JP2018202472A - 鉛フリーはんだ合金 - Google Patents

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Abstract

【課題】 引張強度及び延性に優れ、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合にも破断が生じ難く、また一定以下の固相線温度・液相線温度を有し得る鉛フリーはんだ合金の提供。【解決手段】 Biを40質量%以上65質量%以下と、Agを0質量%超1質量%未満含み、残部がSnからなることを特徴とする鉛フリーはんだ合金。【選択図】図1

Description

本発明は、鉛フリーはんだ合金に関する。
プリント配線板やシリコンウエハといった基板上に形成される電子回路に電子部品を接合する方法としては、はんだ合金を用いたはんだ接合方法が挙げられる。従来、このはんだ合金には鉛を使用するのが一般的であった。しかし環境負荷の観点からRoHS指令等によって鉛の使用が制限されたため、近年では鉛を含有しない、所謂鉛フリーはんだ合金によるはんだ接合方法が一般的になりつつある。
この鉛フリーはんだ合金としては、例えばSn−Cu系、Sn−Ag−Cu系、Sn−Bi系、Sn−Zn系はんだ合金等がよく知られている。その中でもテレビ、携帯電話等に使用される民生用電子機器や自動車に搭載される車載用電子機器には、Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金が多く使用されている。
しかし、Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金は、従来使用されていたSn−37Pbはんだ合金よりも固相線温度・液相線温度が約30℃以上も高い。そのため、Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金を用いたはんだ付けでは電子部品の実装時における基板及び電子部品にかかる熱的負荷が大きいという問題があった。近年、電子回路基板の高密度及び高精細化はますます進んでおり、そのため一定以上の信頼性を確保しつつ、その固相線温度・液相線温度を低下させることのできる鉛フリーはんだ合金の開発が課題の一つとなっている。
ここで鉛フリーはんだ合金の固相線温度・液相線温度を低下させることを目的として、合金元素としてBiを添加することは従来から行われており、例えばSn−58Bi、Sn−57Bi−1Ag等の鉛フリーはんだ合金は多く使用されている。しかしBiを添加した鉛フリーはんだ合金は延伸性が悪化するため、その脆性が強まるというデメリットがある。
そのためこのようなはんだ合金を用いて形成されるはんだ接合部は、落下衝撃といったような高速で加えられる応力のみならず、基板の作成時や最終製品の組み立て時にかかる歪み、ねじれ及びたわみのような低速で加えられる応力にも弱く、当該はんだ接合部に亀裂が生じ易いという問題があった。
そこで融点が低く良好な延性、耐熱性及び濡れ性を有するはんだ合金として、例えばビスマスを30ないし58重量%、銀を5重量%以下、ゲルマニウムを0.1重量%以下含有し、残部はスズ及び不可避的不純物からなる電子機器の金属接合用のはんだ合金が開示されている(特許文献1参照)。
特許第3386009号公報
しかし、Sn−Bi−Ag系はんだ合金は、これにAgを1質量%以上含有させると、AgSn等の金属間化合物が粗大化し易い。特許文献1に開示されるはんだ合金は、Agを1重量%含むSn−43Bi−1AgよりもAgを2重量%含むSn−43Bi−2Agの方が引張強度及び延性ともに優れてはいる。しかしAgの含有量を増加すれば上述の通りAgSn等の金属間化合物は粗大化し易い。そのため、このようなはんだ合金を用いて形成されるはんだ接合部に応力を繰り返し与えると、粗大化した金属間化合物を起因とした破断が生じ易くなる傾向にある。
また機械的強度の向上及び金属間化合物の微細化を目的としてSn−Bi−Ag系はんだ合金にCuを含有させる場合、BiとAgとの含有バランスによっては、Cuを0.5質量%以上含有させるとはんだ合金の製造過程においてCuの針状結晶が生じ易くなる虞がある。そのため、このようなはんだ合金をソルダペースト用途等のために球状粉末化する場合、当該Cuの針状結晶の存在が球状化を阻害する要因となり、球状粉末化が困難となる虞がある。
本発明は前記課題を解決するものであり、引張強度及び延性に優れ、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合にも破断が生じ難く、また一定以下の固相線温度・液相線温度を有する鉛フリーはんだ合金に関する。
(1)本発明に係る鉛フリーはんだ合金は、Biを40質量%以上65質量%以下と、Agを0質量%超1質量%未満含み、残部がSnからなることをその特徴とする。
