JP2018176255A - アーク溶接装置及びアーク溶接方法 - Google Patents
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Abstract
Description
従って、埋もれアーク溶接においてもアークセンサを用いて溶接トーチの位置を補正することができる。
従って、常時、溶接トーチの位置補正を行う場合に比べて、より正確に溶接トーチの位置を補正することができる。
(実施形態1)
図1は、本実施形態1に係るアーク溶接装置の一構成例を示す模式図である。本実施形態1に係るアーク溶接装置は、300A以上の大電流埋もれアーク溶接が可能な消耗電極式のガスシールドアーク溶接機であり、溶接トーチ11及びワイヤ送給部12が取り付けられた溶接ロボット1、溶接電源2、アークセンサ3及び制御装置4を備える。制御装置4にはティーチペンダント4aが接続されている。制御装置4は、ティーチペンダント4aから出力される操作信号に基づいて、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力すると共に、所定のタイミングで溶接制御信号を溶接電源2へ出力することによって、溶接ロボット1及び溶接電源2の動作を制御する。特に本実施形態1に係るアーク溶接方法は、埋もれアーク溶接においてもアークセンサ3を用いた溶接トーチ11の正確な位置補正を可能にするものである。
溶接電圧Vw及び溶接電流Iwを変動させる目的としては、本実施形態1に係るアーク溶接方法にて溶接トーチ11の位置補正を正確に行うことと、溶融金属を安定化させることがある。本実施形態1においては、溶接トーチ11の位置補正を行うための設定電圧Eの変動は制御装置4が都度制御し、周波数設定回路21cにて設定される周波数は、溶融金属を安定化させるためのものとする。具体的には周波数設定回路21cは、10Hz以上1000Hz以下の周波数、好ましくは50Hz以上300Hz以下の周波数、より好ましくは80Hz以上200Hz以下の周波数を示す周波数設定信号を出力するように構成しても良い。なお、溶接電流Iwを変動させることそれ自体は、埋もれアーク溶接を実施する必須の溶接条件では無い。
なお、本実施形態1に係るアーク溶接方法、即ち溶接トーチ11の位置補正を実施するために、周波数設定回路21cが、例えばウィービング周期の数倍ないし十数倍の周期で、好ましくはウィービング周期1周期以上の期間、設定電圧Eが上昇するように、周波数設定信号を出力電圧設定回路21bへ出力するように構成しても良い。
アーク電流検出部31は、トーチ側給電ケーブルLに取り付けられ、溶接電流Iwを検出する。具体的には、アーク電流検出部31は、トーチ側給電ケーブルLを囲繞する磁性体コア、トーチ側給電ケーブルLに流れる溶接電流Iwによって磁性体コアに生ずる磁場を検出し、電流の大きさ及び向きに応じた信号を出力するホール素子等を有する。増幅器32は、アーク電流検出部31から出力された信号を増幅し、A/D変換器33へ出力する。A/D変換器33は、増幅器32から出力されたアナログの信号をデジタル信号に変換し、デジタル変換された溶接電流Iwを演算処理部34へ出力する。入出力部35は、制御装置4との間で信号が入出力されるインタフェースである。主記憶回路36は、演算処理によって生ずる各種データを一時記憶する記憶素子である。補助記憶回路37は、EEPROM等のROMであり、アーク電流検出部31にて検出された溶接電流Iw、制御装置4から入出力部35に入力されたウィービング周期、振幅、位相等を示すウィービング情報等を記憶する。
演算処理部34は、A/D変換器33から出力された溶接電流Iwと、入出力部35に入力されたウィービング情報とを取得し、取得した溶接電流Iw及びウィービング情報に基づいて、母材5の開先5aに対する溶接ワイヤ6の先端部6aの偏倚量を検知する。言い換えると、開先5aに対するウィービング中心点の偏倚量を算出する。
具体的には、演算処理部34は、ウィービング情報に基づいて溶接トーチ11が振れている方向を判断し、溶接トーチ11の進行方向に対して、当該溶接トーチ11が右側に振れているときの溶接電流Iwの積分値と、左側に振れているときの溶接電流Iwの積分値とを算出する。そして、演算処理部34は、算出された各積分値の差分値を演算し、当該差分値を偏倚量に換算し、入出力部35を介して溶接ロボット1へ出力する。
