JP2018067483A - 異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 - Google Patents
異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018067483A JP2018067483A JP2016206201A JP2016206201A JP2018067483A JP 2018067483 A JP2018067483 A JP 2018067483A JP 2016206201 A JP2016206201 A JP 2016206201A JP 2016206201 A JP2016206201 A JP 2016206201A JP 2018067483 A JP2018067483 A JP 2018067483A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive sheet
- anisotropic conductive
- cnt
- elastic layer
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06755—Material aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/0735—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
- H01B1/24—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising carbon-silicon compounds, carbon or silicon
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06755—Material aspects
- G01R1/06761—Material aspects related to layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Geometry (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
Description
図1に示す本発明の一実施形態に係る異方導電性シート1は、樹脂を主成分とする弾性層2と、CNT繊維の束から形成され、前記弾性層2を厚さ方向に貫通する複数のCNT柱3とを備える。
弾性層2は、当該異方導電性シート1のシート状の形状を画定する構造材である。この弾性層2は樹脂を主成分とするエラストマーから形成することが好ましい。
CNT柱3は、複数のCNT繊維を束ねて形成される柱状体からなる。このCNT柱3は、CNT繊維を主体とし、アモルファスカーボン等他の形態のカーボンを含むものであってもよい。
当該異方導電性シート1は、図2に示すように、成長基板の表面に触媒を配列する工程<ステップS1:触媒配列工程>と、化学気相成長法により成長基板の表面に複数のCNT柱を成長させる工程<ステップS2:CNT柱成長工程>と、前記複数のCNT柱を熱処理する工程<ステップS3:CNT柱熱処理工程>と、前記複数のCNT柱間に樹脂組成物を充填する工程<ステップS4:樹脂組成物充填工程>と、前記樹脂組成物から形成される弾性層の少なくとも一方の表層を除去する工程<ステップS5:表層除去工程>と、CNT柱の弾性層から突出した端部に金属を配設する工程<ステップS6:金属配設工程>と、成長基板を剥離する工程<ステップS7:成長基板剥離工程>とを備える製造方法によって製造することができる。
ステップS1の触媒配列工程では、図3に示すように、成長基板5の表面に触媒6を配設する。
ステップS2のCNT柱成長工程では、表面に触媒6を配列した成長基板5を密閉した反応管内に配置し、反応管に原料ガスを供給することで、触媒反応によってカーボンナノチューブを連続的に生成して成長させることによって複数のCNT柱3を形成する。これにより、図4に示すように、成長基板5の表面に垂直に直立する複数のCNT柱3を形成することができる。
ステップS3のCNT柱熱処理工程では、複数のCNT柱3を形成した成長基板5を加熱してCNT柱3を熱処理することによって、CNT柱3の剛性を増大させる。
ステップS4の樹脂組成物充填工程では、図5に示すように、成長基板5の表面に、樹脂組成物を充填して硬化させることによって弾性層2を形成する。
ステップS5の表層除去工程では、図6に示すように、弾性層2の成長基板5と反対側の表層を除去することにより、CNT柱3の先端部を露出させる。
ステップS6の金属配設工程では、図7に示すように、弾性層2から露出するCNT柱3の先端に金属部4を設ける。
ステップS7の成長基板剥離工程において、成長基板5を剥離することによって、当該異方導電性シート1が得られる。
当該異方導電性シート1は、複数のCNT柱3によって弾性層2の厚さ方向の導電性を発現するので、この複数のCNT柱3を比較的小さい間隔で配設することができる。このため、当該異方導電性シート1は、比較的精細な平面パターンで選択的に導電性を発現することができる。
図8に、図1の異方導電性シートを備え、それ自体が本発明の一実施形態である電気検査装置の概略構成を示す。
当該電気検査装置により電気的特性を検査する測定対象物Mとしては、例えばIC等の電子部品、プリント基板などが挙げられる。測定対象物MがICである場合の測定点Pとしては、例えばパッド電極等が例示される。また、測定対象物Mがプリント基板である場合の測定点Pとしては、導電パターンに設けられる測定用ランドや、部品実装用のランド等が例示される。
電気検査ヘッド11は、それ自体が本発明の一実施形態である。この電気検査ヘッド11は、測定対象物Mに平行になるよう保持される測定基板15と、この測定基板15の測定対象物Mに対向する面に積層される図1の異方導電性シート1とを備える。