(2)本発明に係る鉛フリーはんだ合金は、Biを40質量%以上65質量%以下と、Agを0質量%超2質量%以下と、Cuを0質量%超0.5質量%未満含むことをその特徴とする。
(3)上記(1)または(2)に記載の構成にあって、Biの含有量は40質量%以上50質量%以下であることをその特徴とする。
(4)上記(2)に記載の構成にあって、Cuの含有量は0.1質量%以上0.4質量%以下であることをその特徴とする。
(5)上記(1)から(4)のいずれか1に記載の構成にあって、本発明に係る鉛フリーはんだ合金は、25℃、変位速度0.5mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ1は60MPA以上70MPA以下であり、破断点におけるひずみε1は40%以上60%以下であることをその特徴とする。
(6)上記(1)から(5)のいずれか1に記載の構成にあって、本発明に係る鉛フリーはんだ合金は、25℃、変位速度0.072mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ2は40MPA以上60MPA以下であり、破断点におけるひずみε2は60%以上80%以下であることをその特徴とする。
本発明の鉛フリーはんだ合金は、引張強度及び延性に優れ、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合にも破断が生じ難く、また一定以下の固相線温度・液相線温度を有し得る。
本発明の実施形態並びに実施例及び比較例の引張試験において用いた試験片の寸法(平面板)を表す図。 本発明の実施例及び比較例の繰り返し折り曲げ試験での試験方法の態様を表す図。 実施例3、比較例1及び比較例4に係る鉛フリーはんだ合金について、25℃、変位速度0.5mm/秒の条件にて行った引張試験の結果を表すグラフ。 実施例3、比較例1及び比較例4に係る鉛フリーはんだ合金について、25℃、変位速度0.072mm/秒の条件にて行った引張試験の結果を表すグラフ。
以下、本発明の鉛フリーはんだ合金の一実施形態を詳述する。なお、本発明が以下の実施形態に限定されるものではないことはもとよりである。
本実施形態に係る鉛フリーはんだ合金には、40質量%以上65質量%以下のBiを含有させることができる。この範囲でBiを添加することにより、鉛フリーはんだ合金の固相線温度・液相線温度を低下させることができる。なお上述の通り、Biを添加した鉛フリーはんだ合金は延伸性が悪化するため、このようなはんだ合金を用いて形成されるはんだ接合部は、高速で加えられる応力のみならず、低速で加えられる応力にも弱く、当該はんだ接合部に破断が生じ易い。しかし本実施形態の鉛フリーはんだ合金は、BiとBi以外の合金元素の組成及びバランスを図ることにより、引張強度、延性を良好に保ち、また特に低速での応力を繰り返し与えられた場合の破断発生を抑制することができる。
Biの含有量が40質量%より少ない場合、所望の温度まで固相線温度・液相線温度を下げることができなくなる可能性があり、またBiの含有量が65質量%より多い場合、Biの析出により延性が低下する虞がある。
Biの含有量は、好ましくは40質量%以上50質量%以下であり、より好ましくは42質量%以上48質量%以下である。
本実施形態の鉛フリーはんだ合金には、0質量%超1質量%未満のAgを含有させることができる。この範囲でAgを添加することにより、これを用いて形成されるはんだ接合部においてAgSn等の金属間化合物の粗大化を抑制しつつ、良好な機械的特性を発揮することができる。
また本実施形態の鉛フリーはんだ合金にCuを添加する場合、Agの含有量を0質量%超2質量%以下とすることができる。Cuを添加することにより、Agの含有量を0質量%超2質量%以下としてもこれを用いて形成されるはんだ接合部においてCuSn等の金属化合物が形成され、AgSn等の金属間化合物の粗大化を抑制しつつ、良好な機械的特性を発揮することができる。
本実施形態の鉛フリーはんだ合金にCuを添加しない場合にあってはAgの含有量が1質量%以上となる場合、また本実施形態の鉛フリーはんだ合金にCuを添加する場合にあってはAgの含有量が2質量%を超える場合、AgSn等の金属間化合物が粗大化し易くなる虞がある。
Agの含有量は、Cuを添加しない場合にあっては好ましくは0.4質量%以上1質量%未満であり、より好ましくは0.7質量%以上1質量%未満である。またCuを添加する場合にあってはAgの好ましい含有量は0.4質量%以上2質量%以下であり、より好ましくは0.7質量%以上2質量%以下である。
本実施形態の鉛フリーはんだ合金には、0質量%超0.5質量%未満のCuを含有させることができる。この範囲でCuを添加することにより、これを用いて形成されるはんだ接合部においてAgSn等の金属間化合物の粗大化を抑制し、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合の破断の発生を抑制することができる。
