JP2022173534A - 電磁波検出装置および情報取得システム - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 344
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 38
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 50
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 25
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 230000009471 action Effects 0.000 description 11
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
Images
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
Description
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、
前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、
前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
11 情報取得システム
12 照射部
13 反射部
14 制御部
15 前段光学系
16 分離部
17 第1の検出部
18、180、181 切替部
19 第1の後段光学系
20 第2の検出部
210 第2の後段光学系
220 第3の検出部
as 作用面
d1、d2、d3、d4 第1の方向、第2の方向、第3の方向、第4の方向
ob 対象
Claims (5)
- 電磁波を照射する照射部と、
前記照射部から照射する電磁波の照射領域を変化させる反射部と、
前記照射部が照射した電磁波が対象で反射した反射波を含んで入射する電磁波を、第1の方向及び第2の方向に進行させる分離部と、
前記第1の方向に進行する電磁波を検出する第1の検出部と、
前記反射波を検出する第2の検出部と、
前記第2の方向に進行した電磁波のうち、前記反射波を前記第2の検出部に進行させ、前記反射波を含まない電磁波を前記第2の検出部に進行させない切替部と、を有する、
電磁波検出装置。 - 前記第1の検出部と前記切替部とに前記対象の像を結像させる前段光学系を有し、
前記切替部は、前記照射領域の前記反射波の前記前段光学系による結像領域の中の少なくとも一部の領域の前記反射波を、前記第2の結像部に進行させる、
請求項1に記載の電磁波検出装置。 - 前記前段光学系の光軸は、前記第1の方向に進行する電磁波の中心軸及び前記第2の検出部に進行する電磁波の中心軸と一致する、
請求項1又は請求項2に記載の電磁波検出装置。 - 前記照射部は赤外線を照射し、
前記分離部は、赤外線を前記第2の方向に進行させ、前記第2の方向へ進行しない電磁波を前記第1の方向へ進行させ、
前記第1の検出部は可視光を検出して画像情報を生成し、
前記第2の検出部は赤外線を検出する、
請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の電磁波検出装置。 - 前記第2の検出部が検出する電磁波に基づいて、ToFにより前記対象との距離を測定する制御部を有する、
請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022159768A JP2022173534A (ja) | 2019-12-25 | 2022-10-03 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019233989A JP2020073894A (ja) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
JP2022159768A JP2022173534A (ja) | 2019-12-25 | 2022-10-03 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019233989A Division JP2020073894A (ja) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022173534A true JP2022173534A (ja) | 2022-11-18 |
Family
ID=70610078
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019233989A Pending JP2020073894A (ja) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
JP2022159768A Pending JP2022173534A (ja) | 2019-12-25 | 2022-10-03 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2019233989A Pending JP2020073894A (ja) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 電磁波検出装置および情報取得システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP2020073894A (ja) |
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-
2019
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-
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