測定基板15は、図9に示すように、測定対象物Mに対向する面に、測定対象物Mの各測定点Pに対向する複数の電極パッド16が配設されている。また、測定基板15は、測定対象物Mと反対側の面に、不図示の測定回路に接続する配線Lが接続される複数の中継電極17が設けられている。この測定基板15は、複数の電極パッド16を複数の中継電極17に接続する多層プリント基板である。なお、複数の電極パッド16と複数の中継電極17とは必ずしも一対一に対応するものではなく、例えばグランドに接続される1つの中継電極17に複数の電極パッドが接続されてもよい。
電気検査ヘッド11において、異方導電性シート1は、測定対象物Mに電気的に接触させるプローブとし、これら複数のCNT柱3を弾性層2によって一体に保持するプローブアッセンブリーとして用いられる。
ヘッド駆動機構12は、電気検査ヘッド11の3次元の位置決めを行うことができるものであればよく、さらに測定対象物Mの法線方向の軸を中心に電気検査ヘッド11の回転位置決めを行うことができるものが好ましい。
画像処理デバイス13は、ディジタル画像を撮影するカメラと、このカメラが撮影したディジタル画像を処理する処理部とを備える公知のデバイスを用いることができる。
コントローラー14は、画像処理デバイス13により位置情報を取得して、ヘッド駆動機構12による電気検査ヘッド11の測定対象物Mに対する位置決めを制御する。
当該電気検査ヘッド11を備える当該電気検査装置において、異方導電性シート1のCNT柱3の平面視での大きさ及び間隔は、測定対象物Mの測定点P及び測定基板15の電極パッド16の大きさ及び間隔よりも格段に小さくすることできる。このため、当該電気検査ヘッド11を用いる当該電気検査装置では、測定対象物Mの測定点Pと測定基板15の電極パッド16との間をそれぞれ複数のCNT柱3によって確実に電気的に接続することができる。一方、CNT柱3は、平面方向には非常に面積が小さいため、隣接する測定点P間や、対向しない測定点Pと電極パッド16との間を短絡させることがない。
前記実施形態は、本発明の構成を限定するものではない。従って、前記実施形態は、本明細書の記載及び技術常識に基づいて前記実施形態各部の構成要素の省略、置換又は追加が可能であり、それらは全て本発明の範囲に属するものと解釈されるべきである。
2 弾性層
3 CNT柱
4 金属部
5 成長基板
6 触媒
11 電気検査ヘッド
12 ヘッド駆動機構
13 画像処理デバイス
14 コントローラー
15 測定基板
16 電極パッド
17 中継電極
L 配線
M 測定対象物
P 測定点
S1 触媒配列工程
S2 CNT柱成長工程
S3 CNT柱熱処理工程
S4 樹脂組成物充填工程
S5 表層除去工程
S6 金属配設工程
S7 成長基板剥離工程
Claims (8)
- 樹脂を主成分とする弾性層と、
CNT繊維の束から形成され、前記弾性層を厚さ方向に貫通する複数のCNT柱と
を備える異方導電性シート。 - 前記弾性層のタイプAデュロメータ硬さが40以上80以下である請求項1に記載の異方導電性シート。
- 前記複数のCNT柱がその端面を形成する金属部を有し、少なくともこの金属部が弾性層から突出する請求項1又は請求項2に記載の異方導電性シート。
- 測定対象物の複数の測定点間の電気的特性を測定する電気検査ヘッドであって、
前記測定対象物の測定点に対向する面に複数の電極パッドを有する測定基板と、
前記測定基板の測定対象物に対向する面に積層される請求項1、請求項2又は請求項3に記載の異方導電性シートと
を備える電気検査ヘッド。 - 請求項4に記載の電気検査ヘッドと、この電気検査ヘッドを前記測定対象物に対して相対的に位置決めする駆動機構とを備える電気検査装置。
- 成長基板の表面に触媒を配列して化学気相成長法によりCNT繊維の束から形成される複数のCNT柱を成長させる工程と、
前記複数のCNT柱間に樹脂組成物を充填する工程と
を備える異方導電性シートの製造方法。 - 前記樹脂組成物から形成される弾性層の少なくとも一方の表層を除去する工程をさらに備える請求項6に記載の異方導電性シートの製造方法。
- 前記複数のCNT柱を熱処理する工程をさらに備える請求項6又は請求項7に記載の異方導電性シートの製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016206201A JP2018067483A (ja) | 2016-10-20 | 2016-10-20 | 異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 |
US15/787,121 US20180113152A1 (en) | 2016-10-20 | 2017-10-18 | Anisotropic conductive sheet, electrical inspection head, electrical inspection device, and method for manufacturing an anisotropic conductive sheet |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016206201A JP2018067483A (ja) | 2016-10-20 | 2016-10-20 | 異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018067483A true JP2018067483A (ja) | 2018-04-26 |
Family
ID=61969526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016206201A Pending JP2018067483A (ja) | 2016-10-20 | 2016-10-20 | 異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20180113152A1 (ja) |
JP (1) | JP2018067483A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210050284A (ko) * | 2019-10-28 | 2021-05-07 | 주식회사 나노엑스 | 전기 소자 검사 장치용 프로브 헤드의 제조 방법 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110582895B (zh) * | 2017-05-18 | 2022-01-14 | 信越聚合物株式会社 | 电连接器及其制造方法 |