なお、本実施形態1に係る制御プログラム48は、記録媒体49にコンピュータ読み取り可能に記録された態様でも良い。記憶部43は、図示しない読出装置によって記録媒体49から読み出された制御プログラム48を記憶する。記録媒体49はCD(Compact Disc)−ROM、DVD(Digital Versatile Disc)−ROM、BD(Blu-ray(登録商標) Disc)等の光ディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク等の磁気ディスク、磁気光ディスク、半導体メモリ等である。また、図示しない通信網に接続されている図示しない外部コンピュータから本実施形態1に係る制御プログラム48をダウンロードし、記憶部43に記憶させても良い。
また、CPU41は、溶接の開始指示又は停止指示、設定電圧E、溶接電流Iw等を示す溶接制御信号を生成し、生成した溶接制御信号を溶接電源2へ出力する。溶接制御信号を受信した溶接電源2は、溶接制御信号に従って、所要の設定電圧E及び電流にて溶接ワイヤ6及び母材5間に電力を供給する。
母材5が用意され、溶接の開始操作が行われた制御装置4は、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力することによって、溶接トーチ11を溶接開始点へ移動させると共に(ステップS11)、溶接制御信号を溶接電源2へ出力して埋もれアーク溶接を開始させる(ステップS12)。また、制御装置4は、図6中実線矢印で示すように、溶接ロボット1にウィービングを開始させる(ステップS13)。
一方、設定電圧Eが上昇して埋もれ状態を脱した場合、図9Bに示すように、開先5aに対する溶接ワイヤ6の位置が溶接電流Iwの変化として反映される状態になる。
非埋もれ状態へ遷移させる期間は特に限定されるものでは無いが、当該期間は、非埋もれ状態にある期間よりも埋もれ状態にある期間の方が長くなるように設定すると良い。
変形例1は、母材5から離隔する方向へ溶接トーチ11を移動させることによって、非埋もれ状態へ遷移させる構成例である。
図11は、埋もれアーク溶接過程で溶接トーチ11の高さを変動させることによる埋もれ状態及び非埋もれ状態間の遷移を示す側断面図である。図11Aは埋もれ状態を示し、図11Bは非埋もれ状態に遷移した状態を示し、図11Cは再び埋もれ状態に遷移した状態を示している。制御装置4は、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力し、溶接トーチ11を引き上げることによって、図11Aに示した埋もれ状態から図11Bに示すように非埋もれ状態へ遷移させることができる。また、制御装置4は、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力し、溶接トーチ11の高さを元に戻すことによって、図11Cに示すように埋もれアーク溶接を再開させることができる。
変形例2は、溶接トーチ11が溶接線に沿って移動する移動速度を変動させることによって、非埋もれ状態へ遷移させる構成例である。
図12は、埋もれアーク溶接過程で溶接トーチ11の移動速度を変化させることによる埋もれ状態及び非埋もれ状態間の遷移を示す側断面図である。
図12Aは埋もれ状態を示し、図12Bは非埋もれ状態に遷移した状態を示し、図12Cは再び埋もれ状態に遷移した状態を示している。制御装置4は、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力し、溶接トーチ11を溶接方向へ加速させることによって、図12Aに示した埋もれ状態から図12Bに示すように非埋もれ状態へ遷移させることができる。また、制御装置4は、動作制御信号を溶接ロボット1へ出力し、溶接トーチ11の移動速度を元の速度に減速させることによって、図11Cに示すように埋もれアーク溶接を再開させることができる。
変形例3は、溶接ワイヤ6の溶融速度に対する溶接ワイヤ6の送給速度を変動させることによって、非埋もれ状態へ遷移させる構成例である。制御装置4は、溶接制御信号を溶接電源2へ出力し、溶接ワイヤ6の送給速度を減速させることによって、埋もれ状態から非埋もれ状態へ遷移させることができる。例えば溶接電流Iwを変動させることによって、溶接ワイヤ6の溶融速度に対する溶接ワイヤ6の送給速度を減速させることができる。溶接電流Iwが増加し、溶接ワイヤ6の溶融速度が上昇すると、溶接ワイヤ6が溶融部分7から引き上げられ、非埋もれ状態へ遷移する。また、制御装置4は、溶接制御信号を溶接電源2へ出力し、溶接ワイヤ6の送給速度を元の速度に変動させることによって埋もれアーク溶接を再開させることができる。
