JP2018034184A - レーザ発振器およびレーザ加工装置 - Google Patents

レーザ発振器およびレーザ加工装置 Download PDF

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恵太 井上
林川 洋之
Hiroyuki Hayashikawa
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Taishi Tsutsumi
太志 堤
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Abstract

【課題】様々なワークに対して、加工精度および生産性に優れるレーザ加工を行う。【解決手段】複数のレーザモジュールと、複数の前記レーザモジュールに電力を供給するための電源と、複数の前記レーザモジュールのそれぞれと前記電源との接続状態を個別に切り替える複数のスイッチと、複数の前記レーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択された前記レーザモジュールに電力供給されるように、対応する前記スイッチに指令を出すモジュール制御部と、複数の前記レーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える、レーザ発振器。【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ発振器およびレーザ加工装置に関し、特にレーザビームをプロセスファイバにより導光するレーザ加工装置に関する。
レーザ発振器により発振されるレーザ光は、単色性および指向性に優れており、かつ、コヒーレントな光であるため、切断、穴あけ、溶接、表面処理、マーキング等の様々な工業的な加工に用いられている。
従来のレーザ加工装置について、図11を参照しながら説明する。図11は、レーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。図中、同様の構成および機能を備える部材には、同じ符号を付している。
レーザ加工装置2000は、レーザ発振器2100と、レーザ発振器2100から出射されるレーザビームLB100の光路を切り替えるビーム光路切替部2200と、レーザビームLB100が入射する複数のプロセスファイバ2300(2300a〜2300c)と、を備える。ビーム光路切替部2200の内部は例えば大気雰囲気であり、ビーム光路切替部2200内では、レーザビームLB100は大気を媒体にして伝搬される。ビーム光路切替部2200にはプロセスファイバ2300の一方の端部が接続しており、レーザビームLB100は、ビーム光路切替部2200を経て、プロセスファイバ2300に入射する。プロセスファイバ2300は、レーザビームLB100を、ビーム光路切替部2200から加工対象物(ワークW)近傍にまで伝搬するための媒体である。
通常、1台のレーザ発振器2100には、複数の加工ヘッド2400(図示例では、3台)が接続している。ビーム光路切替部2200は、レーザビームLB100の光路を切り替えて、レーザビームLB100を複数のプロセスファイバ2300(2300a〜2300c)のうちのいずれかに導光する。プロセスファイバ2300の内部に導光されたレーザビームLB100は、やがて、プロセスファイバ2300の他方の端部に接続された加工ヘッド2400に到達する。このように、レーザビームLB100が導光される加工ヘッド2400をビーム光路切替部2200により切り替えて、タイムシェアリングを行いながら、複数のワークWに対してレーザ加工が施される。通常、各プロセスファイバ2300のコア径、および、ビーム光路切替部2200から各加工ヘッド2400の先端までの光学的な条件(例えば、屈折率)はそれぞれ等しいため、複数のワークWに対して、同じ条件でレーザ加工が施される。以下、加工ヘッド2400からワークWに照射されるレーザビームLBをLB400と称する。
加工ヘッド2400は、コリメータレンズ2410および集光レンズ2420を備える。加工ヘッド2400に到達したレーザビームLB400は、集光レンズ2420によって密度が高められて、ワークWに照射される。ワークWは、加工テーブル2500上に固定されている。一方、加工ヘッド2400は、X軸モータ2710およびY軸モータ2720によって移動可能であり、加工ヘッド2400をワークWに対して相対的に移動させながら、所定の加工が施される。レーザ発振器2100、X軸モータ2710およびY軸モータ2720は、加工制御部2600により制御されており、その状態は、加工制御部2600に同期されている。
レーザ発振器2100には、通常、複数のレーザモジュール(図示せず)が配置されている。1つのレーザモジュールの出力には限界があるため、複数のレーザモジュールを用いることにより、レーザ発振器2100の出力を高めている。各レーザモジュールから出射されるレーザ光は、空間合成および/または偏波合成されたレーザビームLBとして、レーザ発振器2100から出射される。空間合成および偏波合成の方法は、例えば、特許文献1および2に開示されている。
レーザ発振器2100の出力は、加工内容、ワークWの厚みや材質、加工形状等により調整される。レーザ発振器2100内では、複数のレーザモジュールが電源に直列に接続されており、各レーザモジュールに流す電流の大きさを制御することにより、レーザ発振器2100の出力が調整される。あるいは、レーザ発振器2100の出力は、配置されるレーザモジュールの数を変えることによって調整される。
特表2015−508241号公報 特開2007−41388号公報
ワークWを高精度で効率よく加工するには、レーザ発振器2100の出力とともに、ワークWに照射されるレーザビームLBのBPP(Beam Parameter Product)がポイントとなる。