KR102658460B1 (ko) * | 2018-11-09 | 2024-04-18 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 led 소자의 실장 구조 |
JP7372092B2 (ja) * | 2019-09-18 | 2023-10-31 | 日立造船株式会社 | カーボンナノチューブ撚糸の製造方法 |
WO2022164496A1 (en) * | 2021-01-29 | 2022-08-04 | Skyworks Solutions, Inc. | Method of testing acoustic wave devices |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01255176A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-10-12 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | エラストマ、コネクタ装置 |
JP2005093298A (ja) * | 2003-09-18 | 2005-04-07 | Nitto Denko Corp | 電子部品検査用の異方導電性フィルムおよびそれを用いた電子部品の検査方法 |
JP2006177759A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | カーボンナノチューブの先端加工 |
JP2007188841A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Osaka Prefecture Univ | 異方導電性シートとその製造方法 |
JP2009224246A (ja) * | 2008-03-18 | 2009-10-01 | Kyocera Corp | 燃料電池装置 |
JP2013199403A (ja) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Fujitsu Ltd | カーボンナノチューブシート及びその製造方法 |
JP2015183109A (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-22 | 三菱マテリアル株式会社 | ゴム組成物及びゴム成形体 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ATE419661T1 (de) * | 2003-09-09 | 2009-01-15 | Nitto Denko Corp | Anisotrop-leitender film , herstellungs- und gebrauchsverfahren |
JP2007287375A (ja) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Toyo Tire & Rubber Co Ltd | 異方導電性シートおよびその製造方法 |
EP2253961A1 (en) * | 2008-03-14 | 2010-11-24 | FUJIFILM Corporation | Probe guard |
WO2011099617A1 (ja) * | 2010-02-15 | 2011-08-18 | 国立大学法人北海道大学 | カーボンナノチューブシート及びその製造方法 |
TWI721077B (zh) * | 2015-12-28 | 2021-03-11 | 日商日立造船股份有限公司 | 奈米碳管複合材料及奈米碳管複合材料的製造方法 |
-
2016
- 2016-10-20 JP JP2016206201A patent/JP2018067483A/ja active Pending
-
2017
- 2017-10-18 US US15/787,121 patent/US20180113152A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01255176A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-10-12 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | エラストマ、コネクタ装置 |
JP2005093298A (ja) * | 2003-09-18 | 2005-04-07 | Nitto Denko Corp | 電子部品検査用の異方導電性フィルムおよびそれを用いた電子部品の検査方法 |
JP2006177759A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | カーボンナノチューブの先端加工 |
JP2007188841A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Osaka Prefecture Univ | 異方導電性シートとその製造方法 |
JP2009224246A (ja) * | 2008-03-18 | 2009-10-01 | Kyocera Corp | 燃料電池装置 |
JP2013199403A (ja) * | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Fujitsu Ltd | カーボンナノチューブシート及びその製造方法 |
JP2015183109A (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-22 | 三菱マテリアル株式会社 | ゴム組成物及びゴム成形体 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210050284A (ko) * | 2019-10-28 | 2021-05-07 | 주식회사 나노엑스 | 전기 소자 검사 장치용 프로브 헤드의 제조 방법 |