Cuの含有量が0.5質量%以上の場合、はんだ合金の製造過程においてCuの針状結晶が生じ易くなる虞があり、このようなはんだ合金をソルダペースト用途等のために球状粉末化する場合、当該Cuの針状結晶の存在が球状化を阻害する要因となり、球状粉末化が困難となる虞がある。
Cuの含有量は、好ましくは0.1質量%以上0.4質量%以下であり、より好ましくは0.1質量%以上0.2質量%以下である。
本実施形態の鉛フリーはんだ合金は、25℃、変位速度0.5mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ1が60MPA以上70MPA以下であり、破断点におけるひずみε1が40%以上60%以下であることが好ましい。
また本実施形態の鉛フリーはんだ合金は、25℃、変位速度0.072mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ2が40MPA以上60MPA以下であり、破断点におけるひずみε2が60%以上80%以下であることが好ましい。
このように、本実施形態の鉛フリーはんだ合金は、低速で応力を加えた場合の引張応力σ及びひずみεを一定以上とすることができるため、これを用いて形成されるはんだ接合部は、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合の破断発生を抑制することができる。
なお、本実施形態において引張試験に使用した試験片は図1に示すものであり、使用した卓上形精密万能試験機はオートグラフAG−50kNX plus((株)島津製作所製)を使用した。また上述した条件以外の試験条件については、JIS規格Z2241に規定される条件に準拠した。また図1に記載の数値の単位はmmである。
なお、本実施形態の鉛フリーはんだ合金には、その効果を阻害しない範囲において、他の成分(元素)、例えばSb、Ni、Co、Cd、Tl、Se、Au、Ti、Si、Al、Mg、In及びZn等を含有させることができる。また本実施形態の鉛フリーはんだ合金には、当然ながら不可避不純物も含まれるものである。
また本実施形態の鉛フリーはんだ合金は、その残部がSnからなることが好ましい。なお好ましいSnの含有量は、32.5質量%超60質量%未満である。
本実施形態の鉛フリーはんだ合金を用いてはんだ接合部を形成する方法としては、例えばフロー方法、はんだボールによる実装、ソルダペーストを用いたリフロー方法等、はんだ接合部を形成できるものであればどのような方法を用いても良い。なおその中でも特にソルダペーストを用いたリフロー方法が好ましく用いられる。
上記リフロー方法に用いられるソルダペーストとしては、例えば上記鉛フリーはんだ合金からなる合金粉末と、ベース樹脂(A)と、活性剤(B)と、チキソ剤(C)と、溶剤(D)とを含むフラックスとを含むことが好ましい。
ベース樹脂(A)
前記ベース樹脂(A)としては、例えばロジン系樹脂(A−1)及び合成樹脂(A−2)の少なくとも一方を用いることが好ましい。
前記ロジン系樹脂(A−1)としては、例えばトール油ロジン、ガムロジン、ウッドロジン等のロジン;ロジンを重合化、水添化、不均一化、アクリル化、マレイン化、エステル化若しくはフェノール付加反応等を行ったロジン誘導体;これらロジンまたはロジン誘導体と不飽和カルボン酸(アクリル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸、フマル酸等)とをディールス・アルダー反応させて得られる変性ロジン樹脂等が挙げられる。これらの中でも特に変性ロジン樹脂が好ましく用いられ、アクリル酸を反応させて水素添加した水添アクリル酸変性ロジン樹脂が特に好ましく用いられる。なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
なお前記ロジン系樹脂(A−1)の酸価は140mgKOH/gから350mgKOH/gであることが好ましく、その重量平均分子量は200Mwから1,000Mwであることが好ましい。
前記合成樹脂(A−2)としては、例えばアクリル樹脂、スチレン−マレイン酸樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、テルペン樹脂、ポリアルキレンカーボネート及びカルボキシル基を有するロジン系樹脂とダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物とを脱水縮合してなる誘導体化合物が挙げられる。なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。これらの中でも特にアクリル樹脂が好ましく用いられる。