実施形態2に係るアーク溶接装置は、非埋もれ状態へ遷移させたときのみ、溶接トーチ11の位置補正を行う点が実施形態1と異なるため、以下では主に上記相違点を説明する。その他の構成及び作用効果は実施形態と同様であるため、対応する箇所には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
2 溶接電源
3 アークセンサ
4 制御装置
4a ティーチペンダント
5 母材
5a 開先
6 溶接ワイヤ
6a 先端部
7 溶融部分
7a 空間
8 アーク
11 溶接トーチ
12 ワイヤ送給部
13 基部
14 アーム
21 電源部
21a 電源回路
21b 出力電圧設定回路
21c 周波数設定回路
21d 電流振幅設定回路
21e 平均電流設定回路
21f 電圧検出部
21g 電流検出部
21h 比較回路
22 送給速度制御部
31 アーク電流検出部
32 増幅器
33 A/D変換器
34 演算処理部
35 入出力部
36 主記憶回路
37 補助記憶回路
41 CPU
42 RAM
43 記憶部
44 第1入出力部
45 第2入出力部
46 第3入出力部
47 第4入出力部
48 制御プログラム
49 記録媒体
51 第1母材
52 第2母材
Vw 溶接電圧
Iw 溶接電流
Ecr 出力電圧設定信号
Ed 電圧値信号
Id 電流値信号
Ev 差分信号
E 設定電圧
Claims (7)
- 溶接トーチへ送給された溶接ワイヤ、及び開先を有する母材間に電力を供給する溶接電源と、前記開先に沿ってウィービングさせながら前記溶接トーチを移動させる溶接ロボットとを備え、供給された前記電力により前記溶接ワイヤの先端部及び前記母材間にアークが発生し、前記母材に形成された凹状の溶融部分によって囲まれる空間に前記溶接ワイヤの先端部を進入させて前記母材を溶接する消耗電極式のアーク溶接装置であって、
前記溶接トーチのウィービングによって前記溶接ワイヤの先端部が前記開先を横切ることが可能な所定時間の間、一時的に前記溶接ワイヤの先端部が前記空間に進入しない非埋もれ状態へ遷移させる遷移制御部と、
前記溶接ワイヤ及び前記母材間に流れる溶接電流に基づいて前記開先の位置に対する溶接中心位置の偏倚量を検知するアークセンサから、少なくとも前記非埋もれ状態にて前記偏倚量の検知結果を取得する取得部と、
前記非埋もれ状態における前記アークセンサの検知結果に基づいて、前記開先に対する前記溶接トーチの位置を補正する補正制御部と
を備えるアーク溶接装置。 - 前記溶接電源の設定電圧を上昇させることによって、前記非埋もれ状態へ遷移させる
請求項1に記載のアーク溶接装置。 - 前記溶接トーチが前記母材から離隔する方向へ前記溶接トーチを移動させることによって、前記非埋もれ状態へ遷移させる
請求項1又は請求項2に記載のアーク溶接装置。 - 前記開先に沿って移動する前記溶接トーチの移動速度を変動させることによって、前記非埋もれ状態へ遷移させる
請求項1〜請求項3までのいずれか一項に記載のアーク溶接装置。 - 前記溶接ワイヤの送給速度を変動させることによって、前記非埋もれ状態へ遷移させる
請求項1〜請求項4までのいずれか一項に記載のアーク溶接装置。 - 前記非埋もれ状態へ遷移する期間においては前記アークセンサの検知結果に基づいて前記開先に対する前記溶接トーチの位置を補正し、他の期間においては前記溶接トーチの位置の補正を行わない
請求項1〜請求項5までのいずれか一項に記載のアーク溶接装置。 - 溶接トーチへ送給された溶接ワイヤ、及び開先を有する母材間に電力を供給する溶接電源と、前記開先に沿ってウィービングさせながら前記溶接トーチを移動させる溶接ロボットとを備え、供給された前記電力により前記溶接ワイヤの先端部及び前記母材間にアークが発生し、前記母材に形成された凹状の溶融部分によって囲まれる空間に前記溶接ワイヤの先端部を進入させて前記母材を溶接する消耗電極式のアーク溶接装置の動作を制御するアーク溶接方法であって、
前記溶接トーチのウィービングによって前記溶接ワイヤの先端部が前記開先を横切ることが可能な所定時間の間、一時的に前記溶接ワイヤの先端部が前記空間に進入しない非埋もれ状態へ遷移させ、
前記溶接ワイヤ及び前記母材間に流れる溶接電流に基づいて前記開先の位置に対する溶接中心位置の偏倚量を検知するアークセンサから、少なくとも前記非埋もれ状態にて前記偏倚量の検知結果を取得し、
前記非埋もれ状態における前記アークセンサの検知結果に基づいて、前記開先に対する前記溶接トーチの位置を補正する
アーク溶接方法。
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