KR102339327B1 (ko) | 2019-10-28 | 2021-12-15 | 주식회사 나노엑스 | 전기 소자 검사 장치용 프로브 헤드의 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180113152A1 (en) | 2018-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2018067483A (ja) | 異方導電性シート、電気検査ヘッド、電気検査装置及び異方導電性シートの製造方法 | |
Chen et al. | Recent developments in graphene‐based tactile sensors and E‐skins | |
Oren et al. | High‐resolution patterning and transferring of graphene‐based nanomaterials onto tape toward roll‐to‐roll production of tape‐based wearable sensors | |
US10192830B2 (en) | Self-similar and fractal design for stretchable electronics | |
Hwang et al. | Stretchable anisotropic conductive film (S-ACF) for electrical interfacing in high-resolution stretchable circuits | |
JP4971071B2 (ja) | カーボンナノチューブ複合材料及びその製造方法 | |
TWI411781B (zh) | And an inspection device for the electrically conductive connector device and the circuit device | |
EP2954551B1 (en) | Self-similar and fractal design for stretchable electronics | |
JP6469484B2 (ja) | ひずみセンサ | |
KR20180042318A (ko) | 복합 나노섬유 시트 | |
Ren et al. | A graphene rheostat for highly durable and stretchable strain sensor | |
US20100051331A1 (en) | Circuit substrate for mounting electronic component and circuit substrate assembly having same | |
TW200912320A (en) | Probe card, semiconductor inspecting apparatus, and manufacturing method of semiconductor device | |
JP2007333680A (ja) | プローブカード | |
WO2021100824A1 (ja) | 異方導電性シート、電気検査装置および電気検査方法 | |
JP2007188841A (ja) | 異方導電性シートとその製造方法 | |
EP2649463B1 (en) | Probe card assemblies and probe pins including carbon nanotubes | |
Luo et al. | A laser-fabricated nanometer-thick carbon film and its strain-engineering for achieving ultrahigh piezoresistive sensitivity | |
CN113173004A (zh) | 一种导电微结构的制备方法和系统 | |
JP2018006044A (ja) | グラフェンを含む透明導電膜 | |
JPWO2018173884A1 (ja) | プローブ構造体、及びプローブ構造体の製造方法 | |
Wang et al. | High-Performance Flexible Strain Sensor Fabricated Using Laser Transmission Pyrolysis | |
JP2013211347A (ja) | 配線板の製造方法 | |
JP6226262B2 (ja) | フレキシブル配線基板の実装構造及びその製造方法 | |
Oh et al. | Dual-Functional Self-Attachable and Stretchable Interface for Universal Three-Dimensional Modular Electronics |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20181102 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20181105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190307 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190308 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190408 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200304 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200428 |