前記アクリル樹脂は、例えば炭素数1から20のアルキル基を有する(メタ)アクリレートを単重合、または当該アクリレートを主成分とするモノマーを共重合することにより得られる。このようなアクリル樹脂の中でも、特にメタクリル酸と炭素鎖が直鎖状である炭素数2から20の飽和アルキル基を2つ有するモノマーを含むモノマー類とを重合して得られるアクリル樹脂が好ましく用いられる。なお当該アクリル樹脂は、1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記カルボキシル基を有するロジン系樹脂とダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物とを脱水縮合してなる誘導体化合物(以下、「ロジン誘導体化合物」という。)について、先ずカルボキシル基を有するロジン系樹脂としては、例えばトール油ロジン、ガムロジン、ウッドロジン等のロジン;水添ロジン、重合ロジン、不均一化ロジン、アクリル酸変性ロジン、マレイン酸変性ロジン等のロジン誘導体等が挙げられ、これら以外にもカルボキシル基を有するロジンであれば使用することができる。またこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
次に前記ダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物としては、例えばダイマージオール、ポリエステルポリオール、ポリエステルダイマージオールのようなダイマー酸から誘導される化合物であって、その末端にアルコール基を有するもの等が挙げられ、例えばPRIPOL2033、PRIPLAST3197、PRIPLAST1838(以上、クローダジャパン(株)製)等を用いることができる。
前記ロジン誘導体化合物は、前記カルボキシル基を有するロジン系樹脂と前記ダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物とを脱水縮合することにより得られる。この脱水縮合の方法としては一般的に用いられる方法を使用することができる。また、前記カルボキシル基を有するロジン系樹脂と前記ダイマー酸誘導体柔軟性アルコール化合物とを脱水縮合する際の好ましい重量比率は、それぞれ25:75から75:25である。
前記合成樹脂(A−2)の酸価は0mgKOH/gから150mgKOH/gであることが好ましく、その重量平均分子量は1,000Mwから30,000Mwであることが好ましい
また前記ベース樹脂(A)の配合量は、フラックス全量に対して10質量%以上60質量%以下であることが好ましく、30質量%以上55質量%以下であることがより好ましい。
前記ロジン系樹脂(A−1)を単独で用いる場合、その配合量はフラックス全量に対して20質量%以上60質量%以下であることが好ましく、30質量%以上55質量%以下であることが更に好ましい。ロジン系樹脂(A−1)の配合量をこの範囲とすることで、良好なはんだ付性を実現することができる。
また前記合成樹脂(A−2)を単独で用いる場合、その配合量はフラックス全量に対して10質量%以上60質量%以下であることが好ましく、15質量%以上50質量%以下であることがより好ましい。
更に前記ロジン系樹脂(A−1)と前記合成樹脂(A−2)とを併用する場合、その配合比率は20:80から50:50であることが好ましく、25:75から40:60であることがより好ましい。
活性剤(B)
前記活性剤(B)としては、例えばカルボン酸類、ハロゲンを含む化合物等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記カルボン酸類としては、例えばモノカルボン酸、ジカルボン酸等並びにその他の有機酸が挙げられる。
前記モノカルボン酸としては、例えばプロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、エナント酸、カプリン酸、ラウリル酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸、ツベルクロステアリン酸、アラキジン酸、ベヘン酸、リグノセリン酸、グリコール酸等が挙げられる。
ジカルボン酸としては、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、フマル酸、マレイン酸、酒石酸、ジグリコール酸、1,4−シクロヘキサンジカルボン酸等が挙げられる。
また前記その他の有機酸としては、ダイマー酸、レブリン酸、乳酸、アクリル酸、安息香酸、サリチル酸、アニス酸、クエン酸、ピコリン酸、アントラニル酸等が挙げられる。
なおこれらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記ハロゲンを含む化合物としては、例えば非解離性のハロゲン化合物(非解離型活性剤)、解離性のハロゲン化合物(解離型活性剤)が挙げられる。