BPPは、レーザビームLBの品質を表現するのに、一般的に用いられるパラメータである。BPPは、ビームの拡がりの半角度θ(ミリラジアン、mrad)と、焦点(ビームウエスト)におけるビーム半径w(ミリメートル、mm)との積で求められる。BPPが小さいレーザビームLBは、より小さいビーム径であって、焦点深度が短くなるように集光され得る。一方、BPPの大きいレーザビームLBは、大きなビーム径であって、焦点深度が長くなるように集光され得る。そのため、例えば、薄いワークWを切断する場合には、BPPの小さなレーザビームLBが適しており、厚いワークWを切断する場合には、BPPの大きなレーザビームLBが適している。つまり、BPPは、加工精度および生産性を向上させるための重要なパラメータの一つである。なお、焦点深度とは、ビーム径が光学的に同じであると見なされる範囲であって、具体的には、ビーム半径の2√2倍の径に拡がるまでの範囲(レイリーの範囲)である。
しかし、従来のレーザ加工装置およびレーザ発振器では、ワークWに応じてレーザビームLBのビーム径(ひいては、そのBPP)を変えることはできず、加工精度および生産性が低下し易い。
本発明の一局面は、複数のレーザモジュールと、複数の前記レーザモジュールに電力を供給するための電源と、複数の前記レーザモジュールのそれぞれと前記電源との接続状態を個別に切り替える複数のスイッチと、複数の前記レーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択された前記レーザモジュールに電力供給されるように、対応する前記スイッチに指令を出すモジュール制御部と、複数の前記レーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える、レーザ発振器に関する。
本発明の他の一局面は、複数のレーザモジュールと、複数の前記レーザモジュールのそれぞれに個別に電力を供給するための複数の電源と、複数の前記レーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択された前記レーザモジュールに電力供給されるように、対応する前記電源に指令を出す電力制御部と、複数の前記レーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える、レーザ発振器に関する。
本発明のさらに他の一局面は、上記レーザ発振器と、前記レーザ発振器から出射されるレーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、複数の前記光路のそれぞれに対応する複数のプロセスファイバと、を備え、複数の前記プロセスファイバが、互いに異なるコア径を有する、レーザ加工装置に関する。
本発明のレーザ発振器は、出射されるレーザビームのビーム径を適宜変化させることができる。そのため、このレーザ発振器を備えるレーザ加工装置によれば、様々なワークに対して、加工精度および生産性に優れるレーザ加工が可能となる。
本発明に係る第1実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図である。 図1のE−E面におけるレーザ光の形状を示す断面図(a)、F−F面およびG−G面における空間合成されたレーザ光の束の形状を示す断面図(b)、および、H−H面における偏波合成されたレーザビームの形状を示す断面図(c)である。 第1実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図である。ただし、図1とはオフされているスイッチの数が異なる。 図3のE−E面におけるレーザ光の形状を示す断面図(a)、F−F面およびG−G面における空間合成されたレーザ光の束の形状を示す断面図(b)、および、H−H面における偏波合成されたレーザビームの形状を示す断面図(c)である。 第1実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図である。ただし、図1および図3とはオフされているスイッチの数が異なる。 図5のE−E面におけるレーザ光の形状を示す断面図(a)、F−F面およびG−G面における空間合成されたレーザ光の束の形状を示す断面図(b)、および、H−H面における偏波合成されたレーザビームの形状を示す断面図(c)である。 本発明に係るレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。 ビーム光路切替部の内部構成を模式的に示す上面図である。 図8のビーム光路切替部をA−A面側から見た側面図である。 図8のビーム光路切替部をB−B面側から見た側面図である。 図8のビーム光路切替部をC−C面側から見た側面図である。 図8のビーム光路切替部をD−D面側から見た側面図である。 本発明に係る第2実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図である。 従来のレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。 ワークの厚みと切断速度との関係を表すグラフである。 ワークの厚みとレーザ発振器の出力との関係を表すグラフである。
図12に、BPPがそれぞれ4mm・mrad、6mm・mradおよび8mm・mradのレーザビームLBを使用して、ワークW(ステンレス鋼板)を切断加工する場合における、ワークWの厚みと切断速度との関係を表すグラフを示す。このグラフからわかるように、切断速度は、レーザビームLBのBPPおよびワークWの厚みに影響される。例えば、ワークWの厚みが5mm未満である場合、4mm・mradのBPPを有するレーザビームLBを用いると、他のBPPを有するレーザビームLBと比較して切断速度は速くなる。ワークWの厚みが5〜18mm程度である場合、6mm・mradのBPPを有するレーザビームLBを用いると、他のBPPを有するレーザビームLBと比較して切断速度は速くなる。ワークWの厚みが18mmを超える場合、8mm・mradのBPPを有するレーザビームLBを用いると、他のBPPを有するレーザビームLBと比較して切断速度は速くなる。
図11のレーザ加工装置2000のように、ワークWにプロセスファイバ2300から出射されるレーザビームLB400を照射する場合、レーザビームLB400のBPPは、上記半角度θとプロセスファイバ2300のコア径との積で表わすことができる。すなわち、BPPの小さなレーザビームLB400をワークWに照射するには、コア径の小さなプロセスファイバ2300を用いればよい。一方、BPPの大きなレーザビームLB400をワークに照射するには、コア径の大きなプロセスファイバ2300を用いればよい。プロセスファイバ2300のコアとは、プロセスファイバ2300において、レーザビームLBの屈折率の最も高い領域であり、コア径は、当該コアのプロセスファイバ2300の長手方向に垂直な断面における径である。
