05、0.04、0.03、0.02、又は0.01mmを含むがこれに限定されない厚さを有してもよい。可撓性ガラス基板20は、ガラス、ガラスセラミック、セラミック材料又はそれらの混合物から形成されてもよい。高品質の可撓性ガラス基板を形成するフュージョン工程(例えば、ダウンドロー工程)をさまざまの装置で使用してもよく、そのような用途の1つは、フラットパネルディスプレイである。フュージョン工程で製造される可撓性ガラス基板は、他の方法により製造される可撓性ガラス基板と比較すると、優れた平面度及び平滑性を備えた表面を有する。フュージョン工程は、米国特許第3,338,696号明細書及び同第3,682,609号明細書に記載されている。他の適切な可撓性ガラス基板形成方法には、フロート、アップドロー及びスロットドロー法が含まれる。
上記のガラス支持システム及び方法により、横送り方向に可撓性ガラス基板の幅に沿って配置され面外変形を制限する局所的支持ラインを提供する複数の支持ロッドの使用に亘って、水平方向の可撓性ガラス基板の位相変形の量を制御又は制限できる。支持ロッドはまた、隣接する支持ロッド間で可撓性ガラス基板の局所的変形を制御し続けながら、水平方向で可撓性ガラス基板を提示する収縮した平面構成から、くぼんだ下向き方向で可撓性ガラス基板を提示する拡張した面外構成へ移動できる。可撓性ガラス基板のくぼんだ下向き方向によってまた、可撓性ガラス基板の広い表面上に蓄積しうる冷却液及び粒子の流出が容易となる。可撓性ガラス基板と支持ロッドとの間の接触面積が減少することにより、欠陥の精製が低減され、可撓性ガラス基板の強度を維持できる。支持ロッドの長さ及び幅を、異なるサイズの支持ロッドに置き換えることにより変化させ、さまざまの可撓性ガラス基板のサイズに適応できる。
特許請求の主題の精神及び範囲から逸脱することなく、本明細書に記載される実施形態にさまざまの修正及び変更が可能であることが当業者に明らかであろう。したがって、本明細書は、そのような修正及び変更が添付の請求項及びその均等物の範囲内であるという条件で、本明細書に記載されるさまざまの実施形態の修正及び変更に及ぶことが意図される。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
ガラス基板供給方向で縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材であって、各真空部材が、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバの各々と連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
前記第1の真空部材と前記第2の真空部材との間に位置し前記供給方向に伸長する複数の支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリ
を備える、ガラス基板支持システム。
実施形態2
前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第1グループを備える、実施形態1に記載のガラス支持システム。
実施形態3
前記第1グループの各支持ロッドが、前記第1グループの隣接する支持ロッドから等距離で離間される、実施形態2に記載のガラス支持システム。
実施形態4
前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第2グループを備える、実施形態2に記載のガラス支持システム。
実施形態5
前記第2グループの各支持ロッドが、前記第2グループの隣接する支持ロッドから等距離で離間される、実施形態4に記載のガラス支持システム。
実施形態6
前記支持ロッドアセンブリが、可撓性ガラス基板を実質的に平面配向で支持する平面構成を有する、実施形態4に記載のガラス支持システム。
実施形態7
前記支持ロッドアセンブリが、前記可撓性ガラス基板を下向きの円弧状配向で支持する面外構成を有する、実施形態6に記載のガラス支持システム。
実施形態8
前記平面構成と前記面外構成との間で前記支持ロッドアセンブリを移動させるアクチュエータシステムをさらに備える、実施形態7に記載のガラス支持システム。
実施形態9
ガラス基板搬送システム;
ガラス基板供給方向において前記ガラス基板搬送システムにより可動のガラス基板支持システムであって、概略平面及び該概略平面に垂直な面外方向を有する可撓性ガラス基板を支持するよう構成される、ガラス基板支持システム
を備えるガラスエッジ加工装置であって、
前記ガラス基板支持システムが、
前記ガラス基板供給方向で前記可撓性ガラス基板のエッジに沿って縦方向に伸長する真空部材であって、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバと連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
前記真空部材に隣接し、前記ガラス基板供給方向に伸長する複数の細長い支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリであって、下向きの円弧状配向で前記可撓性ガラス基板を支持する面外構成を有する、支持ロッドアセンブリ
を備える、ガラスエッジ加工装置。
実施形態10
前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第1グループを備える、実施形態9に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態11
前記第1グループの各支持ロッドが、前記第1グループの隣接する支持ロッドから等距離で離間される、実施形態10に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態12
前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第2グループを備える、実施形態9に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態13
前記第2グループの各支持ロッドが、前記第2グループの隣接する支持ロッドから等距離で離間される、実施形態12に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態14
前記支持ロッドアセンブリが、可撓性ガラス基板を実質的に平面配向で支持する平面構成を有する、実施形態12に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態15
前記平面構成と前記面外構成との間で前記支持ロッドアセンブリを移動させるアクチュエータシステムをさらに備える、実施形態14に記載のガラスエッジ加工装置。
実施形態16
可撓性ガラス基板を支持する方法において、
ガラス支持システム上に可撓性ガラス基板を配置する工程であって、該ガラス支持システムが、
