JP2018113370A - 半導体装置、表示装置および電子機器 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 238
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 60
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 15
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 280
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 20
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 12
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 10
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 9
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004148 curcumin Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 2
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 2
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005685 electric field effect Effects 0.000 description 1
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- NQBRDZOHGALQCB-UHFFFAOYSA-N oxoindium Chemical compound [O].[In] NQBRDZOHGALQCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) tin(4+) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[Sn+4].[In+3] TYHJXGDMRRJCRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
1.実施の形態(第1領域の第1配線と半導体膜との間に絶縁膜を有する半導体装置の例)
2.変形例(第2配線が第1領域に延在している例)
3.適用例1(表示装置および撮像装置の例)
4.適用例2(電子機器の例)
[構成]
図1は、本技術の一実施の形態に係る半導体装置(半導体装置1)の断面構成を模式的に表したものである。半導体装置1は、例えば表示装置および撮像装置(後述の図15の表示装置2Aおよび図16の撮像装置2B)等の駆動回路に用いられるものである。この半導体装置1には、トップゲート型の薄膜トランジスタ(トランジスタTr)および保持容量(保持容量Cs)が設けられ、トランジスタTrと保持容量Csとはコンタクト部10により電気的に接続されている。
下部電極13は、UC膜12上の選択的な領域に設けられている。下部電極13の一部は、上部電極15Cから露出してコンタクト部10に延在している。下部電極13は、例えば、モリブデン(Mo),タングステン(W),アルミニウム(Al),銅(Cu),銀(Ag)およびチタン(Ti)等の金属を含んで構成されている。下部電極13は、合金により構成されていてもよく、複数の金属膜を含む積層膜により構成されていてもよい。下部電極13は、金属以外の導電性材料により構成されていてもよい。
半導体膜15は、第1絶縁膜14上の選択的な領域に設けられている。半導体膜15は、例えば、インジウム(In),ガリウム(Ga),亜鉛(Zn),スズ(Sn),チタン(Ti)およびニオブ(Nb)のうちの少なくとも1種の元素の酸化物を主成分として含む酸化物半導体から構成されている。具体的には、半導体膜15に酸化インジウムスズ亜鉛(ITZO),酸化インジウムガリウム亜鉛(IGZO:InGaZnO),酸化亜鉛(ZnO),酸化インジウム亜鉛(IZO),酸化インジウムガリウム(IGO),酸化インジウムスズ(ITO)および酸化インジウム(InO)等を用いることができる。半導体膜15は、アモルファスシリコン,微結晶シリコン,多結晶シリコンまたは有機半導体等の他の半導体材料を用いて構成するようにしてもよい。半導体膜15の厚みは、例えば10nm〜300nmであり、60nm以下であることが好ましい。半導体膜15の厚みを薄くすることにより、半導体中に含まれる欠陥の絶対量が減少し、しきい値電圧の負シフトが抑えられる。したがって、オンオフ比の高い、優れたトランジスタ特性を実現することができる。また、半導体膜15の成膜に要する時間が短縮されるので、生産性を向上させることができる。
図2を用いてコンタクト部10の構成を説明する。図2(A)はコンタクト部10の平面構成、図2(B)はコンタクト部10の断面構成をそれぞれ表している。コンタクト部10には、配線の延在方向(トランジスタTrおよび保持容量Csの配列方向、図2ではX方向)に沿って、トランジスタTrに近い位置から順に、第1領域10−1、第2領域10−2および第3領域10−3が互いに隣接して設けられている。第2領域10−2および第3領域10−3に接続孔Hが設けられている。第2領域10−2で半導体膜15とゲート配線17Wとが接し、第3領域10−3で下部電極13とゲート配線17Wとが接している。図2では、UC膜12の図示を省略している。
上記のような半導体装置1は、例えば次のようにして製造することができる(図4A〜図5B)。
本実施の形態の半導体装置1では、ゲート電極17に閾値電圧以上のオン電圧が印加されると、半導体膜15のチャネル領域15aが活性化される。これにより、一対の低抵抗領域15b間に電流が流れる。これに応じて、コンタクト部10では、ゲート配線17Wを介して、半導体膜15から下部電極13に電流が流れ保持容量Csに電荷が保持される。
図13は、上記実施の形態の変形例に係る半導体装置(半導体装置1A)の要部の模式的な断面構成を表している。この半導体装置1Aでは、下部電極13が第1領域10−1に延在している。即ち、第1領域10−1では、半導体膜15を間にして下部電極13とゲート配線17Wが対向している。この点を除き、半導体装置1Aは上記実施の形態の半導体装置1と同様の構成を有し、その作用および効果も同様である。