通常、レーザビームLBは、一旦、例えばビーム光路切替部2200に配置された集光レンズにより集光させられた後、プロセスファイバ2300に導光される。そのため、BPPを算出するために用いられるレーザビームLB400の拡がりの半角度θは、集光レンズに入射するレーザビームLB(つまり、レーザ発振器2100から出射されたレーザビームLB100)の、集光レンズの焦点におけるビーム半径およびビームの拡がりの半角度θ(つまり、レーザビームLB100のBPP)に依存する。すなわち、ワークWに照射されるレーザビームLB400のBPPを制御するには、レーザ発振器2100から出射されるレーザビームLB100のBPPと、レーザビームLB100を伝搬するプロセスファイバ2300のコア径と、を制御すればよい。
レーザ発振器2100から出射されるレーザビームLB100のBPPは、レーザビームLB100のビーム径に依存する。上記のとおり、従来、レーザ発振器2100内には、複数のレーザモジュールが電源に直列に接続されている。そのため、駆動するレーザモジュールの数は定まっており、レーザ発振器2100から出射されるレーザビームLBのビーム径は、常に一定である。この場合、ビーム径を変えるには、配置されるレーザモジュールの数を変更する必要がある。言い換えれば、用いるプロセスファイバ2300のコア径(あるいは、所望のレーザビームLB400のBPP)に応じてレーザ発振器2100の仕様を変更する必要があり、汎用性および生産性に劣る。
そこで、加工現場においては、レーザ発振器2100の出力を調整することによって、種々のワークWを加工している。図13に、ワークWの厚みとレーザ発振器の出力との関係を表すグラフを示す。このグラフからわかるように、レーザ発振器の出力が大きいほど、厚いワークWを容易に切断することができる。出力の調整は、必要な出力を、配置されるレーザモジュールすべてに均等に割り当てることにより行われる。例えば、レーザモジュール1つ当たりの最大出力が1kWであり、このレーザモジュールが8個配置される場合であって、レーザ発振器2100の出力として4kWが必要である場合、8個のレーザモジュールをそれぞれ最大出力1kWの50%である500Wの出力で駆動させる。しかし、レーザビームLB100のビーム径を調整することはできないため、加工精度は低下し易い。
ここで、例えば、厚み5mm未満の薄いワークWを切断する場合を検討する。図13を考慮すると、ワークWの厚みが薄い場合、小さな出力でも切断は可能である。しかし、レーザ発振器の出力が高いほど、エネルギー密度が高められて、切断速度も速くなることが期待される。例えば、レーザ発振器の出力を4kWから8kWにしてワークWを切断すると、切断速度が2倍程度速くなることが期待される。一方、図12によれば、5mm未満の厚みを備えるワークWに対しては、BPPの小さいレーザビームLBほど切断速度が速いことがわかる。例えば、BPPが8mm・mradの場合と4mm・mradの場合とでは、4mm・mradの方が3倍程度、切断速度が速い。つまり、従来のように、レーザビームLB100のビーム径を変えずに、出力のみを調整してレーザ加工する場合、結果的に切断速度が低下する場合がある。
また、従来、用いられるビーム径の大きなレーザビームLB100を、効率よくプロセスファイバ2300に入射させるには、コア径の大きなプロセスファイバ2300を用いる必要がある。そのため、薄いワークWを切断する場合、加工精度が低下し易い。加工精度を重視してコア径の小さなプロセスファイバ2300を用いると、レーザビームLB100を効率よくプロセスファイバ2300に入射させることが難しいため、エネルギーロスが大きくなって、生産性が低下する。
半導体レーザモジュールを使用する場合、搭載されるレーザダイオードは、駆動時の出力が大きいほど、入力電力に対する出力の割合(発振効率)が大きくなる傾向にあることが知られている。そのため、上記のように最大出力よりも小さい出力で駆動させる場合、発振効率も低下し易い。
本実施形態では、レーザ発振器において、駆動させるレーザモジュールおよびその数を選択する。これにより、レーザビームLBのビーム径(ひいては、BPP)を、ワークWあるいはレーザビームLBを伝搬するために用いられるプロセスファイバのコア径に応じて変えることができる。
本実施形態のレーザ発振器は、複数のレーザモジュールと、複数のレーザモジュールに電力を供給するための電源と、複数のレーザモジュールのそれぞれと電源との接続状態を個別に切り替える複数のスイッチと、複数のレーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択されたレーザモジュールに電力供給されるように、対応するスイッチに指令を出すモジュール制御部と、複数のレーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える。
本実施形態の他のレーザ発振器は、複数のレーザモジュールと、複数のレーザモジュールのそれぞれに個別に電力を供給するための複数の電源と、複数のレーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択されたレーザモジュールに電力供給されるように、対応する電源に指令を出す電力制御部と、複数のレーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える。
本実施形態のレーザ加工装置は、上記いずれかのレーザ発振器と、レーザ発振器から出射されるレーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、複数の光路のそれぞれに対応する複数のプロセスファイバと、を備え、複数のプロセスファイバが、互いに異なるコア径を有する。
すなわち、レーザ加工装置では、レーザ発振器から出射されたレーザビームの光路を切り替えることにより、そのビーム径に応じたコア径を有するプロセスファイバが選択される。これにより、レーザビームLBを効率よくプロセスファイバに入射させることができる。つまり、レーザ発振器は、様々なワークに適したBPPを有するレーザビームを出射できるとともに、レーザ加工装置は、このレーザビームに適したコア径を有するプロセスファイバを選択し、導光することができる。よって、レーザ加工の加工精度および生産性が向上する。