ガラス基板供給方向にかつ可撓性ガラス基板の対向するエッジに沿って縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材であって、各真空部材が、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバの各々と連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
前記ガラス基板供給方向に伸長し前記第1の真空部材と前記第2の真空部材との間に位置する複数の細長い支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリ
を備える、工程;及び
前記支持ロッドアセンブリを、平面構成から、下向きの円弧状配向で前記可撓性ガラス基板を支持する面外構成へ移動させる工程
を含む、方法。
実施形態17
前記ガラス支持システム上に前記可撓性ガラス基板を配置する工程が、前記平面構成において前記支持ロッドアセンブリにより前記ガラス支持システム上に前記可撓性ガラス基板を配置する工程を含む、実施形態16に記載の方法。
実施形態18
前記ガラス支持システム上に前記可撓性ガラス基板を配置する工程中に、前記第1及び第2の真空部材を用いて、前記可撓性ガラス基板に正圧を与える工程をさらに含む、実施形態16に記載の方法。
実施形態19
前記可撓性ガラス基板を下向きの円弧状配向とし、前記第1及び第2の真空部材を介して前記可撓性ガラス基板に負圧を与える工程をさらに含む、実施形態16に記載の方法。
実施形態20
前記平面構成から前記面外構成へ前記支持ロッドアセンブリを移動させる工程が、アクチュエータシステムを用いて行われる、実施形態16に記載の方法。
10 ガラスエッジ加工装置
14 ガラス基板搬送システム
16 ガラス基板支持システム
18 エッジ
20 可撓性ガラス基板
22 真空システム
24 エッジ真空部材
26 エッジ真空部材
40 真空本体
42 圧力チャンバ
43 入口
45 出口
50 真空部材
52 真空本体
60 支持ロッドアセンブリ
62 支持ロッド
76 アクチュエータシステム
78 第1グループ
80 第2グループ
90 アクチュエータシステム
92 アクチュエータ
100 アクチュエータシステム
110 アクチュエータシステム
120 アクチュエータシステム
122 支持ロッド
142 研磨ホイールアセンブリ
144 研磨ホイールアセンブリ
147 研磨ホイール
200 ガラス基板支持システム
202 真空システム
204 エッジ真空部材
206 エッジ真空部材
214 支持ロッド

Claims (10)

  1. ガラス基板供給方向で縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材であって、各真空部材が、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバの各々と連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
    前記第1の真空部材と前記第2の真空部材との間に位置し前記供給方向に伸長する複数の支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリ
    を備える、ガラス基板支持システム。
  2. 前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第1グループを備えることを特徴とする、請求項1に記載のガラス支持システム。
  3. 前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第2グループを備えることを特徴とする、請求項2に記載のガラス支持システム。
  4. 平面構成と面外構成との間で前記支持ロッドアセンブリを移動させるアクチュエータシステムをさらに備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載のガラス支持システム。
  5. ガラス基板搬送システム;
    ガラス基板供給方向において前記ガラス基板搬送システムにより可動のガラス基板支持システムであって、概略平面及び該概略平面に垂直な面外方向を有する可撓性ガラス基板を支持するよう構成される、ガラス基板支持システム
    を備えるガラスエッジ加工装置であって、
    前記ガラス基板支持システムが、
    前記ガラス基板供給方向に前記可撓性ガラス基板のエッジに沿って縦方向に伸長する真空部材であって、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバと連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
    前記真空部材に隣接し、前記ガラス基板供給方向に伸長する複数の細長い支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリであって、下向きの円弧状配向で前記可撓性ガラス基板を支持する面外構成を有する、支持ロッドアセンブリ
    を備える、ガラスエッジ加工装置。
  6. 前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第1グループを備えることを特徴とする、請求項5に記載のガラスエッジ加工装置。
  7. 前記複数の支持ロッドが、少なくとも5つの支持ロッドを含む第2グループを備えることを特徴とする、請求項6に記載のガラスエッジ加工装置。
  8. 実質的に平面廃坑で前記可撓性ガラス基板を支持する平面構成と前記面外構成との間で前記支持ロッドアセンブリを移動させるアクチュエータシステムをさらに備えることを特徴とする、請求項5〜7のいずれか一項に記載のガラスエッジ加工装置。
  9. 可撓性ガラス基板を支持する方法において、
    ガラス支持システム上に可撓性ガラス基板を配置する工程であって、該ガラス支持システムが、
    ガラス基板供給方向にかつ可撓性ガラス基板の対向するエッジに沿って縦方向に伸長する第1及び第2の真空部材であって、各真空部材が、内部に位置する圧力チャンバを備える真空本体、及びそれを通じて伸長し前記圧力チャンバの各々と連絡する真空開口を有する支持表面を備える、真空部材;及び
    前記ガラス基板供給方向に伸長し前記第1の真空部材と前記第2の真空部材との間に位置する複数の細長い支持ロッドを備える支持ロッドアセンブリ
    を備える、工程;及び
    前記支持ロッドアセンブリを、平面構成から、下向きの円弧状配向で前記可撓性ガラス基板を支持する面外構成へ移動させる工程
    を含む、方法。
  10. 前記ガラス支持システム上に前記可撓性ガラス基板を配置する工程中に、前記第1及び第2の真空部材を用いて、前記可撓性ガラス基板に正圧を与える工程をさらに含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
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