JP2018132384A - 電磁波検出装置、プログラム、および情報取得システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電磁波検出装置10は切替部16と第1の検出部19と第2の検出部20とを有する。切替部16は複数の画素pxが配置された作用面asを有している。切替部16は画素px毎に第1の状態と第2の状態とに切替え可能である。第1の状態では作用面asに入射する電磁波を第1の方向d1に進行させる。第2の状態では作用面asに入射する電磁波を第2の方向d2に進行させる。第1の検出部19は第1の方向d1に進行した電磁波を検出する。第2の検出部20は第2の方向d2に進行した電磁波を検出する。
【選択図】図1
Description
複数の画素が配置された作用面を含み、前記作用面に入射する電磁波を、前記画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替え可能な切替部と、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備える。
作用面に入射する電磁波を、前記作用面を構成する複数の画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替え可能な切替部と、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、
前記第1の検出部および前記第2の検出部がそれぞれ検出した前記電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、備える。
作用面に入射する電磁波を、前記作用面を構成する複数の画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替えるステップと、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出するステップと、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出するステップと、を装置に実行させる。
11、110、111 情報取得システム
12 照射部
13 反射部
14 制御部
15 前段光学系
16 切替部
17 第1の後段光学系
18 第2の後段光学系
19、191 第1の検出部
20、200 第2の検出部
211 第1の照射部
221 第2の照射部
231 第1のミラー
241 第2のミラー
as 作用面
d1 第1の方向
d2 第2の方向
ob 対象
px、px1、px2 画素
Claims (24)
- 複数の画素が配置された作用面を含み、前記作用面に入射する電磁波を、前記画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替え可能な切替部と、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備える
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記作用面に入射する前記電磁波を前記第1の方向に反射する前記第1の状態としての第1の反射状態と、前記作用面に入射する前記電磁波を前記第2の方向に反射する前記第2の状態としての第2の反射状態とを、前記画素毎に切替え可能である
電磁波検出装置。 - 請求項2に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記画素毎に前記電磁波を反射する反射面を含み、前記反射面毎の向きを変更することにより、前記第1の反射状態および前記第2の反射状態を画素毎に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項3に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、デジタルマイクロミラーデバイスを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記作用面に入射する前記電磁波を前記第1の方向に反射する前記第1の状態としての反射状態と、前記作用面に入射する前記電磁波を透過させて前記第2の方向に進行させる前記第2の状態としての透過状態とを、前記画素毎に切替え可能である
電磁波検出装置。 - 請求項5に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記画素毎に電磁波を反射する反射面を有するシャッタを含み、前記シャッタ毎に開閉することにより、前記反射状態および前記透過状態を画素毎に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項6に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、開閉可能な前記複数のシャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む
電磁波検出装置。 - 請求項5に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、電磁波を反射する反射状態と透過する透過状態とを液晶配向に応じて画素毎に切替え可能な液晶シャッタを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、一部の前記画素に入射する前記電磁波を前記第1の方向に進行させるように第1の状態に切替え、別の一部の前記画素に入射する前記電磁波を前記第2の方向に進行させるように第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から9のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、同一の前記画素に入射する前記電磁波を前記第1の方向の次に前記第2の方向に向けて進行させるように、前記第1の状態と前記第2の状態とを切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から10のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部はそれぞれ、異種または同種の電磁波を検出する
電磁波検出装置。 - 請求項1から11のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部はそれぞれ、照射部から対象に向けて照射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサ、またはパッシブセンサを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部はそれぞれ、異なる照射部、または同一の照射部から対象に向けて照射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサを含む
電磁波検出装置。 - 請求項13に記載の電磁波検出装置において、
前記異なる照射部はそれぞれ、異種または同種の電磁波を放射する
電磁波検出装置。 - 請求項12から14のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項12から15のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射部は、赤外線、可視光線、紫外線、電波のいずれかを放射する
電磁波検出装置。 - 請求項12から16のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射部から放射された電磁波を、向きを変えながら反射することにより、前記対象に照射される電磁波の照射位置を変更する反射部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項17に記載の電磁波検出装置において、
前記反射部は、MEMSミラー、ポリゴンミラー、ガルバノミラーのいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から18のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部はそれぞれ、測距センサ、イメージセンサ、又は、サーモセンサを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から19のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部がそれぞれ検出した前記電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項20に記載の電磁波検出装置において、
前記制御部は、前記周囲に関する情報として画像情報、距離情報、および温度情報の少なくともいずれかを取得する
電磁波検出装置。 - 請求項1から21のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第1の検出部および前記第2の検出部はそれぞれ、赤外線、可視光線、紫外線、電波のいずれかを検出する
電磁波検出装置。 - 作用面に入射する電磁波を、前記作用面を構成する複数の画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替えるステップと、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出するステップと、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出するステップと、を装置に実行させる
プログラム。 - 作用面に入射する電磁波を、前記作用面を構成する複数の画素毎に、第1の方向に進行させる第1の状態と、第2の方向に進行させる第2の状態とに切替え可能な切替部と、
前記第1の方向に進行した前記電磁波を検出する第1の検出部と、
前記第2の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、
前記第1の検出部および前記第2の検出部がそれぞれ検出した前記電磁波に基づいて周囲に関する情報を取得する制御部を、備える
情報取得システム。
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