[第1実施形態]
以下、第1実施形態を、図1〜図7を参照しながら説明する。図1、図3および図5は、第1実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図であり、オフされているスイッチの数がそれぞれ異なっている。図2(a)、図4(a)および図6(a)、は、それぞれ図1、図3および図5のE−E面におけるレーザ光の形状を示す断面図であり、図2(b)、図4(b)および図6(b)、は、図1、図3および図5のF−F面およびG−G面における空間合成されたレーザ光の束の形状を示す断面図である。図2(c)、図4(c)および図6(c)、は、図1、図3および図5のH−H面における偏波合成されたレーザ光の束の形状を示す断面図である。図7は、本実施形態のレーザ加工装置の構成を模式的に示す斜視図である。図中、同様の構成および機能を備える部材には、同じ符号を付している。
(レーザ発振器)
まず、第1実施形態に係るレーザ発振器100Aの構成およびその動作について説明する。
本実施形態のレーザ発振器100Aでは、複数のレーザモジュールにそれぞれスイッチが接続されており、各スイッチを介して、レーザモジュールと電源とが接続されている。これら複数のスイッチのオンおよびオフを個別に制御して、電力を供給するレーザモジュールおよびその数を選択することにより、レーザビームLBのビーム径を変化させる。
レーザ発振器100Aは、複数のレーザモジュール110(図示例では、レーザモジュール111a〜111d、112a〜112d)と、複数のレーザモジュール110に電力を供給するための電源130と、複数のレーザモジュール110のそれぞれと電源130との接続状態を個別に切り替える複数のスイッチ(スイッチ群140)と、複数のレーザモジュール110から少なくとも1つを選択して、選択された少なくとも1つのレーザモジュール110に電力供給されるようにスイッチに指令を出すモジュール制御部150Aと、選択された2以上のレーザモジュール110から発振されるレーザ光Lを合波するレーザ光合波部120と、を備える。
レーザ光合波部120は、複数の第1反射ミラー121および偏光ビームスプリッター122を備え、複数のレーザモジュール110から発振される2以上のレーザ光L(L1、L2)を合成する。1つのレーザモジュール110のみが駆動する場合、レーザ光Lの合波は行わなくてよい。スイッチ群140は、複数のレーザモジュール110のそれぞれと電源130との接続状態を個別に切り替える、複数のスイッチ141a〜141dおよび、142a〜142dを備える。レーザモジュール110には、電源130から、スイッチ141を介して電力が供給される。スイッチ群140は、モジュール制御部150Aにより制御される。モジュール制御部150Aは、さらに電源130を制御してもよい。以下、レーザモジュール110が半導体レーザモジュールである場合を例に挙げ説明するが、これに限定されるものではない。
レーザモジュール110は、レーザ光Lを発振するモジュールであり、その内部には、複数のレーザダイオード(図示せず)が配置されている。レーザダイオードは、例えば、n型半導体を含むn−クラッド層と、p型半導体を含むp−クラッド層と、上記両クラッド層の間に介在する活性層と、を含む積層体である。積層体に順電流を流すと、n型半導体の電子とp型半導体の正孔とがそれぞれ活性層に流入して、活性層の内部で両者が再結合し、光が発生する。発生した光は活性層内で増幅されて、やがて誘導放出を生じて、レーザ光として発振される。レーザモジュール110からは、複数のレーザダイオードにより生じたレーザ光が合成されて発振される。便宜上、レーザモジュール110から発振される光をレーザ光Lと称し、複数のレーザ光Lが合成され、レーザ発振器100Aから出射される光をレーザビームLBと称す。レーザモジュール110の出力は、電源130から供給される電力に依存する。半導体レーザモジュールの場合、その最大出力は、例えば1kW程度である。
各レーザモジュール110から出射されたレーザ光Lは、レーザ光合波部120に入射する。このとき、レーザモジュール111a〜111dからレーザ光合波部120に入射するレーザ光L1と、レーザモジュール112a〜112dからレーザ光合波部120に入射するレーザ光L2とは、互いに直交するように偏光されている。例えば、レーザ光L1はP偏光であり、レーザ光L2はS偏光である。偏光は、例えば、レーザ光Lの発振口あるいは光路中に配置されたポラライザーにより行われる。各レーザモジュール110からレーザ光合波部120に入射するレーザ光LのE−E面における形状は、図2(a)、図4(a)および図6(a)に示すように、楕円形状である。これは、レーザダイオードの特性による。
レーザ光合波部120に入射した複数のレーザ光L1およびL2は、まず、第1反射ミラー121により反射させられて、それぞれ空間合成される。このとき、第1反射ミラー121は、レーザ光L1同士、レーザ光L2同士、さらにはレーザ光L1とL2とが干渉しないような位置に配置されている。そのため、空間合成されたレーザ光L1の束Lbは、F−F面において、図2(b)、図4(b)および図6(b)に示すように、レーザモジュール111a〜111dのうち、駆動している数だけ楕円が並んだ形状になる。空間合成されたレーザ光L2の束Lbも同様に、G−G面において、図2(b)等に示すように、レーザモジュール112a〜112dのうち、駆動している数だけ楕円が並んだ形状になる。
偏光ごとに空間合成されたレーザ光L1およびL2は、続いて、偏光ビームスプリッター122により偏波合成される。偏波合成では直交する偏光同士を合成するため、レーザ光L1およびL2は、その光軸が重なるように合成される。そのため、偏波合成された後のレーザビームLBのH−H面における形状は、図2(c)、図4(c)および図6(c)に示すように、偏波合成の前後で変わらない。図2(c)等において破線で示される円は、偏波合成されたレーザビームLBのビーム形状を表しており、その直径はレーザビームLBのビーム径を示している。偏波合成されたレーザビームLBは、レーザ発振器100Aから出射される。