前記非解離型活性剤としては、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物が挙げられ、例えば塩素化物、臭素化物、ヨウ素化物、フッ化物のように塩素、臭素、ヨウ素、フッ素の各単独元素の共有結合による化合物でもよく、またこの2以上の異なるハロゲン原子を共有結合で結合する化合物でもよい。当該化合物は水性溶媒に対する溶解性を向上させるために、例えばハロゲン化アルコールのように水酸基等の極性基を有することが好ましい。当該ハロゲン化アルコールとしては、例えば2,3−ジブロモプロパノール、2,3−ジブロモブタンジオール、2,3−ジブロモ−2−ブテン−1,4−ジオール、1,4−ジブロモ−2−ブタノール、トリブロモネオペンチルアルコール等の臭素化アルコール;2−ブロモヘキサン酸等の臭化有機酸;1,3−ジクロロ−2−プロパノール、1,4−ジクロロ−2−ブタノール等の塩素化アルコール;3−フルオロカテコール等のフッ素化アルコール;その他のこれらに類する化合物が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記活性剤(B)の配合量は、フラックス全量に対して5質量%以上15質量%以下であることが好ましく、8質量%以上11質量%以下であることがより好ましい。
チキソ剤(C)
前記チキソ剤(C)としては、例えば水素添加ヒマシ油、脂肪酸アマイド類、飽和脂肪酸ビスアミド類、オキシ脂肪酸、ジベンジリデンソルビトール類が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記チキソ剤(C)の配合量は、フラックス全量に対して2質量%以上15質量%以下であることが好ましく、2質量%以上10質量%以下であることがより好ましい。
溶剤(D)
前記溶剤(D)としては、例えばイソプロピルアルコール、エタノール、アセトン、トルエン、キシレン、酢酸エチル、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、ヘキシルジグリコール、(2−エチルヘキシル)ジグリコール、フェニルグリコール、ブチルカルビトール、オクタンジオール、αテルピネオール、βテルピネオール、テトラエチレングリコールジメチルエーテル、トリメリット酸トリス(2−エチルヘキシル)、セバシン酸ビスイソプロピル等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記溶剤(D)の配合量は、フラックス全量に対して20質量%以上50質量%以下であることが好ましく、25質量%以上40質量%以下であることがより好ましい。
前記フラックスには、前記合金粉末の酸化を抑える目的で酸化防止剤を配合することができる。この酸化防止剤としては、例えばヒンダードフェノール系酸化防止剤、フェノール系酸化防止剤、ビスフェノール系酸化防止剤、ポリマー型酸化防止剤等が挙げられる。その中でも特にヒンダードフェノール系酸化剤が好ましく用いられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記酸化防止剤の配合量は特に限定されないが、一般的にはフラックス全量に対して0.5質量%以上5質量%程度以下であることが好ましい。
前記フラックスには、必要に応じて添加剤を配合することができる。前記添加剤としては、例えば消泡剤、界面活性剤、つや消し剤及び無機フィラー等が挙げられる。これらは1種単独でまたは複数種を混合して用いてもよい。
前記添加剤の配合量は、フラックス全量に対して0.5質量%以上20質量%以下であることが好ましく、1質量%以上15質量%以下であることがより好ましい。
本実施形態のソルダペーストは、例えば前記合金粉末と前記フラックスを混合することにより得られる。
前記合金粉末とフラックスとの配合比率は、合金粉末:フラックスの比率で65:35から95:5であることが好ましい。より好ましいその配合比率は85:15から93:7であり、特に好ましい配合比率は87:13から92:8である。
なお前記合金粉末の粒子径は1μm以上40μm以下であることが好ましく、5μm以上35μm以下であることがより好ましく、10μm以上30μm以下であることが特に好ましい。
以下、実施例及び比較例を挙げて本発明を詳述する。なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
フラックスの作製
表1に記載の各成分を混練し、フラックスを得た。なお、特に記載のない限り、表1に配合量の単位は質量%である。
Figure 2018202472
※1 荒川化学工業(株)製 水添酸変性ロジン
※2 日本化成(株)製 ヘキサメチレンビスヒドロキシステアリン酸アマイド
※3 BASFジャパン(株)製 ヒンダードフェノール系酸化防止剤
ソルダペーストの作製
実施例1から実施例3及び比較例2から比較例4については、前記フラックス9.6質量%と表2に記載の各鉛フリーはんだ合金を球状粉末化したもの(粉末粒径20μmから38μm)90.4質量%とを混合し、それぞれに係るソルダペーストを作製した。
また比較例1については、前記フラックス12質量%と表2に記載の鉛フリーはんだ合金を球状粉末化したもの(粉末粒径20μmから38μm)88質量%とを混合し、比較例1に係るソルダペーストを作製した。