上記実施の形態および変形例において説明した半導体装置(半導体装置1,1A)は、例えば表示装置(後述の図15の表示装置2A)および撮像装置(後述の図16の撮像装置2B)等の駆動回路に用いることができる。
上記表示装置2Aおよび撮像装置2B等は、様々なタイプの電子機器に用いることができる。図17に、電子機器3の機能ブロック構成を示す。電子機器3としては、例えばテレビジョン装置、パーソナルコンピュータ(PC)、スマートフォン、タブレット型PC、携帯電話機、デジタルスチルカメラおよびデジタルビデオカメラ等が挙げられる。
(1)
所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜と
を備えた半導体装置。
(2)
更に、トランジスタを有し、
前記半導体膜には、前記トランジスタのチャネル領域が設けられている
前記(1)記載の半導体装置。
(3)
前記トランジスタは、前記基板上に、前記半導体膜、ゲート絶縁膜およびゲート電極をこの順に有している
前記(2)記載の半導体装置。
(4)
前記ゲート絶縁膜は、前記絶縁膜と同一の構成材料を含むとともに、前記絶縁膜と同一の厚みを有し、
前記ゲート電極は、前記第1配線と同一の構成材料を含むとともに、前記第1配線と同一の厚みを有する
前記(3)記載の半導体装置。
(5)
更に、保持容量を有し、
前記第2配線は、前記保持容量の一方の電極を構成する
前記(1)乃至(4)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(6)
前記所定の方向に沿った前記第1領域の長さは、2μm以下である
前記(1)乃至(5)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(7)
前記第1配線、半導体膜および前記第2配線の幅は、5μm以下である
前記(1)乃至(6)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(8)
前記半導体膜は酸化物半導体材料を含む
前記(1)乃至(7)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(9)
前記半導体膜の厚みは60nm以下である
前記(1)乃至(8)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(10)
前記半導体膜は、前記第1領域に隣接する領域に前記低抵抗領域を有している
前記(1)乃至(9)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(11)
前記第2配線が前記第1領域に延在し、
前記第1領域では、前記半導体膜を間にして前記第2配線と前記第1配線とが対向している
前記(1)乃至(10)のうちいずれか1つに記載の半導体装置。
(12)
表示素子および前記表示素子を駆動する半導体装置を備え、
前記半導体装置は、
所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜とを含む
表示装置。
(13)
表示素子および前記表示素子を駆動する半導体装置を備え、
前記半導体装置は、
所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜とを含む
表示装置を有する電子機器。
Claims (13)
- 所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜と
を備えた半導体装置。 - 更に、トランジスタを有し、
前記半導体膜には、前記トランジスタのチャネル領域が設けられている
請求項1記載の半導体装置。 - 前記トランジスタは、前記基板上に、前記半導体膜、ゲート絶縁膜およびゲート電極をこの順に有している
請求項2記載の半導体装置。 - 前記ゲート絶縁膜は、前記絶縁膜と同一の構成材料を含むとともに、前記絶縁膜と同一の厚みを有し、
前記ゲート電極は、前記第1配線と同一の構成材料を含むとともに、前記第1配線と同一の厚みを有する
請求項3記載の半導体装置。 - 更に、保持容量を有し、
前記第2配線は、前記保持容量の一方の電極を構成する
請求項1記載の半導体装置。 - 前記所定の方向に沿った前記第1領域の長さは、2μm以下である
請求項1記載の半導体装置。 - 前記第1配線、半導体膜および前記第2配線の幅は、5μm以下である
請求項1記載の半導体装置。 - 前記半導体膜は酸化物半導体材料を含む
請求項1記載の半導体装置。 - 前記半導体膜の厚みは60nm以下である
請求項1記載の半導体装置。 - 前記半導体膜は、前記第1領域に隣接する領域に前記低抵抗領域を有している
請求項1記載の半導体装置。 - 前記第2配線が前記第1領域に延在し、
前記第1領域では、前記半導体膜を間にして前記第2配線と前記第1配線とが対向している
請求項1記載の半導体装置。 - 表示素子および前記表示素子を駆動する半導体装置を備え、
前記半導体装置は、
所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜とを含む
表示装置。 - 表示素子および前記表示素子を駆動する半導体装置を備え、
前記半導体装置は、
所定の方向に沿って、第1領域、第2領域および第3領域がこの順に隣接して設けられた基板と、
前記基板上の前記第1領域、前記第2領域および前記第3領域に設けられた第1配線と、
少なくとも一部に低抵抗領域を有し、かつ、前記第1領域では、前記第1配線と前記基板との間に設けられるとともに、前記第2領域では、前記第1配線に接する半導体膜と、
前記半導体膜よりも、前記基板に近い位置に設けられ、前記第3領域で前記第1配線に接する第2配線と、
前記第1領域の前記第1配線と前記半導体膜との間に設けられた絶縁膜とを含む
表示装置を有する電子機器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017003487A JP6781051B2 (ja) | 2017-01-12 | 2017-01-12 | 半導体装置、表示装置および電子機器 |
CN201711444009.1A CN108305874B (zh) | 2017-01-12 | 2017-12-27 | 半导体装置 |
US15/863,009 US10431603B2 (en) | 2017-01-12 | 2018-01-05 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017003487A JP6781051B2 (ja) | 2017-01-12 | 2017-01-12 | 半導体装置、表示装置および電子機器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018113370A true JP2018113370A (ja) | 2018-07-19 |