各レーザモジュール110は、スイッチ群140を介して電源130に並列に接続されている。スイッチ群140は、レーザモジュール110に対応した複数のスイッチ(図示例では、141a〜141d、142a〜142d)を備える。電源130およびスイッチ群140は、モジュール制御部150Aに接続されている。モジュール制御部150Aは、レーザ加工装置1000の加工制御部600(図10参照)に接続している。モジュール制御部150Aは、加工制御部600から送られる出力指令値および所望のBPPに応じて、各レーザモジュール110に接続されたスイッチを個別にオンまたはオフするとともに、当該出力指令値、オンされたスイッチの数およびレーザモジュール110の発振効率を考慮した電力出力指令値を、電源130へ送信する。
このように、本実施形態のレーザ発振器100Aは、駆動させるレーザモジュール110の数を制御することにより、ワークWの厚み等あるいはプロセスファイバ300のコア径に応じて、適切なBPPおよび出力でレーザビームLBを出射することができる。そのため、加工精度および生産性が向上するとともに、汎用性が高まる。
図1は、すべてのスイッチがオンされている場合を示す。偏波合成後のレーザビームLBは、図2(c)に示すように、H−H面において4つのレーザ光Lを示す楕円が並んだ形状になる。また、この状態で電源130の出力電力を増減させると、すべてのレーザモジュール110の出力は均等に増減する。一方、駆動するレーザモジュール110の数は変化しない。つまり、レーザビームLBのビーム径を維持したまま、レーザ発振器100Aの出力を増減させることができる。図1の場合、レーザ発振器100Aの出力は、例えば、0〜8kWの広い範囲で増減できる。
図3は、2つのスイッチ(141aおよび142a)がオフされており、レーザモジュール111aおよび112aが駆動していない。そのため、図2(c)に示す4つの楕円のうち右端の楕円が現れず、偏波合成後のレーザビームLBは、図4(c)に示すように、H−H面において3本の楕円が並んだ形状になる。つまり、レーザビームLBのビーム径は、図2(c)よりも小さくなる。この場合も、レーザビームLBのビーム径を維持したまま、レーザ発振器100Aの出力を増減させることができる。図3の場合、レーザ発振器100Aの出力は、例えば、0〜6kWの範囲で増減できる。
駆動させないレーザモジュール110は、レーザモジュール111aおよび112aに限定されない。ただし、レーザビームLBのビーム径を小さくするには、レーザビームLBのH−H面において、端に位置する楕円に対応するレーザ光L1およびL2を発振するモジュール同士の組み合わせ(この場合、レーザモジュール111dおよび112d)から選ぶ必要がある。
図5では、4つのスイッチ(141a、141b、142aおよび142b)がオフされており、レーザモジュール111a、111b、112aおよび112bが駆動していない。そのため、図2(b)に示す4つの楕円のうち右端2つの楕円が現れず、偏波合成後のレーザビームLBは、図6(c)に示すように、H−H面において2本の楕円が並んだ形状になる。つまり、レーザビームLBのビーム径は、図4(b)よりも小さくなる。この場合も、レーザビームLBのビーム径を維持したまま、レーザ発振器100Aの出力を増減させることができる。図5の場合、レーザ発振器100Aの出力は、例えば、0〜4kWの範囲で増減できる。
駆動させないレーザモジュール110は、上記に限定されない。ただし、レーザビームLBのビーム径を小さくするには、レーザビームLBのH−H面において、隣り合う楕円が残るように、モジュール同士を組み合わせる必要がある。この場合、駆動させないレーザモジュール110の組み合わせとしては、レーザモジュール111a、112a、111bおよび112bの組み合わせ、111c、112c、111dおよび112dの組み合わせ、あるいは111a、112a、111dおよび112dの組み合わせが挙げられる。
レーザダイオードは、上記のとおり、駆動時の出力が大きいほど、発振効率が大きくなる。そのため、最大出力よりも小さな出力でレーザ発振器100Aを動作させる場合、従来のように、配置されたすべてのレーザモジュールを駆動させながら、これらすべてのレーザモジュールの出力をそれぞれ小さくするよりも、本実施形態のように、駆動させるレーザモジュール110の数を低減するとともに、これらレーザモジュール110の1つ当たりの出力を高くする方が、発振効率の点で有利である。例えば、8個のレーザダイオード(最大出力1kW/個)を備えるレーザ発振器を4kWで出力させる場合、8個すべてのレーザダイオードをそれぞれ500Wで出力させるよりも、駆動させるレーザモジュールを4つにして、それぞれを最大出力(1kW)に近い値で出力させる方が、発振効率は高い。
なお、本実施形態では、最大出力が1kWのレーザモジュール110を8個、並列に接続した構成を挙げているが、これに限定されない。レーザモジュールの数および最大出力は、レーザ発振器100Aに要求される出力に応じて、適宜設定すればよい。また、レーザ光Lを発振する機構も特に限定されず、レーザ発振の媒体として半導体を用いる半導体レーザの他、媒体として炭酸ガス(CO)等の気体を用いる気体レーザ、YAG等を用いる固体レーザ等が挙げられる。なかでも、光品質および発振効率に優れる点で、半導体レーザが好ましい。
(レーザ加工装置)
本実施形態に係るレーザ加工装置1000は、図7に示すように、上記レーザ発振器100Aと、レーザ発振器100Aから出射されるレーザビームLBの光路を切り替えるビーム光路切替部200と、レーザビームLBが入射する複数のプロセスファイバ300(310〜330)と、を備える。複数のプロセスファイバ300は、互いに異なるコア径を備える。
ビーム光路切替部200の内部は例えば大気雰囲気であり、レーザビームLBは、ビーム光路切替部200内を大気を媒体にして伝搬される。ビーム光路切替部200にはプロセスファイバ300の一方の端部が接続しており、レーザビームLBは、ビーム光路切替部200内で反射および集光された後、プロセスファイバ300に入射する。プロセスファイバ300は、レーザビームLBを加工対象物(ワークW)近傍にまで伝搬するための媒体である。以下、プロセスファイバ300に入射するレーザビームLBをレーザビームLBと称し、プロセスファイバ300から出射するレーザビームLBをレーザビームLBと称し、加工ヘッド400から出射するレーザビームLBをレーザビームLBと称す(図8、図9B〜9D参照)。