なお、表2に記載の比較例5及び比較例6に係る鉛フリーはんだ合金は、合金の製造過程においてCuの針状結晶が発生したため、球状粉末化することができなかった。
Figure 2018202472
(1)固相線温度・液相線温度
表2に記載の実施例1から実施例3及び比較例1から比較例4に係る各鉛フリーはんだ合金について、その固相線温度・液相線温度を測定した。なお測定条件等はJIS規格Z3198−1に記載の条件に準拠した。その結果を表3に表す。
(2)繰り返し折り曲げ試験
FR−4基板の上面にNiめっきを施したCu板を接着し、且つその下面にBGAボール(Sn−3Ag−0.5Cuはんだ合金)を用いて形成されたバンプを有するチップ(電極パッド部:直径0.5mm、チップサイズ:15mm×15mm)と、これらのチップのバンプに対応する電極を備えこれらを搭載できるFR−4基板(Cu−OSP処理済。電極パッド部:直径0.4mm その他サイズ等はJEDEC規格JESD22−B113に準拠)とを用意した。
上記電極と同パターンを有する厚さ150μmのメタルマスクを用い、実施例1から実施例3及び比較例1から比較例4に係る各ソルダペーストを上記FR−4基板上にそれぞれ印刷した。次いで、各チップをそれぞれのFR−4基板上に縦横それぞれ3つずつ(1枚のFR−4基板上に9個)となるように搭載した。
その後、リフロー炉(製品名:TNP−538EM、(株)タムラ製作所製)を用いて前記各FR−4基板を加熱し、それぞれに当該FR−4基板と前記各チップとを電気的に接合するはんだ接合部を形成し、前記各チップを実装した各試験基板を作製した。この際のリフロー条件は、100℃から110℃の間で120秒間プリヒートを行い、その後、140℃以上で60秒間、ピーク温度170℃で加熱した。なお酸素濃度は2000±500ppmに設定した。
次いで上記チップを搭載し、はんだ接合部を形成した各FR−4基板(図2の試験基板20に対応。以下、試験基板20という。)を、図2に示すような態様にて試験装置100(卓上形精密万能試験機、製品名:オートグラフAG−X、(株)島津製作所製)にチップ21側が下面となるように設置した。なお各試験基板20は試験装置100の支持具12にて両端を支持され、地面と平行になるように設置される。そして試験装置100は、ロードセル10の下部に取り付けられた治具11を繰り返し各試験基板20に押し付け、各試験基板20を繰り返し折り曲げるように設定されている。また各試験基板20の両端の電極は抵抗計の両端子に接続されるよう設置されている。
繰り返し折り曲げ試験は、試験速度を25N/cmとし、それ以外はJEDEC規格JESD22−B113の条件に準拠し、各試験基板20を1,000回折り曲げるように設定して行った。なお、実施例1から実施例3及び比較例1から比較例4に係る各試験基板20は、それぞれ3枚ずつ作成し、それぞれについて上記試験を及びその結果について評価を行った。具体的には、各試験基板20上に形成された一部のはんだ接合部が破断した時点での折り曲げ回数を測定した。その結果を表3に表す。
(3)落下衝撃試験
上記繰り返し折り曲げ試験(2)と同様の条件で各チップをそれぞれのFR−4基板上に縦に3つ、横に5つずつ(1枚のFR−4基板上に15個)搭載し、実施例1から実施例3及び比較例1から比較例4について各試験基板を作製した。
落下衝撃試験は、落下衝撃試験装置(型式:SD−10、L.A.B.Equipment,ltd製)を使用した。試験条件はJEDEC規格JESD22−B104Cに準拠し、サービスコンディション:Fにて試験を行った。各試験基板の80%が故障するまで行い、1μsecの瞬断を検出して故障判定した。なお、実施例1から実施例3及び比較例1から比較例4に係る各試験基板20は、それぞれ2枚ずつ作成し、それぞれについて上記試験を及びその結果について評価を行った。具体的には、各試験基板20について故障判定された時点での落下回数を測定した。その結果を表3に表す。
Figure 2018202472
(4)引張強度試験
実施例3、比較例1及び比較例4に係る鉛フリーはんだ合金について、図1に示す試験片を作製し、卓上形精密万能試験機(製品名:オートグラフAG−50kNX plus、(株)島津製作所製)を用いて、25℃、変位速度0.5mm/秒の条件と、25℃、変位速度0.072mm/秒の条件とでそれぞれの降伏点における引張応力σと破断点におけるひずみεとを測定した。その結果を図3及び図4に表す。なお上述した条件以外の試験条件については、JIS規格Z2241に規定される条件に準拠した。また図1に記載の数値の単位はmmである。
以上に示す通り、実施例に係る鉛フリーはんだ合金は、固相線温度がリフローピーク温度の170℃よりも大幅に低く、且つ、Biを含有しない比較例1と同等レベルの良好な繰り返し折り曲げ耐性を有している。またこれらの鉛フリーはんだ合金は落下衝撃試験でも一定以上の耐性を有していることが分かる。