JP2018113370A5 JP2018113370A5 (ja) | 2019-09-19 |
JP6781051B2 JP6781051B2 (ja) | 2020-11-04 |
Family
ID=62911301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017003487A Active JP6781051B2 (ja) | 2017-01-12 | 2017-01-12 | 半導体装置、表示装置および電子機器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6781051B2 (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08213626A (ja) * | 1995-01-31 | 1996-08-20 | Sony Corp | 薄膜半導体装置及びその製造方法 |
JPH10150198A (ja) * | 1996-11-18 | 1998-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JPH10177163A (ja) * | 1990-04-11 | 1998-06-30 | Seiko Epson Corp | 液晶表示パネル及びその製造方法 |
JP2001305577A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-10-31 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 |
JP2004363300A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
JP2007201399A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-08-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
WO2011142064A1 (ja) * | 2010-05-11 | 2011-11-17 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及び表示パネル |
WO2012086513A1 (ja) * | 2010-12-20 | 2012-06-28 | シャープ株式会社 | 半導体装置および表示装置 |
JP2015198223A (ja) * | 2014-04-03 | 2015-11-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置およびその製造方法 |
-
2017
- 2017-01-12 JP JP2017003487A patent/JP6781051B2/ja active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10177163A (ja) * | 1990-04-11 | 1998-06-30 | Seiko Epson Corp | 液晶表示パネル及びその製造方法 |
JPH08213626A (ja) * | 1995-01-31 | 1996-08-20 | Sony Corp | 薄膜半導体装置及びその製造方法 |
JPH10150198A (ja) * | 1996-11-18 | 1998-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US7112854B1 (en) * | 1996-11-18 | 2006-09-26 | Renesas Technology Corporation | Thin-film transistor and method of fabricating the same |
JP2001305577A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-10-31 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 |
JP2004363300A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
JP2007201399A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-08-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
WO2011142064A1 (ja) * | 2010-05-11 | 2011-11-17 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及び表示パネル |
US20130207114A1 (en) * | 2010-05-11 | 2013-08-15 | Hinae Mizuno | Active matrix substrate and display panel |
WO2012086513A1 (ja) * | 2010-12-20 | 2012-06-28 | シャープ株式会社 | 半導体装置および表示装置 |
US20150108467A1 (en) * | 2010-12-20 | 2015-04-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and display device |
JP2015198223A (ja) * | 2014-04-03 | 2015-11-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置およびその製造方法 |
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Publication number | Publication date |
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JP6781051B2 (ja) | 2020-11-04 |
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