通常、1台のレーザ発振器100Aには、複数の加工ヘッド400(図示例では、3台)が接続している。ビーム光路切替部200は、レーザビームLBの光路を切り替えて集光した後、集光されたレーザビームLBを複数のプロセスファイバ300(310、320、330)のうちのいずれかに導光する。プロセスファイバ300の内部を伝搬したレーザビームLBは、やがて、プロセスファイバ300の他方の端部に接続された加工ヘッド400に到達する。このように、ビーム光路切替部200により、レーザビームLBを導光するプロセスファイバ300、さらには加工ヘッド400を切り替えて、タイムシェアリングを行いながら、複数のワークWに対してレーザ加工が施される。
加工ヘッド400は、コリメータレンズ410および第1集光レンズ420を備える。加工ヘッド400に到達したレーザビームLBは、第1集光レンズ420によって密度が高められて、ワークWに照射される。ワークWは、加工テーブル500上に固定されている。一方、加工ヘッド400は、X軸モータ710およびY軸モータ720によって移動可能であり、加工ヘッド400をワークWに対して相対的に移動させながら、所定の加工が行われる。レーザ発振器100A、ビーム光路切替部200、X軸モータ710およびY軸モータ720は、加工制御部600により制御されており、その状態は、加工制御部600に同期されている。なお、ビーム光路切替部200は、加工制御部600により制御される他の制御部(図示せず)により制御されてもよい。例えば、加工制御部600が、レーザビームLBを導光するプロセスファイバ300を選択し、この信号を他の制御部に伝達する。そして、この信号を受けた他の制御部が、ビーム光路切替部200を制御してもよい。
レーザ加工装置1000によりワークWを切断あるいは穴あけする場合(以下、まとめてレーザ切断と称す)、加工ヘッド400には、ワークWにレーザビームLBと同軸上で高圧ガス(高圧の酸素、窒素、大気等)を吹き付けるためのガス孔と、当該ガス孔に高圧ガスを供給するガス経路が配置される(いずれも図示せず)。レーザ切断では、レーザビームLBにより溶融されたワークWの一部を高圧ガスにより除去しながら、ワークWが切断あるいは穴あけされる。
レーザ加工装置1000により2以上のワークWを溶接する場合(レーザ溶接)、加工ヘッド400には、ワークWに不活性ガス(アルゴン、ヘリウム等)を低圧で吹き付けるためのガス孔と、当該ガス孔に不活性ガスを供給するガス経路が配置される(いずれも図示せず)。レーザビームLBにより溶融されたワークWの酸化を不活性ガスにより抑制しながら、ワークW同士が溶接される。レーザ加工装置1000によりワークWを表面処理する場合も、上記と同様に、ワークWに、例えば不活性ガスを吹き付けながらレーザビームLBを照射する。レーザ加工装置1000によりワークWにマーキングする場合、ワークWに、所望の色に応じたガスを吹き付けながらレーザビームLBを照射する。
次に、ビーム光路切替部200の切替機構について、図8および図9A〜図9Dを参照しながら説明する。図8は、ビーム光路切替部の内部構成を模式的に示す上面図である。図9Aは、図8のビーム光路切替部をA−A面側から見た側面図である。図9B〜9Dは、図8のビーム光路切替部をそれぞれB−B面、C−C面およびD−D面側から見た側面図である。
ビーム光路切替部200は、複数の第2反射ミラー210(210a〜210c)と、各第2反射ミラー210によって反射されたレーザビームLBをそれぞれ集光する第2集光レンズ220(220a〜220c)と、を備える。レーザ発振器100Aから出射されたレーザビームLBは、導光路250を通って、ビーム光路切替部200に入射する。
第2反射ミラー210は、それぞれステッピングモータ230(230a〜230c)を備えており、ステッピングモータ230の駆動により回転する。第2反射ミラー210の初期状態、すなわち、ステッピングモータ230に通電していない場合、第2反射ミラー210は、レーザビームLBを反射する反射位置にある。ステッピングモータ230が通電されると、第2反射ミラー210は回転して、レーザビームLBをそのまま通過させる通過位置になる(図9A〜9D参照)。ビーム光路切替部200は、複数のステッピングモータ230の少なくとも1つに通電して、あるいは、いずれにも通電せず、レーザビームLBの反射位置を切り替える。すべてのステッピングモータ230に通電された場合、レーザビームLBはプロセスファイバ300に導光されず、ビームアブソーバ240に入射される。
第2集光レンズ220により集光されたレーザビームLBは、プロセスファイバ300(310〜330)に入射する。このとき、第2反射ミラー210と第2集光レンズ220とプロセスファイバ300とは、一対一で対応するようにそれぞれ配置されている。例えば、第2反射ミラー210aで反射されたレーザビームLB1aは、第2集光レンズ220aで集光されて、プロセスファイバ310に入射する。同様に、第2反射ミラー210bで反射されたレーザビームLBは、第2集光レンズ220bで集光されて、プロセスファイバ320に入射する。第2反射ミラー210cで反射されたレーザビームLBは、第2集光レンズ220cで集光されて、プロセスファイバ330に入射する。プロセスファイバ300は、例えば、第2集光レンズ220によって集光されるレーザビームLBの焦点に対応するように配置されている。
プロセスファイバ310〜330は、それぞれ異なるコア径を備える。図示例では、プロセスファイバ310のコア径が最も大きく、例えば約200μmである。プロセスファイバ330のコア径は最も小さく、例えば約100μmである。プロセスファイバ320のコア径は、例えば約150μmである。すなわち、ビーム光路切替部200は、レーザビームLBのビーム径に適したコア径を備えるプロセスファイバ300に、レーザビームLBが導光されるように、レーザビームLBの反射位置を切り替える。レーザビームLBは、第2集光レンズ220により集光された後、プロセスファイバ300に導光されるため、厳密には、第2集光レンズ220により集光されたレーザビームLBの焦点におけるビーム径(以下、焦点ビーム径)に適したコア径を備えるプロセスファイバ300に、レーザビームLBを導光する。