る。
また特に実施例3に係る鉛フリーはんだ合金は、引張強度及び延性も優れることが分かる。
このように、本発明に係る鉛フリーはんだ合金は、引張強度及び延性に優れるとともに、特に低速での応力を繰り返し与えられた場合にも破断が生じ難く、また一定以下の固相線温度・液相線温度を有していることが分かる。

Claims (6)

  1. Biを40質量%以上65質量%以下と、Agを0質量%超1質量%未満含み、残部がSnからなることを特徴とする鉛フリーはんだ合金。
  2. Biを40質量%以上65質量%以下と、Agを0質量%超2質量%以下と、Cuを0質量%超0.5質量%未満含むことを特徴とする鉛フリーはんだ合金。
  3. Biの含有量が40質量%以上50質量%以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の鉛フリーはんだ合金。
  4. Cuの含有量が0.1質量%以上0.4質量%以下であることを特徴とする請求項2に記載の鉛フリーはんだ合金。
  5. 25℃、変位速度0.5mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ1が60MPA以上70MPA以下であり、破断点におけるひずみε1が40%以上60%以下であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の鉛フリーはんだ合金。
  6. 25℃、変位速度0.072mm/秒での引張試験において降伏点における引張応力σ2が40MPA以上60MPA以下であり、破断点におけるひずみε2が60%以上80%以下であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の鉛フリーはんだ合金。

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112453753A (zh) * 2020-11-13 2021-03-09 华北水利水电大学 一种柔性变形钎料及其自动化制备装置和制备方法
JP7450318B2 (ja) 2021-09-16 2024-03-15 株式会社タムラ製作所 はんだ組成物およびフレキシブル回路基板の製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08252688A (ja) * 1995-03-17 1996-10-01 Fujitsu Ltd 低温接合用はんだ合金、これを用いた電子機器およびその製造方法
JP2001298270A (ja) * 2000-04-14 2001-10-26 Hitachi Ltd 電子機器およびその接続に用いるはんだ
JP2003046229A (ja) * 2001-08-01 2003-02-14 Hitachi Ltd Pbフリーはんだを用いた混載実装方法およびフローはんだ付け装置
CN101069938A (zh) * 2006-05-10 2007-11-14 北京有色金属研究总院 一种可变熔点无铅复合焊料和焊膏及其制备和应用方法
CN101491866A (zh) * 2008-01-25 2009-07-29 深圳市亿铖达工业有限公司 低温无铅钎焊料合金及其制成的焊锡膏

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08252688A (ja) * 1995-03-17 1996-10-01 Fujitsu Ltd 低温接合用はんだ合金、これを用いた電子機器およびその製造方法
JP2001298270A (ja) * 2000-04-14 2001-10-26 Hitachi Ltd 電子機器およびその接続に用いるはんだ
JP2003046229A (ja) * 2001-08-01 2003-02-14 Hitachi Ltd Pbフリーはんだを用いた混載実装方法およびフローはんだ付け装置
CN101069938A (zh) * 2006-05-10 2007-11-14 北京有色金属研究总院 一种可变熔点无铅复合焊料和焊膏及其制备和应用方法
CN101491866A (zh) * 2008-01-25 2009-07-29 深圳市亿铖达工业有限公司 低温无铅钎焊料合金及其制成的焊锡膏

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112453753A (zh) * 2020-11-13 2021-03-09 华北水利水电大学 一种柔性变形钎料及其自动化制备装置和制备方法
JP7450318B2 (ja) 2021-09-16 2024-03-15 株式会社タムラ製作所 はんだ組成物およびフレキシブル回路基板の製造方法

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