レーザビームLBの焦点ビーム径に適したプロセスファイバ300のコア径とは、例えば、上記焦点ビーム径の115〜140%である。これにより、レーザビームLBは、効率よくプロセスファイバ300に導入される。例えば、レーザビームLBの焦点ビーム径が約160μmである場合、コア径が約200μmのプロセスファイバ310に、レーザビームLBを導光すればよい。
プロセスファイバ300のコアとは、プロセスファイバ300において、レーザビームLBの屈折率が最も高い領域であり、コアでは、レーザビームLBが全反射されて、プロセスファイバ300に閉じ込められる。コア径は、当該コアのプロセスファイバ300の長手方向に垂直な断面における径である。通常、コアは、プロセスファイバ300の長手方向の中心線に沿って形成されており、その周囲には、より屈折率の低い領域(クラッド)が形成されている。そのため、コアに導入されたレーザビームLBはクラッドに入射しない一方、クラッドに導入されたレーザビームLBの一部は、コアに入射し得る。クラッドは、屈折率の異なる複数の領域により形成されていてもよい。この場合、屈折率は、プロセスファイバ300の外側に向かうに従って小さくなる。
レーザビームLBのBPPは、プロセスファイバ300から出射した直後のレーザビームLBのBPPに依存する。レーザビームLBのBPPは、上記半角度θとプロセスファイバ300のコア径との積で表わすことができる。すなわち、コア径の大きなプロセスファイバ300を用いて、さらには、当該プロセスファイバ300のコア径に適した、大きなビーム径を備えるレーザビームLBを、当該プロセスファイバ300に導光することにより、レーザビームLBのBPPは大きくなる。その結果、レーザビームLBのBPPが大きくなる。一方、BPPの小さなレーザビームLBをワークWに照射する場合には、コア径のより小さなプロセスファイバ300を用いて、そこに小さなビーム径を備えるレーザビームLBを導光することが望ましい。
レーザビームLBをプロセスファイバ300に効率よく導光するには、上記のように、レーザビームLBのビーム径を、プロセスファイバ300のコア径より小さくすることが望ましい。レーザビームLBのビーム径は、レーザ発振器100Aから発振されるレーザビームLBのビーム径に依存する。
図1に示すように、レーザ発振器100Aの全てのスイッチがオンされている場合、例えば、最も大きなコア径を備えるプロセスファイバ310に、レーザビームLBを導光する。つまり、レーザ発振器100Aの全てのスイッチがオンされている場合、ビーム光路切替部200は、少なくともステッピングモータ230aに通電せず、反射ミラー210aを反射位置にする。これにより、結果的に、BPPの大きなレーザビームLBを、任意の出力で、加工ヘッドからワークWに向けて照射することができる。
図3に示すように、レーザ発振器100Aの2つのスイッチ(141aおよび142a)がオフされている場合、例えば、最も大きなコア径を備えるプロセスファイバ310あるいは次に大きなコア径を備えるプロセスファイバ320に、レーザビームLBを導光する。つまり、レーザ発振器100Aの2つのスイッチがオフされている場合、ビーム光路切替部200は、ステッピングモータ230aに通電して、反射ミラー210aを通過位置にするとともに、ステッピングモータ230bに通電せず、反射ミラー210bを反射位置にする。あるいは、上記のようにして、反射ミラー210aを反射位置にする。レーザビームLBをいずれのプロセスファイバ300に導光するかは、所望のBPPにより適宜決定すればよい。
図5に示すように、レーザ発振器100Aの4つのスイッチ(141a、141b、142aおよび142b)がオフされている場合、レーザビームLBは、いずれのプロセスファイバ300に導光されてもよい。例えば、レーザビームLBをプロセスファイバ330に導光する場合、ビーム光路切替部200は、ステッピングモータ230aおよび230bに通電して、反射ミラー210aおよび210bを通過位置にするとともに、ステッピングモータ230cに通電せず、第2反射ミラー210cを反射位置にする。あるいは、上記のようにして、反射ミラー210aまたは反射ミラー210bを反射位置にする。
ここで、第2反射ミラー210および第2集光レンズ220は、第2反射ミラー210により反射され得る最大のビーム径を有するレーザビームLBの中心が、第2集光レンズ220の中心と一致するように配置されている。例えば、第2集光レンズ220aは、その中心が、図2(c)で示されるレーザビームLBの中心と一致するように配置される。同様に、第2集光レンズ220bは、その中心が、図4(c)で示されるレーザビームLBの中心と一致するように配置される。第2集光レンズ220cは、その中心が、図6(c)で示されるレーザビームLBの中心と一致するように配置される。レーザビームLBの中心は、図2(c)、図4(c)および図6(c)に示すビーム形状を示す円の中心である。
上記のとおり、本実施形態のレーザ加工装置は、レーザ光Lを発振するレーザモジュールおよびその数を選択し、さらに、レーザビームLBを導光させるプロセスファイバを、そのコア径を考慮して切り替えることにより、1台のレーザ発振器から、様々なワークWに応じたBPPを有するレーザビームLBを生成することができる。これにより、加工精度が向上するとともに、エネルギーロスが抑制される。さらに、ワークWに最適な加工速度を実現できるため、生産性も向上する。
例えば、図1に示すように、配置された8つすべてのレーザモジュール110を駆動させて、焦点ビーム径が約160μmであるレーザビームLBを生成し、これを、コア径200μmのプロセスファイバ310に導光する場合、加工ヘッド400からワークWに照射されるレーザビームLBのBPPは、例えば、約8mm・mradである。このとき、レーザ発振器100Aの出力は、上記のとおり、例えば0〜8kWの広い範囲で増減できる。つまり、低出力で、BPPの大きなレーザビームLBを出射することができる。このようなレーザビームLBは、特にレーザ溶接や表面改質に適している。
また、図3に示すように、配置された8つのレーザモジュール110のうち、6つを駆動させて、焦点ビーム径が約120μmであるレーザビームLBを生成し、これを、コア径150μmのプロセスファイバ320に導光する場合、加工ヘッド400からワークWに照射されるレーザビームLBのBPPは、例えば、約6mm・mradである。このとき、レーザ発振器100Aの出力は、上記のとおり、例えば0〜6kWの範囲で増減できる。
図5に示すように、配置された8つのレーザモジュール110のうち、4つを駆動させて、焦点ビーム径が約80μmであるレーザビームLBを生成し、これを、コア径100μmのプロセスファイバ330に導光する場合、加工ヘッド400からワークWに照射されるレーザビームLBのBPPは、例えば、約4mm・mradである。このとき、レーザ発振器100Aの出力は、上記のとおり、例えば0〜4kWの範囲で増減できる。
なお、本実施形態では、コア径の異なる3種類のプロセスファイバ300を使用した構成を挙げているが、これに限定されない。プロセスファイバ300の数およびコア径は、レーザ発振器100Aを構成するレーザモジュール110の数や個々のモジュールの出力に応じて、適宜設定すればよい。このとき、プロセスファイバ300の数に対応するように、第2反射ミラー210、第2集光レンズ220およびステッピングモータ230の数を増減させる。第2反射ミラー210a〜210c、第2集光レンズ220a〜220cおよびステッピングモータ230a〜230cは、それぞれ同じ構成であってもよいし、異なっていてもよい。
また、本実施形態では、複数の加工ヘッド400をそれぞれ異なる可動軸で可動させるように配置したが、これに限定されない。例えば、複数の加工ヘッド400を同じ可動軸に設置してもよい。あるいは、一台の加工ヘッド400にプロセスファイバ300の切り替え機能を設けて、その加工ヘッド400を1つの可動軸に設置してもよい。この場合、プロセスファイバ300の切り替えは、例えば、上記のように反射ミラーおよびステッピングモータを用いる方法、複数のプロセスファイバ300の他方の端部が固定された固定部材をスライドあるいは回転させる方法等により行うことができる。
[第2実施形態]
本実施形態では、駆動させるレーザモジュールの数を適宜変更するために、レーザモジュールにそれぞれ電源130を接続し、その電源130を個別に制御する。
すなわち、本実施形態のレーザ発振器100Bは、図10に示すように、複数のレーザモジュール110と、複数のレーザモジュール110のそれぞれに個別に電力を供給するための複数の電源130(図示例では、131a〜131d、132a〜132d)と、複数のレーザモジュール110から少なくとも1つを選択して、選択されたレーザモジュール110に電力供給されるように、対応する電源130に指令を出す電力制御部150Bと、選択された2以上のレーザモジュール110から発振されるレーザ光Lを合波するレーザ光合波部120と、を備える。図10は、第2実施形態のレーザ発振器の内部構成を模式的に示す上面図である。レーザモジュール110およびレーザ光合波部120は、第1実施形態と同様の構成を備えていてもよい。レーザ発振器100Bは、例えば、第1実施形態と同様の構成を備えるレーザ加工装置1000に設置される。
この場合、電力制御部150Bは、加工制御部600から送られる出力指令値および所望のBPPに応じて、各電源131a〜131d、132a〜132dに電力出力指令値を送信する。これにより、第1実施形態と同様、駆動されるレーザモジュール110およびその数が適宜選択される。
本発明のレーザ発振器によれば、加工内容、ワークの厚みや材質、加工形状等に応じたレーザビームを出射できるため、種々のレーザ加工装置に適用できる。また、このレーザ加工装置は、加工精度および生産性に優れるとともに、高い汎用性を備える。
1000:レーザ加工装置
100、100A、100B:レーザ発振器
110、111a〜111d、112a〜112d:レーザモジュール
120:レーザ光合波部
121:第1反射ミラー
122:偏光ビームスプリッター
130:電源
140:スイッチ群
141a〜141d、142a〜142d:スイッチ
150A:モジュール制御部
150B:電力制御部
200:ビーム光路切替部
210、210a〜210c:第2反射ミラー
220、220a〜220c:第2集光レンズ
230、230a〜230c:ステッピングモータ
240:ビームアブソーバ
250:導光路
300、310、320、330:プロセスファイバ
400:加工ヘッド
410:コリメータレンズ
420:第1集光レンズ
500:加工テーブル
600:加工制御部
710:X軸モータ
720:Y軸モータ
2000:レーザ加工装置
2100:レーザ発振器
2200:ビーム光路切替部
2300、2300a〜2300c:プロセスファイバ
2400:加工ヘッド
2410:コリメータレンズ
2420:集光レンズ
2500:加工テーブル
2600:加工制御部
2710:X軸モータ
2720:Y軸モータ

Claims (4)

  1. 複数のレーザモジュールと、
    複数の前記レーザモジュールに電力を供給するための電源と、
    複数の前記レーザモジュールのそれぞれと前記電源との接続状態を個別に切り替える複数のスイッチと、
    複数の前記レーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択された前記レーザモジュールに電力供給されるように、対応する前記スイッチに指令を出すモジュール制御部と、
    複数の前記レーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える、レーザ発振器。
  2. 複数のレーザモジュールと、
    複数の前記レーザモジュールのそれぞれに個別に電力を供給するための複数の電源と、
    複数の前記レーザモジュールから少なくとも1つを選択して、選択された前記レーザモジュールに電力供給されるように、対応する前記電源に指令を出す電力制御部と、
    複数の前記レーザモジュールが選択される場合に、当該複数のレーザモジュールから発振されるレーザ光を合波するレーザ光合波部と、を備える、レーザ発振器。
  3. 前記レーザモジュールが、半導体レーザモジュールである、請求項1または2に記載のレーザ発振器。
  4. 請求項1または請求項2に記載のレーザ発振器と、
    前記レーザ発振器から出射されるレーザビームを、複数の光路から選択される1つに導光するビーム光路切替部と、
    複数の前記光路のそれぞれに対応する複数のプロセスファイバと、を備え
    複数の前記プロセスファイバが、互いに異なるコア径を有する、レーザ加工装置。
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